JPH0436459Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0436459Y2 JPH0436459Y2 JP19228885U JP19228885U JPH0436459Y2 JP H0436459 Y2 JPH0436459 Y2 JP H0436459Y2 JP 19228885 U JP19228885 U JP 19228885U JP 19228885 U JP19228885 U JP 19228885U JP H0436459 Y2 JPH0436459 Y2 JP H0436459Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- base plate
- measuring instrument
- pins
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 24
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 208000019914 Mental Fatigue Diseases 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は、半導体の動作を測定器で確認すると
きに使用する測定器案内具に関するものである。
きに使用する測定器案内具に関するものである。
従来の技術
周知のように、近年ICやLSI等の半導体は、製
造業のみでなくサービス業からさらに事務機器に
至るまで広い範囲にわたつてそれらの制御装置の
重要部品として使用されており、自動化や能率向
上に大きく貢献すると共に制御装置の小形化を実
現して、操作や監視等を容易にしている。
造業のみでなくサービス業からさらに事務機器に
至るまで広い範囲にわたつてそれらの制御装置の
重要部品として使用されており、自動化や能率向
上に大きく貢献すると共に制御装置の小形化を実
現して、操作や監視等を容易にしている。
ところで、このような制御装置において、使用
している半導体が所定の動作をしなくなると、作
業や業務が停止してしまい大きな被害を発生する
ので、可及的速に実装している印刷回路基板ごと
交換して停止時間を短かくするようにしている。
している半導体が所定の動作をしなくなると、作
業や業務が停止してしまい大きな被害を発生する
ので、可及的速に実装している印刷回路基板ごと
交換して停止時間を短かくするようにしている。
一方、この動作不良となつた半導体を含む印刷
回路基板に対しては、その不良となつた半導体を
発見するために、第６図に示すようなICクリツ
プ１を用い、この接触ピン２の先端２ａで半導体
のピン（図示しない）を挿むと共に接触ピン２の
頭部２ｂに例えばシンクロスコープのような測定
器のプローブ（図示しない）を接続して、動作を
確認するようにしていた。
回路基板に対しては、その不良となつた半導体を
発見するために、第６図に示すようなICクリツ
プ１を用い、この接触ピン２の先端２ａで半導体
のピン（図示しない）を挿むと共に接触ピン２の
頭部２ｂに例えばシンクロスコープのような測定
器のプローブ（図示しない）を接続して、動作を
確認するようにしていた。
考案が解決しようとしている問題点
しかしながら、半導体のピンの個数が多くなる
と、所望のピンを捜すために端部の方からその都
度数えていかなければならず、きわめて煩雑とな
るばかりでなく誤りを誘発する原因にもなり、精
神的疲労を大きくしていた。また、測定器をIC
クリツプ１の接触ピンの頭部２ｂに当てる際他の
接触ピン２とシヨートしやすいという欠点もあつ
た。
と、所望のピンを捜すために端部の方からその都
度数えていかなければならず、きわめて煩雑とな
るばかりでなく誤りを誘発する原因にもなり、精
神的疲労を大きくしていた。また、測定器をIC
クリツプ１の接触ピンの頭部２ｂに当てる際他の
接触ピン２とシヨートしやすいという欠点もあつ
た。
問題点を解決するための手段
本考案は、絶縁材から形成され、半導体のパツ
ケージに対応する凹部を裏面に設けた台板と、こ
の台板に半導体のピンに対応して設けた複数の穴
と、この各穴の近傍にそれぞれ設けた表示から構
成したものである。
ケージに対応する凹部を裏面に設けた台板と、こ
の台板に半導体のピンに対応して設けた複数の穴
と、この各穴の近傍にそれぞれ設けた表示から構
成したものである。
作 用
半導体の動作を確認する場合には、測定器案内
具１０を第５図に示すように半導体３の上部から
矢印で示すように下降させた後水平方向に移動
し、凹部の縁を半導体３に当接させることにより
位置決めし、この後穴１２の近傍にある表示１３
から所望の穴１２を見つけ出し、測定器のプロー
ブをこの穴１２に挿入し半導体３のピン４に接触
させて行うものである。
具１０を第５図に示すように半導体３の上部から
矢印で示すように下降させた後水平方向に移動
し、凹部の縁を半導体３に当接させることにより
位置決めし、この後穴１２の近傍にある表示１３
から所望の穴１２を見つけ出し、測定器のプロー
ブをこの穴１２に挿入し半導体３のピン４に接触
させて行うものである。
実施例
以下、本考案の測定器案内具の一実施例を図面
を参照して説明する。第１図乃至第４図におい
て、測定器案内具１０は、合成樹脂材のような絶
縁材から矩形状にされ、裏面に第５図に示す半導
体３パツケージ３ａの寸法より適宜大きくした矩
形状の凹部１１ａを設けた台板１１と、この台板
１１の両側で半導体３のピン４に対応した位置に
設けられ、測定器のプローブが挿入可能の大きさ
とした複数の穴１２と、この各穴１２の近傍にそ
れぞれ設けられ、半導体３のピン４に対応する数
字による表示１３から構成されている。ここで、
凹部１１ａは、半導体３のピン４からパツケージ
３ａの表面までの高さより小さい寸法の深さと
し、三方に縁部１１ｂ，１１ｃ，１１ｄを設け
る。これにより、台板１１を半導体３に被せると
き、第５図に示すように上部から下降した後水平
方向に移動すると縁部１１ｂがパツケージ３ａの
側面に当たり、穴１２がピン４に一致する。必要
に応じこの縁部１１ｂ，１１ｃ，１１ｄの角部
（第２図にＸ、第４図にＹ，Ｚで示す）や縁部１
１ｂ，１１ｃの端部（第３図にＰ，Ｑで示す）に
適宜寸法の傾斜状としたガイド部を設け、台板１
１をパツケージ３ａに被せやすくしてもよい。
を参照して説明する。第１図乃至第４図におい
て、測定器案内具１０は、合成樹脂材のような絶
縁材から矩形状にされ、裏面に第５図に示す半導
体３パツケージ３ａの寸法より適宜大きくした矩
形状の凹部１１ａを設けた台板１１と、この台板
１１の両側で半導体３のピン４に対応した位置に
設けられ、測定器のプローブが挿入可能の大きさ
とした複数の穴１２と、この各穴１２の近傍にそ
れぞれ設けられ、半導体３のピン４に対応する数
字による表示１３から構成されている。ここで、
凹部１１ａは、半導体３のピン４からパツケージ
３ａの表面までの高さより小さい寸法の深さと
し、三方に縁部１１ｂ，１１ｃ，１１ｄを設け
る。これにより、台板１１を半導体３に被せると
き、第５図に示すように上部から下降した後水平
方向に移動すると縁部１１ｂがパツケージ３ａの
側面に当たり、穴１２がピン４に一致する。必要
に応じこの縁部１１ｂ，１１ｃ，１１ｄの角部
（第２図にＸ、第４図にＹ，Ｚで示す）や縁部１
１ｂ，１１ｃの端部（第３図にＰ，Ｑで示す）に
適宜寸法の傾斜状としたガイド部を設け、台板１
１をパツケージ３ａに被せやすくしてもよい。
なお、上記した実施例では、台板１１の凹部１
１ａの三方に縁部１１ｂ，１１ｃ，１１ｄを設け
たが、直交する二方向の縁部１１ｂと１１ｃまた
は縁部１１ｂと１１ｄを設けてもよく、四方に縁
部を設けるようにしてもよい。ただし、この場合
は上部から下降するだけで被せる。また、穴１２
も測定器のプローブに対して大きくするとことに
より、位置決めが容易となる。
１ａの三方に縁部１１ｂ，１１ｃ，１１ｄを設け
たが、直交する二方向の縁部１１ｂと１１ｃまた
は縁部１１ｂと１１ｄを設けてもよく、四方に縁
部を設けるようにしてもよい。ただし、この場合
は上部から下降するだけで被せる。また、穴１２
も測定器のプローブに対して大きくするとことに
より、位置決めが容易となる。
考案の効果
本考案は、以上のように構成されているから、
半導体の動作を確認する場合、所望のピンを正確
にかつ容易に捜すことができ、しかも測定時他の
ピンにシヨートすることもないから、この確認作
業を短時間でかつ容易に行うことができ、同一半
導体の複数のピンを１人で測定でき、大幅に能率
を向上すことができる。
半導体の動作を確認する場合、所望のピンを正確
にかつ容易に捜すことができ、しかも測定時他の
ピンにシヨートすることもないから、この確認作
業を短時間でかつ容易に行うことができ、同一半
導体の複数のピンを１人で測定でき、大幅に能率
を向上すことができる。
第１図は本考案の半導体の測定器案内具の一実
施例を示す上面図、第２図は第１図のＡ−Ａ線に
沿つて切断し矢印方向に見た断面図、第３図は第
２図のＡ印方向に見た下面図、第４図は第２図の
Ｂ−Ｂ線に沿つて切断し矢印方向に見た断面図、
第５図は本考案の一実施例の使用状態を示す説明
図、第６図は従来の半導体の動作確認をするとき
に使用するICクリツプを示す斜視図である。 ３……半導体、３ａ……パツケージ、４……ピ
ン、１１……台板、１１ａ……凹部、１２……
穴、１３……表示。
施例を示す上面図、第２図は第１図のＡ−Ａ線に
沿つて切断し矢印方向に見た断面図、第３図は第
２図のＡ印方向に見た下面図、第４図は第２図の
Ｂ−Ｂ線に沿つて切断し矢印方向に見た断面図、
第５図は本考案の一実施例の使用状態を示す説明
図、第６図は従来の半導体の動作確認をするとき
に使用するICクリツプを示す斜視図である。 ３……半導体、３ａ……パツケージ、４……ピ
ン、１１……台板、１１ａ……凹部、１２……
穴、１３……表示。
Claims (1)
- 絶縁材から形成され、半導体のパツケージに対
応する凹部を裏面に設けた台板と、この台板に半
導体のピンに対応して設けた複数の穴と、この各
穴の近傍にそれぞれ設けた表示から構成した半導
体の測定器案内具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19228885U JPH0436459Y2 (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19228885U JPH0436459Y2 (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6299872U JPS6299872U (ja) | 1987-06-25 |
| JPH0436459Y2 true JPH0436459Y2 (ja) | 1992-08-27 |
Family
ID=31147225
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19228885U Expired JPH0436459Y2 (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0436459Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-12-16 JP JP19228885U patent/JPH0436459Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6299872U (ja) | 1987-06-25 |
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