JPH0437360Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0437360Y2 JPH0437360Y2 JP1984118404U JP11840484U JPH0437360Y2 JP H0437360 Y2 JPH0437360 Y2 JP H0437360Y2 JP 1984118404 U JP1984118404 U JP 1984118404U JP 11840484 U JP11840484 U JP 11840484U JP H0437360 Y2 JPH0437360 Y2 JP H0437360Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- temperature range
- switch
- operating temperature
- reed switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案はフロツピ デイスク装置（以下FDD
という）の温度についての安全対策に関する。
という）の温度についての安全対策に関する。
(ロ) 従来の技術
従来のFDDは使用温度範囲を検知する手段が
設けられておらず、そのため使用温度範囲を外れ
た状態で使用すると低温域（５℃以下）ではデイ
スクの寿命が劣化し、一方高温域（45℃以上）で
はデイスクの損傷、回路の破壊、出力の低下を来
すなど種々の問題があつた。
設けられておらず、そのため使用温度範囲を外れ
た状態で使用すると低温域（５℃以下）ではデイ
スクの寿命が劣化し、一方高温域（45℃以上）で
はデイスクの損傷、回路の破壊、出力の低下を来
すなど種々の問題があつた。
(ハ) 考案が解決しようとする問題点
本考案はこの様な問題を解決せんとするもので
ある。
ある。
従来のFDDに装着した温度スイツチは、装置
の過熱による損傷を防ぐためのものでありFDD
の間違つた使用を防止するものではなかつた。
の過熱による損傷を防ぐためのものでありFDD
の間違つた使用を防止するものではなかつた。
FDDが電子計算機に広く使用されるようにな
つた理由の１つは、デイスクを介してのデータの
互換性にあり、この互換性はトラツクの中心位置
とリードライトヘツドの中心位置のずれ（オフト
ラツクという）のないことによつて実現される。
つた理由の１つは、デイスクを介してのデータの
互換性にあり、この互換性はトラツクの中心位置
とリードライトヘツドの中心位置のずれ（オフト
ラツクという）のないことによつて実現される。
オフトラツクの原因となるものの１つは温度変
化によるFDD及びデイスクの膨張、収縮である。
温度変化によるデイスクの伸縮はFDDのスピン
ドルからリードライトヘツドまでの温度膨張係数
をデイスクの温度膨張係数と合せる事により実質
的に相殺され、ヘツド位置決め機構にも考慮が払
われている。しかしながら、これらの考慮が有効
である温度範囲は狭く、その範囲を外れるとオフ
トラツクが大となりＳ／Ｎ比が悪化し、リードエ
ラーやライトエラーが生ずる可能性が増す。
化によるFDD及びデイスクの膨張、収縮である。
温度変化によるデイスクの伸縮はFDDのスピン
ドルからリードライトヘツドまでの温度膨張係数
をデイスクの温度膨張係数と合せる事により実質
的に相殺され、ヘツド位置決め機構にも考慮が払
われている。しかしながら、これらの考慮が有効
である温度範囲は狭く、その範囲を外れるとオフ
トラツクが大となりＳ／Ｎ比が悪化し、リードエ
ラーやライトエラーが生ずる可能性が増す。
本考案の目的は、FDDの内部温度が使用温度
範囲外にあるときは装置の機能を停止せしめるこ
とにある。
範囲外にあるときは装置の機能を停止せしめるこ
とにある。
(ニ) 問題点を解決するための手段
本考案はリードスイツチ、永久磁石及び使用温
度範囲の下限温度及び上限温度にそれぞれ対応す
るキユリー点を有する第１の感温磁性体と第２の
感温磁性体よりなる２点動作温度スイツチをフロ
ツピ デイスク内に組込み、使用温度範囲内にお
いてのみ前記リードスイツチの接点を閉成（又は
開離）し、使用温度外では前記接点を開離（又は
閉成）するようにしたフロツピ デイスク装置に
係る。
度範囲の下限温度及び上限温度にそれぞれ対応す
るキユリー点を有する第１の感温磁性体と第２の
感温磁性体よりなる２点動作温度スイツチをフロ
ツピ デイスク内に組込み、使用温度範囲内にお
いてのみ前記リードスイツチの接点を閉成（又は
開離）し、使用温度外では前記接点を開離（又は
閉成）するようにしたフロツピ デイスク装置に
係る。
(ホ) 作用
低温域以下並びに高温域以上ではリードスイツ
チを開離（又は閉成）し、使用温度内においての
み前記リードスイツチを閉成（又は開離）し、前
記リードスイツチに接続されたデイスク回路用モ
ータを制御して該モータの停止又は回転を行わせ
る。
チを開離（又は閉成）し、使用温度内においての
み前記リードスイツチを閉成（又は開離）し、前
記リードスイツチに接続されたデイスク回路用モ
ータを制御して該モータの停止又は回転を行わせ
る。
(ヘ) 実施例
第１図は本考案の一実施例を示し、FDDの後
部即ちデイスク挿入側と反対側の側壁内面に２動
作型温度スイツチを固定している。
部即ちデイスク挿入側と反対側の側壁内面に２動
作型温度スイツチを固定している。
第２図は本考案に用いる２点動作型温度スイツ
チの一例を示し、この温度スイツチはリードスイ
ツチ３に軸方向に着磁した２個の環状永久磁石
４，４′を異極が間隔をおいて対向し、その磁束
の相互協動作用によりリードスイツチ３の接点を
作動させる位置にさしはさめ、かつ永久磁石４と
４′の間にFDDの使用温度範囲の下限温度T1及び
上限温度T2にそれぞれ対応するキユリー点をも
つ第１及び第２の環状感温磁性体５，６を直列に
配置した温度スイツチである。T1未満の低温域
ではリードスイツチ３の接点が閉成状態で、T1
以上T2未満の中温域でリードスイツチ３の接点
が開離してT2以上の高温域で再びリードスイツ
チ３の接点が閉成状態となるものである。この温
度スイツチの接点の作動によつて、低温域及び高
温域ではリレーの接点を利用し、または半導体の
ゲートを制御する等によつてデイスク回転用のモ
ーターの入力を遮断しておく。中温域である
FDD使用温度範囲内に於いては、その状態を表
示するランプ例えば緑色ランプを点灯させること
もできる。従つて、低温域、高温域において誤つ
て使用しようとしてもデイスクが回転しないため
誤動作によるデイスクの損傷を防止することがで
きる。中温域に於いては当然デイスクが回転し、
例えば緑色ランプが使用OKの表示をすることに
なる。
チの一例を示し、この温度スイツチはリードスイ
ツチ３に軸方向に着磁した２個の環状永久磁石
４，４′を異極が間隔をおいて対向し、その磁束
の相互協動作用によりリードスイツチ３の接点を
作動させる位置にさしはさめ、かつ永久磁石４と
４′の間にFDDの使用温度範囲の下限温度T1及び
上限温度T2にそれぞれ対応するキユリー点をも
つ第１及び第２の環状感温磁性体５，６を直列に
配置した温度スイツチである。T1未満の低温域
ではリードスイツチ３の接点が閉成状態で、T1
以上T2未満の中温域でリードスイツチ３の接点
が開離してT2以上の高温域で再びリードスイツ
チ３の接点が閉成状態となるものである。この温
度スイツチの接点の作動によつて、低温域及び高
温域ではリレーの接点を利用し、または半導体の
ゲートを制御する等によつてデイスク回転用のモ
ーターの入力を遮断しておく。中温域である
FDD使用温度範囲内に於いては、その状態を表
示するランプ例えば緑色ランプを点灯させること
もできる。従つて、低温域、高温域において誤つ
て使用しようとしてもデイスクが回転しないため
誤動作によるデイスクの損傷を防止することがで
きる。中温域に於いては当然デイスクが回転し、
例えば緑色ランプが使用OKの表示をすることに
なる。
第３図は本考案に用いる２点動作型温度スイツ
チの他の実施例を示す。この温度スイツチはリー
ドスイツチ３の外周に、その接点に対応する位置
にFDDの使用温度範囲の上限値T2に対応するキ
ユリー点をもつ大きい外径の環状感温磁性体６が
配置され、この感温磁性体６の両側に軸方向に着
磁され感温磁性体６の外径より小さい外径をもつ
２個の環状永久磁石４，４′が磁気的に直列に配
列され、更にFDDの使用温度範囲の下限値T1に
対応するキユリー点を持つ２個の感温磁性体５が
２個の永久磁石４，４′の端面及び外周面を覆う
とともに感温磁性体６の露出端面に接するように
配置された構造である。その接点動作はT1未満
の低温域では永久磁石４からの磁束のほとんどが
磁石４の端面を覆う感温磁性体５を通るので開離
状態でありT1以上でT2未満の中温域では感温磁
性体５が常磁性を呈するので永久磁石４からの磁
束の大部分がリードスイツチ３のリードを通り、
閉成状態になり、T2以上の高温域では永久磁石
４からの磁束が接点部において互いに打ち消し合
うので再び開離状態となる。この温度スイツチの
場合は、接点形式が前述した温度スイツチの全く
逆のものであるが、制御する内容はリレー等を介
することにより、同じ動作を行なわせることがで
きる。
チの他の実施例を示す。この温度スイツチはリー
ドスイツチ３の外周に、その接点に対応する位置
にFDDの使用温度範囲の上限値T2に対応するキ
ユリー点をもつ大きい外径の環状感温磁性体６が
配置され、この感温磁性体６の両側に軸方向に着
磁され感温磁性体６の外径より小さい外径をもつ
２個の環状永久磁石４，４′が磁気的に直列に配
列され、更にFDDの使用温度範囲の下限値T1に
対応するキユリー点を持つ２個の感温磁性体５が
２個の永久磁石４，４′の端面及び外周面を覆う
とともに感温磁性体６の露出端面に接するように
配置された構造である。その接点動作はT1未満
の低温域では永久磁石４からの磁束のほとんどが
磁石４の端面を覆う感温磁性体５を通るので開離
状態でありT1以上でT2未満の中温域では感温磁
性体５が常磁性を呈するので永久磁石４からの磁
束の大部分がリードスイツチ３のリードを通り、
閉成状態になり、T2以上の高温域では永久磁石
４からの磁束が接点部において互いに打ち消し合
うので再び開離状態となる。この温度スイツチの
場合は、接点形式が前述した温度スイツチの全く
逆のものであるが、制御する内容はリレー等を介
することにより、同じ動作を行なわせることがで
きる。
(ト) 本考案の効果
以上述べたように本考案によれば、FDDにそ
の内部温度を検知する２点動作型温度スイツチを
設けたのでFDDの内部温度が周囲温度と異なる
事態が生じても、定められた使用温度範囲以外で
のFDDの使用を停止できFDDの異常温度による
損傷を未然に防止することができる。
の内部温度を検知する２点動作型温度スイツチを
設けたのでFDDの内部温度が周囲温度と異なる
事態が生じても、定められた使用温度範囲以外で
のFDDの使用を停止できFDDの異常温度による
損傷を未然に防止することができる。
第１図は本考案によるフロツピ デイスク装置
の一実施例を示すシールド兼取付金具を装着する
前の状態で示す後部（デイスク挿入側と反対側）
からの外観斜視図、第２図は本考案に用いる２点
動作型温度スイツチの一例を示す正面図、第３図
は本考案に用いる２点動作型温度スイツチの他の
例を示す正面断面図である。 図において、１……フロツピ デイスク装置、
２……２点動作型温度スイツチ、３……リードス
イツチ、４，４′……永久磁石、５，６……感温
磁性体。
の一実施例を示すシールド兼取付金具を装着する
前の状態で示す後部（デイスク挿入側と反対側）
からの外観斜視図、第２図は本考案に用いる２点
動作型温度スイツチの一例を示す正面図、第３図
は本考案に用いる２点動作型温度スイツチの他の
例を示す正面断面図である。 図において、１……フロツピ デイスク装置、
２……２点動作型温度スイツチ、３……リードス
イツチ、４，４′……永久磁石、５，６……感温
磁性体。
Claims (1)
- リードスイツチ、永久磁石及び使用温度範囲の
下限温度及び上限温度にそれぞれ対応するキユリ
ー点を有する第１の感温磁性体と第２の感温磁性
体よりなる２点動作温度スイツチをフロツピ デ
イスク内に組込み、使用温度範囲内においてのみ
前記リードスイツチの接点を閉成（又は開離）
し、使用温度外では前記接点を開離（又は閉成）
するようにしたフロツピ デイスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11840484U JPS6134699U (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | フロツピデイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11840484U JPS6134699U (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | フロツピデイスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6134699U JPS6134699U (ja) | 1986-03-03 |
| JPH0437360Y2 true JPH0437360Y2 (ja) | 1992-09-02 |
Family
ID=30677294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11840484U Granted JPS6134699U (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | フロツピデイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6134699U (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5195316U (ja) * | 1975-01-30 | 1976-07-30 | ||
| JPS58158341U (ja) * | 1982-04-19 | 1983-10-22 | 東北金属工業株式会社 | 帯域動作型温度検出素子 |
-
1984
- 1984-08-02 JP JP11840484U patent/JPS6134699U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6134699U (ja) | 1986-03-03 |
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