JPH0436352B2 - - Google Patents
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- JPH0436352B2 JPH0436352B2 JP22735182A JP22735182A JPH0436352B2 JP H0436352 B2 JPH0436352 B2 JP H0436352B2 JP 22735182 A JP22735182 A JP 22735182A JP 22735182 A JP22735182 A JP 22735182A JP H0436352 B2 JPH0436352 B2 JP H0436352B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は視野の広いシンチレーシヨンカメラに
関するものである。
関するものである。
従来のシンチレーシヨンカメラの概要を第１図
に基づき説明する。まず、被検体１内部の放射性
同位元素（以下、RIと記す）から放射されたγ
線はコリメータ２によりその方向を特定方向のみ
に限定されてシンチレータ３に入射する。シンチ
レータ３はγ線の入射により発光し、その光は光
電変換素子、一般に光電子増倍管（以下、RMT
と記す）４に入射するが、各PMT４の出力信号
は発光位置とPMT４の位置により変化する。そ
の各PMT４の出力信号は各々プリアンプ５でさ
らに増幅された後、位置計算回路６と波高分析器
（以下、PHAと記す）７に入力される。位置計算
回路６は各PMT４の出力信号の大きさの違いか
らシンチレータ３での前記発光位置、すなわちγ
線の入射位置を求め、また、PHA７は全PMT４
の出力信号を加算し、その値から入射したγ線が
目的とするRIから放射したものかどうかを判定
し、不要なγ線による後述輝点の発生をなくす。
そして、位置計算回路６からはγ線の入射位置信
号Ｘ，Ｙが、PHA７からはアンブラング信号UB
が各々出力されて、陰極線管（以下、CRTと記
す）８上のγ線が入射した位置に対応した位置に
輝点を発生させるもので、この輝点の集積像が被
検体１内のRI分布像となる。
に基づき説明する。まず、被検体１内部の放射性
同位元素（以下、RIと記す）から放射されたγ
線はコリメータ２によりその方向を特定方向のみ
に限定されてシンチレータ３に入射する。シンチ
レータ３はγ線の入射により発光し、その光は光
電変換素子、一般に光電子増倍管（以下、RMT
と記す）４に入射するが、各PMT４の出力信号
は発光位置とPMT４の位置により変化する。そ
の各PMT４の出力信号は各々プリアンプ５でさ
らに増幅された後、位置計算回路６と波高分析器
（以下、PHAと記す）７に入力される。位置計算
回路６は各PMT４の出力信号の大きさの違いか
らシンチレータ３での前記発光位置、すなわちγ
線の入射位置を求め、また、PHA７は全PMT４
の出力信号を加算し、その値から入射したγ線が
目的とするRIから放射したものかどうかを判定
し、不要なγ線による後述輝点の発生をなくす。
そして、位置計算回路６からはγ線の入射位置信
号Ｘ，Ｙが、PHA７からはアンブラング信号UB
が各々出力されて、陰極線管（以下、CRTと記
す）８上のγ線が入射した位置に対応した位置に
輝点を発生させるもので、この輝点の集積像が被
検体１内のRI分布像となる。
上述従来カメラでの位置計算の方法の１つとし
て各PMT４の出力信号をＡ／Ｄ変換し、デジタ
ル的に位置計算する方法が考えられているが、以
下これについて第２図を参照して説明する。すな
わち、シンチレータ３で発光した光はPMT４に
入射されて電気信号に変換され、増幅される。こ
のPMT４の出力信号の大きさはシンチレータ３
中の発光位置と関係があるもので、発光位置に近
いPMT４の出力信号は大きく、遠くPMT４の出
力信号は小さく、また、PMT４の中心で発光が
生ずるとPMT４の出力信号は最大となる。そし
て、各PMT４の出力信号はＡ／Ｄ変換回路９で
デジタル変換された後、加算回路１０で加算さ
れ、また、規格化回路１１に入力される。規格化
回路１１は加算回路１０の出力信号、すなわち全
PMT４の出力信号の加算信号２で各々のPMT４
の出力信号を除算し、規格化を行う。規格化され
た信号は、最大の信号を出力するPMT４の両隣
のPMT４の出力信号を比較することにより最大
の信号を出力するPMT４の中心より右か左かい
ずれについての信号かが判定される。メモリ回路
１２は、この判定が行われた各PMT４の出力信
号の大きさに応じた位置信号を出力する。この場
合、前記判定後の各PMT４の出力信号の大きさ
に応じた位置信号は、シンチレータ３の或る位置
で発光が生ずると各PMT４の出力信号の大きさ
は或る特定の大きさになることを利用し、事前に
シンチレータ３の全面についてその関係を測定し
ておくことによりその逆算（換算）で求められる
もので、メモリ回路１２にはその逆算（換算）値
が記憶されている。以上のようにして得られた各
PMT４の出力信号の大きさに応じた位置信号を
位置演算回路１３で平均することによりシンチレ
ータ３の発光位置、すなわちγ線の入射位置が求
められ、CRT８にγ線入射位置信号Ｘ，Ｙとし
て送られる。また、加算回路１０の出力信号２は
PHA１４にも送られ、このPHA１４で波高分析
されて入射したγ線が目的とするRIから放射し
たものか否かを判定し、目的とするRIから放射
したものと判定したときのみアンブランク信号
UBを出力して不要なγ線によりCRT８上に輝点
が発生することをなくす。
て各PMT４の出力信号をＡ／Ｄ変換し、デジタ
ル的に位置計算する方法が考えられているが、以
下これについて第２図を参照して説明する。すな
わち、シンチレータ３で発光した光はPMT４に
入射されて電気信号に変換され、増幅される。こ
のPMT４の出力信号の大きさはシンチレータ３
中の発光位置と関係があるもので、発光位置に近
いPMT４の出力信号は大きく、遠くPMT４の出
力信号は小さく、また、PMT４の中心で発光が
生ずるとPMT４の出力信号は最大となる。そし
て、各PMT４の出力信号はＡ／Ｄ変換回路９で
デジタル変換された後、加算回路１０で加算さ
れ、また、規格化回路１１に入力される。規格化
回路１１は加算回路１０の出力信号、すなわち全
PMT４の出力信号の加算信号２で各々のPMT４
の出力信号を除算し、規格化を行う。規格化され
た信号は、最大の信号を出力するPMT４の両隣
のPMT４の出力信号を比較することにより最大
の信号を出力するPMT４の中心より右か左かい
ずれについての信号かが判定される。メモリ回路
１２は、この判定が行われた各PMT４の出力信
号の大きさに応じた位置信号を出力する。この場
合、前記判定後の各PMT４の出力信号の大きさ
に応じた位置信号は、シンチレータ３の或る位置
で発光が生ずると各PMT４の出力信号の大きさ
は或る特定の大きさになることを利用し、事前に
シンチレータ３の全面についてその関係を測定し
ておくことによりその逆算（換算）で求められる
もので、メモリ回路１２にはその逆算（換算）値
が記憶されている。以上のようにして得られた各
PMT４の出力信号の大きさに応じた位置信号を
位置演算回路１３で平均することによりシンチレ
ータ３の発光位置、すなわちγ線の入射位置が求
められ、CRT８にγ線入射位置信号Ｘ，Ｙとし
て送られる。また、加算回路１０の出力信号２は
PHA１４にも送られ、このPHA１４で波高分析
されて入射したγ線が目的とするRIから放射し
たものか否かを判定し、目的とするRIから放射
したものと判定したときのみアンブランク信号
UBを出力して不要なγ線によりCRT８上に輝点
が発生することをなくす。
しかしながらこのようなシンチレーシヨンカメ
ラでは、 (1) PHA１４で波高分析を行う際に、PHA１４
には一定レベル範囲内の信号だけが通過できる
構成となつており、PMT配列の周辺および外
側ではPMT４に入いる信号が洩れ等により減
少することから、このような位置からの信号は
PHA１４を通過することができない。
ラでは、 (1) PHA１４で波高分析を行う際に、PHA１４
には一定レベル範囲内の信号だけが通過できる
構成となつており、PMT配列の周辺および外
側ではPMT４に入いる信号が洩れ等により減
少することから、このような位置からの信号は
PHA１４を通過することができない。
(2) このため、PMT配列の周辺および外側にお
いては像を作成させることが不可能となる。こ
れを可能にするため、より小さい信号をも
PHA１４を通過させるようにすると、PMT配
列の中心部分では目的とするγ線以外のγ線に
よる輝点をCRT８上に発生させてしまうこと
となり、ノイズの多い像となる。
いては像を作成させることが不可能となる。こ
れを可能にするため、より小さい信号をも
PHA１４を通過させるようにすると、PMT配
列の中心部分では目的とするγ線以外のγ線に
よる輝点をCRT８上に発生させてしまうこと
となり、ノイズの多い像となる。
(3) また、PMT４の出力信号をＡ／Ｄ変換して
得られた信号を加算した加算回路１０の出力信
号２で各々のPMT４の出力信号を規格化して
いるが、PMT配列の周辺および外側での発光
による光信号に対してPMT配列の中心部分と
同様の規格化を行うと次のような問題が生じ
た。すなわちこの場合には、前記周辺および外
側の各PMT４近傍で発光があつた場合、その
周囲の、特にそれより外側へ向う比較的強い光
は、そこにはPMT４が存在しないため、PMT
４で検出されない（洩れが生じる）。このため、
加算回路１０の出力信号Ｚは小さくなり、前記
周辺および外側の各PMT４の出力信号につい
ては、前記洩れによる減少分だけ大きくなるよ
うに規格化されてしまう。したがつて、メモリ
回路１２から読み出される位置信号は実際の位
置より内側（中心側）にずれてしまう等の問題
があつた。
得られた信号を加算した加算回路１０の出力信
号２で各々のPMT４の出力信号を規格化して
いるが、PMT配列の周辺および外側での発光
による光信号に対してPMT配列の中心部分と
同様の規格化を行うと次のような問題が生じ
た。すなわちこの場合には、前記周辺および外
側の各PMT４近傍で発光があつた場合、その
周囲の、特にそれより外側へ向う比較的強い光
は、そこにはPMT４が存在しないため、PMT
４で検出されない（洩れが生じる）。このため、
加算回路１０の出力信号Ｚは小さくなり、前記
周辺および外側の各PMT４の出力信号につい
ては、前記洩れによる減少分だけ大きくなるよ
うに規格化されてしまう。したがつて、メモリ
回路１２から読み出される位置信号は実際の位
置より内側（中心側）にずれてしまう等の問題
があつた。
以上述べたことから、従来、シンチレーシヨン
カメラの視野はPMT配列の最外周に位置する
PMT４の中心を結んだ線の内方に制限されてお
り、視野を広げるためにはPMT４等を増やし、
それに応じてシンチレータ３も大きくしなければ
ならず、大形化するという欠点があつた。
カメラの視野はPMT配列の最外周に位置する
PMT４の中心を結んだ線の内方に制限されてお
り、視野を広げるためにはPMT４等を増やし、
それに応じてシンチレータ３も大きくしなければ
ならず、大形化するという欠点があつた。
本発明は上記のような欠点を除去するためにな
されたもので、大形化することなく視野を広げる
ことのできるシンチレーシヨンカメラを提供する
ことを目的とする。
されたもので、大形化することなく視野を広げる
ことのできるシンチレーシヨンカメラを提供する
ことを目的とする。
以下第３図を参照して本発明の実施例を説明す
る。第３図は本発明によるシンチレーシヨンカメ
ラの一実施例を示すブロツク図で、この第３図に
おいて、第２図と同一符号は同一または相当部分
を示す。また、１５は比較器で、規格化回路１１
で規格化されたPMT４の出力信号のうち、PMT
配列の最外周に位置するPMT４とその一列内側
に位置するPMT４の各出力信号を比較し、シン
チレータ３の発光がPMT配列の最外周のPMT４
とその一列内側のPMT４との中間位置より内側
で起こつたか、外側で起こつたかを判定する。外
側で起こつたと判定した場合、切換スイツチ１６
は点線側に切り換わり、加算回路１０の出力信号
２を比率計算回路１７に入力させる。
る。第３図は本発明によるシンチレーシヨンカメ
ラの一実施例を示すブロツク図で、この第３図に
おいて、第２図と同一符号は同一または相当部分
を示す。また、１５は比較器で、規格化回路１１
で規格化されたPMT４の出力信号のうち、PMT
配列の最外周に位置するPMT４とその一列内側
に位置するPMT４の各出力信号を比較し、シン
チレータ３の発光がPMT配列の最外周のPMT４
とその一列内側のPMT４との中間位置より内側
で起こつたか、外側で起こつたかを判定する。外
側で起こつたと判定した場合、切換スイツチ１６
は点線側に切り換わり、加算回路１０の出力信号
２を比率計算回路１７に入力させる。
比率計算回路１７は目的とするγ線のエネルギ
の大きさと加算回路１０の出力信号２を比較し、
全PMT４の出力信号が、目的とするγ線が入射
したと想定したときのγ線エネルギの何％に当た
るかの比率を計算する。そして、その結果（比
率）が或る基準値、ここでは１、以上の場合は後
述AND回路の一方の入力端に信号“Ｌ”を、１
未満の場合は同上入力端に信号“Ｈ”を、各々与
える。また、上記計算結果（比率）を後述乗算回
路に与える。１８はその乗算回路で、比率計算回
路１７で求められた比率と規格化されたPMT４
の出力信号を乗算し、これにより前述(3)で述べた
ところの問題点をなくす（位置ずれ修正する）も
のである。なお、前記基準値１以上とは、具体的
には外部からのノイズ光（散乱線）入射などを意
味する。また１未満とは、前記洩れが生じている
場合を意味する。
の大きさと加算回路１０の出力信号２を比較し、
全PMT４の出力信号が、目的とするγ線が入射
したと想定したときのγ線エネルギの何％に当た
るかの比率を計算する。そして、その結果（比
率）が或る基準値、ここでは１、以上の場合は後
述AND回路の一方の入力端に信号“Ｌ”を、１
未満の場合は同上入力端に信号“Ｈ”を、各々与
える。また、上記計算結果（比率）を後述乗算回
路に与える。１８はその乗算回路で、比率計算回
路１７で求められた比率と規格化されたPMT４
の出力信号を乗算し、これにより前述(3)で述べた
ところの問題点をなくす（位置ずれ修正する）も
のである。なお、前記基準値１以上とは、具体的
には外部からのノイズ光（散乱線）入射などを意
味する。また１未満とは、前記洩れが生じている
場合を意味する。
１９はイメージマスクで、PMT配列の最外周
のPMT４より外側の予め設定された一定位置
（本発明で広げられる視野の限界位置（適宜設定
される）。以下、拡大視野限界位置という）より
さらに外側の位置についてはCRT８上に像が作
成されないようにするものである。そのためイメ
ージマスク１９は、位置演算回路１３からのγ線
入射位置信号Ｘ，Ｙが上記拡大視野限界位置より
内側の位置を表わすときは信号“Ｈ”を、外側の
位置を表わすときは信号“Ｌ”を、各々後述
AND回路の他方の入力端に与える。
のPMT４より外側の予め設定された一定位置
（本発明で広げられる視野の限界位置（適宜設定
される）。以下、拡大視野限界位置という）より
さらに外側の位置についてはCRT８上に像が作
成されないようにするものである。そのためイメ
ージマスク１９は、位置演算回路１３からのγ線
入射位置信号Ｘ，Ｙが上記拡大視野限界位置より
内側の位置を表わすときは信号“Ｈ”を、外側の
位置を表わすときは信号“Ｌ”を、各々後述
AND回路の他方の入力端に与える。
２０はそのAND回路で、比率計算回路１７お
よびイメージマスク１９からの信号が共に“Ｈ”
（前記比率が１未満であり、かつ、前記拡大視野
限界位置より内側）のときのみ、信号“Ｈ”を、
すなわちアンブランク信号UBを、CRT８に出力
し、その際、位置演算回路１３から与えられてい
るγ線入射位置信号Ｘ，Ｙに応じたCRT８上の
位置に輝点を発生させる。
よびイメージマスク１９からの信号が共に“Ｈ”
（前記比率が１未満であり、かつ、前記拡大視野
限界位置より内側）のときのみ、信号“Ｈ”を、
すなわちアンブランク信号UBを、CRT８に出力
し、その際、位置演算回路１３から与えられてい
るγ線入射位置信号Ｘ，Ｙに応じたCRT８上の
位置に輝点を発生させる。
なお、イメージマスク１９で拡大視野限界位置
を設定するのは、比較計算回路１７および乗算回
路１８による位置ずれ修正の設定有効範囲の外方
での輝点発生をなくし、また、無用な外周側の輝
点発生（動作）をなくすためである。
を設定するのは、比較計算回路１７および乗算回
路１８による位置ずれ修正の設定有効範囲の外方
での輝点発生をなくし、また、無用な外周側の輝
点発生（動作）をなくすためである。
次に、上述本発明シンチレーシヨンカメラの動
作について説明する。すなわち、シンチレータ３
で発光した光はPMT４に入射されて電気信号に
変換され、増幅される。そして各PMT４の出力
信号はＡ／Ｄ変換器９でデジタル変換された後、
加算回路１０および規格化回路１１に各々入力さ
れる。加算回路１０は全PMT４の出力信号を加
算し、また、規格化回路１１は全PMT４の出力
信号の加算信号で各PMT４の出力信号を規格化
する。規格化されたPMT４の出力信号のうち、
PMT配列の最外周のPMT４とその内側のPMT
４の各出力信号は比較器１５で比較され、シンチ
レータ３の発光がPMT配列の最外周のPMT４と
その内側のPMT４の中間位置より内側で起こつ
たか、外側で起こつたかを判定する。
作について説明する。すなわち、シンチレータ３
で発光した光はPMT４に入射されて電気信号に
変換され、増幅される。そして各PMT４の出力
信号はＡ／Ｄ変換器９でデジタル変換された後、
加算回路１０および規格化回路１１に各々入力さ
れる。加算回路１０は全PMT４の出力信号を加
算し、また、規格化回路１１は全PMT４の出力
信号の加算信号で各PMT４の出力信号を規格化
する。規格化されたPMT４の出力信号のうち、
PMT配列の最外周のPMT４とその内側のPMT
４の各出力信号は比較器１５で比較され、シンチ
レータ３の発光がPMT配列の最外周のPMT４と
その内側のPMT４の中間位置より内側で起こつ
たか、外側で起こつたかを判定する。
いま、外側で起こつたと判定されたとすると、
切換スイツチ１６は点線側（図中左側）に切り換
わり、加算回路１０の出力信号が比率計算回路１
７に入力され、前述比率計算が行われる。計算の
結果、比率が１以上の場合は目的とするγ線以外
のγ線が入射したものとしてAND回路２０に信
号“Ｌ”を出力するが、比率が１未満である場合
にはAND回路２０に信号“Ｈ”を出力する。
切換スイツチ１６は点線側（図中左側）に切り換
わり、加算回路１０の出力信号が比率計算回路１
７に入力され、前述比率計算が行われる。計算の
結果、比率が１以上の場合は目的とするγ線以外
のγ線が入射したものとしてAND回路２０に信
号“Ｌ”を出力するが、比率が１未満である場合
にはAND回路２０に信号“Ｈ”を出力する。
このとき乗算回路１８は、比率計算回路１７の
計算結果（比率）を受けて、規格化されたPMT
４の出力信号に乗算し、規格化による前述位置ず
れ（特に、シンチレータ３の発光がPMT配列の
最外周のPMT４とその内側のPMT４の中間位置
より外側で起こつた場合での位置ずれ）を修正し
てメモリ回路１２に与える。
計算結果（比率）を受けて、規格化されたPMT
４の出力信号に乗算し、規格化による前述位置ず
れ（特に、シンチレータ３の発光がPMT配列の
最外周のPMT４とその内側のPMT４の中間位置
より外側で起こつた場合での位置ずれ）を修正し
てメモリ回路１２に与える。
位置演算回路１３は、メモリ回路１２からの位
置信号を平均してシンチレータ３の発光位置、す
なわちγ線の入射位置を求め、CRT８およびイ
メージマスク１９にγ線入射位置信号Ｘ，Ｙを送
る。
置信号を平均してシンチレータ３の発光位置、す
なわちγ線の入射位置を求め、CRT８およびイ
メージマスク１９にγ線入射位置信号Ｘ，Ｙを送
る。
イメージマスク１９は、位置演算回路１３から
の位置信号Ｘ，Ｙが、PMT配列の最外周のPMT
４の外側の一定位置（拡大視野限界位置）よりさ
らに外側の位置についての信号であれば信号
“Ｌ”を出力し、その際の比率計算回路１７の
AND回路２０への信号状態に拘わらずAND回路
２０からのアンブランク信号UB（信号“Ｈ”）の
出力を抑止し、無用の輝点発生を防止する。位置
演算回路１３からの位置信号Ｘ，Ｙが、前記拡大
視野限定位置の内側の位置を表わすときは、イメ
ージマスク１９は信号“Ｈ”を出力し、比率計算
回路１７からの信号“Ｈ”とあいまつてAND回
路２０からアンブランク信号UB（信号“Ｈ”）を
出力させ、前記位置信号Ｘ，Ｙに応じたCRT８
上の位置に輝点を発生させる。
の位置信号Ｘ，Ｙが、PMT配列の最外周のPMT
４の外側の一定位置（拡大視野限界位置）よりさ
らに外側の位置についての信号であれば信号
“Ｌ”を出力し、その際の比率計算回路１７の
AND回路２０への信号状態に拘わらずAND回路
２０からのアンブランク信号UB（信号“Ｈ”）の
出力を抑止し、無用の輝点発生を防止する。位置
演算回路１３からの位置信号Ｘ，Ｙが、前記拡大
視野限定位置の内側の位置を表わすときは、イメ
ージマスク１９は信号“Ｈ”を出力し、比率計算
回路１７からの信号“Ｈ”とあいまつてAND回
路２０からアンブランク信号UB（信号“Ｈ”）を
出力させ、前記位置信号Ｘ，Ｙに応じたCRT８
上の位置に輝点を発生させる。
これにより、PMT配列の周辺および外側での
発光による位置信号の位置ずれを生じさせること
なく、かつ、装置を大形化させずに、視野を広げ
ることができ、また、無用な外側の像の作成を防
止できる。
発光による位置信号の位置ずれを生じさせること
なく、かつ、装置を大形化させずに、視野を広げ
ることができ、また、無用な外側の像の作成を防
止できる。
次に、シンチレータ３の発光がPMT配列の最
外周のPMT４とその内側のPMT４の中間位置よ
り内側で起こつたと比較器１５で判定されたとす
ると、切換スイツチ１６は図示するように右側に
切り換わり、加算回路１０の出力信号がPHA１
４に入力され、波高分析されて入射したγ線が目
的とするγ線であるか否かを判定する。否なる判
定時には、PHA１４は不要なγ線によりCRT８
上に輝点が発生されないようにアンブランク信号
UBを出力しない。
外周のPMT４とその内側のPMT４の中間位置よ
り内側で起こつたと比較器１５で判定されたとす
ると、切換スイツチ１６は図示するように右側に
切り換わり、加算回路１０の出力信号がPHA１
４に入力され、波高分析されて入射したγ線が目
的とするγ線であるか否かを判定する。否なる判
定時には、PHA１４は不要なγ線によりCRT８
上に輝点が発生されないようにアンブランク信号
UBを出力しない。
なお、切換スイツチ１６が右側に切り換わつて
いるときは、乗算回路１８に入力される比率計算
回路１７からの信号（比率）は１に固定される。
すなわち、乗算回路１８がない場合と同様にな
り、規格化回路１１で規格化された各PMT４の
出力信号の大きさに応じた位置信号がメモリ回路
１２から出力され、これが位置演算回路１３で平
均されてγ線入射位置信号Ｘ，Ｙとされ、CRT
８に送られて像が作成される。このとき、イメー
ジマスク１９は作動していない。
いるときは、乗算回路１８に入力される比率計算
回路１７からの信号（比率）は１に固定される。
すなわち、乗算回路１８がない場合と同様にな
り、規格化回路１１で規格化された各PMT４の
出力信号の大きさに応じた位置信号がメモリ回路
１２から出力され、これが位置演算回路１３で平
均されてγ線入射位置信号Ｘ，Ｙとされ、CRT
８に送られて像が作成される。このとき、イメー
ジマスク１９は作動していない。
なお、上述実施例では、シンチレータ３の発光
がPMT配列の最外周のPMT４とその内側の
PMT４との中間位置より外側で起こつたときに
比率計算する場合について説明したが、これのみ
に限られず、PMT配列の最外周のPMT４の中心
位置より外側で起こつたときに比率計算するよう
にしてもよい。
がPMT配列の最外周のPMT４とその内側の
PMT４との中間位置より外側で起こつたときに
比率計算する場合について説明したが、これのみ
に限られず、PMT配列の最外周のPMT４の中心
位置より外側で起こつたときに比率計算するよう
にしてもよい。
また、比率計算し、発光位置を演算した後、そ
の演算された発光位置でのγ線エネルギのロス
（PMT４に入射しない分のγ線エネルギ）を予め
求めておいた表から求め、再び比率計算および位
置演算することによつて発光位置の修正を行うよ
うにしてもよく、このようにすればPMT配列の
周辺およびその外側についての位置分解能を向上
させることができる。
の演算された発光位置でのγ線エネルギのロス
（PMT４に入射しない分のγ線エネルギ）を予め
求めておいた表から求め、再び比率計算および位
置演算することによつて発光位置の修正を行うよ
うにしてもよく、このようにすればPMT配列の
周辺およびその外側についての位置分解能を向上
させることができる。
以上述べたように本発明は、シンチレータの発
光が光電変換素子配列に位置する光電変換素子周
辺の所定位置より内側で起こつたか外側で起こつ
たかを判定する回路と、この回路で前記シンチレ
ータの発光が前記所定位置より外側で起こつたと
判定されたとき、目的とするγ線が入射したもの
としてその際の前記光電変換素子の全出力信号の
加算信号と目的とするγ線が入射した場合に得ら
れるべき前記光電変換素子の全出力信号の加算信
号とを比較し、両者の比率で前記光電変換素子の
各出力信号を補正する回路とを具備し、その光電
変換素子の補正された各出力信号によりγ線の入
射位置を計算するようにしたので、前述従来カメ
ラにおける問題を生じさせることなく、また、大
形化することなく視野を広げることができるとい
う効果がある。
光が光電変換素子配列に位置する光電変換素子周
辺の所定位置より内側で起こつたか外側で起こつ
たかを判定する回路と、この回路で前記シンチレ
ータの発光が前記所定位置より外側で起こつたと
判定されたとき、目的とするγ線が入射したもの
としてその際の前記光電変換素子の全出力信号の
加算信号と目的とするγ線が入射した場合に得ら
れるべき前記光電変換素子の全出力信号の加算信
号とを比較し、両者の比率で前記光電変換素子の
各出力信号を補正する回路とを具備し、その光電
変換素子の補正された各出力信号によりγ線の入
射位置を計算するようにしたので、前述従来カメ
ラにおける問題を生じさせることなく、また、大
形化することなく視野を広げることができるとい
う効果がある。
第１図は従来のシンチレーシヨンカメラの概要
を示すブロツク図、第２図は各PMTの出力信号
をＡ／Ｄ変換してデジタル的に位置計算する方法
が適用された従来のシンチレーシヨンカメラを示
すブロツク図、第３図は本発明によるシンチレー
シヨンカメラの一実施例を示すブロツク図であ
る。 ３…シンチレータ、４…PMT、８…CRT、９
…Ａ／Ｄ変換回路、１０…加算回路、１１…規格
化回路、１２…メモリ回路、１３…位置演算回
路、１４…PHA、１５…比較器、１６…切換ス
イツチ、１７…比率計算回路、１８…乗算回路、
１９…イメージマスク、２０…AND回路。
を示すブロツク図、第２図は各PMTの出力信号
をＡ／Ｄ変換してデジタル的に位置計算する方法
が適用された従来のシンチレーシヨンカメラを示
すブロツク図、第３図は本発明によるシンチレー
シヨンカメラの一実施例を示すブロツク図であ
る。 ３…シンチレータ、４…PMT、８…CRT、９
…Ａ／Ｄ変換回路、１０…加算回路、１１…規格
化回路、１２…メモリ回路、１３…位置演算回
路、１４…PHA、１５…比較器、１６…切換ス
イツチ、１７…比率計算回路、１８…乗算回路、
１９…イメージマスク、２０…AND回路。
Claims (1)
- １ 光電変換素子からの信号をＡ／Ｄ変換し、そ
の信号に基づいてγ線の入射位置を計算するよう
にしたシンチレーシヨンカメラにおいて、シンチ
レータの発光が光電変換素子配列の最外周に位置
する光電変換素子周辺の所定位置より内側で起こ
つたか外側で起こつたかを判定する回路と、この
回路で前記シンチレータの発光が前記所定位置よ
り外側で起こつたと判定されたとき、目的とする
γ線が入射したものとしてその際の前記光電変換
素子の全出力信号の加算信号と目的とするγ線が
入射した場合に得られるべき前記光電変換素子の
全出力信号の加算信号とを比較し、両者の比率で
前記光電変換素子の各出力信号を補正する回路と
を具備し、その光電変換素子の補正された各出力
信号によりγ線の入射位置を計算するようにした
ことを特徴とするシンチレーシヨンカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22735182A JPS59120978A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | シンチレ−シヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22735182A JPS59120978A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59120978A JPS59120978A (ja) | 1984-07-12 |
| JPH0436352B2 true JPH0436352B2 (ja) | 1992-06-15 |
Family
ID=16859435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22735182A Granted JPS59120978A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59120978A (ja) |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP22735182A patent/JPS59120978A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59120978A (ja) | 1984-07-12 |
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