JPH0443360B2 - - Google Patents
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- JPH0443360B2 JPH0443360B2 JP59238905A JP23890584A JPH0443360B2 JP H0443360 B2 JPH0443360 B2 JP H0443360B2 JP 59238905 A JP59238905 A JP 59238905A JP 23890584 A JP23890584 A JP 23890584A JP H0443360 B2 JPH0443360 B2 JP H0443360B2
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- output
- data bus
- data
- bits
- rom
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、内部データバスのビツト数より多い
ビツト数の並列データを記憶したリードオンリー
メモリ(以下ROMと称す)を内蔵した集積回路
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an integrated circuit incorporating a read-only memory (hereinafter referred to as ROM) that stores parallel data with a number of bits greater than the number of bits of an internal data bus.
マイクロコンピユータ等のシングルチツプにお
けるROMの並列出力ビツト数は、内部処理ビツ
ト数(内部データバスのビツト数)と同じかある
いは多くても2倍程度であるため、テスト時には
内部データバスを介してROMの記憶データを
I/Oポートより順次外部へ出力してその検証を
行なつていた。
The number of parallel output bits of the ROM in a single chip such as a microcomputer is the same as, or at most twice, the number of internal processing bits (the number of bits of the internal data bus), so during testing, the ROM is output via the internal data bus. The stored data was sequentially output from the I/O port to the outside for verification.
第2図はこの種のROMを内蔵した集積回路の
従来例の回路図である。通常の使用時には、
ROM21の4ビツト並列データは内部データバ
ス22(4ビツト)に出力され、インストラクシ
ヨンデコーダ23からの制御信号により4ビツト
の出力ポート28〜32にラツチされ集積回路外
部へ出力される。一方テスト時には、テスト信号
入力端子25からテスト信号がデコーダ23に入
力され、これによりデコーダ23はROM21の
4ビツト並列データを内部データバス22に出力
させる。そして、このデータが4ビツト出力ポー
ト28にラツチされ、データの検証が行なわれ
る。 FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional integrated circuit incorporating this type of ROM. During normal use,
The 4-bit parallel data of the ROM 21 is output to an internal data bus 22 (4 bits), latched to 4-bit output ports 28-32 by a control signal from an instruction decoder 23, and output to the outside of the integrated circuit. On the other hand, during testing, a test signal is input to the decoder 23 from the test signal input terminal 25, and the decoder 23 outputs the 4-bit parallel data from the ROM 21 to the internal data bus 22. This data is then latched into the 4-bit output port 28 and data verification is performed.
ところで、近年電卓等においては消費電力を減
少するため動作周波数が落とされ、結果的に
ROMの並列出力ビツト数は内部処理ビツト数に
比べはるかに増大するに至つている。このような
場合にROMのデータの検証を行なうには、
ROM21から読み出された並列データを一旦レ
ジスタ27に格納したのち、分割して順次出力ポ
ート28に出力するしかなかつた。 By the way, in recent years, the operating frequency of calculators and other devices has been lowered to reduce power consumption, and as a result,
The number of parallel output bits of ROM has become much larger than the number of internal processing bits. To verify the ROM data in such a case,
After the parallel data read from the ROM 21 is temporarily stored in the register 27, there is no choice but to divide it and sequentially output it to the output port 28.
このため従来はデータの検証のために多大の時
間を要すると共に、また内部データバス22に入
らないROM21の出力がある場合には、この種
のデータの検証は行なうことができないものであ
つた。ここで上述の方法の代りに検証のために演
算部24で演算を実行させ、その演算結果から検
証を行なう方法が考えられるが、この方法は前述
の方法よりさらに時間がかかり、到底すべてのデ
ータを検証することはできないものである。 For this reason, in the past, it took a lot of time to verify data, and if there was an output from the ROM 21 that did not enter the internal data bus 22, it was impossible to verify this type of data. Instead of the above method, a method can be considered in which the calculation section 24 executes calculations for verification and verification is performed from the calculation results, but this method takes more time than the above method, and it is impossible to use all the data. cannot be verified.
前述したように従来の集積回路は、ROMのデ
ータの出力ビツト数が内部処理ビツト数より多く
なると、その記憶データの検証に多大の時間を要
するという問題点があつた。
As mentioned above, conventional integrated circuits have a problem in that when the number of output bits of ROM data exceeds the number of internally processed bits, it takes a lot of time to verify the stored data.
本発明の目的は、記憶データの検証を容易かつ
短時間に行なえるようにした集積回路を提供する
ことにある。 An object of the present invention is to provide an integrated circuit that allows stored data to be verified easily and in a short time.
本発明の集積回路は、内部データバスとは別
の、ROMの並列データ分のビツト数を有するデ
ータバスと、テスト時には前記データバスに出力
された前記ROMの並列データを、通常使用時に
は前記内部データバス上のデータを共通の出力端
子に出力する出力切換回路とを有している。
The integrated circuit of the present invention has a data bus that is separate from the internal data bus and has the number of bits equivalent to the parallel data of the ROM, and the parallel data of the ROM that is output to the data bus during testing is transferred to the internal data bus during normal use. and an output switching circuit that outputs data on the data bus to a common output terminal.
以下、本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は本発明による集積回路の一実施例の回
路図である。ROM1は20ビツトの並列データを
記憶したリードオンリーメモリで、一方におい
て、それらの8ビツトバスがインストラクシヨン
デコーダ3に、4ビツトバス、4ビツトバスが内
部データバス2(4ビツト)に、さらに4ビツト
バスがレジスタ7にそれぞれ出力されると同時
に、他方において20ビツトバス14が後述する出
力切換回路13に出力されている。出力切換回路
13は前述したデータバス14によるROM1か
らの20ビツトの並列データ出力と5つの4ビツト
バスによる内部データバス2からの出力が接続さ
れている。出力切換回路13は、通常の使用時に
は内部データバス2からのデータを4ビツト出力
ポート8〜12上に出力するが、一方テスト時に
は、テスト信号がテスト信号入力端子5から入力
され、これによりインストラクシヨンデコーダ3
がすべての4ビツト出力ポート8〜12のゲート
を開き、これと同時に前記切換回路13はROM
1のすべての記憶並列ビツトデータを前記20ビツ
トバス14を介してすべての出力ポート8〜12
上に直接かつ同時に出力する。なお、演算部4は
インストラクシヨンデコーダ3を介して演算を行
ない、入力ポート6は内部データバス2を介して
データの入力を行なう。 FIG. 1 is a circuit diagram of one embodiment of an integrated circuit according to the present invention. ROM1 is a read-only memory that stores 20-bit parallel data.On the other hand, those 8-bit buses are connected to the instruction decoder 3, the 4-bit bus is connected to the internal data bus 2 (4 bits), and the 4-bit bus is connected to the internal data bus 2 (4 bits). At the same time as each signal is output to the register 7, the 20-bit bus 14 is output to an output switching circuit 13, which will be described later. The output switching circuit 13 is connected to the 20-bit parallel data output from the ROM 1 via the aforementioned data bus 14 and the output from the internal data bus 2 via five 4-bit buses. During normal use, the output switching circuit 13 outputs data from the internal data bus 2 onto the 4-bit output ports 8 to 12. On the other hand, during testing, a test signal is input from the test signal input terminal 5. Luxion decoder 3
opens the gates of all 4-bit output ports 8 to 12, and at the same time the switching circuit 13 opens the gates of all 4-bit output ports 8 to 12.
1 to all output ports 8-12 via the 20-bit bus 14.
output directly and simultaneously on top. Note that the calculation section 4 performs calculations via the instruction decoder 3, and the input port 6 inputs data via the internal data bus 2.
このように本実施例による集積回路によれば、
ROM1のすべての並列データを直接かつ同時に
すべての出力ポート8〜12に出力することがで
きるので、多数の記憶データの検証を極めて容易
かつ短時間に行なうことができる。なお、出力切
換回路13などのシングルチツプへの追加加工
は、近年の繊細加工技術の進歩により容易に行な
うことができるものである。 As described above, according to the integrated circuit according to this embodiment,
Since all the parallel data in the ROM 1 can be directly and simultaneously output to all the output ports 8 to 12, verification of a large amount of stored data can be performed extremely easily and in a short time. Incidentally, additional processing such as the output switching circuit 13 on a single chip can be easily performed due to recent advances in delicate processing technology.
以上説明したように、本発明による集積回路に
よれば、内部データバスと出力ポートとの間に、
内部データバスを介せずROMと直接接続するデ
ータバスを有する出力切換回路を設けることによ
り、ROMが記憶している多数ビツト並列データ
のすべてを直接かつ同時にすべての出力ポート上
に出力できるように構成したものであるから、
ROMの多数の並列データの検証を極めて容易か
つ短時間に行うことができる利点がある。
As explained above, according to the integrated circuit according to the present invention, there is a connection between the internal data bus and the output port.
By providing an output switching circuit with a data bus that connects directly to the ROM without going through the internal data bus, all of the multi-bit parallel data stored in the ROM can be directly and simultaneously output to all output ports. Because it is composed of
This has the advantage that verification of a large amount of parallel data in the ROM can be performed extremely easily and in a short time.
第1図は本発明による集積回路の一実施例の回
路図、第2図は集積回路の従来例の回路図であ
る。
1……ROM、2……内部データバス、3……
インストラクシヨンデコーダ、5……テスト信号
入力端子、13……出力切換回路、14……20ビ
ツトバス。
FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of an integrated circuit according to the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional example of an integrated circuit. 1...ROM, 2...internal data bus, 3...
Instruction decoder, 5...Test signal input terminal, 13...Output switching circuit, 14...20 bit bus.
Claims (1)
の並列データを記憶したメモリを内蔵した集積回
路において、前記内部データバスとは独立に、前
記並列データ分のビツト数を有するデータバスを
設け、通常使用時には前記内部データバス上のデ
ータを、予め決められた基本単位づつ対応する出
力端子から出力し、一方テスト時には前記データ
バスを用いて前記メモリ内の並列データを同時に
前記出力端子から出力する出力切換回路を有する
ことと特徴とする集積回路。1. In an integrated circuit that has a built-in memory that stores parallel data with a number of bits greater than the number of bits of the internal data bus, a data bus having a number of bits equal to the number of bits of the parallel data is provided independently of the internal data bus, and the circuit is not normally used. Output switching that sometimes outputs data on the internal data bus from corresponding output terminals in predetermined basic units, while during testing, parallel data in the memory is output simultaneously from the output terminals using the data bus. An integrated circuit characterized by having a circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59238905A JPS61117798A (en) | 1984-11-13 | 1984-11-13 | Integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59238905A JPS61117798A (en) | 1984-11-13 | 1984-11-13 | Integrated circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61117798A JPS61117798A (en) | 1986-06-05 |
| JPH0443360B2 true JPH0443360B2 (en) | 1992-07-16 |
Family
ID=17037010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59238905A Granted JPS61117798A (en) | 1984-11-13 | 1984-11-13 | Integrated circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61117798A (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5332634A (en) * | 1976-09-08 | 1978-03-28 | Hitachi Ltd | Memory |
| JPS59175093A (en) * | 1983-03-22 | 1984-10-03 | Mitsubishi Electric Corp | semiconductor memory |
-
1984
- 1984-11-13 JP JP59238905A patent/JPS61117798A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61117798A (en) | 1986-06-05 |
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