JPH04366776A - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPH04366776A JPH04366776A JP3140527A JP14052791A JPH04366776A JP H04366776 A JPH04366776 A JP H04366776A JP 3140527 A JP3140527 A JP 3140527A JP 14052791 A JP14052791 A JP 14052791A JP H04366776 A JPH04366776 A JP H04366776A
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- JP
- Japan
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- line
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- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 14
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＣ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＩＣ試験装置は、装置自体の自己
診断機能としてチェック用のプログラムが備えられてお
り、このプログラムの実行により当該試験装置が正常で
あるか否かの判断が為されている。
診断機能としてチェック用のプログラムが備えられてお
り、このプログラムの実行により当該試験装置が正常で
あるか否かの判断が為されている。
【０００３】また、試験対象のＩＣが、実際に、製品と
して他の付属部品とともに回路に組込まれている状態に
おいて、所定の機能通りに動作するか否かを模擬回路に
セットした状態で試験を行う装置（以下、ＩＣ実装試験
装置と云う）においては、自己診断用プログラムを備え
ていない装置が多く、これらの装置においては、良品／
不良品のサンプルを用いて試験を実行し、装置のチェッ
クを行う必要がある。
して他の付属部品とともに回路に組込まれている状態に
おいて、所定の機能通りに動作するか否かを模擬回路に
セットした状態で試験を行う装置（以下、ＩＣ実装試験
装置と云う）においては、自己診断用プログラムを備え
ていない装置が多く、これらの装置においては、良品／
不良品のサンプルを用いて試験を実行し、装置のチェッ
クを行う必要がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＩＣ試
験装置またはＩＣ実装試験装置においては、通常、試験
対象のＩＣを、当該試験装置に対し自動供給・選別する
装置を用いて試験を行うために、装置自身のチェックの
ために良品または不良品サンプルにて試験を行う場合に
は、これらの装置を分離して、手作業による測定に対応
して部品を交換する必要がある。このために、試験の段
取りおよびにチェック後における装置の再接続等の作業
のために、余分の時間および作業工数を必要とするとい
う欠点がある。
験装置またはＩＣ実装試験装置においては、通常、試験
対象のＩＣを、当該試験装置に対し自動供給・選別する
装置を用いて試験を行うために、装置自身のチェックの
ために良品または不良品サンプルにて試験を行う場合に
は、これらの装置を分離して、手作業による測定に対応
して部品を交換する必要がある。このために、試験の段
取りおよびにチェック後における装置の再接続等の作業
のために、余分の時間および作業工数を必要とするとい
う欠点がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣ試験装置は
、ＩＣの電気的特性を測定し、当該ＩＣの良否を判定す
るＩＣ試験装置において、前記ＩＣ試験装置自体の自己
診断用として、内部に良品または不良品を含むチェック
用サンプルを備えて構成される。
、ＩＣの電気的特性を測定し、当該ＩＣの良否を判定す
るＩＣ試験装置において、前記ＩＣ試験装置自体の自己
診断用として、内部に良品または不良品を含むチェック
用サンプルを備えて構成される。
【０００６】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００７】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図１に示されるように、本実施例のＩＣ試験装
置１は、測定部８に対応して、切替回路２と、アラーム
発生回路３と、判定出力回路４と、ＣＰＵ５と、設定回
路６と、チェック用サンプル７とを備えて構成される。
である。図１に示されるように、本実施例のＩＣ試験装
置１は、測定部８に対応して、切替回路２と、アラーム
発生回路３と、判定出力回路４と、ＣＰＵ５と、設定回
路６と、チェック用サンプル７とを備えて構成される。
【０００８】図１において、通常の試験時においては、
試験用の入力信号は、ＣＰＵ５から、ラインＡ→ライン
Ａ１ を経由して測定部８に入力され、測定部８からの
出力信号は、ラインＡ１ →ラインＡを経由してＣＰＵ
５に返される。これにより、ＣＰＵ５においては、測定
部８による試験対象ＩＣの良品／不良品が判別され、そ
の判定結果はラインＢ→ラインＢ１ の経路にて、外部
の自動選別装置等（図示されない）に出力される。
試験用の入力信号は、ＣＰＵ５から、ラインＡ→ライン
Ａ１ を経由して測定部８に入力され、測定部８からの
出力信号は、ラインＡ１ →ラインＡを経由してＣＰＵ
５に返される。これにより、ＣＰＵ５においては、測定
部８による試験対象ＩＣの良品／不良品が判別され、そ
の判定結果はラインＢ→ラインＢ１ の経路にて、外部
の自動選別装置等（図示されない）に出力される。
【０００９】一方において、設定回路６には、所定の時
間または試験回数を予め設定しておくことにより、それ
ぞれ時間の経過または試験の完了ごとに、設定回路６よ
り切替信号がラインＣに出力される。この切替信号はマ
ルチプレクサ等を利用して構成される切替回路２に入力
されて、ラインＡはラインＡ１ 側からラインＡ２ の
側に切替えられ、同様に、判定出力回路４においても、
ラインＣを介して入力される切替信号を受けて、ライン
Ｂは、ラインＢ１ 側からラインＢ２ の側に切替えら
れる。 この状態において、ＣＰＵ５により、チェック用サンプ
ル７に対する試験が行われる。これにより、チェック用
サンプル７に対する判定結果は、ラインＢ→ラインＢ２
を経由してアラーム発生回路３に入力される。この場
合、この判定結果がチェック用サンプル７の良品／不良
品の良否と一致する場合には、試験装置の機能は正常で
あるものと判断され、通常の測定が再開される。また、
良品に対して不良品の判定が出る場合、または不良品に
対して良品の判定が為される場合には、アラーム発生回
路３よりアラームが発生され、試験装置が異常であるこ
とが判定される。
間または試験回数を予め設定しておくことにより、それ
ぞれ時間の経過または試験の完了ごとに、設定回路６よ
り切替信号がラインＣに出力される。この切替信号はマ
ルチプレクサ等を利用して構成される切替回路２に入力
されて、ラインＡはラインＡ１ 側からラインＡ２ の
側に切替えられ、同様に、判定出力回路４においても、
ラインＣを介して入力される切替信号を受けて、ライン
Ｂは、ラインＢ１ 側からラインＢ２ の側に切替えら
れる。 この状態において、ＣＰＵ５により、チェック用サンプ
ル７に対する試験が行われる。これにより、チェック用
サンプル７に対する判定結果は、ラインＢ→ラインＢ２
を経由してアラーム発生回路３に入力される。この場
合、この判定結果がチェック用サンプル７の良品／不良
品の良否と一致する場合には、試験装置の機能は正常で
あるものと判断され、通常の測定が再開される。また、
良品に対して不良品の判定が出る場合、または不良品に
対して良品の判定が為される場合には、アラーム発生回
路３よりアラームが発生され、試験装置が異常であるこ
とが判定される。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、、内部
に良品または不良品を含むチェック用サンプルを備え、
このチェック用サンプルを用いて良品／不良品の判定を
行うことにより、自動的に、効率良く試験装置の異常の
有無を診断することができるという効果がある。
に良品または不良品を含むチェック用サンプルを備え、
このチェック用サンプルを用いて良品／不良品の判定を
行うことにより、自動的に、効率良く試験装置の異常の
有無を診断することができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
１ ＩＣ試験装置
２ 切替回路
３ アラーム発生回路
４ 判定出力回路
５ ＣＰＵ
６ 設定回路
７ チェック用サンプル
８ 測定部
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣの電気的特性を測定し、当該ＩＣ
の良否を判定するＩＣ試験装置において、前記ＩＣ試験
装置自体の自己診断用として、内部に良品または不良品
を含むチェック用サンプルを備えることを特徴とするＩ
Ｃ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3140527A JPH04366776A (ja) | 1991-06-13 | 1991-06-13 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3140527A JPH04366776A (ja) | 1991-06-13 | 1991-06-13 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04366776A true JPH04366776A (ja) | 1992-12-18 |
Family
ID=15270744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3140527A Pending JPH04366776A (ja) | 1991-06-13 | 1991-06-13 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04366776A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08129053A (ja) * | 1994-10-31 | 1996-05-21 | Nec Corp | 集積回路試験装置 |
-
1991
- 1991-06-13 JP JP3140527A patent/JPH04366776A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08129053A (ja) * | 1994-10-31 | 1996-05-21 | Nec Corp | 集積回路試験装置 |
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