JPH04373047A - メモリ診断方式 - Google Patents

メモリ診断方式

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Publication number
JPH04373047A
JPH04373047A JP3150733A JP15073391A JPH04373047A JP H04373047 A JPH04373047 A JP H04373047A JP 3150733 A JP3150733 A JP 3150733A JP 15073391 A JP15073391 A JP 15073391A JP H04373047 A JPH04373047 A JP H04373047A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processor
memory block
data bus
memory
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3150733A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirohiko Koike
小池 裕彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3150733A priority Critical patent/JPH04373047A/ja
Publication of JPH04373047A publication Critical patent/JPH04373047A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はメモリ診断方式、特に複
数の記憶ブロックに分散されたメモリの診断方式に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来この種のメモリ診断方式は、プロセ
ッサにより記憶部の全ブロックに書き込み後、全ブロッ
クを読み出し比較する必要があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のメモリ
診断方式では、診断時間が長いという問題がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のメモリ診断方式
は、N個の記憶ブロックを有する記憶手段と、前記記憶
手段に書き込み,読み出しを可能とするプロセッサと、
プロセッサより書き込み可能な診断指示レジスタと、N
個の記憶ブロックとプロセッサとを接続するデータバス
と、前記診断指示レジスタがセット状態にあるときには
プロセッサの記憶ブロック書き込み動作時にプロセッサ
の出力を前記データバスに出力するのを抑えるデータバ
ス切り離し手段と、記憶ブロックに対して前記データバ
スにデータを出力するよう指示する記憶ブロック出力制
御手段とを有することを特徴とする。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
【0006】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
であり、プロセッサ1と、複数個の記憶ブロック3,4
…5と、データバス2と、診断指示レジスタ6と、デー
タバス切り離し手段7と、記憶ブロック出力制御手段8
とから構成されている。プロセッサ1は、記憶ブロック
、3,4…5を診断する場合に、まず記憶ブロック3に
データを書き込む。そして、診断指示レジスタ6をセッ
トすると、データバス切り離し手段7によりプロセッサ
1はデータバス2と切り離される。この状態で記憶ブロ
ック4にプロセッサ1より書き込み動作を指示すると、
記憶ブロック出力制御手段8により記憶ブロック3に出
力制御信号9がセットされ、データバス2上に記憶ブロ
ック3の対応するアドレスの内容が出力される。データ
バス2に出力されるデータがプロセッタ1のデータから
記憶ブロック3のデータに変わっただけで、その他の動
作は診断レジスタ6がセットされていない時と同様であ
るので、記憶ブロック4には記憶ブロック3に既に書き
込まれているデータが書き込まれる。
【0007】このように診断指示レジスタ6をセットし
た状態で、記憶ブロックMにデータを書き込み指示する
と、データバス2上には記憶ブロック(M−1)のデー
タが出力されているので、記憶ブロック(M−1)のデ
ータが記憶ブロックMに書き込まれる。
【0008】よってプロセッサ1が記憶ブロック3,4
…5まで書き込み動作指示を繰り返すと、記憶ブロック
3の内容が記憶ブロック5にまで次々に転送される。
【0009】プロセッサ1は診断指示レジスタ6をリセ
ット後、記憶ブロック5の値を読み出し、記憶ブロック
3に書き込んだ値と比較する。これですべて一致すれば
記憶ブロックすべてに故障がないことがわかる。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、最初に書
き込まれた記憶ブロックのデータが、最後の記憶ブロッ
クにまで順送りで転送される構成としたため、最後の記
憶ブロックの内容が最初の記憶ブロックに書き込んだ内
容と一致することを確認するだけで記憶ブロック全領域
を診断したことになるので、記憶部の診断時間は記憶ブ
ロックの分割数が多ければ従来技術に比べて半分になる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【符号の説明】
1    プロセッサ 2    データバス 3,4,5    記憶ブロック 6    診断指示レジスタ 7    データバス切り離し手段 8    記憶ブロック出力制御手段 9,10    出力制御信号 11    アドレス信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  N個の記憶ブロックを有する記憶手段
    と、前記記憶手段に書き込み,読み出しを可能とするプ
    ロセッサと、プロセッサより書き込み可能な診断指示レ
    ジスタと、N個の記憶ブロックとプロセッサとを接続す
    るデータバスと、前記診断指示レジスタがセット状態に
    あるときにはプロセッサの記憶ブロック書き込み動作時
    にプロセッサの出力を前記データバスに出力するのを抑
    えるデータバス切り離し手段と、記憶ブロックに対して
    前記データバスにデータを出力するよう指示する記憶ブ
    ロック出力制御手段とを有することを特徴とするメモリ
    診断方式。
JP3150733A 1991-06-24 1991-06-24 メモリ診断方式 Pending JPH04373047A (ja)

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JP3150733A JPH04373047A (ja) 1991-06-24 1991-06-24 メモリ診断方式

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JP3150733A JPH04373047A (ja) 1991-06-24 1991-06-24 メモリ診断方式

Publications (1)

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JPH04373047A true JPH04373047A (ja) 1992-12-25

Family

ID=15503231

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JP3150733A Pending JPH04373047A (ja) 1991-06-24 1991-06-24 メモリ診断方式

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JP (1) JPH04373047A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009289374A (ja) * 2008-05-30 2009-12-10 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009289374A (ja) * 2008-05-30 2009-12-10 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20010130