JPH04368754A - イオン源 - Google Patents
イオン源Info
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- JPH04368754A JPH04368754A JP3143491A JP14349191A JPH04368754A JP H04368754 A JPH04368754 A JP H04368754A JP 3143491 A JP3143491 A JP 3143491A JP 14349191 A JP14349191 A JP 14349191A JP H04368754 A JPH04368754 A JP H04368754A
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- ion
- slit
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- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 48
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims abstract description 14
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 79
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 20
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 1
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
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- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、低気圧アーク放電に
よってイオン源ガスをイオン化する長尺型あるいは大面
積型等のイオン源に関するものである。
よってイオン源ガスをイオン化する長尺型あるいは大面
積型等のイオン源に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図5に大面積型のイオン源の従来例とし
て、いわゆるバケット型イオン源を示す。図5において
、アークチャンバ(陽極)81は、ガス導入口84およ
びイオン引出し口88を有し、外壁に棒状の永久磁石8
2を複数本整列配置し、内壁面近傍に局所的な多極磁界
を生成する構造としている。
て、いわゆるバケット型イオン源を示す。図5において
、アークチャンバ(陽極)81は、ガス導入口84およ
びイオン引出し口88を有し、外壁に棒状の永久磁石8
2を複数本整列配置し、内壁面近傍に局所的な多極磁界
を生成する構造としている。
【0003】アークチャンバ(陽極)81の内部には、
一次電子源となる熱電子放出用のフィラメント(陰極)
83を1本ないし複数本設けている。アークチャンバ(
陽極)81には、イオン引出し口88の前方にイオン引
出し電極系87を配設している。フィラメント(陰極)
83には、熱電子放出用のフィラメント電源85が接続
され、アークチャンバ(陽極)81とフィラメント(陰
極)83との間にはアーク放電用の放電電源86が接続
されている。
一次電子源となる熱電子放出用のフィラメント(陰極)
83を1本ないし複数本設けている。アークチャンバ(
陽極)81には、イオン引出し口88の前方にイオン引
出し電極系87を配設している。フィラメント(陰極)
83には、熱電子放出用のフィラメント電源85が接続
され、アークチャンバ(陽極)81とフィラメント(陰
極)83との間にはアーク放電用の放電電源86が接続
されている。
【0004】以上のような構成のイオン源において、プ
ラズマを生成するには、ガス導入口84からイオン源ガ
スを導入しながら、フィラメント(陰極)83を赤熱さ
せるとともに、アークチャンバ(陽極)81とフィラメ
ント(陰極)83との間で低気圧アーク放電させる。こ
の結果、フィラメント(陰極)83から放出された一次
電子(熱電子)は、イオン源ガスの原子もしくは分子に
衝突して、イオン源ガスをプラズマ化する。この際、上
記一次電子(熱電子)は、アークチャンバ(陽極)81
に対し外部磁界の作用で直線的に到達することができず
、その有効飛程を増すので、電子の閉じ込めは良い。
ラズマを生成するには、ガス導入口84からイオン源ガ
スを導入しながら、フィラメント(陰極)83を赤熱さ
せるとともに、アークチャンバ(陽極)81とフィラメ
ント(陰極)83との間で低気圧アーク放電させる。こ
の結果、フィラメント(陰極)83から放出された一次
電子(熱電子)は、イオン源ガスの原子もしくは分子に
衝突して、イオン源ガスをプラズマ化する。この際、上
記一次電子(熱電子)は、アークチャンバ(陽極)81
に対し外部磁界の作用で直線的に到達することができず
、その有効飛程を増すので、電子の閉じ込めは良い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
イオン源は、アークチャンバ(陽極)81の中心部の無
磁場領域では、電子の飛程が直線的であり、イオン化効
率(ガス効率),電力効率を十分に高めることは困難で
あった。したがって、この発明の目的は、イオン化効率
(ガス効率),電力効率を十分に高めることができるイ
オン源を提供することである。
イオン源は、アークチャンバ(陽極)81の中心部の無
磁場領域では、電子の飛程が直線的であり、イオン化効
率(ガス効率),電力効率を十分に高めることは困難で
あった。したがって、この発明の目的は、イオン化効率
(ガス効率),電力効率を十分に高めることができるイ
オン源を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明のイオン源は、
イオン生成空間をイオン源ガスが導入されるガス導入空
間と生成されたイオンが引き出されるイオン引出し空間
とに仕切るように、イオン生成空間に小孔またはスリッ
トを有する仕切部材を配置し、小孔またはスリットを磁
力線が通過するように、仕切部材に磁石を設け、小孔ま
たはスリットを放電経路の一部とするように陰極および
陽極を配置している。
イオン生成空間をイオン源ガスが導入されるガス導入空
間と生成されたイオンが引き出されるイオン引出し空間
とに仕切るように、イオン生成空間に小孔またはスリッ
トを有する仕切部材を配置し、小孔またはスリットを磁
力線が通過するように、仕切部材に磁石を設け、小孔ま
たはスリットを放電経路の一部とするように陰極および
陽極を配置している。
【0007】
【作用】この発明の構成によれば、イオン生成空間をイ
オン源ガスが導入されるガス導入空間と生成されたイオ
ンが引き出されるイオン引出し空間とに仕切るように、
イオン生成空間に小孔またはスリットを有する仕切部材
を配置したので、イオン源ガスがガス導入空間からイオ
ン引出し空間へ流れる際に、イオン源ガスの流れが仕切
部材の小孔またはスリットを通過するように絞り込まれ
、この小孔またはスリットの部分で密度が高くなる。 また、小孔またはスリットを磁力線が通過するように仕
切部材に磁石を設けたことにより、ガス導入空間で生成
されたプラズマの流れも磁力線の作用で仕切部材の小孔
またはスリットを通過するように絞り込まれる。この結
果、仕切部材の小孔またはスリットを通して陰極および
陽極間でアーク放電が行われる際、小孔またはスリット
の部分でイオン源ガスのイオン化が促進される。
オン源ガスが導入されるガス導入空間と生成されたイオ
ンが引き出されるイオン引出し空間とに仕切るように、
イオン生成空間に小孔またはスリットを有する仕切部材
を配置したので、イオン源ガスがガス導入空間からイオ
ン引出し空間へ流れる際に、イオン源ガスの流れが仕切
部材の小孔またはスリットを通過するように絞り込まれ
、この小孔またはスリットの部分で密度が高くなる。 また、小孔またはスリットを磁力線が通過するように仕
切部材に磁石を設けたことにより、ガス導入空間で生成
されたプラズマの流れも磁力線の作用で仕切部材の小孔
またはスリットを通過するように絞り込まれる。この結
果、仕切部材の小孔またはスリットを通して陰極および
陽極間でアーク放電が行われる際、小孔またはスリット
の部分でイオン源ガスのイオン化が促進される。
【0008】
【実施例】この発明の第1の実施例のイオン源を図1に
基づいて説明する。この実施例は、スリットビームを発
生するイオン源を示すものである。図1において、陰極
チャンバ1は、前部を開放してあり、内部にフィラメン
ト(陰極)2を配設するとともに、ガス導入口3を設け
ている。陰極チャンバ1の前方位置には、スリット8を
有する金属製の仕切部材(中間電極となる)6を配置し
、スリット8を磁力線12が通過するように、仕切部材
6に磁石(永久磁石)7を内蔵配置している。
基づいて説明する。この実施例は、スリットビームを発
生するイオン源を示すものである。図1において、陰極
チャンバ1は、前部を開放してあり、内部にフィラメン
ト(陰極)2を配設するとともに、ガス導入口3を設け
ている。陰極チャンバ1の前方位置には、スリット8を
有する金属製の仕切部材(中間電極となる)6を配置し
、スリット8を磁力線12が通過するように、仕切部材
6に磁石(永久磁石)7を内蔵配置している。
【0009】また、仕切部材6の前方位置に陽極9を配
置し、さらにその前方位置に引出し電極11を配置して
いる。フィラメント(陰極)2には、熱電子放出用のフ
ィラメント電源4を接続し、フィラメント(陰極)2と
陽極9との間に放電電源5を接続し、陽極9と仕切部材
6とを抵抗10を介して接続している。上記の仕切部材
6は、イオン生成空間を、陰極チャンバ1の空間つまり
ガス導入空間13と、陽極9の中央部の空間つまりイオ
ン引出し空間14とに仕切る機能を有する。また、磁石
7は、棒状であって長手方向と平行な相対する2面に磁
極を有し、2本の磁石7の同極が前方となった状態でス
リット8を挟んで両側に配置している。さらに、スリッ
ト8は、フィラメント(陰極)2と陽極9との間の放電
経路の一部となっている。
置し、さらにその前方位置に引出し電極11を配置して
いる。フィラメント(陰極)2には、熱電子放出用のフ
ィラメント電源4を接続し、フィラメント(陰極)2と
陽極9との間に放電電源5を接続し、陽極9と仕切部材
6とを抵抗10を介して接続している。上記の仕切部材
6は、イオン生成空間を、陰極チャンバ1の空間つまり
ガス導入空間13と、陽極9の中央部の空間つまりイオ
ン引出し空間14とに仕切る機能を有する。また、磁石
7は、棒状であって長手方向と平行な相対する2面に磁
極を有し、2本の磁石7の同極が前方となった状態でス
リット8を挟んで両側に配置している。さらに、スリッ
ト8は、フィラメント(陰極)2と陽極9との間の放電
経路の一部となっている。
【0010】以上のような構成のイオン源において、陰
極チャンバ1に設けられたガス導入口3からイオン源ガ
スを導入して、フィラメント電源4により赤熱したフィ
ラメント(陰極)2と陽極9との間で、放電電源5によ
りアーク放電を開始させる。放電が生じると、イオン源
ガスがガス導入空間13からイオン引出し空間14へ流
れる際に、放電経路の一部となる仕切部材6のスリット
8にイオン源ガスの流れが絞り込まれてスリット8の部
分で密度が高くなると同時に、仕切部材6に埋め込まれ
た磁石7のなす磁場(磁力線12で示す)によってガス
導入空間13で生成されたプラズマの流れもスリット8
に絞り込まれることになる。したがって、仕切部材6の
スリット8を通してフィラメント(陰極)2および陽極
9間でアーク放電が行われる際、仕切部材6のスリット
8の内部で、イオン源ガスのイオン化が促進されること
になる。
極チャンバ1に設けられたガス導入口3からイオン源ガ
スを導入して、フィラメント電源4により赤熱したフィ
ラメント(陰極)2と陽極9との間で、放電電源5によ
りアーク放電を開始させる。放電が生じると、イオン源
ガスがガス導入空間13からイオン引出し空間14へ流
れる際に、放電経路の一部となる仕切部材6のスリット
8にイオン源ガスの流れが絞り込まれてスリット8の部
分で密度が高くなると同時に、仕切部材6に埋め込まれ
た磁石7のなす磁場(磁力線12で示す)によってガス
導入空間13で生成されたプラズマの流れもスリット8
に絞り込まれることになる。したがって、仕切部材6の
スリット8を通してフィラメント(陰極)2および陽極
9間でアーク放電が行われる際、仕切部材6のスリット
8の内部で、イオン源ガスのイオン化が促進されること
になる。
【0011】この実施例のイオン源によれば、イオン生
成空間をイオン源ガスが導入されるガス導入空間13と
生成されたイオンが引き出されるイオン引出し空間14
とに仕切るように、イオン生成空間にスリット8を有す
る仕切部材6を配置したので、イオン生成空間における
イオン源ガスの流れを仕切部材6のスリット8を通過す
るように絞り込むことができる。また、スリット8を磁
力線12が通過するように仕切部材6に磁石7を設けた
ので、ガス導入空間13で生成されたプラズマの流れも
磁力線12の作用で仕切部材6のスリット8を通過する
ように絞り込むことができる。
成空間をイオン源ガスが導入されるガス導入空間13と
生成されたイオンが引き出されるイオン引出し空間14
とに仕切るように、イオン生成空間にスリット8を有す
る仕切部材6を配置したので、イオン生成空間における
イオン源ガスの流れを仕切部材6のスリット8を通過す
るように絞り込むことができる。また、スリット8を磁
力線12が通過するように仕切部材6に磁石7を設けた
ので、ガス導入空間13で生成されたプラズマの流れも
磁力線12の作用で仕切部材6のスリット8を通過する
ように絞り込むことができる。
【0012】この結果、仕切部材6のスリット8を通し
てフィラメント(陰極)2および陽極9間でアーク放電
が行われる際、仕切部材6のスリット8の部分でガスの
イオン化を促進することができ、少ないガス流量でかつ
少ない電力で動作させることが可能となる。つまり、イ
オン化効率および電力効率を向上させることができる。 さらに、ガス流量を少なくできることから、真空排気ポ
ンプの容量を小さくすることが可能となり、装置コスト
を低減することが可能となる。
てフィラメント(陰極)2および陽極9間でアーク放電
が行われる際、仕切部材6のスリット8の部分でガスの
イオン化を促進することができ、少ないガス流量でかつ
少ない電力で動作させることが可能となる。つまり、イ
オン化効率および電力効率を向上させることができる。 さらに、ガス流量を少なくできることから、真空排気ポ
ンプの容量を小さくすることが可能となり、装置コスト
を低減することが可能となる。
【0013】なお、上記実施例では、スリット8を有す
る仕切板6を用いたが、スリット8に代えて1列に並ん
だ多数の小孔を有する仕切板を用いてもよい。この発明
の第2の実施例のイオン源を図2に基づいて説明する。 この実施例は、面ビームを発生するイオン源を示すもの
である。図2において、21は陰極チャンバ、22はフ
ィラメント(陰極)、23はガス導入口、24はフィラ
メント電源、25は放電電源、26は金属製の仕切部材
(中間電極となる)、27は永久磁石等の平行配列した
棒状の多数本の磁石、28はスリット、29は陽極、3
0は抵抗、31はイオン引出し電極系、32は磁力線、
33はガス導入空間、34はイオン引出し空間である。
る仕切板6を用いたが、スリット8に代えて1列に並ん
だ多数の小孔を有する仕切板を用いてもよい。この発明
の第2の実施例のイオン源を図2に基づいて説明する。 この実施例は、面ビームを発生するイオン源を示すもの
である。図2において、21は陰極チャンバ、22はフ
ィラメント(陰極)、23はガス導入口、24はフィラ
メント電源、25は放電電源、26は金属製の仕切部材
(中間電極となる)、27は永久磁石等の平行配列した
棒状の多数本の磁石、28はスリット、29は陽極、3
0は抵抗、31はイオン引出し電極系、32は磁力線、
33はガス導入空間、34はイオン引出し空間である。
【0014】前記第1の実施例との構造の違いは、仕切
部材26に設けるスリット(当然、小孔列でもよい)2
8を複数本平行に設け、棒状の磁石27を各スリット2
8を挾むように配置した点、ならびに開口面積が広くな
った点であり、その他の構成は図1の実施例と同様であ
る。作用効果についても図1の実施例と同様である。こ
の発明の第3の実施例を図3に基づいて説明する。この
実施例は、第2の実施例と同様に面ビームを発生するイ
オン源を示すものである。図3において、41は陰極チ
ャンバ、42はフィラメント(陰極)、43はガス導入
口、44はフィラメント電源、45は放電電源、46は
金属製の仕切部材(中間電極となる)、47は電磁石を
形成する電線、48はスリット、49は陽極、50は抵
抗、51はイオン引出し電極系、52は磁力線、53は
ガス導入空間、54はイオン引出し空間である。
部材26に設けるスリット(当然、小孔列でもよい)2
8を複数本平行に設け、棒状の磁石27を各スリット2
8を挾むように配置した点、ならびに開口面積が広くな
った点であり、その他の構成は図1の実施例と同様であ
る。作用効果についても図1の実施例と同様である。こ
の発明の第3の実施例を図3に基づいて説明する。この
実施例は、第2の実施例と同様に面ビームを発生するイ
オン源を示すものである。図3において、41は陰極チ
ャンバ、42はフィラメント(陰極)、43はガス導入
口、44はフィラメント電源、45は放電電源、46は
金属製の仕切部材(中間電極となる)、47は電磁石を
形成する電線、48はスリット、49は陽極、50は抵
抗、51はイオン引出し電極系、52は磁力線、53は
ガス導入空間、54はイオン引出し空間である。
【0015】前記第2の実施例との構造の違いは、仕切
部材46に永久磁石に代えて絶縁した電線47を内蔵し
、電線47に通電することにより、電線47により電磁
石を作って磁界を生成したものであり、その他の構成は
図2の実施例と同様であり、作用効果についても図2の
実施例と同様である。なお、上記の電線47は連続した
1本を折り返して配設したものであり、電流の通電方向
が交互に逆転していて、磁力線52の向きが各スリット
48で交互に逆方向となっている。
部材46に永久磁石に代えて絶縁した電線47を内蔵し
、電線47に通電することにより、電線47により電磁
石を作って磁界を生成したものであり、その他の構成は
図2の実施例と同様であり、作用効果についても図2の
実施例と同様である。なお、上記の電線47は連続した
1本を折り返して配設したものであり、電流の通電方向
が交互に逆転していて、磁力線52の向きが各スリット
48で交互に逆方向となっている。
【0016】この発明の第4の実施例を図4に基づいて
説明する。この実施例は、第2および第3の実施例と同
様に面ビームを発生するイオン源を示すものである。図
4において、61は放電チャンバ、62はマイクロ波放
射用のアンテナ、63はガス導入口、64はマイクロ波
源、65は放電電源、66は金属製の仕切部材(陰極)
、67は磁石(永久磁石)、68はスリット、69は陽
極、70はイオン引出し電極系、71は磁力線、72は
ガス導入空間、73はイオン引出し空間である。
説明する。この実施例は、第2および第3の実施例と同
様に面ビームを発生するイオン源を示すものである。図
4において、61は放電チャンバ、62はマイクロ波放
射用のアンテナ、63はガス導入口、64はマイクロ波
源、65は放電電源、66は金属製の仕切部材(陰極)
、67は磁石(永久磁石)、68はスリット、69は陽
極、70はイオン引出し電極系、71は磁力線、72は
ガス導入空間、73はイオン引出し空間である。
【0017】この実施例の第2の実施例との違いは、ア
ーク放電のための一次電子源をフィラメントに代えて、
マイクロ波源64により励起されるアンテナ62とする
とともに、仕切部材66と陽極69との間に放電電源6
5を接続して、仕切部材66を陰極としてアーク放電を
行わせるようにしたものである。その他の構成は図2の
実施例と同様である。
ーク放電のための一次電子源をフィラメントに代えて、
マイクロ波源64により励起されるアンテナ62とする
とともに、仕切部材66と陽極69との間に放電電源6
5を接続して、仕切部材66を陰極としてアーク放電を
行わせるようにしたものである。その他の構成は図2の
実施例と同様である。
【0018】この実施例では、マイクロ波源64からア
ンテナ62にマイクロ波電力を供給することにより、ガ
ス導入空間72内でマイクロ波放電を生じさせ、マイク
ロ波放電によってアーク放電用の一次電子を生成するも
のである。その他の動作は図2の実施例と同様であり、
効果についても前記各実施例と同様である。
ンテナ62にマイクロ波電力を供給することにより、ガ
ス導入空間72内でマイクロ波放電を生じさせ、マイク
ロ波放電によってアーク放電用の一次電子を生成するも
のである。その他の動作は図2の実施例と同様であり、
効果についても前記各実施例と同様である。
【0019】アーク放電を起こすための陰極は、熱陰極
,冷陰極,プラズマ陰極等、どのような構造でもよい。
,冷陰極,プラズマ陰極等、どのような構造でもよい。
【0020】
【発明の効果】この発明のイオン源によれば、イオン生
成空間をイオン源ガスが導入されるガス導入空間と生成
されたイオンが引き出されるイオン引出し空間とに仕切
るように、イオン生成空間に小孔またはスリットを有す
る仕切部材を配置したので、イオン生成空間におけるイ
オン源ガスの流れを仕切部材の小孔またはスリットを通
過するように絞り込むことができる。また、小孔または
スリットを磁力線が通過するように仕切部材に磁石を設
けたので、ガス導入空間で生成されたプラズマの流れも
磁力線の作用で仕切部材の小孔またはスリットを通過す
るように絞り込むことができる。
成空間をイオン源ガスが導入されるガス導入空間と生成
されたイオンが引き出されるイオン引出し空間とに仕切
るように、イオン生成空間に小孔またはスリットを有す
る仕切部材を配置したので、イオン生成空間におけるイ
オン源ガスの流れを仕切部材の小孔またはスリットを通
過するように絞り込むことができる。また、小孔または
スリットを磁力線が通過するように仕切部材に磁石を設
けたので、ガス導入空間で生成されたプラズマの流れも
磁力線の作用で仕切部材の小孔またはスリットを通過す
るように絞り込むことができる。
【0021】この結果、仕切部材の小孔またはスリット
を通して陰極および陽極間でアーク放電が行われる際、
仕切部材の小孔またはスリットの部分でガスのイオン化
を促進することができ、少ないガス流量でかつ少ない電
力で動作させることが可能となる。つまり、イオン化効
率および電力効率を向上させることができる。さらに、
ガス流量を少なくできることから、真空排気ポンプの容
量を小さくすることが可能となり、装置コストを低減す
ることが可能となる。
を通して陰極および陽極間でアーク放電が行われる際、
仕切部材の小孔またはスリットの部分でガスのイオン化
を促進することができ、少ないガス流量でかつ少ない電
力で動作させることが可能となる。つまり、イオン化効
率および電力効率を向上させることができる。さらに、
ガス流量を少なくできることから、真空排気ポンプの容
量を小さくすることが可能となり、装置コストを低減す
ることが可能となる。
【図1】この発明の第1の実施例の構成を示す概略平面
図である。
図である。
【図2】この発明の第2の実施例の構成を示す概略平面
図である。
図である。
【図3】この発明の第3の実施例の構成を示す概略平面
図である。
図である。
【図4】この発明の第4の実施例の構成を示す概略平面
図である。
図である。
【図5】従来のバケット型イオン源の一例の構成を示す
概略平面図である。
概略平面図である。
1 陰極チャンバ
2 フィラメント(陰極)
3 ガス導入口
4 フィラメント電源
5 放電電源
6 仕切部材
7 磁石
8 スリット
9 陽極
10 抵抗
11 引出し電極
12 磁力線
13 ガス導入空間
14 イオン引出し空間
Claims (1)
- 【請求項1】 イオン生成空間における陰極と陽極と
の間のアーク放電によってイオン源ガスを電離してイオ
ンを生成するイオン源において、前記イオン生成空間を
イオン源ガスが導入されるガス導入空間と生成されたイ
オンが引き出されるイオン引出し空間とに仕切るように
前記イオン生成空間に小孔またはスリットを有する仕切
部材を配置し、前記小孔またはスリットを磁力線が通過
するように前記仕切部材に磁石を設け、前記小孔または
スリットを放電路の一部とするように前記陰極および前
記陽極を配置したことを特徴とするイオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3143491A JPH04368754A (ja) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3143491A JPH04368754A (ja) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | イオン源 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04368754A true JPH04368754A (ja) | 1992-12-21 |
Family
ID=15339948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3143491A Pending JPH04368754A (ja) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04368754A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006107974A (ja) * | 2004-10-07 | 2006-04-20 | Kanazawa Inst Of Technology | イオン源 |
| JP2010153096A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Showa Shinku:Kk | イオンガン及びイオンビームの引出し方法 |
-
1991
- 1991-06-14 JP JP3143491A patent/JPH04368754A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006107974A (ja) * | 2004-10-07 | 2006-04-20 | Kanazawa Inst Of Technology | イオン源 |
| JP2010153096A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Showa Shinku:Kk | イオンガン及びイオンビームの引出し方法 |
| TWI478199B (zh) * | 2008-12-24 | 2015-03-21 | Showa Shinku Kk | Ion gun and ion beam extraction method |
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