JPH0441341Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0441341Y2 JPH0441341Y2 JP8956186U JP8956186U JPH0441341Y2 JP H0441341 Y2 JPH0441341 Y2 JP H0441341Y2 JP 8956186 U JP8956186 U JP 8956186U JP 8956186 U JP8956186 U JP 8956186U JP H0441341 Y2 JPH0441341 Y2 JP H0441341Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- parallel
- capacitance
- resistor
- amplifier
- relays
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 11
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 101100117775 Arabidopsis thaliana DUT gene Proteins 0.000 description 3
- 101150091805 DUT1 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100444142 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) dut-1 gene Proteins 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、多点測定装置に関するものであり、
詳しくは、高精度で高周波測定が行える多点測定
装置を提供するものである。
詳しくは、高精度で高周波測定が行える多点測定
装置を提供するものである。
(従来の技術)
例えば、カラーTV信号処理に用いられるA/
D変換器LSIのテストにあたつては、カラーデジ
タル信号をアナログ変換することによつて出力さ
れるR,G,Bの各アナログ色信号の出力ピンに
プローブを接続しておき、これら複数のプローブ
の出力をリレーを介して選択的に増幅器に加える
ことが行われている。
D変換器LSIのテストにあたつては、カラーデジ
タル信号をアナログ変換することによつて出力さ
れるR,G,Bの各アナログ色信号の出力ピンに
プローブを接続しておき、これら複数のプローブ
の出力をリレーを介して選択的に増幅器に加える
ことが行われている。
第3図は、このような従来の測定装置の一例を
示す構成説明図である。第3図において、1は
A/D変換器LSIなどの被測定物(以下DUTと
いう)であり、複数の出力ピンにはそれぞれプロ
ーブ21〜2oが接続されている。プローブ21〜
2oの出力端子にはリレー31〜3oが直接接続さ
れている。リレー31〜3oの端部は、並列に接続
された抵抗器4およびコンデンサ5よりなる直列
要素ZSを介して増幅器6に接続されている。増
幅器6の入力端子は、並列に接続された抵抗器7
およびコンデンサ8よりなる並列要素ZPを介し
て共通電位点に接続されている。なお、直列要素
ZSおよび並列要素ZPは入力減衰器を構成するも
のである。
示す構成説明図である。第3図において、1は
A/D変換器LSIなどの被測定物(以下DUTと
いう)であり、複数の出力ピンにはそれぞれプロ
ーブ21〜2oが接続されている。プローブ21〜
2oの出力端子にはリレー31〜3oが直接接続さ
れている。リレー31〜3oの端部は、並列に接続
された抵抗器4およびコンデンサ5よりなる直列
要素ZSを介して増幅器6に接続されている。増
幅器6の入力端子は、並列に接続された抵抗器7
およびコンデンサ8よりなる並列要素ZPを介し
て共通電位点に接続されている。なお、直列要素
ZSおよび並列要素ZPは入力減衰器を構成するも
のである。
このような構成において、リレー31〜3oを選
択的に駆動することにより、DUT1の所定の出力
ピンの出力信号が直列要素ZSおよび並列要素ZP
よりなる入力減衰器を介して増幅器6に加えられ
ることになる。
択的に駆動することにより、DUT1の所定の出力
ピンの出力信号が直列要素ZSおよび並列要素ZP
よりなる入力減衰器を介して増幅器6に加えられ
ることになる。
(考案が解決しようとする問題点)
しかし、リレー31〜3oには、通常1〜5pFの
浮遊容量C1〜Coが存在している。このために、
DUT1に多数のリレー31〜3oを接続すると、等
価的には相当大きな静電容量が接続されることに
なる。例えば、100pFの静電容量に相当する数の
リレー31〜3oが接続された場合を考えると、出
力信号の周波数が100MHzの場合のインピーダン
スは10数Ωになり、DUT1にとつてはシヨート状
態に近くなつてしまう。この結果、高周波測定に
おける測定精度が低下することになり、好ましく
ない。
浮遊容量C1〜Coが存在している。このために、
DUT1に多数のリレー31〜3oを接続すると、等
価的には相当大きな静電容量が接続されることに
なる。例えば、100pFの静電容量に相当する数の
リレー31〜3oが接続された場合を考えると、出
力信号の周波数が100MHzの場合のインピーダン
スは10数Ωになり、DUT1にとつてはシヨート状
態に近くなつてしまう。この結果、高周波測定に
おける測定精度が低下することになり、好ましく
ない。
本考案は、このような点に着目したものであつ
て、その目的は、入力回路の静電容量を減らすこ
とによつて高精度の高周波測定が行える多点測定
装置を提供することにある。
て、その目的は、入力回路の静電容量を減らすこ
とによつて高精度の高周波測定が行える多点測定
装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
このような目的を達成する本考案は、被測定物
の多数の測定点に接続される複数のプローブと、
並列に接続された抵抗器とコンデンサよりなり一
端が各プローブの出力端子に接続され他端がそれ
ぞれ選択的に駆動されるリレーを介して増幅器の
入力端子に接続される複数の直列要素と、並列に
接続された抵抗器とコンデンサよりなり一端が増
幅器の入力端子に接続され他端が共通電位点に接
続された並列要素とで構成されたことを特徴とす
る。
の多数の測定点に接続される複数のプローブと、
並列に接続された抵抗器とコンデンサよりなり一
端が各プローブの出力端子に接続され他端がそれ
ぞれ選択的に駆動されるリレーを介して増幅器の
入力端子に接続される複数の直列要素と、並列に
接続された抵抗器とコンデンサよりなり一端が増
幅器の入力端子に接続され他端が共通電位点に接
続された並列要素とで構成されたことを特徴とす
る。
(実施例)
以下、図面を用いて本考案の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第1図は本考案の一実施例を示す構成説明図で
あり、第3図と同一部分には同一符号を付けてい
る。第1図において、各プローブ21〜2oと各リ
レー31〜3oとの間には、並列に接続された抵抗
器4〜4oとコンデンサ51〜5oよりなる直列要
素ZS1〜ZSoがそれぞれ接続されている。なお、
増幅器6の入力端子は、第3図と同様に並列に接
続された抵抗器7およびコンデンサ8よりなる並
列要素ZPを介して共通電位点に接続されている。
ここで、並列要素ZPを構成するコンデンサ8の
静電容量は、リレー31〜3oの浮遊容量C1〜Coを
含んだ状態で所定の値になるように設定されてい
る。
あり、第3図と同一部分には同一符号を付けてい
る。第1図において、各プローブ21〜2oと各リ
レー31〜3oとの間には、並列に接続された抵抗
器4〜4oとコンデンサ51〜5oよりなる直列要
素ZS1〜ZSoがそれぞれ接続されている。なお、
増幅器6の入力端子は、第3図と同様に並列に接
続された抵抗器7およびコンデンサ8よりなる並
列要素ZPを介して共通電位点に接続されている。
ここで、並列要素ZPを構成するコンデンサ8の
静電容量は、リレー31〜3oの浮遊容量C1〜Coを
含んだ状態で所定の値になるように設定されてい
る。
このような構成において、リレー31〜3oを選
択的に駆動することにより、DUT1の所定の出力
ピンの出力信号が直列要素ZS1〜ZSoおよび並列
要素ZPよりなる入力減衰器を介して増幅器6に
加えられることになる。
択的に駆動することにより、DUT1の所定の出力
ピンの出力信号が直列要素ZS1〜ZSoおよび並列
要素ZPよりなる入力減衰器を介して増幅器6に
加えられることになる。
そして、プローブ21〜2oから見た入力回路の
静電容量は、直列要素ZS1〜ZSoを構成するコン
デンサ51〜5oの静電容量とリレー31〜3oの浮
遊容量C1〜Coを含む並列要素ZPの静電容量との
直列容量のみとなり、従来に比べて減らすことが
できる。
静電容量は、直列要素ZS1〜ZSoを構成するコン
デンサ51〜5oの静電容量とリレー31〜3oの浮
遊容量C1〜Coを含む並列要素ZPの静電容量との
直列容量のみとなり、従来に比べて減らすことが
できる。
第2図は、第1図で任意のリレーを駆動した状
態を示す等価回路図である。第2図において、
3dB低下の周波数特性を示す周波数は、 f=1/(2π√RC) …(1) で表わすことができる。従つて、入力回路の静電
容量Cが小さくなると周波数fは高くなり、測定
可能帯域が広がることになる。また、DUT1の駆
動能力が小さいものでも測定可能となる。DUT1
の駆動能力が小さいということは、抵抗Rが大き
いということと等価である。従つて、抵抗Rが大
きくても静電容量Cが小さくなれば第(1)式で
示す周波数fは一定になる。
態を示す等価回路図である。第2図において、
3dB低下の周波数特性を示す周波数は、 f=1/(2π√RC) …(1) で表わすことができる。従つて、入力回路の静電
容量Cが小さくなると周波数fは高くなり、測定
可能帯域が広がることになる。また、DUT1の駆
動能力が小さいものでも測定可能となる。DUT1
の駆動能力が小さいということは、抵抗Rが大き
いということと等価である。従つて、抵抗Rが大
きくても静電容量Cが小さくなれば第(1)式で
示す周波数fは一定になる。
なお、上記実施例では、A/D変換器LSIをテ
ストする装置の例について説明したが、他の多点
測定装置にも適用できるものである。
ストする装置の例について説明したが、他の多点
測定装置にも適用できるものである。
(考案の効果)
以上説明したように、本考案によれば、入力回
路の静電容量を減らすことによつて高精度の高周
波測定が行える多点測定装置が実現でき、実用上
の効果は大きい。
路の静電容量を減らすことによつて高精度の高周
波測定が行える多点測定装置が実現でき、実用上
の効果は大きい。
第1図は本考案の一実施例を示す構成説明図、
第2図は第1図の等価回路図、第3図は従来の装
置の一例を示す構成説明図である。 1……被測定物(DUT)、21〜2o……プロー
ブ、31〜3o……リレー、41〜4o,7……抵抗
器、51〜5o,8……コンデンサ、6……増幅
器。
第2図は第1図の等価回路図、第3図は従来の装
置の一例を示す構成説明図である。 1……被測定物(DUT)、21〜2o……プロー
ブ、31〜3o……リレー、41〜4o,7……抵抗
器、51〜5o,8……コンデンサ、6……増幅
器。
Claims (1)
- 被測定物の多数の測定点に接続される複数のプ
ローブと、並列に接続された抵抗器とコンデンサ
よりなり一端が各プローブの出力端子に接続され
他端がそれぞれ選択的に駆動されるリレーを介し
て増幅器の入力端子に接続される複数の直列要素
と、並列に接続された抵抗器とコンデンサよりな
り一端が増幅器の入力端子に接続され他端が共通
電位点に接続された並列要素とで構成されたこと
を特徴とする多点測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8956186U JPH0441341Y2 (ja) | 1986-06-12 | 1986-06-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8956186U JPH0441341Y2 (ja) | 1986-06-12 | 1986-06-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62201078U JPS62201078U (ja) | 1987-12-22 |
| JPH0441341Y2 true JPH0441341Y2 (ja) | 1992-09-29 |
Family
ID=30948657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8956186U Expired JPH0441341Y2 (ja) | 1986-06-12 | 1986-06-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0441341Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-06-12 JP JP8956186U patent/JPH0441341Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62201078U (ja) | 1987-12-22 |
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