JPH01117737U - - Google Patents

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JPH01117737U
JPH01117737U JP1032888U JP1032888U JPH01117737U JP H01117737 U JPH01117737 U JP H01117737U JP 1032888 U JP1032888 U JP 1032888U JP 1032888 U JP1032888 U JP 1032888U JP H01117737 U JPH01117737 U JP H01117737U
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magneto
optical disk
sum
signal
disk inspection
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JP1032888U
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の光磁気デイスク検査装置の一
実施例を示す構成図、第2図は従来の光磁気デイ
スク検査装置の一例を示す構成図である。 1……光磁気デイスク、2……レーザ光源、3
……コリメータレンズ、4……ミラー、5……対
物レンズ、61,62……ビームスプリツタ、6
3……偏光ビームスプリツタ、7……1/2波長
板、81,82……光検出器、91,92……ア
ンプ、10……差動アンプ、11……加算アンプ
、12……割算器、13……演算回路、14……
増幅器。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 光磁気デイスクからの反射光におけるカー
    回転角の大きさを差動光学系により測定するよう
    にした光磁気デイスク検査装置において、直交す
    る偏光成分の光強度に比例した各光検出器の出力
    信号を受けその差および和を求めるとともにこの
    差信号を和信号により割り算する演算回路と、こ
    の演算回路の出力を所定のゲインおよびオフセツ
    トをもつて増幅する増幅器とを具備してなる光磁
    気デイスク検査装置。 (2) 前記和信号の代りにサーボ光学系において
    サーボエラーを検出するフオトダイオードの出力
    の総和を利用するようにしてなる請求項1に記載
    の光磁気デイスク検査装置。
JP1032888U 1988-01-28 1988-01-28 Pending JPH01117737U (ja)

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JP1032888U JPH01117737U (ja) 1988-01-28 1988-01-28

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JPH01117737U true JPH01117737U (ja) 1989-08-09

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999030132A1 (en) * 1997-12-09 1999-06-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Angle-of-rotation measuring instrument urine analysis method

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999030132A1 (en) * 1997-12-09 1999-06-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Angle-of-rotation measuring instrument urine analysis method

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