JPH0445410A - 光走査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、例えばレーザプリンターやレーザ複写機にお
いてレーザ光をホログラム等の回折格子により偏向し直
線走査する光走査装置に関するものである。

従来の技術 レーザ光を偏向させ、被走査面を走査する光走査装置の
一種として、光源に半導体レーザ、偏向手段としてホロ
グラムディスクを用いたものが提案されている（例えば
、特願昭５４−１４７５４４号、特願昭５７−５５２７
５号）。以下、第３図によりレーザプリンタ用の光走査
装置の基本構成について簡単に説明する。

半導体レーザ光源１から射出されたレーザビームはコリ
メータレンズ２を通って、偏向手段としての第１のホロ
グラム３および第２のホログラム４により回折され、感
光体ドラム等の被走査面５に結像される。したがって、
ホログラム４を回転させることにより被走査面５のレー
ザビームスポットを走査することができる。また前記ホ
ログラム４は複数のファセットからなり、１回転でファ
セットの数だけ走査することができる。

しかし、半導体レーザの波長は周囲温度や駆動電流によ
り絶えず変化しており、このため走査線の直線性やレー
ザビーム径が悪化したり、所定の走査線から上下にずれ
たり、また走査長が変化したりする。

このような問題に対して、半導体レーザの温度を制御す
ることにより解決する従来例が提案されている。また、
温度特性の経時変化に対してフィードバック制御を行う
ことにより対応するための簡易な波長検出機構部も提案
されている（特願昭５９−８９７３０号）。

発明が解決しようとする課題 ところが、光走査装置におけるレーザビーム検出機構部
は、位置検出、波長検出においても１走査に１回のみし
か検出できないため、走査中に発生する変動に対しては
補正することができなかった。

また、半導体レーザの温度とレーザ光の波長との関係は
、第４図に示すように、一般に階段状の線で表される。

この階段の部分の波長変化現象はモードホップといわれ
、約０．５ｎｍ程度の波長変化がある。このため１走査
１検出方式では瞬時に起こるこのモードホップを補償す
ることはできない。

本発明は上記問題点に鑑み、常時波長を検出することが
できる光走査装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段 上記目的を達成するために本発明は、レーザ光源から出
射されたレーザビームを分割し、その−方を波長検出用
の回折格子に入射させ、回折角の変化によるレーザビー
ムの位置変化を検出することによって波長変動を検出す
る構成とした。

作　　　用 レーザビームを分割して利用することにより、走査ビー
ムに影響を与えずに、波長検出用のビームを取り出し、
波長検出用の回折格子に入射させる。ここでビームは検
出手段上で結像するように波面が補正される。波長変動
により回折角が大きく変動するように設計された前記回
折格子により検出手段上のレーザスポットの位置が波長
により変動する。この位置変化により波長変化を常時検
出できる。

実　　施　　例 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
。

第１図に、本発明の第１の実施例における光走査装置の
概略構成を示す。

６は半導体レーザ光源、７はレーザビーム分割手段とし
てのハーフミラ−８はホログラム、９は感光体ドラム等
の被走査面、１０は波長検出用回折格子、ユ１は反射ミ
ラー　１２は波長検出器である。

半導体レーザ光源６から出射されたレーザ光はハーフミ
ラ−７により、走査用のレーザビーム１３と、波長検出
用のレーザビーム１４とに分割される。走査用のレーザ
ビーム１３はホログラム８に入射し、回折されて被走査
面９に到達する。

波長検出用のレーザビーム１４は波長検出用回折格子１
０に入射し、波長検出器１２に結像するように回折光の
波面が補正される。波長検出用回折格子１０は、レーザ
ビームの波長変動により回折角が大きく変化するように
設定されており、検出器１２上では波長変動をレーザビ
ームスポットの位置変化として検出することができる。

以上のように本実施例によれば、レーザ光源６から出射
された光をハーフミラ−７で分割し、その一方を波長検
出用の回折格子１０に入射させ、回折格子１０における
回折角の変化によるレーザビームの位置変化を波長検出
器１２によって検出することにより、半導体レーザめ温
度変化や駆動電流の変化に起因する波長変動を常時検出
することができ、波長変動によって走査線の直線性やレ
ーザビーム径が悪化したり、所定の走査線から上下にず
れたり、また走査長が変化したりする現象を走査中にお
いても補正することが可能となる。

以下、本発明の第２の実施例について図面を参照しなが
ら説明する。

第２図は、実施例における光走査装置の構成図である。

同図において、１５は半導体レーザ光源、１６はホログ
ラム、１７は被走査面である。第１の実施例の構成と異
なるのは、波長検出用回折格子１８をホログラム１６の
後方に位置させ、ホログラム１６の０次光（非回折光）
が入射するようにしたことである。

ホログラム１６に入射したレーザビームは回折され被走
査面１７に到達するように設計されているが、実際には
そのうち一部は回折されずにホログラム１６を透過した
り、反射したりする。このうちホログラム１６を透過す
るレーザビーム（０次光）を利用する。０次光を波長検
出用回折格子１８に入射させ、検出器１９に結像するよ
うに波面を補正する。

波長検出用回折格子１８はレーザビームの波長変動によ
り回折角が大きく変化するように設定されており、検出
器１９上では波長変動をレーザビームスポットの位置変
化として検出することができる。

以上のように、波長検出用回折格子１８をホログラム１
６の後方に設置し、ホログラム１６の０次光を利用する
ことでレーザビームを走査用と波長検出用に分離するた
めの専用の光学素子は不要となり、また走査用レーザビ
ームの光強度を従来の構成より悪化させずに波長検出を
常時行うことができる。

なお、第１及び第２の実施例では波長検出用回折格子を
１枚としたが２枚以上にしても良いことは言うまでもな
い。

発明の効果 以上のように本発明によれば、レーザビームの波長変動
を常時検出することができるので、走査中における急激
な波長変動に対しても補正が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例における光走査装置を示
す構成図、第２図は本発明の第２の実施例における光走
査装置を示す構成図、第３図は従来の光走査装置の構成
図、第４図は半導体レーザ光源の波長変化特性を示す図
である。 ６．１５・・・・・・レーザ光源、７・・・・・・ハー
フミラ−８，１６・・・・・・ホログラム、１０．１８
・・・・・・波長検出用回折格子、１２．１９・・・・
・・検出器。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）レーザ光源と、このレーザ光源より出射するレー
   ザビームを所定の走査線に沿って走査する回折格子とを
   用いた光走査装置において、前記レーザ光源から出射さ
   れたレーザビームを分割するレーザビーム分割手段と、
   分割された波長検出用レーザビームが入射される波長検
   出用回折格子と、この波長検出用回折格子における回折
   角の変化によるレーザビームの位置変化を検出すること
   により波長変動を検出する検出手段とを備えたことを特
   徴とする光走査装置。
2. （２）波長検出用回折格子に入射されるレーザビームは
   、回折格子の０次回折光であることを特徴とする請求項
   １記載の光走査装置。