JPH0441850B2 - - Google Patents

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JPH0441850B2
JPH0441850B2 JP13660585A JP13660585A JPH0441850B2 JP H0441850 B2 JPH0441850 B2 JP H0441850B2 JP 13660585 A JP13660585 A JP 13660585A JP 13660585 A JP13660585 A JP 13660585A JP H0441850 B2 JPH0441850 B2 JP H0441850B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
cmos inverter
conductivity type
series
mos transistor
Prior art date
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Expired
Application number
JP13660585A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS61294933A (en
Inventor
Hironori Terada
Katsuhiko Asada
Hiroaki Nishikawa
Nobufumi Komori
Kenji Shima
Soichi Myata
Satoshi Matsumoto
Hajime Asano
Masahisa Shimizu
Hiroki Miura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Mitsubishi Electric Corp
Sanyo Denki Co Ltd
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Mitsubishi Electric Corp
Sanyo Denki Co Ltd
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC, Mitsubishi Electric Corp, Sanyo Denki Co Ltd, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Priority to JP60136605A priority Critical patent/JPS61294933A/en
Priority to US06/875,551 priority patent/US4785204A/en
Publication of JPS61294933A publication Critical patent/JPS61294933A/en
Publication of JPH0441850B2 publication Critical patent/JPH0441850B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔産業上の利用分野〕 この発明は、多入力が入力され該多入力が一致
した時のみ該入力論理レベルを出力する、一致素
子と呼ばれる半導体装置および該装置をその転送
制御パルスの伝搬に用いる非同期自走式のデータ
伝送路に関するものである。 〔従来の技術〕 一般に一致素子(Coincidence Element;以下
C素子と称す)とは2入力X,Yに対しC,を
出力する論理回路であり、下記に示す論理値表に
従つて動作する。即ちその一致出力Cは2入力
X,Yが一致したときその入力レベルと同レベル
となり、また2入力X,Yが相異なるときは前の
状態を保持(HOLD)するものである。
[Industrial Application Field] The present invention relates to a semiconductor device called a coincidence element, which outputs the input logic level only when multiple inputs are inputted and the multiple inputs match, and the device is used for propagating the transfer control pulse. This relates to an asynchronous self-propelled data transmission path. [Prior Art] Generally, a coincidence element (hereinafter referred to as a C element) is a logic circuit that outputs C in response to two inputs X and Y, and operates according to the logic value table shown below. That is, when the two inputs X and Y match, the coincidence output C becomes the same level as the input level, and when the two inputs X and Y are different, the previous state is held (HOLD).

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかるにこのC素子ではC素子の出力が浮遊容
量のみに依つているために、ノイズに弱く、出力
レベルが時間とともに劣化するという問題があつ
た。 また、上記のようなC素子を転送制御回路に用
いたデータ伝送路では、複数段にわたつて並列デ
ータバツフアに各々データが記憶されている時に
転送制御パルスがノイズにより変化すると1段分
のデータが消失することがあり、また過度電流の
ために消費電力が大きいという問題点があつた。 この発明の第1の発明は、上記のような従来の
ものの欠点を除去するためになされたもので、耐
ノイズ性能が高く、過度電流をなくすことがで
き、しかもパルスの伝搬速度の高い半導体装置を
得ることを目的としている。 またこの発明の第2の発明は転送制御回路の耐
ノイズ性能が高く、データバツフアのデータを消
失させることなく高速に伝送できるデータ伝送路
を得ることを目的としている。 〔問題点を解決するための手段〕 本件出願の第1の発明に係る半導体装置は、直
列接続体後段の第1のCMOSインバータの一致
出力を反転して中間出力に帰還するための第2の
CMOSインバータを設け、ラツチ回路作動回路
により装置の入力が一致しない時のみ第2の
CMOSインバータを機能させるようにしたもの
である。 また、本件出願の第2の発明に係るデータ伝送
路は以上のように構成された一致素子をその転送
制御回路として用いるようにしたものである。 〔作用〕 この発明の第1の発明においては、装置の入力
が一致しない時のみ第2のCMOSインバータが
第1のCMOSインバータ出力を帰還するから、
装置の入力が相異なるときのみ2つのCMOSイ
ンバータがラツチとして機能し、一致出力が完全
な0あるいは1レベルとなり、また装置の入力が
一致した時はラツチの帰還がカツトされるから直
列接続体出力と第2のインバータ出力との出力同
志の衝突が回避される。 また、この発明の第2の発明においては、上記
のように構成された一致素子が転送制御回路とし
て使用されているから、転送制御回路の耐ノイズ
性能が高く、データが消失することなく転送され
る。またCMOSインバータに過度電流が流れず、
また転送制御パルスが高速に伝搬されるから、デ
ータが高速に伝送される。 〔実施例〕 以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。第1図は本件出願の第1の発明の一実施例に
よる半導体装置を示し、図において、第6図と同
一符号は同一のものを示す。417はPチヤネル
MOSトランジスタ418、NチヤネルMOSトラ
ンジスタ419により構成された第2のCMOS
インバータであり、第1のCMOSインバータ4
14出力を反転しノードF(中間出力)に帰還す
るためのものである。また450は本C素子の2
入力X,Yが不一致の時のみ第1,第2の
CMOSインバータ414,417によりラツチ
回路を構成せしめるラツチ回路作動回路であり、
該回路450において、451,453はNチヤ
ネルMOSトランジスタ、452,454はPチ
ヤネルMOSトランジスタである。 次に動作について説明する。本実施例の基本的
な動作は従来のものと同様である。但し、本実施
例では、ラツチ回路作動回路450により2入力
X,Yが不一致の時のみトランジスタ451,4
52によるパスまたはトランジスタ453,45
4によるパスのいずれか一方のみがオンされて第
2のCMOSインバータ417出力がノードFに
伝達されてCMOSインバータ414,417に
よりラツチ構造が構成されるので、C出力として
は完全な1あるいは0を出力することができる。
即ち、装置の2入力X,Yが0,1あるいは1,
0の時はノードFがフローテイング状態となる
が、本実施例ではこうした場合のみラツチ回路作
動回路450内のいずれか一方のパスがオンして
第2のCMOSインバータ417出力がノードF
に伝達されるので、C出力が例えば比較的1(ま
たは0)に近い値の時には第2のCMOSインバ
ータ417出力は比較的0(または1)に近い値
となり、以後上述のようなフイードバツクにより
中間出力ひいては一致出力は完全に1(または0)
レベルにまで上昇するので、CMOSインバータ
に過度電流が流れず、ノイズに強く、また出力レ
ベルの劣化のないものが得られる。 またC素子の2入力X,Yが一致した時にはラ
ツチ回路作動回路450のMOSトランジスタ4
51,452によるパスおよびMOSトランジス
タ453,454によるパスが共にカツトオフさ
れるので、直列接続体400の出力と第2の
CMOSインバータ417の出力とが衝突するこ
とはなく、該衝突による伝搬遅延の発生を防止す
ることができる。 このように、本実施例では一致素子の2入力
X,Yが一致しない時のみ第2のCMOSインバ
ータにより第1のCMOSインバータの一致出力
を反転して直列接続体の中間出力に帰還させるよ
うにしたので、浮遊容量のみに依り出力を保持す
る従来のものに比しはるかにノイズに強く、完全
な1または0レベルを出力することができ、また
C素子の2入力が一致した時は第2のCMOSイ
ンバータによる一致出力の帰還が停止されるの
で、直列接続体の出力と第2のCMOSインバー
タとの出力が衝突することはなく、これによる伝
搬遅延の発生を防止することができる。 第2図は本件出願の第2の発明の一実施例によ
るデータ伝送路を示し、図において、第1図と同
一符号は同一のものを示す。420a〜420c
はそれぞれ並列データバツフア(データ記憶手
段)311を構成する1ビツト分のラツチ、40
5〜407はnチヤネルMOSトランジスタ、4
08〜413はインバータである。 次に作用効果について説明する。本実施例では
上述のように構成された一致素子を転送制御回路
として用いているので、ノイズに強く、データラ
ツチのデータが消失することなく伝送できる。ま
た一致素子のCMOSインバータに過度電流が流
れないので、消費電力を一層低減することが可能
である。しかも一致素子のノードFが次段を駆動
中はラツチの帰還が停止されるので、直列接続体
と第1のCMOSインバータとの出力同志の衝突
が回避され、転送制御パルスの伝搬速度を工場さ
せることが可能である。 なお第1図および第2図の実施例では2入力の
C素子について示したが3入力以上のC素子も容
易に構成でき、上記実施例と同様の効率を奏す
る。 また第2図の実施例では各ラツチを2つのイン
バータと1つのMOSトランジスタを用いて構成
したが、このMOSトランジスタの代わりに両チ
ヤネルトランスフアゲートを用いてもよく、上記
実施例と同様の効果を奏する。 また第2図の実施例では並列データバツフアが
ストレイキヤパシタCSだけでデータを保持する
ダイナミツクラツチの場合を示したが、第3図に
示すようなエツジトリガタイプのラツチ430、
あるいは第4図に示すようなトランスペアレント
ラツチ440を用いるようにしてもよく、上記実
施例と同様の効率を奏する。なお第3図中、42
5〜429はインバータ、421〜424はnチ
ヤネルMOSトランジスタでもあり、該MOSトラ
ンジスタの代わりに両チヤネルトランスフアゲー
トを用いてもよい。また第4図中445,446
はインバータ、435,436は両チヤネルトラ
ンスフアゲートであり、431,433及び43
2,434はそれぞれ両チヤネルトランスフアゲ
ート435および436を構成するP及びNチヤ
ネルMOSトランジスタである。 〔発明の効果〕 以上のように、本発明の第1の発明に係る半導
体装置によれば、装置の入力が一致しない時のみ
第2のCMOSインバータにより一致出力を反転
して直列接続体の中間出力に帰還するようにした
ので、一致素子の中間出力がラツチされ該中間出
力が完全に0あるいは1となり、過渡電流が流れ
ず耐ノイズ性能が向上される。しかも装置の入力
が一致した時には第2のCMOSインバータの帰
還が停止されるので、直列接続体と第2の
CMOSインバータとの出力の衝突が回避されパ
ルス伝搬速度を向上できる効果がある。 また本発明の第2の発明に係るデータ伝送路に
よれば、以上のように構成された半導体装置をそ
の転送制御回路として用いたので、消費電力が小
さく、データを消失させることなく高速に転送で
きる効果がある。
However, since the output of the C element depends only on stray capacitance, this C element has a problem that it is susceptible to noise and the output level deteriorates over time. In addition, in a data transmission path using the above-mentioned C element in the transfer control circuit, if the transfer control pulse changes due to noise when data is stored in parallel data buffers in multiple stages, the data for one stage may be lost. There were also problems in that the power consumption was high due to transient current. The first invention of the present invention was made to eliminate the drawbacks of the conventional devices as described above, and provides a semiconductor device that has high noise resistance, can eliminate transient current, and has a high pulse propagation speed. The purpose is to obtain. A second aspect of the present invention is to provide a data transmission path in which the transfer control circuit has high noise resistance and can transmit data at high speed without losing data in the data buffer. [Means for Solving the Problems] The semiconductor device according to the first invention of the present application includes a second CMOS inverter for inverting the coincidence output of the first CMOS inverter at the latter stage of the series connection body and feeding it back to the intermediate output.
A CMOS inverter is installed, and the latch circuit activates the second circuit only when the inputs of the device do not match.
It is made to function as a CMOS inverter. Further, the data transmission line according to the second invention of the present application uses the matching element configured as described above as its transfer control circuit. [Operation] In the first aspect of the present invention, the second CMOS inverter feeds back the output of the first CMOS inverter only when the inputs of the device do not match.
Only when the inputs of the device are different, the two CMOS inverters function as a latch, and the match output becomes a complete 0 or 1 level, and when the inputs of the device match, the feedback of the latch is cut off, so the series connection output is Collision between the outputs of the second inverter and the second inverter output is avoided. Further, in the second aspect of the present invention, since the matching element configured as described above is used as a transfer control circuit, the transfer control circuit has high noise resistance performance and data can be transferred without loss. Ru. Also, no transient current flows to the CMOS inverter,
Furthermore, since the transfer control pulse is propagated at high speed, data is transmitted at high speed. [Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a semiconductor device according to an embodiment of the first invention of the present application, and in the figure, the same reference numerals as in FIG. 6 indicate the same parts. 417 is P channel
A second CMOS composed of a MOS transistor 418 and an N-channel MOS transistor 419
an inverter, and the first CMOS inverter 4
This is for inverting the No. 14 output and feeding it back to node F (intermediate output). Also, 450 is 2 of this C element.
Only when the inputs X and Y do not match, the first and second
A latch circuit operation circuit that configures a latch circuit by CMOS inverters 414 and 417,
In the circuit 450, 451 and 453 are N-channel MOS transistors, and 452 and 454 are P-channel MOS transistors. Next, the operation will be explained. The basic operation of this embodiment is the same as that of the conventional one. However, in this embodiment, the latch circuit operation circuit 450 turns on the transistors 451 and 4 only when the two inputs X and Y do not match.
52 or transistors 453, 45
Since only one of the paths by 4 is turned on and the output of the second CMOS inverter 417 is transmitted to node F, a latch structure is formed by the CMOS inverters 414 and 417, so the C output cannot be a complete 1 or 0. It can be output.
That is, the two inputs X and Y of the device are 0, 1 or 1,
0, the node F is in a floating state, but in this embodiment, only in such a case, one of the paths in the latch circuit operation circuit 450 is turned on, and the output of the second CMOS inverter 417 becomes the node F.
Therefore, when the C output is relatively close to 1 (or 0), the output of the second CMOS inverter 417 is relatively close to 0 (or 1), and thereafter, due to the feedback described above, the intermediate The output and therefore the match output is completely 1 (or 0)
Since the CMOS inverter is resistant to noise, no transient current flows through the CMOS inverter, and the output level does not deteriorate. Also, when the two inputs X and Y of the C element match, the MOS transistor 4 of the latch circuit operating circuit 450
Since both the path through MOS transistors 51 and 452 and the path through MOS transistors 453 and 454 are cut off, the output of the series connection body 400 and the second path are cut off.
There is no collision with the output of the CMOS inverter 417, and it is possible to prevent propagation delay from occurring due to the collision. In this way, in this embodiment, only when the two inputs X and Y of the matching element do not match, the second CMOS inverter inverts the matching output of the first CMOS inverter and feeds it back to the intermediate output of the series connected body. Therefore, it is much more resistant to noise than conventional devices that hold the output only by stray capacitance, can output a complete 1 or 0 level, and when the two inputs of the C element match, the second Since the feedback of the matching output by the CMOS inverter is stopped, the output of the series connection body and the output of the second CMOS inverter will not collide, and the occurrence of propagation delay due to this can be prevented. FIG. 2 shows a data transmission path according to an embodiment of the second invention of the present application, and in the figure, the same reference numerals as in FIG. 1 indicate the same parts. 420a-420c
are 1-bit latches 40 constituting a parallel data buffer (data storage means) 311, respectively.
5 to 407 are n-channel MOS transistors, 4
08-413 are inverters. Next, the effects will be explained. In this embodiment, since the matching element configured as described above is used as a transfer control circuit, it is resistant to noise and data in the data latch can be transmitted without being lost. Furthermore, since no transient current flows through the CMOS inverter of the matching element, it is possible to further reduce power consumption. Moreover, since the feedback of the latch is stopped while the node F of the matching element is driving the next stage, collision between the outputs of the series connection unit and the first CMOS inverter is avoided, and the propagation speed of the transfer control pulse is increased. Is possible. Although the embodiments shown in FIGS. 1 and 2 show a C element with two inputs, a C element with three or more inputs can also be easily constructed, and exhibits the same efficiency as the above embodiment. Further, in the embodiment shown in FIG. 2, each latch is constructed using two inverters and one MOS transistor, but a double-channel transfer gate may be used instead of the MOS transistor, and the same effect as in the above embodiment can be obtained. play. In the embodiment shown in FIG. 2, the parallel data buffer is a dynamic latch in which data is held only by the stray capacitor CS, but an edge trigger type latch 430 as shown in FIG.
Alternatively, a transparent latch 440 as shown in FIG. 4 may be used, which provides the same efficiency as the above embodiment. In addition, in Figure 3, 42
5 to 429 are inverters, and 421 to 424 are n-channel MOS transistors, and both-channel transfer gates may be used instead of the MOS transistors. Also, 445,446 in Figure 4
is an inverter, 435, 436 are both channel transfer gates, 431, 433 and 43
2 and 434 are P and N channel MOS transistors forming both channel transfer gates 435 and 436, respectively. [Effects of the Invention] As described above, according to the semiconductor device according to the first aspect of the present invention, only when the inputs of the device do not match, the matching output is inverted by the second CMOS inverter, and the matching output is inverted between the series-connected bodies. Since it is fed back to the output, the intermediate output of the matching element is latched and the intermediate output becomes completely 0 or 1, so that no transient current flows and the noise resistance performance is improved. Moreover, when the inputs of the device match, the feedback of the second CMOS inverter is stopped, so the series connection body and the second
This has the effect of avoiding output collision with the CMOS inverter and improving pulse propagation speed. Further, according to the data transmission line according to the second aspect of the present invention, since the semiconductor device configured as described above is used as its transfer control circuit, power consumption is low and data can be transferred at high speed without loss. There is an effect that can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図および第2図は本件出願の第1、第2の
発明の一実施例による半導体装置およびデータ伝
送路を示す図、第3図および第4図は第2図の他
の実施例におけるラツチを示す図、第5図はデー
タ伝送路を示す図、第6図は本件出願人より既に
開発された一致素子を示す図である。 図において、400は直列接続体、414,4
17は第1、第2のCMOSインバータ、450
はラツチ回路作動回路、401,402,41
5,416,452,454はPチヤネルMOS
トランジスタ、403,404,416,41
9,451,453はNチヤネルMOSトランジ
スタ、311〜315は並列データバツフア(デ
ータ記憶手段)、420a〜420c,430,
440はラツチ、405〜407,421〜42
4,432,434はNチヤネルMOSトランジ
スタ、431,433はPチヤネルMOSトラン
ジスタ、408〜413,425〜429,44
5,446はインバータである。なお図中同一符
号は同一又は相当部分を示す。
1 and 2 are diagrams showing a semiconductor device and a data transmission line according to an embodiment of the first and second inventions of the present application, and FIGS. 3 and 4 are diagrams showing a semiconductor device and a data transmission line according to another embodiment of the invention of FIG. FIG. 5 is a diagram showing a latch, FIG. 5 is a diagram showing a data transmission path, and FIG. 6 is a diagram showing a matching element already developed by the applicant. In the figure, 400 is a series connection body, 414, 4
17 is the first and second CMOS inverter, 450
are latch circuit operating circuits, 401, 402, 41
5,416,452,454 are P channel MOS
Transistor, 403, 404, 416, 41
9,451,453 are N-channel MOS transistors, 311-315 are parallel data buffers (data storage means), 420a-420c, 430,
440 is latch, 405-407, 421-42
4,432,434 are N-channel MOS transistors, 431,433 are P-channel MOS transistors, 408-413, 425-429, 44
5,446 is an inverter. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 多入力が入力され該多入力が一致したときそ
の入力レベルを出力する半導体装置において、 第1電源と第2電源との間に直列接続されその
各々に上記多入力の各々が入力されるそれぞれ上
記多入力数分の第1、第2導電型のMOSトラン
ジスタの直列接続体と、 該第1導電型の最下段のMOSトランジスタと
第2導電型の最上段のMOSトランジスタとの接
続点である中間出力を反転し一致出力を出力する
第1のCMOSインバータと、 上記一致出力を反転する第2のCMOSインバ
ータと、 上記第2のCMOSインバータの出力と上記中
間出力間に設けられ上記多入力が一致しないとき
のみ上記第2のCMOSインバータの出力を上記
中間出力に伝達するラツチ回路作動回路とを備え
たことを特徴とする半導体装置。 2 上記ラツチ回路作動回路は、 上記多入力の2つの入力レベルが不一致のと
き、そのいずれか一方の直列接続体の両端が導通
状態となるように第1の導電型のMOSトランジ
スタおよび第2の導電型のMOSトランジスタを
直列接続した2つの直列接続体の両端同士を相互
に接続してなる1つの並列接続体、またはこの並
列接続体を複数相互に並列接続したものを、上記
第2のCMOSインバータの出力と上記中間出力
との間に接続してなることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の半導体装置。 3 複数のデータ記憶手段及び隣接段の転送制御
回路からの制御信号に応じて自段のデータ記憶手
段を制御する各段の転送制御回路からなるシフト
レジスタからなるデータ伝送路において、 上記転送制御回路として、 第1電源と第2電源との間に直列接続されその
各々に多入力の各々が入力されるそれぞれ上記多
入力数分の第1、第2導電型のMOSトランジス
タの直列接続体と、 該第1導電型の最下段のMOSトランジスタと
第2導電型の最上段のMOSトランジスタとの接
続点である中間出力を反転し一致出力を出力する
第1のCMOSインバータと、 上記一致出力を反転する第2のCMOSインバ
ータと、 上記第2のCMOSインバータの出力と上記中
間出力間に設けられ上記多入力が一致しないとき
のみ上記第2のCMOSインバータの出力を上記
中間出力に伝達するラツチ回路作動回路とからな
る一致素子を用いたことを特徴とするデータ伝送
路。 4 上記ラツチ回路作動回路は、 上記多入力の2つの入力レベルが不一致のと
き、そのいずれか一方の直列接続体の両端が導通
状態となるように第1の導電型のMOSトランジ
スタおよび第2の導電型のMOSトランジスタを
直列接続した2つの直列接続体の両端同士を相互
に接続してなる1つの並列接続体、またはこの並
列接続体を複数相互に並列接続したものを、上記
第2のCMOSインバータの出力と上記中間出力
との間に接続してなることを特徴とする特許請求
の範囲第3項記載のデータ伝送路。
[Scope of Claims] 1. A semiconductor device that receives multiple inputs and outputs the input level when the multiple inputs match, which is connected in series between a first power source and a second power source, and each of which has one of the multiple inputs. A series connection body of first and second conductivity type MOS transistors corresponding to the number of inputs, each of which is inputted, the lowest stage MOS transistor of the first conductivity type, and the top stage MOS transistor of the second conductivity type. a first CMOS inverter that inverts the intermediate output and outputs a coincidence output, which is the connection point between the second CMOS inverter and the intermediate output; a second CMOS inverter that inverts the coincidence output; and a latch circuit operation circuit that transmits the output of the second CMOS inverter to the intermediate output only when the multiple inputs do not match. 2. The latch circuit operation circuit includes a first conductivity type MOS transistor and a second conductivity type MOS transistor so that when the two input levels of the multi-input do not match, both ends of one of the series connected bodies become conductive. One parallel connection body formed by connecting both ends of two series connection bodies in which conductive type MOS transistors are connected in series, or a parallel connection body formed by connecting a plurality of parallel connection bodies in parallel, is used as the second CMOS. 2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor device is connected between an output of an inverter and the intermediate output. 3. In a data transmission path consisting of a shift register consisting of a plurality of data storage means and a transfer control circuit of each stage that controls the data storage means of its own stage in response to a control signal from a transfer control circuit of an adjacent stage, the above-mentioned transfer control circuit a series connection body of MOS transistors of first and second conductivity types, each having the number of inputs connected in series between a first power source and a second power source, each of which receives a plurality of inputs; a first CMOS inverter that inverts an intermediate output that is a connection point between the bottom-stage MOS transistor of the first conductivity type and the top-stage MOS transistor of the second conductivity type and outputs a coincidence output; and a first CMOS inverter that inverts the coincidence output. a second CMOS inverter provided between the output of the second CMOS inverter and the intermediate output, and operating a latch circuit that transmits the output of the second CMOS inverter to the intermediate output only when the multiple inputs do not match. A data transmission path characterized by using a matching element consisting of a circuit. 4. The latch circuit operating circuit includes a first conductivity type MOS transistor and a second conductivity type MOS transistor so that when the two input levels of the multi-input do not match, both ends of one of the series connected bodies become conductive. One parallel connection body formed by connecting both ends of two series connection bodies in which conductive type MOS transistors are connected in series, or a parallel connection body formed by connecting a plurality of parallel connection bodies in parallel, is used as the second CMOS. 4. The data transmission line according to claim 3, wherein the data transmission line is connected between an output of an inverter and the intermediate output.
JP60136605A 1985-06-21 1985-06-21 Semiconductor device and data transmission line Granted JPS61294933A (en)

Priority Applications (2)

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