JPH0355796B2 - - Google Patents
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- JPH0355796B2 JPH0355796B2 JP56213696A JP21369681A JPH0355796B2 JP H0355796 B2 JPH0355796 B2 JP H0355796B2 JP 56213696 A JP56213696 A JP 56213696A JP 21369681 A JP21369681 A JP 21369681A JP H0355796 B2 JPH0355796 B2 JP H0355796B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- signal
- magnetic recording
- magnetic medium
- defects
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は、磁気記録再生円盤や磁気テープ等の
磁気記録媒体の検査方法および装置に係り、特
に、磁気媒体から読み出された検出信号を所定の
スライスレベルと比較することにより、磁気媒体
に生じているピンホールやドロツプアウト等の欠
陥を検査する検査方法および検査装置に関する。
磁気記録媒体の検査方法および装置に係り、特
に、磁気媒体から読み出された検出信号を所定の
スライスレベルと比較することにより、磁気媒体
に生じているピンホールやドロツプアウト等の欠
陥を検査する検査方法および検査装置に関する。
(2) 従来の技術
磁気記録再生円盤や磁気テープ等の磁気媒体
は、基板上に磁性粉を塗布すること等により製造
されるが、その際に生ずるピンホールやドロツプ
アウト等の欠陥を検出する検査装置としては、次
のようなものが知られている。すなわち、磁気媒
体に例えば一定の周波数信号を書き込み、この書
き込まれた信号を読み出して、その平均出力の特
定割合をスライスレベルとし、これと上記の読み
出された信号（検出信号）を比較することによ
り、ミツシングまたはエキストラと呼ばれる欠陥
信号を検出し、これらの信号をカウントすること
で、所定カウント値以上の場合には不良と判定す
るようにした検査装置である。このような検査装
置の構成を第１図に示し、その各部の信号波形を
第２図に示す。
は、基板上に磁性粉を塗布すること等により製造
されるが、その際に生ずるピンホールやドロツプ
アウト等の欠陥を検出する検査装置としては、次
のようなものが知られている。すなわち、磁気媒
体に例えば一定の周波数信号を書き込み、この書
き込まれた信号を読み出して、その平均出力の特
定割合をスライスレベルとし、これと上記の読み
出された信号（検出信号）を比較することによ
り、ミツシングまたはエキストラと呼ばれる欠陥
信号を検出し、これらの信号をカウントすること
で、所定カウント値以上の場合には不良と判定す
るようにした検査装置である。このような検査装
置の構成を第１図に示し、その各部の信号波形を
第２図に示す。
第１図において、磁気記録再生円盤３は例えば
ターンテーブル２上に載置され、モータ１により
回転される。磁気記録再生円盤３上には、記録お
よび消去用ヘツド５と読み出しヘツド４とが配設
されている。これらヘツド４，５は、磁気記録再
生円盤３の表面に対して接触あるいは離間された
状態に配設されると共に、同心円状に複数のトラ
ツクの形成された磁気記録再生円盤３の半径方向
に沿つて歩進するように構成されている。記録お
よび消去用ヘツド５は、記録および消去回路６か
らの信号に応じて磁気記録再生円盤３への一定周
波数信号の書き込みまたはその書き込まれた信号
の消去（消磁）を行う。すなわち、記録および消
去回路６から一定周波数信号が記録および消去用
ヘツド５に加えられることにより磁気記録再生円
盤３への書き込みが行われ、一方、記録および消
去回路６から消去電流が記録および消去用ヘツド
５に加えられることにより磁気記録再生円盤３の
消磁が行われる。
ターンテーブル２上に載置され、モータ１により
回転される。磁気記録再生円盤３上には、記録お
よび消去用ヘツド５と読み出しヘツド４とが配設
されている。これらヘツド４，５は、磁気記録再
生円盤３の表面に対して接触あるいは離間された
状態に配設されると共に、同心円状に複数のトラ
ツクの形成された磁気記録再生円盤３の半径方向
に沿つて歩進するように構成されている。記録お
よび消去用ヘツド５は、記録および消去回路６か
らの信号に応じて磁気記録再生円盤３への一定周
波数信号の書き込みまたはその書き込まれた信号
の消去（消磁）を行う。すなわち、記録および消
去回路６から一定周波数信号が記録および消去用
ヘツド５に加えられることにより磁気記録再生円
盤３への書き込みが行われ、一方、記録および消
去回路６から消去電流が記録および消去用ヘツド
５に加えられることにより磁気記録再生円盤３の
消磁が行われる。
磁気記録再生円盤３へ書き込まれた一定周波数
信号が読み出しヘツド４で読み出されると、検出
信号として増幅および平均出力設定回路７に送ら
れる。ここで、上記検出信号は増幅されてエラー
検出回路９へ送られると共に、上記増幅された検
出信号のピーク値の１トラツク当たりの平均出力
が第２図Ａに示すTAAレベルとして求められス
ライスレベル設定回路８へ送られる。スライスレ
ベル設定回路８では、第２図Ａに示すように上記
平均出力（TAA）の特定割合が正負一組のスラ
イスレベルSL1，SL2として設定され、この一組
のスライスレベルSL1，SL2がエラー検出回路９
へ送られる。エラー検出回路９では、上記増幅さ
れた検出信号が上記スライスレベルSL1，SL2と
比較され、検出信号のスライスレベルSL1，SL2
以下の落ち込みがミツシングとして検出される。
例えば第２図Ｄに示すように磁気記録再生円盤３
のベース３ａ上にコーテイングされた磁性粉３ｂ
の表面に１個の欠陥３ｃが存在する場合には、そ
れと対応する箇所の検出信号レベルが第２図Ａに
示すように落ち込み、よつてこの箇所が第２図Ｂ
またはＣに示すようにミツシングとして検出され
る。
信号が読み出しヘツド４で読み出されると、検出
信号として増幅および平均出力設定回路７に送ら
れる。ここで、上記検出信号は増幅されてエラー
検出回路９へ送られると共に、上記増幅された検
出信号のピーク値の１トラツク当たりの平均出力
が第２図Ａに示すTAAレベルとして求められス
ライスレベル設定回路８へ送られる。スライスレ
ベル設定回路８では、第２図Ａに示すように上記
平均出力（TAA）の特定割合が正負一組のスラ
イスレベルSL1，SL2として設定され、この一組
のスライスレベルSL1，SL2がエラー検出回路９
へ送られる。エラー検出回路９では、上記増幅さ
れた検出信号が上記スライスレベルSL1，SL2と
比較され、検出信号のスライスレベルSL1，SL2
以下の落ち込みがミツシングとして検出される。
例えば第２図Ｄに示すように磁気記録再生円盤３
のベース３ａ上にコーテイングされた磁性粉３ｂ
の表面に１個の欠陥３ｃが存在する場合には、そ
れと対応する箇所の検出信号レベルが第２図Ａに
示すように落ち込み、よつてこの箇所が第２図Ｂ
またはＣに示すようにミツシングとして検出され
る。
一方、記録および消去用ヘツド５によつて消磁
された磁気記録再生円盤３が読み出しヘツド４で
読み出されると、その読み出された検出信号が増
幅および平均出力設定回路７で増幅され、その増
幅された検出信号が上記のスライスレベルSL1，
SL2と共にエラー検出回路９へ与えられる。エラ
ー検出回路９で、上記と同様に検出信号とスライ
スレベルSL1，SL2との比較がなされ、検出信号
のスライスレベルSL1，SL2以上の部分がエキス
トラパルスとして検出される。例えば磁気記録再
生円盤３に第２図Ｄに示したような欠陥３ｃが存
在する場合は、それと対応する箇所の検出信号に
第２図Ｅに示すようなパルス性ノイズが現れ、よ
つてこの箇所が第２図Ｆに示すようにエキストラ
パルスとして検出される。
された磁気記録再生円盤３が読み出しヘツド４で
読み出されると、その読み出された検出信号が増
幅および平均出力設定回路７で増幅され、その増
幅された検出信号が上記のスライスレベルSL1，
SL2と共にエラー検出回路９へ与えられる。エラ
ー検出回路９で、上記と同様に検出信号とスライ
スレベルSL1，SL2との比較がなされ、検出信号
のスライスレベルSL1，SL2以上の部分がエキス
トラパルスとして検出される。例えば磁気記録再
生円盤３に第２図Ｄに示したような欠陥３ｃが存
在する場合は、それと対応する箇所の検出信号に
第２図Ｅに示すようなパルス性ノイズが現れ、よ
つてこの箇所が第２図Ｆに示すようにエキストラ
パルスとして検出される。
このようにミツシングやエキストラパルスとし
て検出された欠陥が、１個の磁気記録再生円盤３
に所定個数以上存在する場合には、その磁気記録
再生円盤３を不良品と判断するようにしている。
て検出された欠陥が、１個の磁気記録再生円盤３
に所定個数以上存在する場合には、その磁気記録
再生円盤３を不良品と判断するようにしている。
(3) 従来技術の問題点
従来は、以上に述べたようにして磁気記録再生
円盤を単独で検査したものを、上記磁気記録再生
円盤を組み込んで実際に使用する装置でも基本的
には上記の検査と同じ方法で磁気記録再生円盤の
欠陥検査を行い、欠陥個数が規定個数以下の良品
であることを確認して市場に出荷している。しか
しながら、磁気記録再生円盤を実装する装置によ
つては、スライスレベルが多少異なり、磁気記録
再生円盤を単独で検査した場合のスライスレベル
と同一でないことがあり、装置での良品率を一定
に確認することが困難であつた。
円盤を単独で検査したものを、上記磁気記録再生
円盤を組み込んで実際に使用する装置でも基本的
には上記の検査と同じ方法で磁気記録再生円盤の
欠陥検査を行い、欠陥個数が規定個数以下の良品
であることを確認して市場に出荷している。しか
しながら、磁気記録再生円盤を実装する装置によ
つては、スライスレベルが多少異なり、磁気記録
再生円盤を単独で検査した場合のスライスレベル
と同一でないことがあり、装置での良品率を一定
に確認することが困難であつた。
このようなバラツキの問題を第３図によつて説
明する。第３図は、縦軸に磁気記録再生円盤の欠
陥（エラー）個数を、横軸にスライスレベルをと
つたものである。ここで、例えば、大きな欠陥が
小さな欠陥よりも多く存在する第１の磁気記録再
生円盤１１と、これとは逆に小さな欠陥が大きな
欠陥よりも多く存在する第２の磁気記録再生円盤
１２とを比較して考える。まず、高レベルのスラ
イスレベルＣを用いて２つの磁気記録再生円盤１
１，１２を検査した場合、第１の磁気記録再生円
盤１１の欠陥個数が第２の磁気記録再生円盤１２
の欠陥個数よりも多くなるため、第１の磁気記録
再生円盤１１が不良品、第２の磁気記録再生円盤
１２が良品と判断される可能性が高い。ところ
が、低レベルのスライスレベルＡを用いて同様に
２つの磁気記録再生円盤１１，１２を検査する
と、小さな欠陥の多く存在する第２の磁気記録再
生円盤１２を検査して得られる欠陥個数が第１の
磁気記録再生円盤１１の欠陥個数よりも多くな
り、上記の場合とは逆に、第２の磁気記録再生円
盤１２が不良品、第１の磁気記録再生円盤１１が
良品と判断される可能性が高くなつてしまう。す
なわち、磁気記録再生円盤を単独で検査した後、
実際に使用する装置に実装して検査すると、良品
の磁気記録再生円盤を誤つて不良品と判断してし
まう確率が高かつた。
明する。第３図は、縦軸に磁気記録再生円盤の欠
陥（エラー）個数を、横軸にスライスレベルをと
つたものである。ここで、例えば、大きな欠陥が
小さな欠陥よりも多く存在する第１の磁気記録再
生円盤１１と、これとは逆に小さな欠陥が大きな
欠陥よりも多く存在する第２の磁気記録再生円盤
１２とを比較して考える。まず、高レベルのスラ
イスレベルＣを用いて２つの磁気記録再生円盤１
１，１２を検査した場合、第１の磁気記録再生円
盤１１の欠陥個数が第２の磁気記録再生円盤１２
の欠陥個数よりも多くなるため、第１の磁気記録
再生円盤１１が不良品、第２の磁気記録再生円盤
１２が良品と判断される可能性が高い。ところ
が、低レベルのスライスレベルＡを用いて同様に
２つの磁気記録再生円盤１１，１２を検査する
と、小さな欠陥の多く存在する第２の磁気記録再
生円盤１２を検査して得られる欠陥個数が第１の
磁気記録再生円盤１１の欠陥個数よりも多くな
り、上記の場合とは逆に、第２の磁気記録再生円
盤１２が不良品、第１の磁気記録再生円盤１１が
良品と判断される可能性が高くなつてしまう。す
なわち、磁気記録再生円盤を単独で検査した後、
実際に使用する装置に実装して検査すると、良品
の磁気記録再生円盤を誤つて不良品と判断してし
まう確率が高かつた。
(4) 発明の目的
本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされた
もので、検査時間を増加させることなく、磁気媒
体の正確な良否判定を可能にすることを目的とす
る。
もので、検査時間を増加させることなく、磁気媒
体の正確な良否判定を可能にすることを目的とす
る。
(5) 発明の構成
本発明の上記目的は、磁気媒体に所定の記録信
号を記録した後、該記録信号を読み出して検出信
号を得、該検出信号を、正負のスライスレベルを
一組とする互いに異なる複数組のスライスレベル
とそれぞれ同時に比較し、そのそれぞれの比較結
果に基づき前記磁気媒体の欠陥を同時に検出する
ことを特徴とする磁気媒体の検査方法、または、
磁気媒体に所定の記録信号を記録する記録手段
と、磁気媒体に記録された前記所定の記録信号を
検出信号として読み出す読出手段と、該読出手段
によつて読み出された前記検出信号を正負一組の
スライスレベルと比較して前記磁気媒体の欠陥を
検出するエラー検出回路を複数有してなり、該複
数のエラー検出回路のそれぞれのスライスレベル
を互いに異なるレベルに設定すると共に、該複数
のエラー検出回路で同時に欠陥を検出するエラー
検出手段と、を備えたことを特徴とする磁気媒体
の検査装置によつて達成される。
号を記録した後、該記録信号を読み出して検出信
号を得、該検出信号を、正負のスライスレベルを
一組とする互いに異なる複数組のスライスレベル
とそれぞれ同時に比較し、そのそれぞれの比較結
果に基づき前記磁気媒体の欠陥を同時に検出する
ことを特徴とする磁気媒体の検査方法、または、
磁気媒体に所定の記録信号を記録する記録手段
と、磁気媒体に記録された前記所定の記録信号を
検出信号として読み出す読出手段と、該読出手段
によつて読み出された前記検出信号を正負一組の
スライスレベルと比較して前記磁気媒体の欠陥を
検出するエラー検出回路を複数有してなり、該複
数のエラー検出回路のそれぞれのスライスレベル
を互いに異なるレベルに設定すると共に、該複数
のエラー検出回路で同時に欠陥を検出するエラー
検出手段と、を備えたことを特徴とする磁気媒体
の検査装置によつて達成される。
(6) 発明の実施例
以下、本発明の実施例について、図面を参照し
ながら説明する。
ながら説明する。
第４図に、本発明の検査装置の一実施例の構成
を示す。なお、第１図の同一部分には同一符号を
付して、その重複説明を省略する。
を示す。なお、第１図の同一部分には同一符号を
付して、その重複説明を省略する。
第４図において、磁気記録再生円盤３に記録お
よび消去用ヘツド５によつて記録された一定周波
数信号が読み出しヘツド４によつて読み出され、
その読み出された信号が検出信号として増幅回路
１５で増幅された後、破線で示す複数のエラー検
出回路１３ａ，…１３ｎ内の各比較回路１４ａ，
…１４ｎの一方の入力端子に加えられる。
よび消去用ヘツド５によつて記録された一定周波
数信号が読み出しヘツド４によつて読み出され、
その読み出された信号が検出信号として増幅回路
１５で増幅された後、破線で示す複数のエラー検
出回路１３ａ，…１３ｎ内の各比較回路１４ａ，
…１４ｎの一方の入力端子に加えられる。
更に、増幅回路１５で増幅された検出信号は平
均値設定回路１６ａ，…１６ｎに入力され、これ
によつて、１トラツク間を読み出して得られた検
出信号のピーク値の平均出力（TAAレベル）が
求められ、その直流出力がデジタル−アナログ変
換回路（Ｄ／Ａコンバータ）１７ａ，…１７ｎの
直流入力に加えられる。それと共に、スライスレ
ベル設定回路１８ａ，…１８ｎでそれぞれ設定さ
れた互いに異なるスライスレベル値が、例えば
１，２，４，８…等のコードでデジタル−アナロ
グ変換回路１７ａ，…１７ｎに与えられる。よつ
て、例えばスライスレベル設定値を80％に選定す
るようにデジタル−アナログ変換回路１７ａに与
え、平均値設定回路１６ａで求めた平均出力電圧
が直流で3Vであるとすると、デジタル−アナロ
グ変換回路１７ａの出力には±2.4（＝３×0.8）
Ｖの電圧が正負一組のスライスレベルとして取り
出されて比較回路１４ａの他方の入力端子に加え
られる。なお、ここで１つのデジタル−アナログ
変換回路から出力されるスライスレベルは上記の
ように正負一組のスライスレベルであり、これら
のレベルが各スライスレベル設定回路のスライス
レベル設定値に従い各デジタル−アナログ変換回
路毎に異なるように設定される。増幅回路１５で
増幅された検出信号は個々の比較回路１４ａ，…
１４ｎで各スライスレベルと比較されることとな
り、互いに異なる複数組みのスライスレベルに基
づく欠陥検出が同時に行われる。もし、磁気記録
再生円盤３に欠陥があり場合は、各スライスレベ
ルに応じてエキストラやミツシング等の欠陥検出
信号が得られるので、これらから磁気記録再生円
盤３の良否判定を行うことができる。なお、記録
信号の読み出しは磁気記録再生円盤３の内周また
は外周トラツクから外周または内周トラツクにわ
たつての全トラツクについて行われる。
均値設定回路１６ａ，…１６ｎに入力され、これ
によつて、１トラツク間を読み出して得られた検
出信号のピーク値の平均出力（TAAレベル）が
求められ、その直流出力がデジタル−アナログ変
換回路（Ｄ／Ａコンバータ）１７ａ，…１７ｎの
直流入力に加えられる。それと共に、スライスレ
ベル設定回路１８ａ，…１８ｎでそれぞれ設定さ
れた互いに異なるスライスレベル値が、例えば
１，２，４，８…等のコードでデジタル−アナロ
グ変換回路１７ａ，…１７ｎに与えられる。よつ
て、例えばスライスレベル設定値を80％に選定す
るようにデジタル−アナログ変換回路１７ａに与
え、平均値設定回路１６ａで求めた平均出力電圧
が直流で3Vであるとすると、デジタル−アナロ
グ変換回路１７ａの出力には±2.4（＝３×0.8）
Ｖの電圧が正負一組のスライスレベルとして取り
出されて比較回路１４ａの他方の入力端子に加え
られる。なお、ここで１つのデジタル−アナログ
変換回路から出力されるスライスレベルは上記の
ように正負一組のスライスレベルであり、これら
のレベルが各スライスレベル設定回路のスライス
レベル設定値に従い各デジタル−アナログ変換回
路毎に異なるように設定される。増幅回路１５で
増幅された検出信号は個々の比較回路１４ａ，…
１４ｎで各スライスレベルと比較されることとな
り、互いに異なる複数組みのスライスレベルに基
づく欠陥検出が同時に行われる。もし、磁気記録
再生円盤３に欠陥があり場合は、各スライスレベ
ルに応じてエキストラやミツシング等の欠陥検出
信号が得られるので、これらから磁気記録再生円
盤３の良否判定を行うことができる。なお、記録
信号の読み出しは磁気記録再生円盤３の内周また
は外周トラツクから外周または内周トラツクにわ
たつての全トラツクについて行われる。
次に、上記構成において、複数個のエラー検出
回路として例えば３個のエラー検出回路１３ａ，
１３ｂ，１３ｃを備えた場合について、その動作
を第５図に基づき具体的に説明する。
回路として例えば３個のエラー検出回路１３ａ，
１３ｂ，１３ｃを備えた場合について、その動作
を第５図に基づき具体的に説明する。
この場合、それぞれのスライスレベル設定回路
１８ａ，１８ｂ，１８ｃでは互いに異なるスライ
スレベル値が設定され、それに基づきデジタル−
アナログ変換回路１７ａ，１７ｂ，１７ｃからは
それぞれ正負一組とする互いに異なる複数組みの
スライスレベル（SLa1，SLa2）、（SLb1，SLb2）、
（SLc1，SLc2）が出力される。これら三組みのス
ライスレベルはそれぞれ別々に比較回路１４ａ，
１４ｂ，１４ｃに入力され、ここで増幅回路１５
から得られた検出信号との比較がなされ、その比
較結果に基づき欠陥の有無が判定される。
１８ａ，１８ｂ，１８ｃでは互いに異なるスライ
スレベル値が設定され、それに基づきデジタル−
アナログ変換回路１７ａ，１７ｂ，１７ｃからは
それぞれ正負一組とする互いに異なる複数組みの
スライスレベル（SLa1，SLa2）、（SLb1，SLb2）、
（SLc1，SLc2）が出力される。これら三組みのス
ライスレベルはそれぞれ別々に比較回路１４ａ，
１４ｂ，１４ｃに入力され、ここで増幅回路１５
から得られた検出信号との比較がなされ、その比
較結果に基づき欠陥の有無が判定される。
例えば、磁気記録再生円盤３に、第５図Ａに示
すような比較的小さな欠陥３ｃと比較的大きな欠
陥３ｄとが存在する場合を考える。このような磁
気記録再生円盤３に記録および消去用ヘツド５に
よつて記録された一定周波数信号を読み出しヘツ
ド４で読み出すと、増幅回路１５からは、第５図
Ｂに示すような検出信号が得られる。すなわち、
欠陥３ｃ，３ｄと対応する箇所ではTAAレベル
よりも相当に小さなレベルしか得られず、そのレ
ベル低下の度合いは欠陥の大きさにほぼ対応して
おり、欠陥３ｃよりも欠陥３ｄにおけるレベル低
下がより大きくなつている。こような検出信号は
比較回路１４ａ，１４ｂ，１４ｃにより上記三組
みのスライスレベル（SLa1，SLa2）、（SLb1，
SLb2）、（SLc1，SLc2）と比較され、それぞれ第
５図Ｃ，Ｄ、Ｅに示すような欠陥検出信号が得ら
れる。ここで、比較回路１４ａ，１４ｂから得ら
れた欠陥検出信号（第５図Ｃ，Ｄ）によれば、２
つの欠陥３ｃ，３ｄが共にミツシングとして検出
されており、一方、比較回路１４ｃから得られた
欠陥検出信号（第５図Ｅ）によれば、比較的大き
な欠陥３ｄのみがミツシングとして検出されてい
る。このようにして、各エラー検出回路１４ａ，
１４ｂ，１４ｃで設定された各スライスレベルに
応じた欠陥検出結果が得られる。
すような比較的小さな欠陥３ｃと比較的大きな欠
陥３ｄとが存在する場合を考える。このような磁
気記録再生円盤３に記録および消去用ヘツド５に
よつて記録された一定周波数信号を読み出しヘツ
ド４で読み出すと、増幅回路１５からは、第５図
Ｂに示すような検出信号が得られる。すなわち、
欠陥３ｃ，３ｄと対応する箇所ではTAAレベル
よりも相当に小さなレベルしか得られず、そのレ
ベル低下の度合いは欠陥の大きさにほぼ対応して
おり、欠陥３ｃよりも欠陥３ｄにおけるレベル低
下がより大きくなつている。こような検出信号は
比較回路１４ａ，１４ｂ，１４ｃにより上記三組
みのスライスレベル（SLa1，SLa2）、（SLb1，
SLb2）、（SLc1，SLc2）と比較され、それぞれ第
５図Ｃ，Ｄ、Ｅに示すような欠陥検出信号が得ら
れる。ここで、比較回路１４ａ，１４ｂから得ら
れた欠陥検出信号（第５図Ｃ，Ｄ）によれば、２
つの欠陥３ｃ，３ｄが共にミツシングとして検出
されており、一方、比較回路１４ｃから得られた
欠陥検出信号（第５図Ｅ）によれば、比較的大き
な欠陥３ｄのみがミツシングとして検出されてい
る。このようにして、各エラー検出回路１４ａ，
１４ｂ，１４ｃで設定された各スライスレベルに
応じた欠陥検出結果が得られる。
一方、第５図Ａに示したような磁気記録再生円
盤３を記録および消去用ヘツド５で消磁した後に
読み出しヘツド４で読み取ると、増幅回路１５か
らは第５図Ｆに示すような検出信号が得られる。
すなわち、欠陥３ｃ，３ｄと対応する箇所ではレ
ベルがゼロにならず、各欠陥に応じた或る程度の
大きさのレベルが得られる。このような検出信号
が比較回路１４ａ，１４ｂ，１４ｃにより上記三
組みのスライスレベル（SLa1，SLa2）、（SLb1，
SLb2）、（SLc1，SLc2）と比較されると、それぞ
れ第５図Ｇ，Ｈ，Ｉに示すような欠陥検出信号が
得られる。ここで、比較回路１４ｂ，１４ｃから
得られた欠陥検出信号（第５図Ｈ，Ｉ）によれ
ば、２つの欠陥３ｃ，３ｄが共にエキストラパル
スとして検出されており、一方、比較回路１４ａ
から得られた欠陥検出信号（第５図Ｇ）によれ
ば、比較的大きな欠陥３ｄのみがエキストラパル
スとして検出されている。このようにして、各エ
ラー検出回路１４ａ，１４ｂ，１４ｃで設定され
た各スライスレベルに応じた欠陥検出結果が得ら
れる。
盤３を記録および消去用ヘツド５で消磁した後に
読み出しヘツド４で読み取ると、増幅回路１５か
らは第５図Ｆに示すような検出信号が得られる。
すなわち、欠陥３ｃ，３ｄと対応する箇所ではレ
ベルがゼロにならず、各欠陥に応じた或る程度の
大きさのレベルが得られる。このような検出信号
が比較回路１４ａ，１４ｂ，１４ｃにより上記三
組みのスライスレベル（SLa1，SLa2）、（SLb1，
SLb2）、（SLc1，SLc2）と比較されると、それぞ
れ第５図Ｇ，Ｈ，Ｉに示すような欠陥検出信号が
得られる。ここで、比較回路１４ｂ，１４ｃから
得られた欠陥検出信号（第５図Ｈ，Ｉ）によれ
ば、２つの欠陥３ｃ，３ｄが共にエキストラパル
スとして検出されており、一方、比較回路１４ａ
から得られた欠陥検出信号（第５図Ｇ）によれ
ば、比較的大きな欠陥３ｄのみがエキストラパル
スとして検出されている。このようにして、各エ
ラー検出回路１４ａ，１４ｂ，１４ｃで設定され
た各スライスレベルに応じた欠陥検出結果が得ら
れる。
(7) 発明の効果
本発明によれば、正負のスライスレベルを一組
とする互いに異なる複数組みのスライスレベルを
用いて磁気媒体の欠陥を検出するようにしたの
で、磁気媒体の製造品種によつて生じる欠陥の不
均一分布をカバーすることができ、よつて、従来
のように正負一組のスライスレベルだけで磁気媒
体の品質良否を判断する場合に比べて、良品の磁
気媒体を不良品（あるいは逆に不良品を良品）と
誤つて判断する確立を減少させることができ、極
めて信頼性の高い検査が可能になる。
とする互いに異なる複数組みのスライスレベルを
用いて磁気媒体の欠陥を検出するようにしたの
で、磁気媒体の製造品種によつて生じる欠陥の不
均一分布をカバーすることができ、よつて、従来
のように正負一組のスライスレベルだけで磁気媒
体の品質良否を判断する場合に比べて、良品の磁
気媒体を不良品（あるいは逆に不良品を良品）と
誤つて判断する確立を減少させることができ、極
めて信頼性の高い検査が可能になる。
しかも、上記の複数組みのスライスレベルに基
づくそれぞれの欠陥検出を同時に行うようにした
ので、検査時間を増加させることなく、高い作業
能率で、正確な磁気媒体品質評価を行うことがで
きる。
づくそれぞれの欠陥検出を同時に行うようにした
ので、検査時間を増加させることなく、高い作業
能率で、正確な磁気媒体品質評価を行うことがで
きる。
第１図は従来の磁気媒体検査装置の構成図、第
２図Ａ〜Ｆは第１図に示した検査装置の動作を説
明するための信号波形図、第３図は欠陥個数とス
ライスレベルとの関係を示す図、第４図は本発明
の磁気媒体検査装置の一実施例の構成図、第５図
は第４図に示した検査装置の動作を説明するため
の信号波形図である。 １……モータ、３……磁気記録再生円盤、４…
…読み出しヘツド、５……記録および消去用ヘツ
ド、６……記録および消去回路、１３ａ〜１３ｎ
……エラー検出回路、１４ａ〜１４ｎ……比較回
路、１５……増幅回路、１６ａ〜１６ｎ……平均
値設定回路、１７ａ〜１７ｎ……デジタル−アナ
ログ変換回路、１８ａ〜１８ｎ……スライスレベ
ル設定回路。
２図Ａ〜Ｆは第１図に示した検査装置の動作を説
明するための信号波形図、第３図は欠陥個数とス
ライスレベルとの関係を示す図、第４図は本発明
の磁気媒体検査装置の一実施例の構成図、第５図
は第４図に示した検査装置の動作を説明するため
の信号波形図である。 １……モータ、３……磁気記録再生円盤、４…
…読み出しヘツド、５……記録および消去用ヘツ
ド、６……記録および消去回路、１３ａ〜１３ｎ
……エラー検出回路、１４ａ〜１４ｎ……比較回
路、１５……増幅回路、１６ａ〜１６ｎ……平均
値設定回路、１７ａ〜１７ｎ……デジタル−アナ
ログ変換回路、１８ａ〜１８ｎ……スライスレベ
ル設定回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 磁気媒体に所定の記録信号を記録した後、該
記録信号を読み出して検出信号を得、該検出信号
を、正負のスライスレベルを一組とする互いに異
なる複数組のスライスレベルとそれぞれ同時に比
較し、そのそれぞれの比較結果に基づき前記磁気
媒体の欠陥を同時に検出することを特徴とする磁
気媒体の検査方法。 ２ 磁気媒体に所定の記録信号を記録する記録手
段と、 磁気媒体に記録された前記所定の記録信号を検
出信号として読み出す読出手段と、 該読出手段によつて読み出された前記検出信号
を正負一組のスライスレベルと比較して前記磁気
媒体の欠陥を検出するエラー検出回路を複数有し
てなり、該複数のエラー検出回路のそれぞれのス
ライスレベルを互いに異なるレベルに設定すると
共に、該複数のエラー検出回路で同時に欠陥を検
出するエラー検出手段と、 を備えたことを特徴とする磁気媒体の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21369681A JPS58115378A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 磁気媒体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21369681A JPS58115378A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 磁気媒体の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58115378A JPS58115378A (ja) | 1983-07-09 |
| JPH0355796B2 true JPH0355796B2 (ja) | 1991-08-26 |
Family
ID=16643472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21369681A Granted JPS58115378A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 磁気媒体の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58115378A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6278774A (ja) * | 1985-10-02 | 1987-04-11 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 磁気記録媒体処理装置 |
| JPS62159378A (ja) * | 1986-01-07 | 1987-07-15 | Nec Corp | 光デイスク装置 |
| JPS62173678A (ja) * | 1986-01-27 | 1987-07-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出装置 |
| JPS6350980A (ja) * | 1986-08-19 | 1988-03-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出装置 |
| JPS62173675A (ja) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気デイスク欠陥検出回路 |
| JPS63144272A (ja) * | 1986-12-08 | 1988-06-16 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法 |
| JPH0668609A (ja) * | 1992-08-20 | 1994-03-11 | Teac Corp | ディスク装置 |
| JP2009004028A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Fujifilm Corp | モールド構造体の検査方法、モールド構造体、モールド原盤、及び磁気記録媒体 |
-
1981
- 1981-12-29 JP JP21369681A patent/JPS58115378A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58115378A (ja) | 1983-07-09 |
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