JPH0442771Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0442771Y2 JPH0442771Y2 JP18205984U JP18205984U JPH0442771Y2 JP H0442771 Y2 JPH0442771 Y2 JP H0442771Y2 JP 18205984 U JP18205984 U JP 18205984U JP 18205984 U JP18205984 U JP 18205984U JP H0442771 Y2 JPH0442771 Y2 JP H0442771Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- selective electrode
- circuit
- differential amplifier
- electrode
- Prior art date
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- Expired
Links
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
イ 技術の利用分野
本考案は、イオン濃度測定装置におけるイオン
選択性電極の劣化検出回路に関する。
選択性電極の劣化検出回路に関する。
ロ 従来技術
イオン濃度測定装置は、長時間の使用によりイ
オン選択性電極の表面に不純物が沈着して、第３
図に示したように応答速度の低下や直線性や再現
性が低下し分析ミスを起す。
オン選択性電極の表面に不純物が沈着して、第３
図に示したように応答速度の低下や直線性や再現
性が低下し分析ミスを起す。
このため、イオン選択性電極からの出力電位を
理論値等予じめ設定された基準値と比較すること
により、イオン選択性電極の劣化を検出するとい
う手法が採られていた。
理論値等予じめ設定された基準値と比較すること
により、イオン選択性電極の劣化を検出するとい
う手法が採られていた。
しかしながら、この手法は、イオン選択性電極
からの定常値を検出しているため、かなり進行し
た段階での劣化しか検出することができず、分析
値に誤差を含むという問題があつた。
からの定常値を検出しているため、かなり進行し
た段階での劣化しか検出することができず、分析
値に誤差を含むという問題があつた。
もとより、このような問題は、電極からの出力
をデイジタル信号に変換し、応答速度を算出する
ことより解決することができるが、高価な高速度
Ａ／Ｄ変換器を必要とするため、装置のコストア
ツプを引き起すという新たな問題がある。
をデイジタル信号に変換し、応答速度を算出する
ことより解決することができるが、高価な高速度
Ａ／Ｄ変換器を必要とするため、装置のコストア
ツプを引き起すという新たな問題がある。
ハ 目的
本考案はこのような問題に鑑み、初期の段階で
劣化を検出することができる安価なイオン選択性
電極劣化検出回路を提供することを目的とする。
劣化を検出することができる安価なイオン選択性
電極劣化検出回路を提供することを目的とする。
ニ 考案の構成
すなわち、本考案が特徴とするところは、一定
の時間差を置いて電極間電位差を比較するように
した点にある。
の時間差を置いて電極間電位差を比較するように
した点にある。
ホ 実施例
そこで、以下に本考案の詳細を図示した実施例
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
第１図は、本考案を適用したイオン濃度測定装
置の実施例を示すものであつて、図中符号１は、
イオン濃度に比例した電極間電位差を出力する差
動増幅器で、一方の入力端子は前置増幅器２を介
してイオン選択性電極３に、他方の入力端子は前
置増幅器４を介して比較電極５に接続している。
６は、本考案の特徴部分をなすイオン選択性電極
劣化検出回路で、分圧回路７、遅延回路８、及び
差動増幅器９からなり、差動増幅器９は、一方の
入力端子が劣化判定レベルを設定する分圧抵抗
R1，R2を介して、他方の入力端子が抵抗R3及び
コンデンサＣからなる遅延時間Δtを持つ遅延回
路８を介して差動増幅器１の出力端に接続してい
る。
置の実施例を示すものであつて、図中符号１は、
イオン濃度に比例した電極間電位差を出力する差
動増幅器で、一方の入力端子は前置増幅器２を介
してイオン選択性電極３に、他方の入力端子は前
置増幅器４を介して比較電極５に接続している。
６は、本考案の特徴部分をなすイオン選択性電極
劣化検出回路で、分圧回路７、遅延回路８、及び
差動増幅器９からなり、差動増幅器９は、一方の
入力端子が劣化判定レベルを設定する分圧抵抗
R1，R2を介して、他方の入力端子が抵抗R3及び
コンデンサＣからなる遅延時間Δtを持つ遅延回
路８を介して差動増幅器１の出力端に接続してい
る。
この実施例において、イオン選択性電極３及び
比較電極５をそれぞれ試料に浸漬すると、試料の
イオン濃度に比較して電極間電位差が差動増幅器
１から出力する。このようにして一定時間が経過
して差動増幅器１からの出力が定常状態に到達す
ると、差動増幅器１からの出力は図示しない指示
回路に入力してイオン濃度を表示する一方、イオ
ン選択性電極劣化検出回路６に入力する。
比較電極５をそれぞれ試料に浸漬すると、試料の
イオン濃度に比較して電極間電位差が差動増幅器
１から出力する。このようにして一定時間が経過
して差動増幅器１からの出力が定常状態に到達す
ると、差動増幅器１からの出力は図示しない指示
回路に入力してイオン濃度を表示する一方、イオ
ン選択性電極劣化検出回路６に入力する。
この時点ではイオン選択性電極が劣化しておら
ず、遅延回路８を介した電極間電位差出力A'（第
２図イ）は、既に定常状態に到達しており、分圧
回路７を介して入力した設定レベルL1よりも高
い。このため、差動増幅器９は、信号を出力する
ことができない。
ず、遅延回路８を介した電極間電位差出力A'（第
２図イ）は、既に定常状態に到達しており、分圧
回路７を介して入力した設定レベルL1よりも高
い。このため、差動増幅器９は、信号を出力する
ことができない。
長時間の分析によりイオン選択性電極３の表面
が汚染して応答速度が低下すると、過渡状態の期
間が長くなり、遅延回路８を介した電極間電位差
出力B'，C'（同図ロ、ハ）は、分圧回路７を介し
て入力する設定レベルL2，L3より低くなる。こ
れにより、差動増幅器９は、信号を出力して図示
しない警報器を作動し、イオン選択性電極３の洗
浄や交換を促す（同図Ｂ，Ｃ）。
が汚染して応答速度が低下すると、過渡状態の期
間が長くなり、遅延回路８を介した電極間電位差
出力B'，C'（同図ロ、ハ）は、分圧回路７を介し
て入力する設定レベルL2，L3より低くなる。こ
れにより、差動増幅器９は、信号を出力して図示
しない警報器を作動し、イオン選択性電極３の洗
浄や交換を促す（同図Ｂ，Ｃ）。
なお、上述した実施例においては、測定開始時
点を基準にして出力差を採るようにしているが、
応答開始時点を基準にしても同様に劣化を検出す
ることができることは言うまでもない。
点を基準にして出力差を採るようにしているが、
応答開始時点を基準にしても同様に劣化を検出す
ることができることは言うまでもない。
ヘ 効果
以上、説明したように本願考案においては、イ
オン選択性電極と比較電極の電極間電位差を遅延
させる遅延回路、該遅延回路からの信号を分圧し
て基準電圧を発生させる分圧回路と、遅延回路と
分圧回路からの信号を比較する差動増幅器を備え
るようにしたので、劣化の程度に左右され易いイ
オン選択性電極の応答速度を簡単な回路構成によ
り検出して、イオン選択性電極の劣化を初期の段
階で確実に知ることができる。
オン選択性電極と比較電極の電極間電位差を遅延
させる遅延回路、該遅延回路からの信号を分圧し
て基準電圧を発生させる分圧回路と、遅延回路と
分圧回路からの信号を比較する差動増幅器を備え
るようにしたので、劣化の程度に左右され易いイ
オン選択性電極の応答速度を簡単な回路構成によ
り検出して、イオン選択性電極の劣化を初期の段
階で確実に知ることができる。
第１図は、本考案の一実施例を示す装置のブロ
ツク図、第２図イ乃至ハは、それぞれ同上装置の
動作を示す波形図、第３図は、イオン選択性電極
の劣化程度と電極間電位差の関係を示す説明図で
ある。 １……差動増幅器、３……イオン選択性電極、
５……比較電極、６……イオン選択性電極劣化検
出回路、７……分圧回路、８……遅延回路、９…
…差動増幅器。
ツク図、第２図イ乃至ハは、それぞれ同上装置の
動作を示す波形図、第３図は、イオン選択性電極
の劣化程度と電極間電位差の関係を示す説明図で
ある。 １……差動増幅器、３……イオン選択性電極、
５……比較電極、６……イオン選択性電極劣化検
出回路、７……分圧回路、８……遅延回路、９…
…差動増幅器。
Claims (1)
- イオン選択性電極と比較電極の電極間電位差を
遅延させる遅延回路、該遅延回路からの信号を分
圧して基準電圧を発生させる分圧回路と、前記遅
延回路と分圧回路からの信号を比較する差動増幅
器からなるイオン選択性電極の劣化検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18205984U JPH0442771Y2 (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18205984U JPH0442771Y2 (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6196363U JPS6196363U (ja) | 1986-06-20 |
| JPH0442771Y2 true JPH0442771Y2 (ja) | 1992-10-09 |
Family
ID=30739595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18205984U Expired JPH0442771Y2 (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0442771Y2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5080211B2 (ja) * | 2007-11-09 | 2012-11-21 | ベックマン コールター， インコーポレイテッド | 分析装置 |
| WO2014115591A1 (ja) * | 2013-01-23 | 2014-07-31 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 電気化学測定装置 |
| WO2015137333A1 (ja) * | 2014-03-10 | 2015-09-17 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 計測システム、電極評価方法およびプログラム |
| JP6882213B2 (ja) * | 2018-01-26 | 2021-06-02 | 株式会社エイアンドティー | 電解質測定装置及び電解質測定装置の電極部の接続状態の判定方法 |
| JP2023120955A (ja) * | 2022-02-18 | 2023-08-30 | オムロンヘルスケア株式会社 | 電解液分析装置および電解液分析方法 |
-
1984
- 1984-11-30 JP JP18205984U patent/JPH0442771Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6196363U (ja) | 1986-06-20 |
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