JPH0437710A - 光走査装置 - Google Patents
光走査装置Info
- Publication number
- JPH0437710A JPH0437710A JP2144703A JP14470390A JPH0437710A JP H0437710 A JPH0437710 A JP H0437710A JP 2144703 A JP2144703 A JP 2144703A JP 14470390 A JP14470390 A JP 14470390A JP H0437710 A JPH0437710 A JP H0437710A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- wavelength
- laser beam
- actuator
- variation
- Prior art date
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- Pending
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、例えばレーザビームプリンターやレーザ複写
機における、レーザ光をホログラム等の回折格子により
偏向し直線走査する光走査装置に関するものである。
機における、レーザ光をホログラム等の回折格子により
偏向し直線走査する光走査装置に関するものである。
従来の技術
従来より、レーザ光を偏向させ、被走査面を走査する光
走査走査が知られている。このような光走査装置の１種
として、光源に半導体レーザ、偏向手段としてホログラ
ムディスクを用いたものか提案されている（例えば、特
願昭５４−１４７５４４号、特願昭５７−５５２７５号
）。ツ下、第４図によりレーザプリンタ用の偏向装置に
ついて簡単に説明する。
走査走査が知られている。このような光走査装置の１種
として、光源に半導体レーザ、偏向手段としてホログラ
ムディスクを用いたものか提案されている（例えば、特
願昭５４−１４７５４４号、特願昭５７−５５２７５号
）。ツ下、第４図によりレーザプリンタ用の偏向装置に
ついて簡単に説明する。
同図において、半導体レーザ光源１から射出されたレー
ザビームはコリメータレンズ２を通って、偏向手段とし
てのホログラムディスク３により回折され、感光体ドラ
ム等の被走査面４に結像される。
ザビームはコリメータレンズ２を通って、偏向手段とし
てのホログラムディスク３により回折され、感光体ドラ
ム等の被走査面４に結像される。
ホログラムディスク３を回転させることにより被走査面
４のレーザビームスポットを走査する。
４のレーザビームスポットを走査する。
また該ホログラムディスク３は複数のファセットからな
り、１回転でファセットの数だけ走査することができる
。
り、１回転でファセットの数だけ走査することができる
。
しかし、半導体レーザの波長は周囲温度や駆動電流によ
り絶えず変化しており、このため走査線の直線性やレー
ザビーム径が悪化したり、所定の走査ラインから上下に
ずれたり、また走査長が変化したりする。
り絶えず変化しており、このため走査線の直線性やレー
ザビーム径が悪化したり、所定の走査ラインから上下に
ずれたり、また走査長が変化したりする。
このような問題に対して基本的には半導体レーザの温度
を制御することにより解決する方法が提案されている。
を制御することにより解決する方法が提案されている。
また、温度特性の経時変化に対してもフィードバック制
御を行うことにより対応でき、そのための簡易な波長検
出も提案されている（特願昭５９−８９７３０号）。
御を行うことにより対応でき、そのための簡易な波長検
出も提案されている（特願昭５９−８９７３０号）。
発明が解決しようとする課題
ところが、半導体レーザは極めて微少でありこれを直接
温度制御することは困難であるところから半導体レーザ
を保持する保持体を温度制御することにより半導体レー
ザの温度制御を行っている。
温度制御することは困難であるところから半導体レーザ
を保持する保持体を温度制御することにより半導体レー
ザの温度制御を行っている。
さて、半導体レーザの温度とレーザ光の波長関係は、第
５図に示すように、一般に階段状の線で表される。この
階段の部分の波長変化現象はモードホップブといわれ、
約０．５ｎｍ程度の波長変化がある。このため温度制御
方式では瞬時に起こるこのモードホップを補償すること
はできない。
５図に示すように、一般に階段状の線で表される。この
階段の部分の波長変化現象はモードホップブといわれ、
約０．５ｎｍ程度の波長変化がある。このため温度制御
方式では瞬時に起こるこのモードホップを補償すること
はできない。
また、周囲温度の変化や駆動電流の変化に対応すること
も困難であるという問題点を有していた。
も困難であるという問題点を有していた。
また、ホログラム等の回折格子を複数にして、半導体レ
ーザの波長変動の影響を相殺させる方法も提案されてい
るが（特願昭５４−１４７５４４号、特願昭５７−５５
２７５号）、走査線の所定の走査ラインからの上下方向
のずれを補正することはできても、スポット径など、そ
の他の変動を含めて波長変動を補償することは困難であ
るという問題があった。
ーザの波長変動の影響を相殺させる方法も提案されてい
るが（特願昭５４−１４７５４４号、特願昭５７−５５
２７５号）、走査線の所定の走査ラインからの上下方向
のずれを補正することはできても、スポット径など、そ
の他の変動を含めて波長変動を補償することは困難であ
るという問題があった。
課題を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明は、半導体レーザを
光軸方向とは異なる１方向に駆動するアクチュエータと
、前記半導体レーザの波長変動を検出する装置を有する
構成としたものである作 用 本発明によれば、アク、チュエータにより、半導体レー
ザの位置を波長により変化させることでレーザスポット
径や走査線の位置、走査線の直線性の変動を抑えること
ができる。また、連続的に波長をモニターすれば、走査
中のモードホップにも対応することかできる。
光軸方向とは異なる１方向に駆動するアクチュエータと
、前記半導体レーザの波長変動を検出する装置を有する
構成としたものである作 用 本発明によれば、アク、チュエータにより、半導体レー
ザの位置を波長により変化させることでレーザスポット
径や走査線の位置、走査線の直線性の変動を抑えること
ができる。また、連続的に波長をモニターすれば、走査
中のモードホップにも対応することかできる。
実 施 例
以下本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第１図に本発明に係わる光偏向装置の概略構成を示す。
６は半導体レーザ光源、７はレーザアクチュエータ、８
はホログラムディスク、９は感光ドラム等の被走査面で
ある。１０はビームスプリンター １１は波長検出用の
回折格子、１２は検出器である。第２図は本発明の光走
査装置のアクチュエータ部の概略構成を示す斜視図であ
る。
はホログラムディスク、９は感光ドラム等の被走査面で
ある。１０はビームスプリンター １１は波長検出用の
回折格子、１２は検出器である。第２図は本発明の光走
査装置のアクチュエータ部の概略構成を示す斜視図であ
る。
１３はレーザ、１４はレーザ１３の１軸方向の変位を許
す支持バネ、１５はレーザ１３を支持バネ１４を介して
支持するレーザ支持体、１６はコイル、１７は磁石、１
８はヨークである。
す支持バネ、１５はレーザ１３を支持バネ１４を介して
支持するレーザ支持体、１６はコイル、１７は磁石、１
８はヨークである。
上記の構成において、レーザ光源６から出射されたレー
ザ光は、ビームスプリッタ−１０を通りホログラムディ
スク８により回折され被走査面上で結像する。半導体レ
ーザの波長変動が発生しても、副走査方向の変化を抑え
、被走査面上で必ず結像させるためにレーザ６をレーザ
アクチュエタ７により光軸と異なる方向に変位させる。
ザ光は、ビームスプリッタ−１０を通りホログラムディ
スク８により回折され被走査面上で結像する。半導体レ
ーザの波長変動が発生しても、副走査方向の変化を抑え
、被走査面上で必ず結像させるためにレーザ６をレーザ
アクチュエタ７により光軸と異なる方向に変位させる。
また、波長を常に検出するためにビームスプリッタ１０
により分離されたレーザ光は、波長検出用の回折格子１
１を通り検出装置１２に入射する。
により分離されたレーザ光は、波長検出用の回折格子１
１を通り検出装置１２に入射する。
第３図に波長か７８０ｎｍと７９０ｎｍのときの感光ド
ラム上の走査線とレーザアクチュエータにより補正され
た走査線を示す。走査線ａは７８Ｑｎｍのものであり、
波長か変動して７９０ｎｍになった場合、補正しなけれ
ば走査線すの様になるか、レーザアクチュエータにより
走査線Ｃのように補正することができる。
ラム上の走査線とレーザアクチュエータにより補正され
た走査線を示す。走査線ａは７８Ｑｎｍのものであり、
波長か変動して７９０ｎｍになった場合、補正しなけれ
ば走査線すの様になるか、レーザアクチュエータにより
走査線Ｃのように補正することができる。
以上のように本実施例によればレーザ光源を１軸方向に
駆動するアクチュエータを設けることにより、レーザビ
ームの波長変動による走査線の変動を抑えることができ
る。
駆動するアクチュエータを設けることにより、レーザビ
ームの波長変動による走査線の変動を抑えることができ
る。
なお、実施例では波長変動検出用のレーザビムは、ビー
ムスプリッタ−により得るものとしたが、ホログラムの
０次光（非回折光）を利用してもよい。また、レーザア
クチュエータは、電磁コイル方式としたが、その他の方
式を用いてもよいことは言うまでもない。
ムスプリッタ−により得るものとしたが、ホログラムの
０次光（非回折光）を利用してもよい。また、レーザア
クチュエータは、電磁コイル方式としたが、その他の方
式を用いてもよいことは言うまでもない。
発明の効果
以上のように本発明によれば、レーザ光源を１軸方向に
駆動するアクチユエータを設けることによりレーザビー
ムの波長変動による走査線の変動をおさえることができ
る。
駆動するアクチユエータを設けることによりレーザビー
ムの波長変動による走査線の変動をおさえることができ
る。
第１図は本発明の光偏向装置の実施例を示す構成図、第
２図はアクチニエータ部の概略構成を示す斜視図、第３
図は波長変動による走査線の変化を示す図、第４図は従
来の光走査装置の構成図、第５図はレーザ光源の周囲温
度と波長変化の関係を示す図である。 １．６．１３・・・・・・レーザ光源、２・・・・・・
コリメータレンズ、３．８・・・・・・ホログラム、４
，９・・・・・・被走査面、１１・・・・・・波長検出
用回折格子、１２・・・・・・検出器。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 ほか１名し一寸°゛
赴Ｊ９尾聡）７１
２図はアクチニエータ部の概略構成を示す斜視図、第３
図は波長変動による走査線の変化を示す図、第４図は従
来の光走査装置の構成図、第５図はレーザ光源の周囲温
度と波長変化の関係を示す図である。 １．６．１３・・・・・・レーザ光源、２・・・・・・
コリメータレンズ、３．８・・・・・・ホログラム、４
，９・・・・・・被走査面、１１・・・・・・波長検出
用回折格子、１２・・・・・・検出器。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 ほか１名し一寸°゛
赴Ｊ９尾聡）７１
Claims (1)
- レーザ光源と、該レーザ光源より出射する光ビームを所
定の走査線に沿って走査するホログラムを用いた光走査
装置において、前記レーザ光源の波長変動に起因するレ
ーザビームの焦点位置やレーザビーム径の変動を防止す
る手段として前記レーザ光源を１軸方向に駆動するアク
チュエータを設けたことを特徴とする光走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2144703A JPH0437710A (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | 光走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2144703A JPH0437710A (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | 光走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0437710A true JPH0437710A (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=15368322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2144703A Pending JPH0437710A (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | 光走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0437710A (ja) |
-
1990
- 1990-06-01 JP JP2144703A patent/JPH0437710A/ja active Pending
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