JPH0443896B2 - - Google Patents

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JPH0443896B2
JPH0443896B2 JP2111575A JP11157590A JPH0443896B2 JP H0443896 B2 JPH0443896 B2 JP H0443896B2 JP 2111575 A JP2111575 A JP 2111575A JP 11157590 A JP11157590 A JP 11157590A JP H0443896 B2 JPH0443896 B2 JP H0443896B2
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JP
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carbon atoms
group
chain
straight
butene
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JP2111575A
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JPH02306931A (ja
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Jenku Jan
Doni Fuiritsupu
Karuku Fuiritsupu
Doeerudo Eren
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Rhodia Chimie SAS
Original Assignee
Rhone Poulenc Chimie SA
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Publication date
Application filed by Rhone Poulenc Chimie SA filed Critical Rhone Poulenc Chimie SA
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Publication of JPH0443896B2 publication Critical patent/JPH0443896B2/ja
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C57/00Unsaturated compounds having carboxyl groups bound to acyclic carbon atoms
    • C07C57/02Unsaturated compounds having carboxyl groups bound to acyclic carbon atoms with only carbon-to-carbon double bonds as unsaturation
    • C07C57/13Dicarboxylic acids
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C51/00Preparation of carboxylic acids or their salts, halides or anhydrides
    • C07C51/10Preparation of carboxylic acids or their salts, halides or anhydrides by reaction with carbon monoxide
    • C07C51/12Preparation of carboxylic acids or their salts, halides or anhydrides by reaction with carbon monoxide on an oxygen-containing group in organic compounds, e.g. alcohols

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  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
  • Low-Molecular Organic Synthesis Reactions Using Catalysts (AREA)
  • Catalysts (AREA)
  • Pharmaceuticals Containing Other Organic And Inorganic Compounds (AREA)
  • Medicinal Preparation (AREA)
  • Thermotherapy And Cooling Therapy Devices (AREA)
  • Table Devices Or Equipment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明はヘキセン二酸の製造方法に関する。ヘ
キセン二酸はより詳細には3−ヘキセン二酸であ
ることが知られている。3−ヘキセン二酸はアジ
ピン酸に水素添加されうる。 ナイロン66の出発原料の一つであるアジピン酸
は大トン数生産され、この事実だけのため、この
二塩基酸及び/又はその誘導体に対する新しい入
手ルートは原則的に直接明白に興味のあるもので
ある。 より具体的には、本発明の主題はパラジウム系
の触媒の存在においてアシロキシ基によつて二置
換された少なくとも一つのブテンに関する一酸化
炭素と水の反応による3−ヘキセン二酸の製造方
法である。 米国特許第4611082号において、ニトリル、ビ
ス(2−メトキシ)−2−ブテン、ビス(2−メ
トキシエチル)エーテル及び塩化メチレンを含む
基から選ばれる、極性で非塩基性非プロトン溶媒
中の1,4−ジアセトキシ−2−ブテンの溶液
の、遷移金属ハロゲン化物の存在における80〜
140℃でのカルボニル化は実質的には観察されな
く、そしてアルコールの存在において速度は増大
し2−ブテン−1,4−ジオールのカルボニル化
に関し見出されたものに匹敵することが示されて
いる。この最後に述べた基質に関して、また上述
の条件のもとで直鎖カルボニル化生成物の満足な
収量を達成することの不可能であること、及びこ
れに関連して優先がアルコキシ基により1,4−
位で置換された基質に与えられることが示されて
いる。 これに関連して、その結果1,4−ジアセトキ
シ−2−ブテンはジカルボニル化直鎖製品を生成
するために有望である基質として評価され得な
い。 しかしながら、1,4−ジアセトキシ−2−ブ
テンはブタジエンのアセトキシル化によつて容易
に入手できる。それゆえに、例えば1,4−ジア
セトキシ−2−ブテンから、より一般的にアシロ
キシ基によつて二置換されたブテンから高効率で
ジカルボニル化直鎖生成物を得ることを可能にす
る方法を利用可能にすることはたいへん望まし
い。 それゆえ本発明の主題はパラジウム系触媒並び
に窒素及びリンから選ばれる第VB族元素の1個
の第4級塩化オニウムの存在においてアシロキシ
基によつて二置換された少なくとも1個のブテン
と一酸化炭素及び水との反応によるヘキセン二酸
の製造方法において、前記窒素及びリンから選ば
れる第VB族元素が炭素原子に四配位されてお
り、かつ窒素が炭素原子のみが又は2個のリン原
子かのいずれかと配位しているヘキセン二酸の製
造方法である。 事実、全く驚くべき方法で、この型の方法は工
業的規模で受諾しうる圧力及び温度条件のもと
で、直鎖ジカルボニル化生成物に対しかなり大き
な選択率をもつてジカルボニル化が行なわれるこ
とを可能にすることが見出されてきた。 問題の方法は、出発材料がアシロキシ基によつ
て1,4−位において二置換された2−ブテンで
あるとき、以下の反応機構によつて表わすことが
でき、 [ただしRは ●1〜12個の炭素原子を含有し、任意のフエニル
基によつて置換された直鎖又は分枝アルキル基 又は ●6〜10個の炭素原子を含有し、任意に1〜4個
の炭素原子を含有する1又は2個のアルキル基
によつて置換されたアリール基 を表し] そしてフツ素及び塩素原子並びにアルキル基が
せいぜい4個の炭素原子を含有するジアルキルア
ミノ及びN,N−ジアルキルアミド基から選ばれ
る1〜3個の置換基を持つことができる。 本発明に従う方法はアシロキシ基によつて二置
換された少なくとも1個のブテンの使用を必要と
する。アシロキシ基はRが上に示した意味を有す
る式RCOO−からなる基であることが知られてお
り、二置換ブテンは1及び4の位置で置換された
2−ブテン(but−2−ene)の化合物並びに3
及び4の位置で置換された1−ブテンの化合物で
あることが知られている。勿論、種々の性質のア
シロキシ基によつて二置換された2−ブテンの混
合物、種々の性質のアシロキシ基によつて二置換
された1−ブテンの混合物又は二置換2−ブテン
と1−ブテンの混合物が本方法の機構の中に使用
することができる。 事実、直鎖の酸に対する選択率が1,4−位に
おいてアシロキシ基によつて二置換された2−ブ
テン又は3及び4の位置においてアシロキシ基に
よつて二置換された1−ブテンが出発材料として
使用されるとき実質的に同じであることが本出願
人によつて見出されている。 以下のものがアシロキシ基によつて二置換され
たブテンの例として述べることができる、ジアセ
トキシブテン、ジプロピオニルオキシブテン、ジ
ブチルオキシブテン及びジベンゾイルオキシブテ
ン。 1,4−ジアセトキシ−2−ブテン、3,4−
ジアセトキシ−1−ブテン及びそれらの混合物は
本発明を行なうために非常に著しく適している。 本発明に従う方法はまた水の存在を必要とす
る。 本方法の機構の中に使用される水の量は決定的
でなくて広い範囲内で変えることができる。 反応の良好な実行のため、水と二置換ブテンの
モル比は1〜100、好ましくは1〜50であるであ
ろう。 本発明に従う方法はパラジウム系触媒の存在に
おいて行なわれる。 問題の反応における一つ又はそれ以上の触媒的
に活性な種の正確な性質は完全に説明することが
できないけれど、本出願人は種々のパラジウム化
合物及び金属パラジウムが本発明の方法を行うこ
とにおいて有用な前駆体になりうることを見出し
ていた。 本発明の主題である方法を実行するために使用
することのできるパラジウム源の中で以下のもの
を挙げることができる: ●担体、例えば炭素、アルミナ又はシリカ上に適
切に析出した金属パラジウム、 ●PdCl2、Pd(OAc)2、PBu4PdCl3(Bu=n−ブ
チル) ●Pdカチオンに配位したアニオンが以下のアニ
オン:ホルメート、アセテート、プロピオネー
ト及びベンゾエート等のカルボキシレート、ア
セチルアセトネート並びにCl-及びBr-、好ま
しくはCl-のようなハロゲン化物から選ばれる、
パラジウムの塩又はπ−アリル錯体。 広い範囲内に変化可能な、使用される触媒の正
確な量は、とりわけ所望の効率と触媒の消費量の
間の妥協、及び反応に対して選ばれるほかの条件
に依存する。一般に、反応混合物中のパラジウム
濃度10-3〜1モル/で好結果を得ることができ
る。好ましくは、この濃度は2×10-3〜5×10-2
モル/である。 本方法の本質的な特徴の一つは、反応が窒素及
びリンから選ばれる第VB族元素の1個の第4級
塩化オニウムの存在においても行なわれ、前記元
素が炭素原子に四配位されておりそして窒素に関
し2個の5価リン原子に配位されることもできる
という事実にある。 第VB族元素が炭素原子に四配位されている第
4級オニウムカチオンは、窒素又はリンと自由原
子価が炭素原子によつて維持され、各基が前記自
由原子価とこれらの基のいずれか二つによつて上
述の元素に結合されており、その上2価の基を一
緒に生成しうる4個の1価の同じか又は異なる炭
化水素基から生成されたカチオンであることが知
られている。 本発明の方法を良好に実行するためには、第4
級塩化オニウムは以下の式〜の一つに相当す
る第4級オニウムカチオンを有する。 () (R113−P=N+=P−(R113 式中 −Aは窒素又はリンを表わし、 −R1、R2、R3及びR4は同一又は異なり、かつ ●任意にフエニル、ヒドロキシル、ハロゲノ、ニ
トロ、アルコキシ又はアルコキシカルボニル基
によつて置換された、1〜16個の炭素原子を含
有する直鎖又は分枝アルキル基、 ●2〜12個の炭素原子、好ましくは4〜8個の炭
素原子を含有する直鎖又は分枝アルケニル基、 ●1〜4個の炭素原子を含有する1個又はそれ以
上のアルキル、アルコキシ、アルコキシカルボ
ニル又はハロゲノ基によつて任意に置換され
た、6〜10個の炭素原子を含有するアリール
基、を表わし、 ●前記の基R1〜R4の2個に関し3〜6個の炭素
原子を含有する直鎖又は分岐アルキレン、アル
ケニレン又はアルカジエニレン基を一緒に生成
することができる、 −R5、R6、R7及びR8は同一又は異なり、か
つ ●1〜4個の炭素原子を含有する直鎖又は分枝ア
ルキル基を表わし、 ●基R7とR8に関し3〜6個の炭素原子を含有す
るアルキレン基を一緒に生成することができ、 ●基R6とR7又はR6とR8に関し4個の炭素原子を
含有するアルキレン、アルケニレン又はアルカ
ジエニレン基を一緒に生成することができ、ま
たNと窒素含有ヘテロ環式基を生成することが
できる、 −R9は1〜4個の炭素原子を含有する直鎖
もしくは分枝アルキル基又はフエニル基を表わ
し、 −R10は、 ●R9と類似又は相違する、1〜4個の炭素原子
を含有する直鎖又は分枝アルキル基、 ●2〜12個の炭素原子、好ましくは4〜8個の炭
素原子を含有する直鎖又は分枝アルケニル基、
を表わし、 −nは1以上又は1で10以下又は10、好まし
くは6以下又は6の整数を表わし、 −R11は1〜4個の炭素原子を含有する1個
又はそれ以上のアルキル、アルコキシ、アルコ
キシカルボニル又はハロゲノ基によつて任意に
置換される、6〜10個の炭素原子を含有するア
リール基を表わす。 以下のカチオンは式に相当する第4級オニウ
ムカチオンの例として挙げられる、 ●テトラメチルアンモニウム ●トリエチルメチルアンモニウム ●トリブチルメチルアンモニウム ●トリメチル(n−プロピル)アンモニウム ●テトラメチルアンモニウム ●テトラブチルアンモニウム ●ドデシルトリメチルアンモニウム ●メチルトリオクチルアンモニウム ●ヘプチルトリブチルアンモニウム ●テトラプロピルアンモニウム ●テトラペンチルアンモニウム ●テトラヘキシルアンモニウム ●テトラヘプチルアンモニウム ●テトラオクチルアンモニウム ●テトラデシルアンモニウム ●ブチルトリプロピルアンモニウム ●メチルトリブチルアンモニウム ●ペンチルトリブチルアンモニウム ●メチルジエチルプロピルアンモニウム ●エチルジメチルプロピルアンモニウム ●テトラドデシルアンモニウム ●テトラオクタデシルアンモニウム ●ヘキサデシルトリメチルアンモニウム ●ベンジルトリメチルアンモニウム ●ベンジルジメチルプロピルアンモニウム ●ベンジルジメチルオクチルアンモニウム ●ベンジルトリブチルアンモニウム ●ベンジルトリエチルアンモニウム ●フエニルトリメチルアンモニウム ●ベンジルジメチルテトラデシルアンモニウム ●ベンジルジメチルヘキサデシルアンモニウム ●ジメチルジフエニルアンモニウム ●メチルトリフエニルアンモニウム ●ブテ−2−ニルトリエチルアンモニウム ●N,N−ジメチル−テトラメチレンアンモニウ
ム ●N,N−ジエチル−テトラメチレンアンモニウ
ム ●テトラメチルホスホニウム ●テトラブチルホスホニウム ●エチルトリメチルホスホニウム ●トリメチルペンチルホスホニウム ●オクチルトリメチルホスホニウム ●ドデシルトリメチルホスホニウム ●トリメチルフエニルホスホニウム ●ジエチルジメチルホスホニウム ●ジシクロヘキシルジメチルホスホニウム ●ジメチルジフエニルホスホニウム ●シクロヘキシルトリメチルホスホニウム ●トリエチルメチルホスホニウム ●メチル−トリ(イソプロピル)ホスホニウム ●メチル−トル(n−プロピル)ホスホニウム ●メチル−トリ(n−ブチル)ホスホニウム ●メチル−トリ(2−メチルプロピル)ホスホニ
ウム ●メチルトリシクロヘキシルホスホニウム ●メチルトリフエニルホスホニウム ●メチルトリベンジルホスホニウム ●メチル−トリ(4−メチルフエニル)ホスホニ
ウム ●メチルトリキシリルホスホニウム ●ジエチルメチルフエニルホスホニウム ●ジベンジルメチルフエニルホスホニウム ●エチルトリフエニルホスホニウム ●テトラエチルホスホニウム ●エチル−トリ(n−プロピル)ホスホニウム ●トリエチルペンチルホスホニウム ●ヘキサデシルトリブチルホスホニウム ●エチルトリフエニルホスホニウム ●n−ブチル−トリ(n−プロピル)ホスホニウ
ム ●ブチルトリフエニルホスホニウム ●ベンジルトリフエニルホスホニウム ●(β−フエニルエチル)ジメチルフエニルホス
ホニウム ●テトラフエニルホスホニウム ●トリフエニル(4−メチルフエニル)ホスホニ
ウム ●テトラキス(ヒドロキシメチル)ホスホニウム ●テトラキス(2−ヒドロキシエチル)ホスホニ
ウム。 以下のカチオンが式に相当するカチオンの中
から挙げられる、 ●N−メチルピリジニウム ●N−エチルピリジニウム ●N−ヘキサデシルピリジニウム ●N−メチルピコリニウム。 以下のカチオンが式に相当するカチオンの中
から挙げられる、 ●1,2−ビス(トリメチルアンモニウム)エタ
ン ●1,3−ビス(トリメチルアンモニウム)プロ
パン ●1,4−ビス(トリメチルアンモニウム)ブタ
ン ●1,3−ビス(トリメチルアンモニウム)ブタ
ン。 以下のカチオンが式に相当するカチオンの中
から挙げられる、 ビス(トリフエニルホスフイン)イミニウム ビス(トリトリルホスフイン)イミニウム 好都合に、使用されるカチオンは −Aがリンを表わし、かつ −R1、R2、R3及びR4が同じか又は異なり、1
〜8個の炭素原子を含有する直鎖又は分枝アルキ
ル基又はフエニルもしくは4−メチルフエニル基
を表わす。 上記式()に相当するこれらのオニウムカチ
オンである。 塩化テトラアキルホスホニウムが好ましく使用
される。 利用できて特に有効である塩化テトラブチルホ
スホニウムは特に推奨される。 あるパラジウム化合物、例えば上に述べたそし
て等モル量のPBu4ClとPdCl2の反応の結果生じる
PBu4PdCl3は、一時はそして同時にパラジウム源
及び上に示した意味において第4級塩化オニウム
を導入する手段を構成することができることに気
づくであろう。 上文に述べられた定義に従う第4級塩化オニウ
ムのカルボニル化混合物の存在によつて与えられ
る有益な効果はカチオン/パラジウムモル比0.5
から感知されることが見出された。特に特別に時
間と労力をかける価値がある効果が前記の比が1
〜50であるときに見出され、反応に対する不利益
なしにより高い比を選ぶことさえできる。事実、
第4級塩化オニウムは比較的重大な量に使用する
ことができ、いうなれば反応混合物に対し希釈剤
の補遺の役割を演ずる。 一般に温度50〜150℃、好ましくは80〜130℃
で、一酸化炭素の圧力10〜250バール(1000〜
25000KPa)、好ましくは15〜180バール(1500〜
18000KPa)のもとで液相で反応を行なうことが
できる。 不活性ガス、例えば窒素、アルゴン又は二酸化
炭素は一酸化炭素と並んで存在することができ
る。 勿論、反応を反応混合物に対し外因的な溶媒又
は希釈剤、例えば芳香族炭化水素、エステル、ケ
トン、ニトリル又はカルボン酸アミドの存在にお
いて行なうことができる。 本発明に従う好都合の変形によれば、反応はN
−メチルピロリドン中で行なわれる。 二置換ブテンの濃度は広い範囲内で変えること
ができる。 反応又は所望の反応時間の終りに、所望の二塩
基酸はどのような適切な手段によつても、例えば
抽出によつて回収される。 以下の実施例は本発明を説明する。 これらの実施例において、転化率は100%であ
り、以下の酸の生成が観察される: −HD:3−ヘキセン二酸が優勢である3−ヘキ
セン二酸と2−ヘキセン二酸の混合物。 −Ac・C5:3−ペンテン酸が優勢である吉草酸、
2−メチル酪酸、3−ペンテン酸、2−ペンテ
ン酸及び4−ペンテン酸の混合物。 −C6飽和:メチルグルタル酸が優勢であるエチ
ルコハク酸、メチルグルタル酸及びアジピン酸
の混合物。 −PDO:ペンタジエン酸 仕込んだジアセテトキシブテンの100モル当り
生成したモル数を各グループについて示す。 実施例1−11並びに参考例(a)及び(b) 下記のものが予めアルゴンで掃流された125cm3
のステンレス鋼(ハステロイB2)製オートクレ
ーブ中に導入する。 −8.6g(50ミリモル)の1,4−ジアセトキシ
−2−ブテン −1.8g(100ミリモル)の水 −下記の表1に示される形の1mg原子のパラジウ
ム −5g(17ミリモル)のPBu4Cl −25cm3の溶媒、その種類は下記の表1に示す。 オートクレーブを気密に密封し、撹拌炉内に置
き圧力のもとにガスの供給を調節する。反応器を
二酸化炭素で冷却掃流し100℃にもたらす。それ
から圧力を120バールに調節する。6時間(ほか
に示さない限り)の反応時間後、オートクレーブ
を冷却し脱ガスする。 その結果生じる反応混合物を溶媒で100cm3に希
釈する。 一部分をメタノールでエステル化し次いでガス
クロマトグラフイーによつて分析する。
【表】 実施例 12 上記の実施例4をPdCl2の形の0.5mg原子のパラ
ジウムだけを使用して繰返す。以下の結果を反応
時間12時間で得る。 −HD:80% −Ac.C5:0.5% −C6飽和:0% −PDO:14% 実施例 13 上記の実施例4をPdCl2の形の0.25mg原子のパ
ラジウムだけを使用して繰返す。以下の結果を反
応時間12時間で得る。 −HD:65% −Ac.C5:2% −C6飽和:0% −PDO:12% 実施例 14及び15 上記の実施例4を、それぞれ2.5g及び15gの
PBu4Clを使用し、仕込みの全容積が一定である
ような方法で各実験についてN−メチルピロリド
ンの容積を調整して繰返す。 得られた結果を以下の表に示す。表中に上
記の実施例4及び9の結果及び特別の条件を繰返
し掲示する。
【表】 実施例 16 上記の実施例4を等量の1,2−ジアセトキシ
−3−ブテンによつて仕込みの中の1,4−ジア
セトキシ−2−ブテンを置き換えて繰返す。 反応時間6時間後、得られた結果は以下のよう
である。 −HD:65% −Ac.C5:1% −C6飽和:0% −PDO:10% 実施例 17 上記の実施例4を130℃で繰返す。 反応時間3時間後、得られた結果は以下のよう
である。 −HD:45% −Ac.C5:7% −C6飽和:0% −PDO:0% 実施例 18 上記の実施例4を70℃で繰返す。 反応時間6時間後、得られた結果は以下のよう
である。 −HD:30% −Ac.C5:2% −C6飽和:0% −PDO:33% 実施例 19 上記の実施例4を圧力180バールのもとで繰返
す。 おおよそ同じ結果が得られる。 実施例 20 上記の実施例4を圧力15バールのもとで繰返
す。 反応時間6時間後、得られた結果は以下のよう
である。 −HD:40% −Ac.C5:30% −C6飽和:0% −PDO:2% 実施例 21 上記の実施例4を圧力60バールのもとで繰返
す。 反応時間6時間後、得られた結果は以下のよう
である。 −HD:75% −Ac.C5:3% −C6飽和:0% −PDO:9% 実施例 22〜24 上記の実施例4を、それぞれ25ミリモル及び
100ミリモルの1,4−ジアセトキシ−2−ブテ
ン(DAB)を使用して、各実験において1,4
−ジアセトキシ−2−ブテン/H2Oモル比を
1/2に保持しNMPの量を調節して仕込み容積
を一定に維持して2度繰返す(実施例22及び23)。 上記の実施例1を25ミリモルの1,4−ジアセ
トキシ−2−ブテンを使用して、後者と水のモル
比を1/2に保持しCH3CNの量を調節すること
によつて仕込み容積を一定に維持して繰返す(実
施例24)。 得られた結果を以下の表に示す。
【表】 実施例 25及び26 上記の実施例1を仕込む水の量を変えて繰返
す。 特別の条件及び得られた結果を以下の表に示
す。
【表】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 パラジウム系触媒並びに以下の式()〜
    ()の一つに相当する第4級オニウムカチオン
    を有する窒素及びリンから選ばれる第VB族元素
    の少なくとも1個の第4級塩化オニウム 〔式中 −Aは窒素又はリンを表わし、 −R1、R2、R3及びR4は同一又は異なり、かつ ●任意にフエニル、ヒドロキシル、ハロゲノ、ニ
    トロ、アルコキシ又はアルコキシカルボニル基
    によつて置換された、1〜16個の炭素原子を含
    有する直鎖又は分枝アルキル基、 ●2〜12個の炭素原子を含有する直鎖又は分枝ア
    ルケニル基、 ●1〜4個の炭素原子を含有する1個又はそれ以
    上のアルキル、アルコキシ、アルコキシカルボ
    ニル又はハロゲン基によつて任意に置換され
    た、6〜10個の炭素原子を含有するアリール
    基、を表わし、 ●前記の基R1〜R4の2個に関し3〜6個の炭素
    原子を含有する直鎖又は分枝アルキレン、アル
    ケニレン又はアルカジエニレン基を一緒に生成
    することができる、 −R5、R6、R7、及びR8は同一又は異なり、か
    つ ●1〜4個の炭素原子を含有する直鎖又は分枝ア
    ルキル基を表わし、 ●基R7とR8に関し3〜6個の炭素原子を含有す
    るアルキレン基を一緒に生成することができ、 ●基R6とR7又はR6とR8に関し4個の炭素原子を
    含有するアルキレン、アルケニレン又はアルカ
    ジエニレン基を一緒に生成することができ、ま
    たNと窒素含有ヘテロ環式基を生成することが
    できる、 −R9は1〜4個の炭素原子を含有する直鎖も
    しくは分枝アルキル基又はフエニル基を表わし、 −R10は ●R9と類似又は相違する、1〜4個の炭素原子
    を含有する直鎖又は分枝アルキル基、 ●2〜12個の炭素原子を含有する直鎖又は分枝ア
    ルケニル基、 −nは1以上又は1で10以下又は10の整数を表
    わし、〕 の存在下において、アシロキシ基によつて二置換
    された少なくとも1個のブテンと一酸化炭素及び
    水との反応によるヘキセン二酸の製造方法であつ
    て、前記窒素及びリンから選ばれる第VB族元素
    が炭素原子に四配位されており、かつ窒素が炭素
    原子のみかまたは2個のリン原子かのいずれかと
    配位している、 前記ヘキセン二酸の製造方法。 2 第4級オニウムカチオンが、 −Aがリンを表わし、そして −R1、R2、R3及びR4が同一又は異なり、かつ
    1〜8個の炭素原子を含有する直鎖又は分枝アル
    キル基又はフエニルもしくは4−メチルフエニル
    基を表わす、 請求項1に示した式()に相当することを特徴
    とする請求項1記載の方法。 3 第4級塩化オニウムがテトラブチルホスホニ
    ウムクロリドであることを特徴とする前記請求項
    のいずれか1項に記載の方法。 4 オニウムカチオンとパラジウムのモル比が1
    より大きいか又は1に等しいことを特徴とする前
    記請求項のいずれか1項に記載の方法。 5 反応混合物中のパラジウムの濃度が10-3〜1
    モル/であることを特徴とする前記請求項のい
    ずれか1項に記載の方法。 6 水と置換したブテンのモル比が1〜100であ
    ることを特徴とする前記請求項のいずれか1項に
    記載の方法。 7 反応温度が50〜150℃であることを特徴とす
    る前記請求項のいずれか1項に記載の方法。 8 圧力が10〜250バール(1000〜25000KPa)
    であることを特徴とする前記請求項のいずれか1
    項に記載の方法。 9 二置換したブテンが1,4−ジアセトキシ−
    2−ブテン及び3,4−ジアセトキシ−1−ブテ
    ン及びそれらの混合物から選ばれることを特徴と
    する前記請求項のいずれか1項に記載の方法。 10 反応が有機溶媒又は希釈剤の存在において
    行われることを特徴とする前記請求項のいずれか
    1項に記載の方法。 11 溶媒がN−メチルピロリドンであることを
    特徴とする請求項10記載の方法。
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