JPH0445932U - - Google Patents

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JPH0445932U
JPH0445932U JP8709790U JP8709790U JPH0445932U JP H0445932 U JPH0445932 U JP H0445932U JP 8709790 U JP8709790 U JP 8709790U JP 8709790 U JP8709790 U JP 8709790U JP H0445932 U JPH0445932 U JP H0445932U
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【図面の簡単な説明】
第１図及び第２図は本考案に係る旋光計の一実
施例に係り、第１図は旋光計の構成を示すブロツ
ク図、第２図は偏光ビームスプリツタ２４Ａの前
後の電気ベクトル振動方向を示す図である。第３
図は従来の旋光計の構成を示すブロツク図である
。 図中、１０は光源、１２はコリメートレンズ、
１４はフイルタ、１６は偏光子、１８は発振回路
、２０はフアラデーセル、２２は試料、２４は検
光子、２４Ａは偏光ビームスプリツタ、２６，２
６Ａ，２６Ｂは光検出器、４０は差動増幅器。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 直線偏光を生成する手段１０〜１６と、 直線偏光をｐ偏光成分とｓ偏光成分とに分割す
    る偏光ビームスプリツタ２４Ａと、 分割された該ｐ偏光の強度を検出する第１光検
    出器２６Ａと、 分割された該ｓ偏光の強度を検出する第２光検
    出器２６Ｂと、 該第１及び第２の光検出器の出力の差に比例し
    た信号Ｓ１を生成する手段４０，４２と、 該偏光ビームスプリツタに入射する光の強度に
    比例した信号Ｓ２を生成する手段４４と、 Ｓ１／Ｓ２に比例した信号を旋光角θとして出
    力する手段４６〜５０とを有し、 該直線偏光生成手段と該偏光ビームスプリツタ
    との間の光路内に試料２２を配置し、該試料が光
    路外に在るときに、分割された該ｐ偏光とｓ偏光
    の両者の強度が等しくなるように該偏光ビームス
    プリツタを配置したことを特徴とする旋光計。 ２ 前記信号Ｓ１を生成する手段は、前記第１検
    出器の出力の平方と、前記第２検出器の出力の平
    方との和の平方を、演算により求めることを特徴
    とする請求項１記載の旋光計。
JP8709790U 1990-08-21 1990-08-21 Pending JPH0445932U (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6183924A (ja) * 1984-09-29 1986-04-28 Shimadzu Corp 旋光度測定装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6183924A (ja) * 1984-09-29 1986-04-28 Shimadzu Corp 旋光度測定装置

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