JPH0554074B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0554074B2 JPH0554074B2 JP58213342A JP21334283A JPH0554074B2 JP H0554074 B2 JPH0554074 B2 JP H0554074B2 JP 58213342 A JP58213342 A JP 58213342A JP 21334283 A JP21334283 A JP 21334283A JP H0554074 B2 JPH0554074 B2 JP H0554074B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- dropout
- missing
- time
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Signal Processing Not Specific To The Method Of Recording And Reproducing (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、磁気記録媒体に記録された信号の
ドロツプアウトの大きさを測定するドロツプアウ
ト測定装置に関するものである。
ドロツプアウトの大きさを測定するドロツプアウ
ト測定装置に関するものである。
磁気テープ等の磁気記録媒体において、磁性体
の欠落、表面のキズおよび突起、ほこり等の原因
により記録信号の再生信号が欠如したり、または
記録信号を入力しても記録されない部分があつた
りする。特にビデオフロツピーデイスク等の磁性
体の場合は記録密度の増大に比例してより微少な
評めの欠陥によつてもドロツプアウトが発生し易
くなつてきている。このため、ドロツプアウトの
正確な検出が要望されている。
の欠落、表面のキズおよび突起、ほこり等の原因
により記録信号の再生信号が欠如したり、または
記録信号を入力しても記録されない部分があつた
りする。特にビデオフロツピーデイスク等の磁性
体の場合は記録密度の増大に比例してより微少な
評めの欠陥によつてもドロツプアウトが発生し易
くなつてきている。このため、ドロツプアウトの
正確な検出が要望されている。
第１図はドロツプアウト計測値の一例を示す欠
落信号の波形図であり、１ａ〜１ｅは欠落信号、
２は基底値レベルで、0dBであり、これ以下の欠
落信号をドロツプアウトとし、後述するようにそ
の減衰量と欠落時間をはかる。３はスレツシヨル
ドレベル、αは減衰量、βは欠落時間である。以
下この第１図を参照しながらドロツプアウトの測
定について説明する。
落信号の波形図であり、１ａ〜１ｅは欠落信号、
２は基底値レベルで、0dBであり、これ以下の欠
落信号をドロツプアウトとし、後述するようにそ
の減衰量と欠落時間をはかる。３はスレツシヨル
ドレベル、αは減衰量、βは欠落時間である。以
下この第１図を参照しながらドロツプアウトの測
定について説明する。
従来、ドロツプアウト（以下DOと呼ぶ）の測
定に用いられるDOカウンタでは、ある一定の減
衰量αと欠落時間βをそれぞれ設定し、その設定
値を越える欠落信号をDOの発生としてその個数
を個々のDOの大きさが不明であり、それがため
にDOの大きさの分布がえられずDOの原因を究
明できなかつた。このため、DOの分布をとらえ
るのにスレツシヨルドレベル３を変えながら多数
回DOを測定することも考えられるが、走行回毎
にDOの出力が変わり正確なDOの大きさの分布
を測定できないという欠点があつた。
定に用いられるDOカウンタでは、ある一定の減
衰量αと欠落時間βをそれぞれ設定し、その設定
値を越える欠落信号をDOの発生としてその個数
を個々のDOの大きさが不明であり、それがため
にDOの大きさの分布がえられずDOの原因を究
明できなかつた。このため、DOの分布をとらえ
るのにスレツシヨルドレベル３を変えながら多数
回DOを測定することも考えられるが、走行回毎
にDOの出力が変わり正確なDOの大きさの分布
を測定できないという欠点があつた。
この発明は、上記の点にかんがみなされたもの
で、FMビデオ信号のような被測定信号を磁気記
録媒体に記憶し、この高周波再生信号をAM検波
し、これによつて得られる欠落信号（正確には欠
落信号の包絡線であるがこの明細書では欠落信号
という）を得て、これから個々のDOの大きさを
測定することを可能にしたDO測定装置を提供す
ることを目的とする。
で、FMビデオ信号のような被測定信号を磁気記
録媒体に記憶し、この高周波再生信号をAM検波
し、これによつて得られる欠落信号（正確には欠
落信号の包絡線であるがこの明細書では欠落信号
という）を得て、これから個々のDOの大きさを
測定することを可能にしたDO測定装置を提供す
ることを目的とする。
この発明は、上記目的を達成するために、磁気
記録媒体に書き込んだ被測定信号を再生し、この
再生信号をAM検波して得られる信号のうち予め
設定したスレツシヨルドレベル以下の信号の減衰
量と欠落時間とを測定し、DOの大きさを測定で
きるようにしたものである。
記録媒体に書き込んだ被測定信号を再生し、この
再生信号をAM検波して得られる信号のうち予め
設定したスレツシヨルドレベル以下の信号の減衰
量と欠落時間とを測定し、DOの大きさを測定で
きるようにしたものである。
第２図はこの発明の一実施例を示す概略ブロツ
ク図で、１１は再生信号（RF）、１２はこの再生
信号１１をAM検波するAM検波器、１３はコン
パレータで、AM検波器１２の検波信号と予めセ
ツトされたスレツシヨルドレベル１４を比較し、
検波信号の方が大きいとき出力を出す。
ク図で、１１は再生信号（RF）、１２はこの再生
信号１１をAM検波するAM検波器、１３はコン
パレータで、AM検波器１２の検波信号と予めセ
ツトされたスレツシヨルドレベル１４を比較し、
検波信号の方が大きいとき出力を出す。
１５はDOのピーク値を更新しホールドするピ
ーク検出保持器、１６は前記AM検波器１２で検
波されたFMビデオ信号をデジタル化するＡ／Ｄ
コンバータ、１７は前記ピーク検出保持器１５の
保持値からDOの深さ、つまり減衰量αをラツチ
する出力ラツチ、１８はDOの個数を計測するカ
ウンタで、コンパレータ１３からの出力が出た時
点からクロツク１９のカウントを開始し、出力が
消えた時点でカウントを停止し、それまでのカウ
ント値つまり欠落時間βを出力する。２０はDO
の幅、つまり欠落時間βをラツチする出力ラツ
チ、２１はDOを成分表示するデイスプレイであ
る。
ーク検出保持器、１６は前記AM検波器１２で検
波されたFMビデオ信号をデジタル化するＡ／Ｄ
コンバータ、１７は前記ピーク検出保持器１５の
保持値からDOの深さ、つまり減衰量αをラツチ
する出力ラツチ、１８はDOの個数を計測するカ
ウンタで、コンパレータ１３からの出力が出た時
点からクロツク１９のカウントを開始し、出力が
消えた時点でカウントを停止し、それまでのカウ
ント値つまり欠落時間βを出力する。２０はDO
の幅、つまり欠落時間βをラツチする出力ラツ
チ、２１はDOを成分表示するデイスプレイであ
る。
次に動作について説明する。
再生信号１１はAM検波器１２で検波され、コ
ンパレータ１３にセツトしたスレツシヨルドレベ
ル１４と比較され、スレツシヨルドレベル１４を
越えていれば出力を出し、カウンタ１８を起動
し、DOをカウントし欠落時間βの計測を開始す
る。一方、AM検波された検波信号は減衰量αの
ピーク値を更新しながらピーク検出保持器１５に
その最大値をメモリする。続いて検波信号をＡ／
Ｄコンバータ１６でデジタル化して、その値を出
力ラツチ１７にラツチする。
ンパレータ１３にセツトしたスレツシヨルドレベ
ル１４と比較され、スレツシヨルドレベル１４を
越えていれば出力を出し、カウンタ１８を起動
し、DOをカウントし欠落時間βの計測を開始す
る。一方、AM検波された検波信号は減衰量αの
ピーク値を更新しながらピーク検出保持器１５に
その最大値をメモリする。続いて検波信号をＡ／
Ｄコンバータ１６でデジタル化して、その値を出
力ラツチ１７にラツチする。
この動作を１フレーム毎に順次繰り返し、デイ
スプレイ２１にDO（α，β）を表示する。この
結果、第１図に示される欠落信号１ａ〜１ｅのう
ち、欠落信号１ｃと１ｄがDOと判定され、例え
ば、 １ｃ＝DO（α1e，β1e）， １ｄ＝DO（α1d，β1d） のように２次元の成分表示が可能となる。
スプレイ２１にDO（α，β）を表示する。この
結果、第１図に示される欠落信号１ａ〜１ｅのう
ち、欠落信号１ｃと１ｄがDOと判定され、例え
ば、 １ｃ＝DO（α1e，β1e）， １ｄ＝DO（α1d，β1d） のように２次元の成分表示が可能となる。
また、この発明のAM検波後のDO検知プロセ
スにおいて、再生ヘツド切り換え時にノイズが入
る場合には、次のような手法によりノイズを消す
ことができる。
スにおいて、再生ヘツド切り換え時にノイズが入
る場合には、次のような手法によりノイズを消す
ことができる。
再生ヘツド切り換え時には、予期せぬノイズが
FMビデオ信号に畳重し、これをDOとして判定
してしまうので、DOのカウントを一時中断する
必要がある。第３図はそのためのタイミングチヤ
ート図であり、ａは再生信号、ｂは前記再生信号
ａのFM検波後の信号のうちの垂直同期信号、ｃ
はゲート信号、ｄは再生ヘツド切り換え点であ
る。ヘツド切り換えは垂直同期信号ｂの約7H前
で行われるので、ゲート信号ｃは垂直同期信号ｂ
の立上り前15H（水平同期：952μ sec）と立下り
後10H分（635μ sec）との間、“Ｌ”または“Ｈ”
レベルになり、この25H間DO計測処理を停止さ
せるようにする。
FMビデオ信号に畳重し、これをDOとして判定
してしまうので、DOのカウントを一時中断する
必要がある。第３図はそのためのタイミングチヤ
ート図であり、ａは再生信号、ｂは前記再生信号
ａのFM検波後の信号のうちの垂直同期信号、ｃ
はゲート信号、ｄは再生ヘツド切り換え点であ
る。ヘツド切り換えは垂直同期信号ｂの約7H前
で行われるので、ゲート信号ｃは垂直同期信号ｂ
の立上り前15H（水平同期：952μ sec）と立下り
後10H分（635μ sec）との間、“Ｌ”または“Ｈ”
レベルになり、この25H間DO計測処理を停止さ
せるようにする。
これによつて外乱の影響を受けずに緻密なDO
測定ができる。
測定ができる。
そして、例えば減衰量αは、−0.2dB〜−22dB
間を0.2dB単位でスレツシヨルドレベル３を設定
できるようにし、欠落時間βも5μS〜256μSまで
計測するようにすれば便利である。
間を0.2dB単位でスレツシヨルドレベル３を設定
できるようにし、欠落時間βも5μS〜256μSまで
計測するようにすれば便利である。
なお、第２図において、カウント１８の出力ラ
ツチ２０の値を、あらかじめ設定した基準値と比
較し、この値を超えたときだけ出力させるように
すれば、欠落時間βと減衰量αの双方とを設定し
た基準値以上のもののみ出力されるので直ちに
DOであることがわかる。
ツチ２０の値を、あらかじめ設定した基準値と比
較し、この値を超えたときだけ出力させるように
すれば、欠落時間βと減衰量αの双方とを設定し
た基準値以上のもののみ出力されるので直ちに
DOであることがわかる。
なお、DOの判定手段として、上記の減衰量α
のコンパレータ１３や欠落時間βを基準値と比較
するコンパレータ（図示せず）のほか、マイクロ
コンピユータにより制御することもできることは
云うまでもない。
のコンパレータ１３や欠落時間βを基準値と比較
するコンパレータ（図示せず）のほか、マイクロ
コンピユータにより制御することもできることは
云うまでもない。
さらに、第２図の実施例ではアナログ処理後、
Ａ／Ｄ変換を行つているが、これは逆にして、
Ａ／Ｄ変換後、処理を行つてもよい。
Ａ／Ｄ変換を行つているが、これは逆にして、
Ａ／Ｄ変換後、処理を行つてもよい。
以上説明したように、この発明は磁気記録媒体
に記録した信号のDOの大きさを検出するのに、
再生信号をAM検波して欠落信号を得、この欠落
信号の減衰量と欠落信号の欠落時間とを測定して
出力するようにしたので、この欠落信号の減衰量
と欠落時間からDOの大きさを容易に測定するこ
とができる。また、欠落時間と減衰量の基準値を
変えることによつてDOの認定基準を変更するこ
とが容易であり、さらに正確なDOの大きさの分
布を上記データを統計処理することにより容易
に、かつ１回の測定データから求めることができ
る。
に記録した信号のDOの大きさを検出するのに、
再生信号をAM検波して欠落信号を得、この欠落
信号の減衰量と欠落信号の欠落時間とを測定して
出力するようにしたので、この欠落信号の減衰量
と欠落時間からDOの大きさを容易に測定するこ
とができる。また、欠落時間と減衰量の基準値を
変えることによつてDOの認定基準を変更するこ
とが容易であり、さらに正確なDOの大きさの分
布を上記データを統計処理することにより容易
に、かつ１回の測定データから求めることができ
る。
かように、この発明は、個々のDOの大きさを
求めることができるので、DOの判定がきわめて
簡単となり、DOの原因を調べることができると
いう利点がある。
求めることができるので、DOの判定がきわめて
簡単となり、DOの原因を調べることができると
いう利点がある。
第１図はDO計測値の一例を示す欠落信号の波
形図、第２図はこの発明の一実施例を示す概略ブ
ロツク図、第３図は動作説明のためのタイミング
チヤートである。 図中、１ａ〜１ｅは欠落信号、２は基底値レベ
ル、３，１４はスレツシヨルドレベル、１１は再
生信号、１２はAM検波器、１３はコンパレー
タ、１５はピーク検出保持器、１６はＡ／Ｄコン
パレータ、１７は減衰量αをラツチする出力ラツ
チ、１８はカウンタ、１９はクロツク、２０は欠
落時間βをラツチする出力ラツチ、２１はデイス
プレイ、αは減衰量、βは欠落時間、ａは再生信
号、ｂは垂直同期信号、ｅはゲート信号、ｄは再
生ヘツド切り換え点である。
形図、第２図はこの発明の一実施例を示す概略ブ
ロツク図、第３図は動作説明のためのタイミング
チヤートである。 図中、１ａ〜１ｅは欠落信号、２は基底値レベ
ル、３，１４はスレツシヨルドレベル、１１は再
生信号、１２はAM検波器、１３はコンパレー
タ、１５はピーク検出保持器、１６はＡ／Ｄコン
パレータ、１７は減衰量αをラツチする出力ラツ
チ、１８はカウンタ、１９はクロツク、２０は欠
落時間βをラツチする出力ラツチ、２１はデイス
プレイ、αは減衰量、βは欠落時間、ａは再生信
号、ｂは垂直同期信号、ｅはゲート信号、ｄは再
生ヘツド切り換え点である。
Claims (1)
- １ 磁気記録媒体の再生信号の一時的な欠如を検
出するドロツプアウト測定装置において、前記再
生信号をAM検波し欠落信号を得るAM検波手段
と、前記欠落信号の減衰量を測定する減衰量測定
手段と、同じく前記欠落信号のパルス幅を測定し
欠落時間を得る欠落時間測定手段と、再生ヘツド
切り換え時に計測を一時中断させる手段とを具備
したことを特徴とするドロツプアウト測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21334283A JPS60105975A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | ドロツプアウト測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21334283A JPS60105975A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | ドロツプアウト測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60105975A JPS60105975A (ja) | 1985-06-11 |
| JPH0554074B2 true JPH0554074B2 (ja) | 1993-08-11 |
Family
ID=16637563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21334283A Granted JPS60105975A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | ドロツプアウト測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60105975A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3082914B2 (ja) * | 1987-02-03 | 2000-09-04 | キヤノン株式会社 | 信号処理装置 |
| JPH0795636B2 (ja) * | 1992-06-16 | 1995-10-11 | 昭和アルミニウム株式会社 | ピン形フィンを備えた放熱器の製造法 |
| JPH0650682U (ja) * | 1992-12-22 | 1994-07-12 | トライオン株式会社 | 運動用手袋 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56137257A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Sony Corp | Measuring device of dropout depth |
| JPS59126264A (ja) * | 1983-01-07 | 1984-07-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ドロツプアウト評価装置 |
-
1983
- 1983-11-15 JP JP21334283A patent/JPS60105975A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60105975A (ja) | 1985-06-11 |
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