JPH0442635B2

JPH0442635B2 -

Info

Publication number: JPH0442635B2
Application number: JP57044729A
Authority: JP
Inventors: Minoru Yamano
Original assignee: Hitachi Maxell Ltd
Current assignee: Maxell Ltd
Priority date: 1982-03-23
Filing date: 1982-03-23
Publication date: 1992-07-14
Also published as: JPS58162877A

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は、ビデオテープレコーダなどの記録媒
体として用いられる磁気テープに適したドロツプ
アウトの分類方法に関する。家庭用のビデオテープレコーダ（以下、VTR
という）として、1/2インチ幅の磁気テープを使
用した、いわゆるヘリカルスキヤン型VTRが非
常な勢いで普及しつつある。かかるVTRは、磁
気テープがカセツトに収納されて、テープの着脱
やその他の操作が非常に容易であり、また、６時
間にも及ぶ連続記録が可能となつて、長時間番組
の記録ができるようになつた。このように、長時間番組を記録することができ
るようになつたのは、磁気テープの記録密度を極
端に向上させることができるようになつたためで
はあるが、まず、この点について、第１図を用い
て説明する。第１図において、１は磁気テープ、２は磁気ヘ
ツド、３は記録トラツク、４は水平同期信号で、
ある。磁気テープ１は矢印Ａ方向に走行し、磁気ヘツ
ド２は磁気テープ１を角度θでもつて矢印Ｂの斜
め方向に走査する。このために、記録トラツク３
は、磁気テープ１上に角度θでもつて斜め方向に
形成される。なお、図示していないが、磁気ヘツ
ド２としては２つの磁気ヘツドが用いられ、これ
らの磁気ヘツドは回転ドラム上に互いに180゜の角
間隔で設けられ、一方の磁気ヘツドは１つおきの
記録トラツクを記録または再生し、他方の磁気ヘ
ツドは他の１つおきの記録トラツクを記録または
再生する。したがつて、記録トラツク３は１つづ
つ交互に異なる磁気ヘツドで記録または再生され
る。各記録トラツク３には、１フイールドづつ映像
信号が記録され、したがつて、262H（Ｈは水平走
査期間）の映像信号が記録されることになる。各
記録トラツク３の端部には、図示しないが、垂直
同期信号が記録されており、水平同期信号４は
1H毎に記録されている。ところで、一般には、記録トラツク間のクロス
トークを防止するために、各記録トラツク３間に
ガードバンドを設けられるものであるが、記録密
度を高めるために、いわゆる、アジマス方式を利
用することにより、ガードバンドを設けることな
く、各記録トラツク３が接するようにしている。
すなわち、上述した２つの磁気ヘツドのギヤツプ
方向を異ならせ、隣接せる記録トラツク３間で互
いに磁化方向を異ならせている。このようにする
と、記録トラツク３を、その磁化方向と異なるギ
ヤツプ方向の磁気ヘツドで再生走査しても再生出
力を充分に抑えることができる。そこで、記録時
においては、隣接記録トラツクに一部重複して記
録トラツクを形成することもでき、記録トラツク
の幅を充分に狭くすることができて記録密度が大
幅に向上することになる。因みに、記録トラツク３の幅Ｗは、20μmない
し58μmにとられており、磁気ヘツド２が隣接ト
ラツク３を一部走査しても、クロストークが生ず
ることがない。水平同期信号４間の長さ（1Hの
映像信号が記録される長さ）l_Hは約370μmで、θ
は約7゜である。以上、磁気テープ上に高密度に形成された記録
トラツクについて説明したが、一般に、磁気テー
プを再生走査すると、磁気テープ上の欠陥により
映像信号にドロツプアウトが生じ、再生画面上に
白点状あるいは白線状の雑音が現われ、画質を低
下させることになる。磁気テープに欠陥が生ずる原因としては、磁気
テープ上の傷や突起、くぼみ、あるいは、磁気テ
ープに付着する塵、埃などがある。そして、この
ような原因によつて生ずる欠陥の性質は次のよう
に分類することができる。まず、一つは、磁気テ
ープの傷などによるもので、取り除くことができ
ないような欠陥であり、このような欠陥は常にド
ロツプアウトを惹き起すことになる。（以下、こ
のようなドロツプアウトをパーマネントドロツプ
アウトという）。次に、磁気テープ上に弱く付着
した塵、埃などによる欠陥で、一度磁気ヘツドで
走査すると、その時はドロツプアウトが生ずるが
同時に塵、埃が除かれ、次回の走査ではドロツプ
アウトが生じない（以下、このようなドロツプア
ウトをテンポラリードロツプアウトという）。ま
た、１回目の磁気ヘツドの走査ではドロツプアウ
トは生じないが、磁気テープ上の塗膜中のある種
の物質が磁気ヘツドの走査によつてかき集めら
れ、磁気テープ上のある位置に強く付着すること
による欠陥であつて、複数回走査するとドロツプ
アウトが現われてくる（以下、このようなドロツ
プアウトを準パーマネントドロツプアウトとい
う）。いずれにしても、ドロツプアウトを生ずること
は、再生画質の劣化を惹き起すものであるから好
ましいことではないが、特に、パーマネントドロ
ツプアウト、準パーマネントドロツプアウトの発
生は極力防止しなければならず、また、先に述べ
たような長時間記録のための高密度記録を行なう
磁気テープにおいては、磁気テープの微小な欠陥
も大きなドロツプアウトとして現われることか
ら、わずかな欠陥でもできるかぎり少なくするこ
とが必要である。もちろん、このようなドロツプアウトは電気的
手段により取り除くことができ、これまでそのた
め種々の発明、考案がなされてきたが、それらは
原理的には、ドロツプアウト部分を近似した情報
内容を含む信号で補償し、視覚的にドロツプアウ
トが目立たないようにするものであるから、ドロ
ツプアウトが頻繁に発生する場合にはやはり画質
の劣化をきたすことになる。そして高密度記録の
場合には、これまで然程影響がなかつた微少な欠
陥がドロツプアウトとして影響してくることか
ら、ドロツプアウトの発生頻度が増加することに
なる。そこで、さらに欠陥の少ない磁気テープの開発
が必要となるが、このためには、まず、検出され
たドロツプアウトが、パーマネント、準パーマネ
ント、あるいはテンポラリードロツプアウトのい
ずれであるか評価できなければならない。しかしながら、従来は、磁気テープを再生走査
して単位時間当りに発生するドロツプアウトの数
をカウントし、これを集約平均化してドロツプア
ウトの評価を行なつている。しかるに、このよう
な方法では、ドロツプアウトがどのような種類の
ドロツプアウトであるのか識別することができな
いし、パーマネント、準パーマネント、テンポラ
リーの夫々のドロツプアウトを区別せずに一纒め
にして評価することは、磁気テープを真に評価し
たことにはならない。すなわち、パーマネントドロツプアウトを生ず
る磁気テープの欠陥は、元々磁気テープが有する
欠陥であり、また、準パーマネントドロツプアウ
トを生ずる欠陥は、実際に磁気テープを記録再生
するときに生ずる欠陥であるから、夫々の欠陥に
対処して磁気テープの改良がなされねばならない
からである。上記従来技術では、複数回記録再生を行なつた
としても、テンポラリードロツプアウトを除くこ
とはできない。これは、磁気テープには常に塵、
埃が付着する可能性があるからである。また、磁
気テープの欠陥により、必ずしも常にドロツプア
ウトが生ずるとは限らないから、パーマネント、
準パーマネントの量を正確に把握することもでき
ない。本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除き、
ドロツプアウトの評価を容易かつ正確に行なうこ
とができるようにしたドロツプアウトの分類方法
を提供するにある。この目的を達成するために、本発明は、複数回
の再生にともなうドロツプアウトの発生パターン
を、予じめ設定した発生パターンと比較するよう
にした点を特徴とする。以下、本発明の実施例を図面について説明す
る。第２図は本発明によるドロツプアウトの分類方
法の一実施例を示すブロツク図であつて、５は
VTR、６はマイクロコンピユータ（以下、マイ
コンという）、７は時間設定タイマ、８は垂直同
期パルスカウンタ（以下、Ｖカウンタという）、
９は水平同期パルスカウンタ（以下、Ｈカウンタ
という）、１０はドロツプアウト検出器、１１は
ドロツプアウト幅カウンタ、１２は発振器であ
る。第３図は第２図の動作を示すフローチヤートで
ある。次に、この実施例の動作について説明する。第２図において、VTR５はマイコン６により
制御される。マイコン６の端子C₁，C₂，C₃，C₄
からは、夫々記録、再生、停止、巻戻しの各モー
ドの指令信号がVTR５に送られ、VTR５は送ら
れてきた指令信号に応じたモードで動作する。時
間設定タイマ７は記録および再生モードの時間を
設定するためのもので、マイコン６の端子C₅か
らリセツト信号が送られると時間設定タイマ７は
動作を開始し、同時に、マイコン６の端子C₁ま
たはC₂から指令信号が送られてVTR５は記録ま
たは再生モードとなる。時間設定タイマ７は、設
定された時間を経過するとマイコン６にタイムオ
ーバー信号を送り、マイコン６は端子C₃，C₄か
ら指令信号を送つてVTR５を停止、巻戻しモー
ドにする。 VTR５がマイコン６からの指令により再生モ
ードにあるときには、第１図に示す磁気テープ１
から映像信号が再生され、再生映像信号から分離
された垂直同期パルスVSはＶカウンタ８へ、水
平同期パルスHSはＨカウンタ９へ、また再生RF
信号Ｖはドロツプアウト検出器１０に夫々供給さ
れる。Ｖカウンタ８は16ビツトのカウンタであつて、
供給される垂直同期パルスVSをカウントする。Ｈカウンタ９は９ビツトカウンタであつて、供
給される水平同期パルスHSをカウントするとと
もに、垂直同期パルスVSによりリセツトされる。
したがつて、Ｈカウンタ９は１フイールド毎に水
平同期パルスHSのカウントを繰り返えすことに
なる。ドロツプアウト検出器１０は再生RF信号Ｖの
振幅の低下からドロツプアウトを検出し、これを
マイコン６に供給するとともに、ドロツプアウト
幅カウンタ１１にも供給する。ドロツプアウト幅
カウンタ１１は８ビツトカウンタで構成され、ド
ロツプアウトが供給されると、ドロツプアウト期
間発振器１２からのパルスをカウントし、そのカ
ウント数をドロツプアウトの幅としてマイコン６
に供給する。そこで、マイコン６はドロツプアウト検出器１
０からドロツプアウトが供給されると、その時点
でのＶカウンタ８、Ｈカウンタ９の夫々のカウン
ト数も供給され、ドロツプアウト幅カウンタ１１
からのカウント数とともにメモリ（図示せず）に
記憶する。Ｖカウンタ８のカウント数はドロツプ
アウトを生ずる欠陥が存在する記録トラツクを表
わし、また、Ｈカウンタ９のカウント数はその記
録トラツク上の欠陥が存在するＨ期間を表わすも
のであつて、夫々のカウント数は磁気テープ上の
欠陥の位置を表わすアドレス信号となる。Ｖカウンタ８は16ビツトカウンタであるから、
2¹⁶＝65536個の記録トラツクをカウントすること
ができ、したがつて、65536／60≒1090秒、すな
わち、約18分の測定が可能である。2¹⁶個カウン
トするとリセツトされ、この時間周期でカウント
を繰り返す。Ｈカウンタ９は９ビツトカウンタであるから、
2⁹＝512カウントすることができ、垂直同期パル
スVSによりリセツトされるから、NTSC方式の
場合には、１から262までのカウントを繰り返し、
PAL方式、SECAM方式では、１から315までの
カウントを繰り返えすことになる。なお、PAL
方式、SECAM方式は垂直同期パルスVSの繰返
し周波数は50Hzであるから、2¹⁶／50≒1310秒、
すなわち、約20分の測定が可能である。ドロツプアウト幅カウンタ１１は８ビツトカウ
ンタであるから、2⁸＝256のカウントが可能であ
り、いま、発振器１２の発振周波数を500KHzと
すると、ドロツプアウトの幅を2μ秒から512μ秒
までで2μ秒の精度で検出することができ、これ
は、Ｈ／30から約8Hまでの幅の欠陥の幅を検出
することができることになる。第１図の磁気テー
プの場合には、1H≒370μmであるから、370÷30
≒12μm程度までの微小な欠陥を検出できること
になる。なお、以上の数値は一例を示したにすぎない。
たとえば、発振器１２の発振周波数をさらに高く
すれば、さらに微小なドロツプアウトの幅、した
がつて、さらに微小な磁気テープの欠陥の幅を検
出することは明らかである。以上、第２図の各ブロツクの動作について説明
したが、次に、第３図のフローチヤートを用いて
磁気テープの欠陥を測定する場合について説明す
る。まず、時間設定タイマ７により測定すべき時間
を予じめ設定する。そこで、記録釦（図示せず）
を押してマイコン６をスタートさせる１３と、
C₁端子から記録指令信号を発してVTR５を記録
開始させる１４。記録開始後適当な時刻にスター
ト音声信号を音声記録トラツク（第１図におい
て、図示しないが、磁気テープ１の一方の端に、
テープ長手方向に形成される）に記録１５し、同
時に、C₅端子からリセツト信号を送つて時間設
定タイマ７を動作させる１６。その後、時間設定タイマ７が設定時間を経過し
たタイムオーバー信号を発生する１７と、停止釦
（図示せず）を押し、マイコン６はC₃端子に停止
指令信号を発してVTR５の記録を停止させ、次
いで、巻戻し釦（図示せず）を押してC₄端子に
巻戻し指令信号を発して磁気テープ（図示せず）
を元の位置まで巻戻させる１８。次に、再生釦（図示せず）を押すとマイコン６
はC₂端子に再生指令信号を発し、VTR５は再生
モードとなる１９。音声記録トラツクを再生しつ
つ、スタート音声信号が再生検出される２０とＶ
カウンタ８、Ｈカウンタ９、ドロツプアウト幅カ
ウンタ１１にリセツトパルスを供給して夫々をリ
セツトする２１。そして、Ｖカウンタ８で垂直同
期パルスVSが、Ｈカウンタ９で水平同期パルス
HSが、先に述べたように、夫々カウントされる。そこで、ドロツプアウト検出器１０でドロツプ
アウトが検出されるとマイコン６はこれを検知
（以下、ドロツプアウトの割り込みという）し２
２、ドロツプアウトの開始時点におけるＶカウン
タ８、Ｈカウンタ９のカウント数を読み込み、ま
た、ドロツプアウト幅カウンタ１１からのカウン
ト数も読み込んで２３、夫々のカウント数をマイ
コン６のメモリ（図示せず）に記憶する２４。そ
れとともに、ドロツプアウト幅カウンタ１１はリ
セツトされる２５。なお、ドロツプアウト幅カウ
ンタ１１のリセツトは、たとえば、検出されたド
ロツプアウトの終端からパルスを検出し、このパ
ルスによつて行なわせることができる。各カウンタ８，９，１１のカウント数がメモリ
に記憶されると、メモリがオーバーするか否かを
判別し２６、もし、オーバーするならばメモリに
記憶されたデータを外部メモリ（図示せず）に転
送する２７。次いで、時間設定タイマ７からタイ
ムオーバー信号があつたか否かの判別２８を行な
い、設定時間が経過していなければ、次のドロツ
プアウトの割り込み２２に備える。そして、時間設定タイマ７による設定時間内
で、ドロツプアウトが検出される毎に、Ｖカウン
タ８、Ｈカウンタ９、ドロツプアウト幅カウンタ
１１のカウント数がメモリに記憶され、メモリに
余裕がなくなると、メモリに記憶されたデータは
外部メモリに転送される。時間設定タイマ７による設定時間が経過すると
時間設定タイマ７はタイムオーバー信号を発生し
２８、停止釦、巻戻し釦を押すことにより、マイ
コン６はC₃，C₄端子に夫々停止、巻戻し指令信
号を発生してVTR５を停止モード、さらに巻戻
しモードにする２９。それとともに、マイコン６
のメモリに記憶されているデータは全て外部メモ
リに転送され３０、測定が全て完了する３１。以上のようにして、磁気テープ上の欠陥の位置
を測定することができる。そこで、同一磁気テー
プを４回繰り返し再生走査し、以上述べてきたよ
うにして、各再生走査毎の欠陥の夫々について同
様のアドレス信号をメモリに記憶する。なお、同
一磁気テープを４回繰り返し記録再生し、同様に
アドレス信号をメモリに記憶してもよい。この場
合には、音声記録トラツクに記録したスタート音
声信号は消去せず、各記録再生におけるアドレス
の基準とする。ところで、４回の再生走査を行なつたときの、
磁気テープ上の同一位置から発生するドロツプア
ウトの発生パターンとしては、第４図に示すよう
に、15通りあるはずである。なお、第４図におい
て、“１”はドロツプアウトを発生したことを示
し、“０”はドロツプアウトを発生しなかつたこ
とを示す。ところで、パーマネントドロツプアウトは１回
目の再生走査によつて生ずる確率が高く、４回再
生走査するうちの２回以上の再生走査で生ずる確
率も高い。そこで、第４図に示す基準パターンの
うち、１回目の再生走査で“１”で、かつ、複数
の“１”を有する基準パターンをパーマネントド
ロツプアウトの基準パターンとする（第５図Ａ）。準パーマネントドロツプアウトは、１回目の再
生走査では生じないが、２回目以降の再生走査で
複数回生ずる可能性が大きいから、１回目の再生
走査で“０”で、かつ、複数の“１”を有する基
準パターンを準パーマネントドロツプアウトの基
準パターンとする。（第５図Ｂ）。テンポラリードロツプアウトは、弱く付着した
塵、埃などによるものであるから、各再生走査毎
に塵、埃などの付着によつて生ずるが、磁気テー
プの同一位置に２回以上の再生走査において塵、
埃などが付着する確率は極めて小さい。したがつ
て、１つしか“１”がない基準パターンをテンポ
ラリードロツプアウトの基準パターンとする（第
５図Ｃ）。このように、各ドロツプアウトの発生基準パタ
ーンを予じめ設定しておき、測定されたドロツプ
アウトの発生パターンと設定された基準パターン
とを比較して測定されたドロツプアウトを分類す
る。次に、マイコン６（第２図）によるドロツプア
ウトの発生パターンの形成および分類について説
明する。第６図はかかる動作を示すフローチヤートであ
る。第６図において、VTR５（第２図）のＫ回目
の再生走査により発生したＬ番目のドロツプアウ
トの、Ｖカウンタ８（第２図）、Ｈカウンタ９
（第２図）の夫々のカウント数で表わされるアド
レスを、Ｄ・OADD（Ｋ、Ｌ）とする。そこで、動作をスタートさせると、１回目の再
生走査による全てのドロツプアウトのアドレス
Ｄ・OADD（１、Ｌ）を所定のアドレスＤ・
OSTOK(L)に順次転送し、同時に、各Ｄ・
OSTOK(L)に対応して、同じドロツプアウトパタ
ーン（Ｄ・OPATTEN(L)）である2⁰、すなわち、
パターン“１、０、０、０”を記憶する３２。し
たがつて、まず、１回目の再生走査によつて検出
されたドロツプアウトの発生位置に対して、パタ
ーン“１、０、０、０”を割当てる。次に、Ｊ＝Ｎ（但し、ＮはＤ・OADD（１、Ｌ）
の数より大きい数）とし３３、２回目の再生走査
によつて検出されたドロツプアウトのアドレス
Ｄ・OADD（２、ｉ）が、Ｄ・OSTOK(L)にある
か否か判断する。３４もし、Ｄ・OSTOK(L)のＤ・OADD（１、Ｌ）
のいずれともＤ・OADD（２、ｉ）が一致しなけ
れば、Ｄ・OADD（２、ｉ）をＤ・OADD(L)に続
くアドレスＤ・OADD（Ｊ＋１）に転送し、同時
に、これに対応して2¹のＤ・OPATTEN（Ｊ＋
１）、すなわち、パターン“０、１、０、０”を
記憶する３５。一方、Ｄ・OADD（２、ｉ）がＤ・OSTOK(L)
のいずれかのＤ・OADD（１、Ｌ）と一致する
と、このときのＤ・OSTOK(L)をＤ・OSTOK
（JJ）とし、これに対応したＤ・OPATTEN(L)を
Ｄ・OPATTEN（JJ）を2⁰＋2¹とする３６。これらの処理３５，３６により、Ｄ・OADD
（２、ｉ）に一致したＤ・OADD（１、Ｌ）の
Ｄ・OPATTEN(L)は“１、１、０、０”に、
Ｄ・OADD（２、ｉ）に一致しなかつたＤ・
OADD（１、Ｌ）のＤ・OPATTEN(L)は“１、
０、０、０”に、また、Ｄ・OADD（１、Ｌ）に
一致しなかつたＤ・OADD（２、ｉ）のＤ・
OPATTEN（Ｊ＋１）は“０、１、０、１”に
夫々設定される。以上のようにしてドロツプアウトのアドレスが
記憶されたアドレスをＤ・OSTOK（〓）とし、
また、これに対するパターンをＤ・OPATTEN
（〓）とすると、上記のことから、Ｄ・
OPATTEN（〓）は、夫々、１、１、０、０１、０、０、００、１、０、０のいずれかである。次に、３回目の再生走査によるドロツプアウト
のアドレスＤ・OADD（３、ｉ）がＤ・OSTOK
（〓）の中にあるか否かを判断する３４。もし、なければ、新たなＤ・OSTOK（〓）に
Ｄ・OADD（３、ｉ）を転送し、同時に、これに
対応して2²であるＤ・OPATTEN（〓）、すなわ
ち“０、０、１、０”を記憶する。もし、あるならば、Ｄ・OADD（３、ｉ）に一
致したドロツプアウトのアドレスを記憶したＤ・
OSTOK（JJ）に対するＤ・OPATTEN（JJ）を、
Ｄ・OPATTEN（JJ）＋2²とする３６このようにして得られたＤ・OSTOK（〓）に
対するＤ・OPATTEN（〓）は、１、１、１、０１、１、０、０１、０、１、０１、０、０、００、１、１、００、１、０、００、０、１、０のいずれかである。次に、４回目の再生走査によるドロツプアウト
のアドレスＤ・OADD（４、ｉ）を、全てのＤ・
OSTOK（〓）について同様の処理をし、結局全
てのＤ・OSTOK（〓）に対応したＤ・
OPATTEN（〓）は、第４図に示したパターンの
いすれかになる。以上のようにして、各ドロツプアウトの発生位
置における発生パターンが得られることになる
が、次に、Ｄ・OSTOK（〓）のアドレスの順次
にＤ・OPATTEN（〓）を並べかえる３７。すな
わち、ドロツプアウトの発生位置順に発生パター
ンを並びかえる。そして、各発生パターンが第５
図Ａ，Ｂ，Ｃのいずれかの基準パターンと一致す
るかを判別してドロツプアウトの分類を行なう。
３８そこで、発生パターンが、第５図Ａに示す基準
パターンのいずれかと一致すると、その発生パタ
ーンをパーマネントドロツプアウトとし、第５図
Ｂに示す基準パターンのいずれかと一致すると、
その発生パターンを準パーマネントパターンと
し、また、第５図Ｃに示す基準パターンのいずれ
かと一致するときには、その発生パターンをテン
ポラリードロツプアウトとし、各発生パターンに
対するアドレスをパーマネント、準パーマネン
ト、テンポラリの各ドロツプアウト毎に分類す
る。以上、マイコン６（第２図）によるドロツプア
ウトの分類処理について説明したが、同様の分類
処理は回路によつても行なうことができる。以下、この点について説明する。第６図は第２図のマイコンによる発生パターン
にもとずいてドロツプアウトを分類するための処
理回路の一具体例を示すブロツク図であつて、３
９，４０，４２，４３，４４は夫々メモリ、４１
は比較分類回路である。第７図において、メモリ３９には、第６図で説
明したようにして得られたドロツプアウトの発生
パターンが記憶されている。また、メモリ４０には、第５図Ａ，Ｂ，Ｃに示
すように分類された基準パターンが記憶されてい
る。そこで、まず、メモリ３９から１つの発生パタ
ーンとそのアドレスとが比較分類回路４１に供給
され、メモリ４０の基準パターンと順次比較され
る。パターンの一致があると、比較分類回路３４
はそのときのパターンとアドレスとをメモリ４
２，４３，４４のいずれかに出力して記憶させ
る。そのときのパターンが第５図Ａの基準パター
ンのいずれかであるときには、パーマネントドロ
ツプアウトとしてメモリ４２に記憶され、第５図
Ｂの基準パターンのいずれかであるときには、準
パーマネントドロツプアウトとしてメモリ４３に
記憶され、また、第５図Ｃの基準パターンのいず
れかであるときには、テンポラリードロツプアウ
トとしてメモリ４４に記憶される。したがつて、
メモリ３９に記憶されている発生パターンを順次
上記のように比較することにより、測定されたド
ロツプアウトはパーマネント、準パーマネント、
テンポラリーの夫々に全て分類される。第８図は第７図の比較分類回路の一具体例を示
すブロツク図であつて、４５，４６は入力端子、
４７，４８はレジスタ、４９はメモリ、５０，５
１，５２，５３は排他的オア回路、５４はノア回
路、５５は読取信号発生回路、５６，５７，５８
はアンド回路、５９，６０，６１はゲート信号入
力端子、６２，６３，６４は出力端子である。第８図において、メモリ３９（第７図）の測定
されたドロツプアウトの発生パターンを表わす４
ビツトの信号（以下、発生パターン信号という）
とアドレス信号とが、入力端子４５から供給さ
れ、発生パターン信号がレジスタ４７に記憶され
るとともに、発生パターン信号とアドレス信号と
がメモリ４９に記憶される。レジスタ４７に発生パターン信号が記憶される
と、メモリ４０（第７図）から入力端子４６を通
して基準パターンを表わす４ビツトの信号（以
下、基準パターン信号という）がレジスタ４８に
記憶される。そこで、レジスタ４７，４８の夫々に記憶され
たパターン信号の対応する夫々のビツト信号が
夫々の排他的オア回路５０，５１，５２，５３に
供給され、夫々の演算結果がノア回路５４に供給
される。したがつて、ノア回路５４の出力は、レ
ジスタ４７，４８に記憶された発生パターン信号
と基準パターン信号とが一致したときには“１”
となり、一致しなければ“０”となる。レジスタ
４７に記憶された発生パターン信号に一致するま
で、レジスタ４８にはメモリ４０（第７図）から
基準パターン信号が順次読出されて記憶され、順
次レジスタ４７の発生パターン信号と比較され
る。レジスタ４７，４８の両パターン信号が一致
し、ノア回路５４から“１”の信号が得られる
と、読取信号発生回路５５は読取信号を発生して
メモリ４９から発生パターン信号とアドレス信号
とを読取り、アンド回路５６，５７，５８に供給
する。アンド回路５６は、レジスタ４７に記憶された
基準パターン信号がパーマネントドロツプアウト
に対する基準パターン信号（第５図Ａ）であると
き、ゲート信号入力端子５９にゲート信号が供給
されてオン状態にあり、同様に、ゲート信号入力
端子６０，６１に夫々ゲート信号を供給すること
により、レジスタ４８に記憶された基準パターン
信号が準パーマネントドロツプアウトに対する基
準パターン信号（第５図Ｂ）であるときアンド回
路５７が、また、テンポラリードロツプアウトに
対する基準パターン信号（第５図Ｃ）であるとき
アンド回路５８がオン状態になる。しかるに、メモリ４９から読取られた発生パタ
ーン信号とアドレス信号とは、この発生パターン
信号に一致した基準パターン信号に応じてアンド
回路５６，５７，５８のいずれかを通過して分類
され、出力端子６２，６３，６４のいずれかから
メモリ４２，４３，４４（第７図）のいずれかに
供給される。したがつて、検出されたドロツプア
ウトは、パーマネント、準パーマネント、テンポ
ラリーのいずれかに分類されて記憶される。以上のようにして、４回の再生走査によつて各
ドロツプアウトを分類することができ、この結果
にもとずいて、磁気テープ上のパーマネント、準
パーマネント、テンポラリーの各種ドロツプアウ
トの分布、各再生走査毎の各種ドロツプアウトの
発生状況などを知ること加でき、磁気テープの評
価や磁気テープの欠陥の原因究明を容易に行なう
ことができるようになる。たとえば、上記のよう
にして得られたドロツプアウトの分類データか
ら、各再生走査毎の１分間当りの各種ドロツプア
ウトの発生数を得、第９図に示すグラフを作成す
ることができる。このようなグラフからは、たと
えば、準パーマネントドロツプアウトの発生傾向
などを知ることができ、磁気テープの評価に役に
立つものである。なお、上記実施例においては、４回の再生走査
について説明したが、これに限定されることな
く、３回以上であれば任意回数の再生走査を行な
うことができ、この場合、それに応じた基準パタ
ーンを設定しなければならないことは当然のこと
である。また、上記実施例で示した回路構成は単なる一
例を示したにすぎず、同様の機能を有する他の回
路構成を採用することができることは明らかであ
る。以上説明したように、本発明によれば、複数回
の再生走査によつて、磁気テープ上のドロツプア
ウトが発生する位置でのドロツプアウトの発生パ
ターンを得、該発生パターンを予じめ設定した基
準パターンと比較するものであるから、検出され
るドロツプアウトの種類を適確に判別して分類す
ることができ、磁気テープの評価や磁気テープの
欠陥の究明を容易にするものであつて、従来技術
にない優れた機能のドロツプアウトの分類方法を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は磁気テープ上の記録パターンの一例を
示す説明図、第２図は本発明によるドロツプアウ
トの分類方法の一実施例を示すブロツク図、第３
図は第２図のドロツプアウトのアドレスを得るた
めの動作を説明するためのフローチヤート、第４
図は基準パターンを示す説明図、第５図Ａ，Ｂ，
Ｃはドロツプアウトの種類別の基準パターンを示
す説明図、第６図は第２図のドロツプアウトの発
生パターンの形成、分類のための動作を示すフロ
ーチヤート、第７図は第６図の動作による発生パ
ターンを分類するための処理回路の一具体例を示
すブロツク図、第８図は第７図の比較分類回路の
一具体例を示すブロツク図、第９図は本発明によ
るドロツプアウトの分類方法に得られたデータの
一利用例を示すグラフ図である。５…VTR、６…マイコン、８…Ｖカウンタ、
９…Ｈカウンタ、１０…ドロツプアウト検出器、
４１…比較分類回路。

Claims

【特許請求の範囲】１磁気テープの同一領域をｎ回（但し、ｎは３
以上の整数）再生して再生毎にドロツプアウトを
検出し、夫々のドロツプアウトを該ドロツプアウ
トを生じせしめる磁気テープの欠陥の種類に応じ
て分類するようにしたドロツプアウト分類方法に
おいて、前記再生毎に、磁気テープ上のアドレスを生成
し、前記ｎ回の再生で少なくとも１回ドロツプアウ
トを生じせしめる欠陥の該アドレスに対し、ドロ
ツプアウトの発生の有無を表わすビツトを前記各
再生に割り当てて前記再生順に配列されてなるド
ロツプアウトのｎビツトからなる発生パターンを
形成してメモリに記憶し、１回目の再生で発生しかつ複数回の再生で発生
するパーマネントドロツプアウトを表わすｎビツ
トの基準パターンと、複数回の再生で発生するが
１回目の再生では発生しない準パーマネントドロ
ツプアウトを表わすｎビツトの基準パターンと、
ｎ回の再生で１回しか発生しないテンポラリード
ロツプアウトを表わすｎビツトの基準パターンと
が予め設定されていて、前記ｎ回の再生終了後、
前記メモリに記憶された前記発生パターンをこれ
ら基準パターンと比較し、この発生パターンを生
ずるドロツプアウトをパーマネントドロツプアウ
ト、準パーマネントドロツプアウト、テンポラリ
ードロツプアウトのいずれかに分類することを特
徴とするドロツプアウトの分類方法。