JPH0437470A - 半田ディプ処理装置 - Google Patents

半田ディプ処理装置

Info

Publication number
JPH0437470A
JPH0437470A JP11846890A JP11846890A JPH0437470A JP H0437470 A JPH0437470 A JP H0437470A JP 11846890 A JP11846890 A JP 11846890A JP 11846890 A JP11846890 A JP 11846890A JP H0437470 A JPH0437470 A JP H0437470A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solder
horizontal groove
lead
molten solder
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11846890A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH072269B2 (ja
Inventor
Akira Zenitani
明 銭谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZENIYA SANGYO KK
Original Assignee
ZENIYA SANGYO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZENIYA SANGYO KK filed Critical ZENIYA SANGYO KK
Priority to JP11846890A priority Critical patent/JPH072269B2/ja
Priority to US07/696,833 priority patent/US5199990A/en
Publication of JPH0437470A publication Critical patent/JPH0437470A/ja
Publication of JPH072269B2 publication Critical patent/JPH072269B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Molten Solder (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、多数の電子部品を搭載したリードフレームに
半田被膜を選択的に形成するための半田ディブ処理装置
に関するものである。
従来の技術 多数の電子部品を搭載したリードフレームに半田被膜を
形成することが一般に行われており、前記半田被膜は通
常、ディブ(浸漬)処理により形成される。
液槽内の溶融半田は常にヒータで加熱されており、半田
浴のためにキャリヤ等で液槽上に送り込まれた電子部品
は、リードフレームのフレーム領域を下側にして下降し
溶融半田に接触する。また、前記接触を良好ならしめる
とともに溶融半田の表面酸化を軽減させるために、液槽
内の溶融半田を噴流させることも行われている。
発明が解決しようとする課題 しかし、かかる従来の装置を用いてリードフレームに半
田被膜を形成すると、半田被膜を必要とするリード領域
のみならずフレーム領域にまで半田被膜が形成されてし
まい、それだけ半田を浪費するばかりでなく有害ガスの
発生量も多くなる。
そのうえ、リードフレームから析出した不純物が液槽内
の溶融半田に混入し、その累積によって溶融半田の組成
が経時変化するという課題もあった。
そこで本発明者らは、垂直溝およびその上部に連なる水
平溝を有する半田濡れのよいブロックを溶融半田ととも
に液槽内に設け、垂直溝を通じて水平溝内に導入される
溶融半田にリードフレームのリード領域を接触させる半
田ディブ処理装置を開発し提案してきた。この場合、水
平溝内にリードフレームのリード領域のみを通過させる
ことによって、同領域にのみ半田被膜を形成することが
できる。
リードフレームのリード領域は、リードフレームの長手
方向に間欠的に配列されているので、垂直溝上をリード
領域が通過し終わる都度、垂直溝を通じて水平溝内に溶
融半田が補填されていく。
このため、リード領域の上下両面に半田被膜を同時に形
成することができる。また、垂直溝を通じて上昇した溶
融半田は逆流しないので、液槽内溶融半田の純度を常に
高(維持することができる。
しかし、リード領域の板厚や幅が比較的大きい品種に対
しては、水平溝内に導入された溶融半田がリード領域の
上面側に十分にまわり込まず、形成された半田被膜に厚
みむらを生じるという新たな課題があった。
課題を解決するための手段 本発明によると、多数の電子部品を搭載したリードフレ
ームのリード領域に半田被膜を形成すべく溶融半田とと
もに液槽内に設けられるブロックに、前記リード領域を
通過させるための水平溝を前記溶融半田の液面よりも高
い水平面内に有せしめるとともに、前記水平溝に連通し
て下方へ延び前記液面下に達する偏平な第1の通孔と、
前記水平溝に連通して上方へ若干延びたのち前記第1の
通孔を迂回して下方へ延び前記液面下に達する偏平な第
2の通孔とを有せしめる。
作用 このように構成すると、液槽内の溶融半田はその表面張
力によって第1の通孔を通じ水平溝内に導入されるとと
もに、第2の通孔を通じても水平溝内に導入されること
になる。すなわち、水平溝内を通過するリード領域は上
下両方向から溶融半田の支給を受けることになり、各リ
ード領域の両面に半田被膜を厚みむらなく形成すること
ができ、しかも、処理能率を一段と高めることができる
。また、第1および第2の通孔は溶融半田の液面下から
露出することな(上方へ延びるので、液面に浮遊する酸
化膜を混入させることなく液槽内の溶融半田を水平溝内
に導入させ得て、通孔内での半田詰まりを軽減させるこ
とができる。
実施例 つぎに、本発明を図面に示した実施例とともに詳しく説
明する。
第1図に示すように、溶融半田1を収容した液槽2内に
は、シーズヒータ3およびブロック4が設けられており
、ブロック4は鉛および亜鉛の共晶合金からなる溶融半
田1に対して濡れのよい鉄またはニッケル等の金属で形
成されている。第2図にも示すように、ブロック4は第
1垂直面5に第1および第2の通孔6,7を有し、上部
には水平溝8およびこれに隣接した貫通孔9を有してい
て、被処理電子部品Aの本体部分aが貫通孔9内を、そ
して、リードフレームbのリード領域Cが水平溝8内を
それぞれ通過する。dはフレーム領域を示す。
水平溝8は溶融半田lの液面よりも高い水平面内に位置
し、貫通孔9もその大部分が前記液面よりも高い位置に
ある。第1の通孔6は水平溝8に連通して下方へ延び、
溶融半田1の液面下に達する偏平なものである。また、
第2の通孔7は水平溝8に連通して上方へ若干延びたの
ち第1の通孔6および貫通孔9を迂回して下方へ延び、
溶融半田1の液面下に達する偏平なもので、数字7に似
た平面形状を有している。
第2垂直面10にも、第1垂直面5におけると同様の第
1および第2の通孔11.12が形成されている。また
、第3垂直面13にも前述と同様の第1および第2の通
孔14.15が形成されている。かかる通孔および水平
溝8は、第2図に示すようにブロック4を6つのブロッ
ク片16,17.18.19,20.21およびこれら
を一体に結合する適数本のボルトで構成することにより
、比較的容易に得ることができる。また、蓋板としての
ブロック片21をとり外して第1および第2の通孔内や
貫通孔内を清掃することができる。
前述の実施例では、第1および第20通孔を第1ないし
第3垂直面に設けて3連構成となしたが、この連数は任
意に選択できる。また、被処理電子部品Aの本体部分a
の通過路を水平溝8の外側に設定してもよく、この場合
は貫通孔9を要しない。
発明の効果 以上のように本発明によると、リードフレームの板厚や
形状に関係なく、同フレームのリード領域の全面に半田
被膜を厚みむらなく形成できるのみならず処理能率を高
め得、しかも、液槽内溶融半田の純度を常に高く維持す
ることができる。また、液面に浮遊する酸化膜を混入さ
せることなく溶融半田を水平溝内に導入できるので、良
質の半田被膜を形成できるのみならず、通孔内での半田
詰まりを軽減させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施した半田ディブ処理装置の要部の
斜視図、第2図は同装置のブロックの分解斜視図である
。 1・・・・・・溶融半田、2・・・・・・液槽、4・・
・・・・ブロック、6,11・・・・・・第1の通孔、
7,12・旧・・第2の通孔、8・・・・・・水平溝、
9・・・・・−貫通孔。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)多数の電子部品を搭載したリードフレームのリー
    ド領域に半田被膜を形成すべく溶融半田とともに液槽内
    に設けられたブロックが、前記リード領域を通過させる
    ための水平溝を前記溶融半田の液面よりも高い水平面内
    に有するとともに、前記水平溝に連通して下方へ延び前
    記液面下に達する偏平な第1の通孔と、前記水平溝に連
    通して上方へ若干延びたのち前記第1の通孔を迂回して
    下方へ延び前記液面下に達する偏平な第2の通孔とを有
    していることを特徴とする半田ディブ処理装置。
  2. (2)前記第1および第2の通孔が共通の垂直面内に位
    置し、前記ブロックが水平および垂直方向へそれぞれ分
    離可能に複数のブロック片で組み立てられていることを
    特徴とする請求項1記載の半田ディブ処理装置。
JP11846890A 1990-05-08 1990-05-08 半田ディプ処理装置 Expired - Lifetime JPH072269B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11846890A JPH072269B2 (ja) 1990-05-08 1990-05-08 半田ディプ処理装置
US07/696,833 US5199990A (en) 1990-05-08 1991-05-07 Apparatus for solder-plating a lead-frame carrying electronic components

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11846890A JPH072269B2 (ja) 1990-05-08 1990-05-08 半田ディプ処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0437470A true JPH0437470A (ja) 1992-02-07
JPH072269B2 JPH072269B2 (ja) 1995-01-18

Family

ID=14737419

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11846890A Expired - Lifetime JPH072269B2 (ja) 1990-05-08 1990-05-08 半田ディプ処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH072269B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH072269B2 (ja) 1995-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4142436B4 (de) Lötanlage mit einer Schutzgasatmosphäre über dem Lötband
JPS5871388A (ja) 消耗アム−ド選択メツキ装置
JPH10113765A (ja) ウェーブろう付けまたは錫めっきの機械、その方法および不活性化装置
JPH0437470A (ja) 半田ディプ処理装置
US5199990A (en) Apparatus for solder-plating a lead-frame carrying electronic components
JPH0422574A (ja) 半田ディプ処理装置
JP2008057049A (ja) 内部熱スプレッダめっき方法および装置
US5737043A (en) Liquid crystal display panel holding metal fixture
CN107710388B (zh) 基板处理装置
JPH02246106A (ja) 電子部品半田ディプ処理装置
JPH0317298A (ja) 均一部分電気メッキ法
JPH02246107A (ja) 電子部品半田ディプ処理装置
JPS6120026Y2 (ja)
JPH0627255Y2 (ja) 噴流はんだ槽
JP3450179B2 (ja) 表面処理装置
JP2000323826A (ja) 噴流はんだ槽
US20180197810A1 (en) Lead frame and method of manufacturing the same
JP3098891B2 (ja) めっき装置
JPH11106990A (ja) 長尺金属条ストライプめっき方法及び装置
JP3255382B2 (ja) スパージャ式メッキ装置
JPH0530849Y2 (ja)
JP3175875B2 (ja) 噴流メッキ装置
JPH02104692A (ja) 部分めっき装置
JPS6145164Y2 (ja)
JP2562744B2 (ja) 半田付装置