JPH0439784A - マイクロコンピュータ - Google Patents
マイクロコンピュータInfo
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- JPH0439784A JPH0439784A JP2148192A JP14819290A JPH0439784A JP H0439784 A JPH0439784 A JP H0439784A JP 2148192 A JP2148192 A JP 2148192A JP 14819290 A JP14819290 A JP 14819290A JP H0439784 A JPH0439784 A JP H0439784A
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- JP
- Japan
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- signal
- terminal
- microcomputer
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- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はマイクロコンピュータに関し、更ニ詳述すれば
、モード切換えのための構成を工夫したマイクロコンピ
ュータに関する。
、モード切換えのための構成を工夫したマイクロコンピ
ュータに関する。
第3図は従来の一般的なマイクロコンピュータのモード
切換えのための構成を示す回路図でありこの例では通常
モードと3種類のテストモードとの計4モードの切換え
を2個の端子にて行うように構成されている。以下、具
体的に説明する。
切換えのための構成を示す回路図でありこの例では通常
モードと3種類のテストモードとの計4モードの切換え
を2個の端子にて行うように構成されている。以下、具
体的に説明する。
第3図に示されている回路は、2個のテストモード設定
端子(第1及び第2)■及び2,2個のインバータ3及
び4.それぞれ2入力の4個のANDゲー)5.6.
7及び8にて構成されている。
端子(第1及び第2)■及び2,2個のインバータ3及
び4.それぞれ2入力の4個のANDゲー)5.6.
7及び8にて構成されている。
第1テストモード設定端子1はANDゲート6及び8そ
れぞれの一方の入力端子に接続されると共に、インバー
タ3を介してANDゲート5及び7それぞれの一方の入
力端子にも接続されている。
れぞれの一方の入力端子に接続されると共に、インバー
タ3を介してANDゲート5及び7それぞれの一方の入
力端子にも接続されている。
また、第2テストモード設定端子2はANDゲート7及
び8それぞれの他方の入力端子に接続されると共に、イ
ンバータ4を介してANDゲート5及び6それぞれの他
方の入力端子にも接続されていこのような従来のマイク
ロコンピュータのモード切換え回路では、両テストモー
ド設定端子l及び2への入力信号レベルが共にローレベ
ルである場合にはANDゲート5のみの出力信号がハイ
レベルとなり、両テストモード設定端子1及び2への入
力信号レベルが共にハイレベルである場合にはANDゲ
ート8のみの出力信号がハイレベルとなる。
び8それぞれの他方の入力端子に接続されると共に、イ
ンバータ4を介してANDゲート5及び6それぞれの他
方の入力端子にも接続されていこのような従来のマイク
ロコンピュータのモード切換え回路では、両テストモー
ド設定端子l及び2への入力信号レベルが共にローレベ
ルである場合にはANDゲート5のみの出力信号がハイ
レベルとなり、両テストモード設定端子1及び2への入
力信号レベルが共にハイレベルである場合にはANDゲ
ート8のみの出力信号がハイレベルとなる。
また、第1テストモード設定端子1への入力信号がハイ
レベルで第2テストモード設定端子2への入力信号がロ
ーレベルである場合にはANDゲート6のみの出力信号
がハイレベルとなり、第1テストモード設定端子1への
入力信号がローレベルで第2テストモード設定端子2へ
の入力信号がハイレベルである場合にはANDゲート7
のみの出力信号がハイレベルとなる。
レベルで第2テストモード設定端子2への入力信号がロ
ーレベルである場合にはANDゲート6のみの出力信号
がハイレベルとなり、第1テストモード設定端子1への
入力信号がローレベルで第2テストモード設定端子2へ
の入力信号がハイレベルである場合にはANDゲート7
のみの出力信号がハイレベルとなる。
従って、たとえばANDゲート5の出力信号がハイレベ
ルである場合に通常モードが設定され、ANDゲート6
の出力信号がハイレベルである場合に第1テストモード
が設定され、ANI)ゲート7の出力信号がハイレベル
である場合に第2テストモードが設定され、ANDゲー
ト8の出力信号がハイレベルである場合に第3テストモ
ードが設定されるようにマイクロコンピュータ本体を構
成しておけば、両テストモード設定端子1及び2への入
力信号のレベルの4通りの組合わせに応じて4種類のモ
ードの切換えが可能になる。
ルである場合に通常モードが設定され、ANDゲート6
の出力信号がハイレベルである場合に第1テストモード
が設定され、ANI)ゲート7の出力信号がハイレベル
である場合に第2テストモードが設定され、ANDゲー
ト8の出力信号がハイレベルである場合に第3テストモ
ードが設定されるようにマイクロコンピュータ本体を構
成しておけば、両テストモード設定端子1及び2への入
力信号のレベルの4通りの組合わせに応じて4種類のモ
ードの切換えが可能になる。
従来のマイクロコンピュータは上述のようなモード切換
えのための構成を有しているので、切換え可能なモード
の種類が多くなればなる程、テストモード設定端子の数
を増加させる必要がある。
えのための構成を有しているので、切換え可能なモード
の種類が多くなればなる程、テストモード設定端子の数
を増加させる必要がある。
具体的には、上述の例では2個のテストモード設定端子
により“4種類のモードの切換えを可能としているが、
5種類以上8種類までのモードを切換え可能にするには
3本のテストモード設定端子が必要であり、9種類以上
16種類までのモードを切換え可能にするには4本のテ
ストモード設定端子が必要となる。
により“4種類のモードの切換えを可能としているが、
5種類以上8種類までのモードを切換え可能にするには
3本のテストモード設定端子が必要であり、9種類以上
16種類までのモードを切換え可能にするには4本のテ
ストモード設定端子が必要となる。
しかし近年のように、マイクロコンピュータに多くの機
能を設けるために端子数を増加させる傾向の下では、モ
ード切換えのための端子は可能な限り小数であることが
望ましい。
能を設けるために端子数を増加させる傾向の下では、モ
ード切換えのための端子は可能な限り小数であることが
望ましい。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
切換え可能なモードの種類数には拘わらず、そのための
端子数を可能な限り少なくし得るマイクロコンピュータ
の提供を目的とする。
切換え可能なモードの種類数には拘わらず、そのための
端子数を可能な限り少なくし得るマイクロコンピュータ
の提供を目的とする。
本発明のマイクロコンピュータは、モード切換えのため
に高電圧入力信号が入力される入力端子と、この入力端
子から高電圧入力信号が入力された回数を計数する計数
手段と、この計数手段の計数値に応じてそれぞれ異なる
モードを設定するモード設定手段と、更に所定の比較的
低電圧の信号が入力された場合には計数手段の計数値を
0にクリアする手段とを備えている。
に高電圧入力信号が入力される入力端子と、この入力端
子から高電圧入力信号が入力された回数を計数する計数
手段と、この計数手段の計数値に応じてそれぞれ異なる
モードを設定するモード設定手段と、更に所定の比較的
低電圧の信号が入力された場合には計数手段の計数値を
0にクリアする手段とを備えている。
本発明のマイクロコンピュータでは、まず比較的低電圧
の信号が入力端子へ入力されて計数手段が0クリアされ
ることにより最も使用頻度が高いモードとなり、この後
入力端子へ高電圧入力信号が入力される回数に応じてそ
れぞれ所定のモードが設定される。
の信号が入力端子へ入力されて計数手段が0クリアされ
ることにより最も使用頻度が高いモードとなり、この後
入力端子へ高電圧入力信号が入力される回数に応じてそ
れぞれ所定のモードが設定される。
以下、本発明をその実施例を示す図面を参照して詳述す
る。
る。
第1図は本発明に係るマイクロコンピュータのモード切
換えのための構成を示す回路図である。
換えのための構成を示す回路図である。
第1図において、参照符号9は本発明のマイクロコンピ
ュータのりセント端子であり、インバータ10及び高電
圧検出回路11に接続されている。
ュータのりセント端子であり、インバータ10及び高電
圧検出回路11に接続されている。
インバータlOの出力信号はそのままリセット信号とし
てマイクロコンピュータの図示されていない所定の部分
へ与えられる他、第1及び第2T−フリ、プフロフプ1
2及び13のリセット端子Rへ与えられている。
てマイクロコンピュータの図示されていない所定の部分
へ与えられる他、第1及び第2T−フリ、プフロフプ1
2及び13のリセット端子Rへ与えられている。
高電圧検出回路11はリセット信号9へ所定以上の高電
圧信号が入力された場合にそれを検出し、高電圧信号の
入力が継続されている期間に亙ってハイレベル信号を第
1丁−フリップフロップ12の入力端子T(負論理)へ
与える。なお、第1T−フリップフロップ12はその入
力端子Tは負論理であるため、高電圧検出回路11の出
力信号がハイレベルからローレベルに転した場合にその
出力端子Qからの出力信号のレベルが反転するダウンエ
ツジタイプである。
圧信号が入力された場合にそれを検出し、高電圧信号の
入力が継続されている期間に亙ってハイレベル信号を第
1丁−フリップフロップ12の入力端子T(負論理)へ
与える。なお、第1T−フリップフロップ12はその入
力端子Tは負論理であるため、高電圧検出回路11の出
力信号がハイレベルからローレベルに転した場合にその
出力端子Qからの出力信号のレベルが反転するダウンエ
ツジタイプである。
第1丁−フリップフロップ12の出力端子Qは第2T−
フリップフロップ13の入力端子T(負論理)に接続さ
れている他、ANDゲート6及び8の一方の入力端子に
接続され、更にインバータ3を介してANDゲート5及
び7の一方の入力端子にも接続されている。なお、第2
T−フリップフロップ13はその入力端子Tが負論理で
あるため、第1T−フリップフロップ12の出力信号が
ハイレベルからローレベルに転じた場合にその出力端子
Qからの出力信号のレベルが反転するダウンエツジタイ
プである。
フリップフロップ13の入力端子T(負論理)に接続さ
れている他、ANDゲート6及び8の一方の入力端子に
接続され、更にインバータ3を介してANDゲート5及
び7の一方の入力端子にも接続されている。なお、第2
T−フリップフロップ13はその入力端子Tが負論理で
あるため、第1T−フリップフロップ12の出力信号が
ハイレベルからローレベルに転じた場合にその出力端子
Qからの出力信号のレベルが反転するダウンエツジタイ
プである。
従って、両T−フリップフロップ12.13は最初は共
にローレベル出力であり、高電圧検出回路11からハイ
レベル信号が出力される都度、まず第1Tフリツプフロ
ツプ12のみがハイレベル出力に、次に第2丁−フリッ
プフロップ13のみがハイレベル出力に、そして次は画
筆1T−フリフプフロップ12゜13がハイレベル出力
となり、リセット端子9への高電圧信号の入力回数を計
数する手段として動作する。
にローレベル出力であり、高電圧検出回路11からハイ
レベル信号が出力される都度、まず第1Tフリツプフロ
ツプ12のみがハイレベル出力に、次に第2丁−フリッ
プフロップ13のみがハイレベル出力に、そして次は画
筆1T−フリフプフロップ12゜13がハイレベル出力
となり、リセット端子9への高電圧信号の入力回数を計
数する手段として動作する。
第2丁−フリップフロップ13の出力端子QはANDゲ
ート7及び8の他方の入力端子に接続されると共に、イ
ンバータ4を介してANDゲート5及び6の他方の入力
端子にも接続されている。
ート7及び8の他方の入力端子に接続されると共に、イ
ンバータ4を介してANDゲート5及び6の他方の入力
端子にも接続されている。
なお、上述のインバータ4及び5. ANDゲート56
.7及び8の構成は前述の従来例と同様であり、更にA
NDゲート5の出力信号がハイレベルである場合に通常
モードが設定され、ANDゲート6の出力信号がハイレ
ベルである場合に第1テストモードが設定され、AND
ゲート7の出力信号がハイレベルである場合に第2テス
トモードが設定され、ANDゲート8の出力信号がハイ
レベルである場合に第3テストモードが設定されること
も前述の従来例と同様である。
.7及び8の構成は前述の従来例と同様であり、更にA
NDゲート5の出力信号がハイレベルである場合に通常
モードが設定され、ANDゲート6の出力信号がハイレ
ベルである場合に第1テストモードが設定され、AND
ゲート7の出力信号がハイレベルである場合に第2テス
トモードが設定され、ANDゲート8の出力信号がハイ
レベルである場合に第3テストモードが設定されること
も前述の従来例と同様である。
上述のように構成された本発明のマイクロコンピュータ
の動作について、第2図のタイミングチャートを参照し
て説明する。
の動作について、第2図のタイミングチャートを参照し
て説明する。
まず最初の第2図■の時点において、リセット端子9へ
の入力信号であるリセット信号は第2図(d)に示す如
くローレベルとなっていて、リセット端子9の出力信号
も第2図(e)に示す如くローレベルとなっている。こ
のローレベルであるリセット端子9の出力信号がインバ
ータ10によりハイレベルに反転され、マイクロコンピ
ュータ本体のリセット及び両T−フリフプフロフプ12
及び13のリセットが行われる。一方、高電圧検出回路
11はその入力信号がローレベルであるので、第2図(
C1に示す如(、ハイレベル信号の出力は行わない。
の入力信号であるリセット信号は第2図(d)に示す如
くローレベルとなっていて、リセット端子9の出力信号
も第2図(e)に示す如くローレベルとなっている。こ
のローレベルであるリセット端子9の出力信号がインバ
ータ10によりハイレベルに反転され、マイクロコンピ
ュータ本体のリセット及び両T−フリフプフロフプ12
及び13のリセットが行われる。一方、高電圧検出回路
11はその入力信号がローレベルであるので、第2図(
C1に示す如(、ハイレベル信号の出力は行わない。
この時点では、両T−フリップフロップ12及び13の
出力信号は共にローレベルであるため、ANDゲート5
の出力信号のみがハイレベル、他の各ANDゲート6.
7及び8の出力信号は全てローレベルとなり、マイクロ
コンピュータには通常モードが設定される。
出力信号は共にローレベルであるため、ANDゲート5
の出力信号のみがハイレベル、他の各ANDゲート6.
7及び8の出力信号は全てローレベルとなり、マイクロ
コンピュータには通常モードが設定される。
以上により本発明のマイクロコンピュータのリセットに
伴う初期化が行われる。
伴う初期化が行われる。
初期化終了により第2図■の時点でリセット信号はハイ
レベルに転し、リセット端子9の出力信号もハイレベル
(H)に転しるが、高電圧検出回路11はその入力信号
のレベルが所定の高電圧には達していないので、ハイレ
ベル信号の出力は行わない。また、両T−フリップフロ
ップ12及び13の出力信号も共にローレベルを維持す
るので、モードの切換えは行われず、爾後通常モートに
より本発明のマイクロコンピュータは動作する。
レベルに転し、リセット端子9の出力信号もハイレベル
(H)に転しるが、高電圧検出回路11はその入力信号
のレベルが所定の高電圧には達していないので、ハイレ
ベル信号の出力は行わない。また、両T−フリップフロ
ップ12及び13の出力信号も共にローレベルを維持す
るので、モードの切換えは行われず、爾後通常モートに
より本発明のマイクロコンピュータは動作する。
リセット端子9へ高電圧、より具体的にはりセント信号
がハイレベルである場合の電圧よりも更に高い電圧信号
が第2図■に示す時点から所定期間に亙って印加される
と、その期間において高電圧検出回路11は第2図(C
)に示す如くハイレベル信号を出力する。この高電圧検
出回路11から出力されるハイレベル信号は第1T−フ
リップフロップ12の入力端子Tに与えられているが第
1T−フリップフロップ12はダウンエツジタイプであ
るため、第2図(′b)に示す如く、高電圧検出回路1
1が出力するハイレベル信号の立下がり (■のタイミ
ング)に同期して第1丁−フリップフロップ12は出力
端子Qからの出力信号をそれまでのローレベルからハイ
レベルへ反転する。
がハイレベルである場合の電圧よりも更に高い電圧信号
が第2図■に示す時点から所定期間に亙って印加される
と、その期間において高電圧検出回路11は第2図(C
)に示す如くハイレベル信号を出力する。この高電圧検
出回路11から出力されるハイレベル信号は第1T−フ
リップフロップ12の入力端子Tに与えられているが第
1T−フリップフロップ12はダウンエツジタイプであ
るため、第2図(′b)に示す如く、高電圧検出回路1
1が出力するハイレベル信号の立下がり (■のタイミ
ング)に同期して第1丁−フリップフロップ12は出力
端子Qからの出力信号をそれまでのローレベルからハイ
レベルへ反転する。
以上により第2T−フリップフロップ13の出力信号は
ローレベルのままで第1T−フリップフロップ12の出
力信号のみがハイレベルに転しるため、ANDゲート6
の出力信号のみがハイレベルになす他の各ANDゲート
5.7及び8の出力信号はローレベルを維持するので、
第2テストモードが設定される。
ローレベルのままで第1T−フリップフロップ12の出
力信号のみがハイレベルに転しるため、ANDゲート6
の出力信号のみがハイレベルになす他の各ANDゲート
5.7及び8の出力信号はローレベルを維持するので、
第2テストモードが設定される。
次に第2図■のタイミングにおいて再度リセット端子9
へ高電圧信号が所定期間に亙って印加されると、その立
下がり (■のタイミング)に同期して第1T−フリッ
プフロップ12の出力信号がハイレベルからローレベル
に転しる。これにより、第2図(alに示す如く、第2
丁−フリップフロップ13の出力信号がローレベルから
ハイレベルに転じるので、ANDゲート7の出力信号の
みがハイレベルになり、他の各ANDゲート5.6及び
8の出力信号はローレベルになる。従って、第2テスト
モートが選択される。
へ高電圧信号が所定期間に亙って印加されると、その立
下がり (■のタイミング)に同期して第1T−フリッ
プフロップ12の出力信号がハイレベルからローレベル
に転しる。これにより、第2図(alに示す如く、第2
丁−フリップフロップ13の出力信号がローレベルから
ハイレベルに転じるので、ANDゲート7の出力信号の
みがハイレベルになり、他の各ANDゲート5.6及び
8の出力信号はローレベルになる。従って、第2テスト
モートが選択される。
更に第2図■のタイミングにおいてリセット端子9へ3
度目の高電圧信号が所定期間に亙って印加されると、そ
の立下がり (■のタイミング)に同期して第1T−フ
リップフロップ12の出力信号は再度ローレベルからハ
イレベルへ転じる。但し、第2T−フリップフロップ1
3の出力信号はハイレベルを維持する。このため、AN
Dゲート8の出力信号のみがハイレベルとなり、他のA
NDゲート5.6及び7の出力信号はローレベルとなっ
て第3テストモードが選択される。
度目の高電圧信号が所定期間に亙って印加されると、そ
の立下がり (■のタイミング)に同期して第1T−フ
リップフロップ12の出力信号は再度ローレベルからハ
イレベルへ転じる。但し、第2T−フリップフロップ1
3の出力信号はハイレベルを維持する。このため、AN
Dゲート8の出力信号のみがハイレベルとなり、他のA
NDゲート5.6及び7の出力信号はローレベルとなっ
て第3テストモードが選択される。
以上を要約すると、最初にリセット信号がリセット端子
9へ与えられると両T−フリップフロップ12及び13
の出力信号がローレベルに初期化されて4個のANDゲ
ート5.6. 7及び8の内のANDゲート5のみの出
力信号がハイレベルとなって通常モードが選択さる。リ
セット端子9への1回目の高電圧信号印加の終了時点に
おいて第1T−フリップフロ、プ12のみがその出力信
号をハイレベルに転し、ANDゲート6のみの出力信号
がハイレベルとなって第2テストモードが選択される。
9へ与えられると両T−フリップフロップ12及び13
の出力信号がローレベルに初期化されて4個のANDゲ
ート5.6. 7及び8の内のANDゲート5のみの出
力信号がハイレベルとなって通常モードが選択さる。リ
セット端子9への1回目の高電圧信号印加の終了時点に
おいて第1T−フリップフロ、プ12のみがその出力信
号をハイレベルに転し、ANDゲート6のみの出力信号
がハイレベルとなって第2テストモードが選択される。
リセット端子9への2回目の高電圧信号印加の終了時点
において第1T−フリップフロップ12はその出力信号
をローレベルに転じ、このため第2丁−フリップフロッ
プ13はその出力信号をハイレベルに転し、ANDゲー
ト7のみの出力信号がハイレベルとなって第2テストモ
ードが選択される。リセ・ノド端子9への3回目の高電
圧信号印加の終了時点において第1T−フリップフロッ
プ12はその出力信号を再度ハイレベルに転し、AND
ゲート8のみの出力信号がハイレベルとなって第3テス
トモードが選択される。
において第1T−フリップフロップ12はその出力信号
をローレベルに転じ、このため第2丁−フリップフロッ
プ13はその出力信号をハイレベルに転し、ANDゲー
ト7のみの出力信号がハイレベルとなって第2テストモ
ードが選択される。リセ・ノド端子9への3回目の高電
圧信号印加の終了時点において第1T−フリップフロッ
プ12はその出力信号を再度ハイレベルに転し、AND
ゲート8のみの出力信号がハイレベルとなって第3テス
トモードが選択される。
なお、上記実施例では2個のT−フリップフロップ12
及び13と、4個のANDゲートとを備えることにより
通常モードと3種類のテストモードとの計4種類のモー
ドを切換えるように構成したが、これは−例であってT
−フリップフロップ及び^NDゲートの数を増加させる
ことにより、たとえばT−フリップフロップを3個、
ANDゲートを8個備えることにより8種類のモード
の切換えが可能になり、更にT−フリップフロップを4
個、 へNOゲートを166個備れば16種類のモード
の切換えが可能になる。
及び13と、4個のANDゲートとを備えることにより
通常モードと3種類のテストモードとの計4種類のモー
ドを切換えるように構成したが、これは−例であってT
−フリップフロップ及び^NDゲートの数を増加させる
ことにより、たとえばT−フリップフロップを3個、
ANDゲートを8個備えることにより8種類のモード
の切換えが可能になり、更にT−フリップフロップを4
個、 へNOゲートを166個備れば16種類のモード
の切換えが可能になる。
即ち、T−フリップフロップの数の最大二乗の数の種類
のモード切換えが可能になる。
のモード切換えが可能になる。
また上記実施例ではモード切換えのための高電圧信号を
印加する端子をリセット端子と共用する構成としてより
端子数の削減を可能としているが、必ずしもそのような
構成を採る必要はない。
印加する端子をリセット端子と共用する構成としてより
端子数の削減を可能としているが、必ずしもそのような
構成を採る必要はない。
更に、上記実施例では通常モードと3種類のテストモー
ドとの計4種類のモードを切換えるように構成している
が、たとえば通常モードが複数あるような場合にも本発
明を適用することは勿論可能である。
ドとの計4種類のモードを切換えるように構成している
が、たとえば通常モードが複数あるような場合にも本発
明を適用することは勿論可能である。
以上に詳述した如く、本発明のマイクロコンピュータに
よれば、モード数の増加には拘わらずにモード切換えの
ための端子は1個で済み、更にリセット端子等と共用す
ることも可能にであるため・限られた数の端子をより有
効に利用することが可能になる。
よれば、モード数の増加には拘わらずにモード切換えの
ための端子は1個で済み、更にリセット端子等と共用す
ることも可能にであるため・限られた数の端子をより有
効に利用することが可能になる。
第1図は本発明のマイクロコンピュータのモード切換え
のための構成を示す回路図、第2図はその動作状態を示
すタイミングチャート、第3図は従来のマイクロコンピ
ュータのモード切換えのための構成を示す回路図である
。 5、6.7.8・・・ANDゲート 9・・・リセッ
ト端子11・・・高電圧検出回路 12.13・・・
T−フリツプフロツプ なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
のための構成を示す回路図、第2図はその動作状態を示
すタイミングチャート、第3図は従来のマイクロコンピ
ュータのモード切換えのための構成を示す回路図である
。 5、6.7.8・・・ANDゲート 9・・・リセッ
ト端子11・・・高電圧検出回路 12.13・・・
T−フリツプフロツプ なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)複数のモードが設定され、設定されたそれぞれの
モードに対応して動作するマイクロコンピュータにおい
て、 所定レベルよりも高電圧の信号が入力され る入力端子と、 該入力端子から前記高電圧の信号が入力さ れた回数を計数する計数手段と、 前記入力端子へ前記高電圧の信号以外の所 定の信号が入力された場合に前記計数手段をクリアする
計数値クリア手段と、 前記計数手段の計数値に応じて異なるモー ドを設定するモード設定手段と を備えたことを特徴とするマイクロコンピ ュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2148192A JPH0439784A (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | マイクロコンピュータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2148192A JPH0439784A (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | マイクロコンピュータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0439784A true JPH0439784A (ja) | 1992-02-10 |
Family
ID=15447313
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2148192A Pending JPH0439784A (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | マイクロコンピュータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0439784A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102009040448A1 (de) | 2009-01-06 | 2010-07-15 | Mitsubishi Electric Corp. | Halbleitervorrichtung mit mehreren Betriebsmodi |
-
1990
- 1990-06-05 JP JP2148192A patent/JPH0439784A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US8120983B2 (en) | 2009-01-06 | 2012-02-21 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor device having plurality of operation modes |
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