JPH0444419B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0444419B2 JPH0444419B2 JP58243951A JP24395183A JPH0444419B2 JP H0444419 B2 JPH0444419 B2 JP H0444419B2 JP 58243951 A JP58243951 A JP 58243951A JP 24395183 A JP24395183 A JP 24395183A JP H0444419 B2 JPH0444419 B2 JP H0444419B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- multilayer wiring
- sic
- wiring substrate
- heat dissipation
- Prior art date
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- Expired
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07231—Techniques
- H10W72/07236—Soldering or alloying
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07251—Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は絶縁基板に複数のSiチツプが実装され
た半導体装置、特に発熱量の多いSiチツプの放熱
に好適な半導体装置に関するものである。
た半導体装置、特に発熱量の多いSiチツプの放熱
に好適な半導体装置に関するものである。
従来のこの種の半導体装置においては、例えば
特開昭57−2591号に開示されているようにアルミ
ナセラミツク基板(AI2O3板)にWなどの配線を
施している。このAI2O3基板の熱伝導率は小さい
ため、発熱量の多い半導体素子を接続すると放熱
が不十分となるという欠点があつた。
特開昭57−2591号に開示されているようにアルミ
ナセラミツク基板(AI2O3板)にWなどの配線を
施している。このAI2O3基板の熱伝導率は小さい
ため、発熱量の多い半導体素子を接続すると放熱
が不十分となるという欠点があつた。
本発明の目的は放熱性能の高い半導体装置を提
供することにある。
供することにある。
炭化ケイ素(SiCと略す)は熱伝導率
(0.65cal/cm・sec・℃)が高い絶縁材料である
という点から放熱性能の高い多層配線基板材料に
適していると考えられてきた。しかし、SiC上に
従来の方法によつてWメタライズなどの配線導体
を作成しようとすると、配線導体がはがれてしま
うため、SiCを用いた半導体装置は作られていな
い。
(0.65cal/cm・sec・℃)が高い絶縁材料である
という点から放熱性能の高い多層配線基板材料に
適していると考えられてきた。しかし、SiC上に
従来の方法によつてWメタライズなどの配線導体
を作成しようとすると、配線導体がはがれてしま
うため、SiCを用いた半導体装置は作られていな
い。
そこで本発明者らは、鋭意検討した結果SiCへ
の配線導体作成法として配線導体をSiCへ拡散接
合することを試みた。
の配線導体作成法として配線導体をSiCへ拡散接
合することを試みた。
以下、本発明の半導体装置の実施例を第1図、
第2図により説明する。第1図は断面図、第2図
は第1図のキヤツプを取り除いたものの平面図で
ある。第1図において貫通孔内に導体であるAl
1を入れられたSiC基板2はAlの金属配線杆3と
拡散接合され多層配線基板を形成している。この
多層配線基板の下面にはリード線4が付けられ、
上面にははんだ5を介してSiチツプ6が接合され
ている。多層配線基板には低融点ガラス7によつ
てキヤツプ8が取付けられている。第1図におい
て、配線導体はAl以外にも、SiC基板2と拡散接
合が可能で、電気抵抗の小さい金属であれば良
い。又、貫通孔内に入れる材料はAl以外にも、
貫通孔に充てん可能で電気抵抗の小さい金属であ
ればよい。なお、配線導体をSiC2に接合する場
合、配線導体は基板全面に渡り一体パターン加工
を施したものを用いる場合と部分パターン加工を
施したものを用いる場合がある。又、配線導体を
エツチングにより形成してもよい。拡散接合を完
了した多層基板には配線導体の厚さにほぼ等しい
微小隙間ができるため、強制空冷時にSiCの放熱
面積を増加させる効果がある。
第2図により説明する。第1図は断面図、第2図
は第1図のキヤツプを取り除いたものの平面図で
ある。第1図において貫通孔内に導体であるAl
1を入れられたSiC基板2はAlの金属配線杆3と
拡散接合され多層配線基板を形成している。この
多層配線基板の下面にはリード線4が付けられ、
上面にははんだ5を介してSiチツプ6が接合され
ている。多層配線基板には低融点ガラス7によつ
てキヤツプ8が取付けられている。第1図におい
て、配線導体はAl以外にも、SiC基板2と拡散接
合が可能で、電気抵抗の小さい金属であれば良
い。又、貫通孔内に入れる材料はAl以外にも、
貫通孔に充てん可能で電気抵抗の小さい金属であ
ればよい。なお、配線導体をSiC2に接合する場
合、配線導体は基板全面に渡り一体パターン加工
を施したものを用いる場合と部分パターン加工を
施したものを用いる場合がある。又、配線導体を
エツチングにより形成してもよい。拡散接合を完
了した多層基板には配線導体の厚さにほぼ等しい
微小隙間ができるため、強制空冷時にSiCの放熱
面積を増加させる効果がある。
本発明によれば、Siチツプを熱伝導率の大きい
材料に拡散接合ができるので、放熱性能の高い半
導体装置を得ることができる。
材料に拡散接合ができるので、放熱性能の高い半
導体装置を得ることができる。
第1図は本発明の半導体装置一実施例の断面
図、第2図は第1図においてキヤツプを いたも
のの平面図である。 1……Al、2……SiC、3……Al配線、4……
リード線、5……はんだ、6……Siチツプ、7…
…低融点ガラス、8……キヤツプ。
図、第2図は第1図においてキヤツプを いたも
のの平面図である。 1……Al、2……SiC、3……Al配線、4……
リード線、5……はんだ、6……Siチツプ、7…
…低融点ガラス、8……キヤツプ。
Claims (1)
- 1 内部に導体1を有する絶縁基板2上にSiチツ
プ6を実装した半導体装置において、前記絶縁基
板を熱伝導性材料により構成すると共に、この熱
伝導性材料と金属配線材3を相互に重ね合わせて
拡散接合し、前記金属配線材を前記導体と電気的
に接合したことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58243951A JPS60136320A (ja) | 1983-12-26 | 1983-12-26 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58243951A JPS60136320A (ja) | 1983-12-26 | 1983-12-26 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60136320A JPS60136320A (ja) | 1985-07-19 |
| JPH0444419B2 true JPH0444419B2 (ja) | 1992-07-21 |
Family
ID=17111459
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58243951A Granted JPS60136320A (ja) | 1983-12-26 | 1983-12-26 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60136320A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2556881B2 (ja) * | 1988-05-31 | 1996-11-27 | キヤノン株式会社 | 電気回路装置 |
-
1983
- 1983-12-26 JP JP58243951A patent/JPS60136320A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60136320A (ja) | 1985-07-19 |
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