JPH01161167A - 測定合理化ｂｔ板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業−にの利用分野〕 本発明は信頼性試験用のＢＴ板に関し、特に製品の良否
判定時に効率よく測定できるようにしたＢＴ板に関する
。

〔従来の技術〕

従来、この種のＢＴ板は第５図に示すように一枚の基板
２６に、製品６を差し込むＩＣソケット７と、ＢＴ試験
回路用の外付部品４とを組んでいる。

高温バイアス試験、高温高湿バイアス試験等を行う場合
には、ＢＴ板のＩＣソケット７に製品６を差し込み、こ
れを恒温槽若しくは恒温恒湿槽内にセットし、ある一定
時間ごとにＢＴ板を前記槽から出し、製品の良否判定を
選別テスタにてチエツクする必要がある。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来のＢＴ板は一枚の基板にＩＣソケット、部
品そして配線を組んでいるため、製品の良否チエツクを
行う際に製品を１個づつＩＣソケットからはずして測定
しなければならない。このように製品を１個づつはずさ
な番づればならないために、手間がかかること、また製
品の端子に余分なストレスを与えること、また作業時に
不純物を付けたり、静電気ストレスを加える虞れがある
等の欠点がある。

本発明の目的は前記問題点を解消したＢＴ板を提供する
ことにある。

〔発明の従来技術に対する相違点〕

上述した従来のＢＴ板に対し、本発明はＩＣソケットか
ら製品を取り外すことなく、測定ができるという相違点
を有する。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は信頼性試験を行うＢＴ板において、試験対象の
ＩＣを保持する保持基板と、前記保持基板」二のＩＣに
電気的に接続されるＢＴ試験回路を絹込んだ試験基板と
の組を有することを特徴とする測定合理化ＢＴ板である
。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図により説明する。

（実施例１−） 第１−図（ａ）　、　（ｂ）　、　（ｃ）、第２図は本
発明の実施例１を示す図である。図において、本発明は
王Ｃ（製品）６をソケット７に差込み、該ＩＣ６を保持
する保持基板５と、ＢＴ試験回路をなす外付部品４を組
込んだ試験基板１と、ＩＣテスタに接続する測定回路（
コネクタ１０を含む）を組込んだ測定基板９との組を有
し、前記試験基板１及び８１１１定基板９に、保持基板
５のソケット７から突き出した端子８を差込むソケッ１
〜２ａ、２ｂをそれぞれ装備したものである。

３は試験１人板１に設けたコネクタとの接続端子である
。

実施例において、まず、保持基板５の各ソケット７に製
品であるＩＣ６をそれぞれ差込んで保持する。

ＢＴ試験を実施するときには第１図（ｃ）に示すように
保持基板５と試験基板１とを−１−下に重ね合せ、保持
基板５のソケット７の端子８を試験基板］のソケット２
ａに差し込み、製品６をソケッｌ〜２ａ、７を介して試
験基板１の試験回路に接続して実装し、これを試験槽に
入れる。そして製品の良否判定をチエツクするときには
、保持基板５を試験基板１からはずし、第２図に示すよ
うに保持基板５と測定基板９とを−Ｌ下に重ね合せ、保
持基板５のソケッ１へ７の端子８を測定基板９のソケッ
１−２ｂに差し込み、製品６をソケッ１−２ｂ、７を介
して測定基板９の測定回路に接続し、かつコネクタ１０
にて１ｃテスタに接続し、製品６の良否判定のチエツク
を行う。

したがって、最初に製品をソケッ１〜に搭載した後は試
験が終Ｙするまで人間が製品に触れることなく、ＢＴ試
験が実施できる。

第３図は保持基板５に搭載された多数個の製品を１ケづ
つＩＣテスタでチエツクするための簡易回路のブロック
図である。６は製品であり、１２は各端子のラインを示
し、１３ば切り換えスイッチ、１４はスイッチシグマ１
ヘリクス、１５はコントローラ、】６はテスタ（選別器
）、１７は製品の端子ライン、１８は製品とテスタを接
続するライン、１９はテスタとコントローラとの信号ラ
イン、２０は任意の製品を選択するためにスイッチング
マＩ〜リクス１４へ送る信号ライン、２１は製品の良否
結果を送る信号ライン、２２は良品を示すＬＥＤランプ
、２３は不良品を示す１．、ＨＤランプである。

通常、ＢＴ板は製品を複数個（製品のパッケージの大き
さにより変わる）搭載するため、１枚のＢＴ板の製品を
４１１１定する場合には製品の端子とテスタとを１−個
づつ切り換える必要がある。

その制御を行う一実施例を第３図に示す。第３図におい
て、テスタ側から測定開始の信号を受けて、スイッチン
クマ１〜リクス１４で任意の製品を選択し、テスタ１６
と任意の製品６とを接続しテスタで測定し、その良否結
果を１．１：Ｄランプ２２で示し、次の製品測定に移る
。

尚、基板に搭載した製品のチエツクが終了すると、その
結果がＬ　ＩＥ　Ｄランプで示されているため、不良が
発生した場合にはマニュアル操作でスイソチングマ１ヘ
リクス１４から不良品を選択し、再測定が行えるという
ものである。

（実施例２） 第４図は本発明の実施例２の測定合理化ＢＴ板である。

２４はテスタで測定する場合のコネクタ、２５はＢＴ試
験回路を組んだ試験基板１と保持基板５とを接続するた
めのコネクタである。

尚、テスタの測定はコネクタ２４を測定するごとに１ケ
づつ取り換えて測定する。

この実施例では、現状の？１１！ｌ定システムで十分に
測定できる利点かある。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は製品個有のＢ　Ｔ試験用回
路を組んだ試験基板と製品を搭載した保持基板とを別々
に有することにより、ＢＴ試験が終了するまで製品に触
れることなく試験と良否判定チエツクを実施でき、この
ことにより、測定時のチエツクのために製品を１ケづつ
］Ｃソケットから外して測定する手間が省けること、さ
らに端子に余分なス１〜レスを与えず、また静電気スト
レスを加えたり、不純物を付けたりする慮れかなくなる
という効果を有するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）は本発明の実施例］における試験基板を示
す正面図、第］−図（ｂ）は同側面図、第１図（Ｃ）は
試験基板と保持基板とを組合せた状態を示す図、第２図
はテスタ測定時の状態を示す図、第３図はＢＴ試験した
複数個の製品を連続して測定する簡易回路を示すブロッ
ク図、第４図は本発明の実施例２を示す図、第５図は従
来例を示す図である。 ］・・・製製品布のＢＴ試験回路を組んだ試験基板２ａ
　、　２ｂ　、　７・ソケット　　３　コネクタとの接
続端子４　・ＢＴ試験回路用の外付部品 ５・保持基板　　　　６　製品（ＩＣ）８　ソケットの
端子　９　・測定基板

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）信頼性試験を行うＢＴ板において、試験対象のＩ
   Ｃを保持する保持基板と、前記保持基板上のＩＣに電気
   的に接続されるＢＴ試験回路を組込んだ試験基板との組
   を有することを特徴とする測定合理化ＢＴ板。