JPH0447569Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0447569Y2 JPH0447569Y2 JP1985046513U JP4651385U JPH0447569Y2 JP H0447569 Y2 JPH0447569 Y2 JP H0447569Y2 JP 1985046513 U JP1985046513 U JP 1985046513U JP 4651385 U JP4651385 U JP 4651385U JP H0447569 Y2 JPH0447569 Y2 JP H0447569Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detecting
- value
- water
- performance
- opening
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Sorption Type Refrigeration Machines (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、冷温水機の性能を簡易にチエツクす
る装置に関するものである。
る装置に関するものである。
ガス吸収式冷温水機、冷凍機、ボイラ等の冷温
水機は、内部管路の不純物付着、媒介体量の減少
等により性能が劣化し、定期的に保守、点検を要
するものとなつているが、この際の性能チエツク
には各種の測定器を用いねばならないものとなつ
ている。
水機は、内部管路の不純物付着、媒介体量の減少
等により性能が劣化し、定期的に保守、点検を要
するものとなつているが、この際の性能チエツク
には各種の測定器を用いねばならないものとなつ
ている。
しかし、性能チエツク用の測定器は特殊かつ高
価であり、各設備毎にこれらを用意するのは困難
となり、簡易に冷温水機の性能をチエツクできる
手段の出現が要望されるに至つている。
価であり、各設備毎にこれらを用意するのは困難
となり、簡易に冷温水機の性能をチエツクできる
手段の出現が要望されるに至つている。
前述の問題を解決するため、本考案はつぎの手
段により構成するものとなつている。
段により構成するものとなつている。
すなわち、冷温水機の入口温度と出口温度との
差を求める手段と、この手段による差の値が一定
値以下であることを検出する差値検出手段と、冷
温水機の能力制御弁開度が所定値以上であること
を検出する開度検出手段と、これら各検出手段の
各検出々力が同時に生じたとき性能の低下を表示
する表示手段と、冷温水機への起動指令を検出し
てから所定時間経過するまでの間を、また能力制
御弁への開度指令の変化を検出してから所定時間
経過するまでの間を、冷温水機の過渡状態として
検出する過渡状態検出手段と、この過渡状態検出
手段により過渡状態が検出されている間、表示手
段による表示を阻止する阻止手段とを備えたもの
である。
差を求める手段と、この手段による差の値が一定
値以下であることを検出する差値検出手段と、冷
温水機の能力制御弁開度が所定値以上であること
を検出する開度検出手段と、これら各検出手段の
各検出々力が同時に生じたとき性能の低下を表示
する表示手段と、冷温水機への起動指令を検出し
てから所定時間経過するまでの間を、また能力制
御弁への開度指令の変化を検出してから所定時間
経過するまでの間を、冷温水機の過渡状態として
検出する過渡状態検出手段と、この過渡状態検出
手段により過渡状態が検出されている間、表示手
段による表示を阻止する阻止手段とを備えたもの
である。
したがつて、冷温水機の能力制御弁が所定値以
上の開度であるにもかゝわらず、入口温度と出口
温度との差が一定値以下であれば、冷温水機の性
能が劣化しているため、これらの検出々力が同時
に生じ、冷温水機の起動直後や能力制御弁の開度
変更直後の過渡状態以外であることを前提として
表示がなされ、これによつて性能の低下が表示さ
れる。
上の開度であるにもかゝわらず、入口温度と出口
温度との差が一定値以下であれば、冷温水機の性
能が劣化しているため、これらの検出々力が同時
に生じ、冷温水機の起動直後や能力制御弁の開度
変更直後の過渡状態以外であることを前提として
表示がなされ、これによつて性能の低下が表示さ
れる。
以下、実施例を示す図によつて本考案の詳細を
説明する。
説明する。
第２図は計装図であり、ポンプ１により圧送さ
れた往水は、冷温水機（以下、CHW）２を介し
ヘツダ３を経て管路４により供給され、フアンコ
イルユニツト等の負荷機器（以下、LE）５を介
し、管路６により還水としてヘツダ７へ至り、再
びポンプ１によつて圧送され、以上の経路を循環
するものとなつており、CHW２の入口側と出口
側との管路には、各々温度計１１，１２が設けら
れ、これにより入口温度Tiと出口水温度Toとが
各個に計測されるものとなつている。
れた往水は、冷温水機（以下、CHW）２を介し
ヘツダ３を経て管路４により供給され、フアンコ
イルユニツト等の負荷機器（以下、LE）５を介
し、管路６により還水としてヘツダ７へ至り、再
びポンプ１によつて圧送され、以上の経路を循環
するものとなつており、CHW２の入口側と出口
側との管路には、各々温度計１１，１２が設けら
れ、これにより入口温度Tiと出口水温度Toとが
各個に計測されるものとなつている。
また、これらの計測出力とSHW２の能力制御
弁開度ｄとは、監視装置（以下、SUP）１３へ
与えられ、こゝにおいて、別途の制御装置がら
CHW２へ与えられる起動指令信号Ｓおよび能力
制御弁開度指令信号Ｄと共に、CHW２の性能チ
エツクに使用されるものとなつている。
弁開度ｄとは、監視装置（以下、SUP）１３へ
与えられ、こゝにおいて、別途の制御装置がら
CHW２へ与えられる起動指令信号Ｓおよび能力
制御弁開度指令信号Ｄと共に、CHW２の性能チ
エツクに使用されるものとなつている。
なお、SUP１３は、伝送路１９を介し、図上
省略した中央制御装置とデータ信号の送受信を行
なつており、監視上の基本的なデータを受信する
一方、監視データ等を送信するものとなつてい
る。
省略した中央制御装置とデータ信号の送受信を行
なつており、監視上の基本的なデータを受信する
一方、監視データ等を送信するものとなつてい
る。
第３図は、SUP１３のブロツク図であり、マ
イクロプロセツサ等のプロセツサ（以下、CPU）
２１を中心とし、固定メモリ（以下、ROM）２
２、可変メモリ（以下、RAM）２３、および、
インターフエイス（以下、Ｉ／Ｆ）２４〜２７を
周辺に配し、これらを母線により接続しており、
Ｉ／Ｆ２４を介して与えられる各計測出力等の入
力データDi、および、通信用のＩ／Ｆ２５を介
する受信データに基づき、CPU２１がROM２２
中の命令を実行してチエツク用演算および監視上
の判断を行なうものとなつている。
イクロプロセツサ等のプロセツサ（以下、CPU）
２１を中心とし、固定メモリ（以下、ROM）２
２、可変メモリ（以下、RAM）２３、および、
インターフエイス（以下、Ｉ／Ｆ）２４〜２７を
周辺に配し、これらを母線により接続しており、
Ｉ／Ｆ２４を介して与えられる各計測出力等の入
力データDi、および、通信用のＩ／Ｆ２５を介
する受信データに基づき、CPU２１がROM２２
中の命令を実行してチエツク用演算および監視上
の判断を行なうものとなつている。
なお、CPU２１は、チエツク用演算および監
視上の判断に際し、必要とするデータをRAM２
３に対してアクセスしながら命令を実行すると共
に、Ｉ／Ｆ２６を介して表示部（以下、DP）２
９へ表示データを送出し、監視状況の表示を行な
つており、Ｉ／Ｆ２７を介するキーボード（以
下、KB）３０の操作出力に応じては、RAM２
３へのデータ設定またはデータ更新を行ない、か
つ、これらのDP２９による表示を行なうものと
なつている。
視上の判断に際し、必要とするデータをRAM２
３に対してアクセスしながら命令を実行すると共
に、Ｉ／Ｆ２６を介して表示部（以下、DP）２
９へ表示データを送出し、監視状況の表示を行な
つており、Ｉ／Ｆ２７を介するキーボード（以
下、KB）３０の操作出力に応じては、RAM２
３へのデータ設定またはデータ更新を行ない、か
つ、これらのDP２９による表示を行なうものと
なつている。
第４図は、SPU１３の操作パネルを示す正面
図であり、複数桁の文字表示器３１、監視対象部
位と対応する複数の表示灯３２が設けられ、これ
らによりDP２９が構成されていると共に、KB
３０が設けてあり、文字表示器３１により、アル
フアベツトまたは記号および数字等によるデータ
または数値の表示を行なう一方、銘板３３と対応
して設けた表示灯３２によつては、警報等の表示
を行なうものとなつている。
図であり、複数桁の文字表示器３１、監視対象部
位と対応する複数の表示灯３２が設けられ、これ
らによりDP２９が構成されていると共に、KB
３０が設けてあり、文字表示器３１により、アル
フアベツトまたは記号および数字等によるデータ
または数値の表示を行なう一方、銘板３３と対応
して設けた表示灯３２によつては、警報等の表示
を行なうものとなつている。
第５図は、SUP１３によるCHW２の性能チエ
ツク状況を示す図であり、CHW２のガス弁、蒸
気弁、ベーン、燃料弁等の能力制御弁開度ｄに応
じ、入口温度Tiと出口温度Toとの差△Ｔは大に
なるのが正常であつて、これが例えば点線により
示す関係となつていれば、開度ｄが50％以上であ
り、かつ、△Ｔが実線により示す値以下となつた
ときに、CHW２の性能が低下したものと判断す
ればよいものとなり、この例では、斜線の範囲が
異常状態となる。
ツク状況を示す図であり、CHW２のガス弁、蒸
気弁、ベーン、燃料弁等の能力制御弁開度ｄに応
じ、入口温度Tiと出口温度Toとの差△Ｔは大に
なるのが正常であつて、これが例えば点線により
示す関係となつていれば、開度ｄが50％以上であ
り、かつ、△Ｔが実線により示す値以下となつた
ときに、CHW２の性能が低下したものと判断す
ればよいものとなり、この例では、斜線の範囲が
異常状態となる。
第６図は、CPU２１による監視状況のフロー
チヤートであり、起動指令Ｓおよび開度指令Ｄの
変化に応じ、“過渡状態？”101を判断し、これが
Ｎ（NO）であれば“Ｘ演算”１１１を行なつて
から、CHW２からの開度信号ｄに応じ“ｄ
V1？”112により、ｄが一定値V1以上か否かを判
断し、これがＹ（YES）のときは、“ＸV2？”
113により、△ＴにしたがうＸが所定値V2以下か
否かを判断のうえ、これもＹであれば、第４図の
表示灯３２を“表示灯点灯”１２１により点灯
し、CPU２１中へ構成したタイマーによりこの
状態が“一定時間経過？”122を判断し、これの
Ｙに応じて“表示灯点灯保持”123を行ないこれ
によつてCHW２の性能低下を表示する。
チヤートであり、起動指令Ｓおよび開度指令Ｄの
変化に応じ、“過渡状態？”101を判断し、これが
Ｎ（NO）であれば“Ｘ演算”１１１を行なつて
から、CHW２からの開度信号ｄに応じ“ｄ
V1？”112により、ｄが一定値V1以上か否かを判
断し、これがＹ（YES）のときは、“ＸV2？”
113により、△ＴにしたがうＸが所定値V2以下か
否かを判断のうえ、これもＹであれば、第４図の
表示灯３２を“表示灯点灯”１２１により点灯
し、CPU２１中へ構成したタイマーによりこの
状態が“一定時間経過？”122を判断し、これの
Ｙに応じて“表示灯点灯保持”123を行ないこれ
によつてCHW２の性能低下を表示する。
なお、ステツプ111の演算は、次式により行な
われる。
われる。
〔（△Ｔ／ｄ・ｋ）／Ｍ〕・100＝Ｘ（％）… （１）
たゞし、
△Ｔ：冷却時Ti−To、加熱時To−Ti
Ｋ：補正係数
Ｍ：予測正常定格値
また、ステツプ101がＹまたはステツプ112，
113および122がＮのときは、第４図のKB３０に
よる“Ｘ表示設定？”131を判断し、これがＹで
あれば第４図の表示器３１により“Ｘ表示”132
を％値として行ない、“RET”を介してステツプ
101以降を反復する。
113および122がＮのときは、第４図のKB３０に
よる“Ｘ表示設定？”131を判断し、これがＹで
あれば第４図の表示器３１により“Ｘ表示”132
を％値として行ない、“RET”を介してステツプ
101以降を反復する。
第１図は、以上の監視を行なう機能的なブロツ
ク図であり、入口温度Tiと出口温度Toとが減算
器６１へ与えられ、こゝにおいて温度差△Ｔを求
めたうえ、差値検出手段としての比較器６２によ
り一定値以下が検出されると共に、CHW２から
の能力制御弁開度ｄが開度値検出手段としての比
較器６３により所定値以上の検出がなされる一
方、CHW２に対する起動指令Ｓおよび開度指令
Ｄの変化が各々徴分回路６４，６５により検出さ
れ、これらの検出々力に応じてタイマー６６がス
タートし、これがタイムアツプするまでの間は阻
止手段としてのANDゲート６７をオフに保つも
のとなつている。
ク図であり、入口温度Tiと出口温度Toとが減算
器６１へ与えられ、こゝにおいて温度差△Ｔを求
めたうえ、差値検出手段としての比較器６２によ
り一定値以下が検出されると共に、CHW２から
の能力制御弁開度ｄが開度値検出手段としての比
較器６３により所定値以上の検出がなされる一
方、CHW２に対する起動指令Ｓおよび開度指令
Ｄの変化が各々徴分回路６４，６５により検出さ
れ、これらの検出々力に応じてタイマー６６がス
タートし、これがタイムアツプするまでの間は阻
止手段としてのANDゲート６７をオフに保つも
のとなつている。
このため、CHW２の起動直後および能力制御
弁の開度変更直後は、タイマー６６により過渡状
態としてANDゲート６７がオフとなり、これ以
外のときにはANDゲート６７がオンへ転じ、比
較器６２，６３の各検出々力が同時に生ずれば、
表示器６８に対して駆動信号を送出し、性能低下
の表示を行なうものとなる。
弁の開度変更直後は、タイマー６６により過渡状
態としてANDゲート６７がオフとなり、これ以
外のときにはANDゲート６７がオンへ転じ、比
較器６２，６３の各検出々力が同時に生ずれば、
表示器６８に対して駆動信号を送出し、性能低下
の表示を行なうものとなる。
したがつて、第１図の構成によつても、第６図
と同等の監視動作が行なわれる。
と同等の監視動作が行なわれる。
以上のとおり、特に測定器を用いずとも、簡易
な構成によりCHW２の性能チエツクが行なわ
れ、性能が劣化したまゝCHW２を運転し、余剰
なエネルギーを消費することが阻止されると共
に、保守、点検が極めて容易となる。
な構成によりCHW２の性能チエツクが行なわ
れ、性能が劣化したまゝCHW２を運転し、余剰
なエネルギーを消費することが阻止されると共
に、保守、点検が極めて容易となる。
たゞし、第１図乃至第４図の構成は、状況に応
じた選定が任意であると共に、第６図においては
条件にしたがつてステツプを入替え、または、同
等のものと置換し、あるいは、不要なものを省略
してもよい等、種々の変形が自在である。
じた選定が任意であると共に、第６図においては
条件にしたがつてステツプを入替え、または、同
等のものと置換し、あるいは、不要なものを省略
してもよい等、種々の変形が自在である。
以上の説明により明らかなとおり本考案によれ
ば、簡易な構成によりCHWの性能チエツクが自
動的に行なわれ、性能低下の発見および保守、点
検が容易となり、各種熱源機器の性能チエツクに
おいて多大な効果が得られる。
ば、簡易な構成によりCHWの性能チエツクが自
動的に行なわれ、性能低下の発見および保守、点
検が容易となり、各種熱源機器の性能チエツクに
おいて多大な効果が得られる。
図は本考案の実施例を示し、第１図は機能的な
ブロツク図、第２図は計裝図、第３図はSUPの
ブロツク図、第４図はSUPの操作パネルを示す
正面図、第５図は監視状況を示す図、第６図は監
視動作のフローチヤートである。 ２……CHW（冷温水機）、４，６……管路、５
……LE（負荷機器）、１１，１２……温度計、１
３……SUP（監視装置）、２１……CPU（プロセツ
サ）、２２……ROM（固定メモリ）、２３……
RAM（可変メモリ）、２４〜２７……Ｉ／Ｆ（イ
ンターフエイス）、６１……減算器、６２，６３
……比較器、６４，６５……徴分回路、６７……
AND回路、６８……表示器。
ブロツク図、第２図は計裝図、第３図はSUPの
ブロツク図、第４図はSUPの操作パネルを示す
正面図、第５図は監視状況を示す図、第６図は監
視動作のフローチヤートである。 ２……CHW（冷温水機）、４，６……管路、５
……LE（負荷機器）、１１，１２……温度計、１
３……SUP（監視装置）、２１……CPU（プロセツ
サ）、２２……ROM（固定メモリ）、２３……
RAM（可変メモリ）、２４〜２７……Ｉ／Ｆ（イ
ンターフエイス）、６１……減算器、６２，６３
……比較器、６４，６５……徴分回路、６７……
AND回路、６８……表示器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 冷温水機の入口温度と出口温度との差を求める
手段と、 該手段による差の値が一定値以下であることを
検出する差値検出手段と、 前記冷温水機の能力制御弁開度が所定値以上で
あることを検出する開度検出手段と、 前記各検出手段の検出々力が同時に生じたとき
性能の低下を表示する表示手段と、 前記冷温水機への起動指令を検出してから所定
時間経過するまでの間を、また前記能力制御弁へ
の開度指令の変化を検出してから所定時間経過す
るまでの間を、前記冷温水機の過渡状態として検
出する過渡状態検出手段と、 この過渡状態検出手段により過渡状態が検出さ
れている間、前記表示手段による表示を阻止する
阻止手段と を備えたことを特徴とする冷温水機の性能チエツ
ク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985046513U JPH0447569Y2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985046513U JPH0447569Y2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61162767U JPS61162767U (ja) | 1986-10-08 |
| JPH0447569Y2 true JPH0447569Y2 (ja) | 1992-11-10 |
Family
ID=30560976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985046513U Expired JPH0447569Y2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0447569Y2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011208861A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 熱交換器性能管理装置及び方法 |
| JP2012207832A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Kurita Water Ind Ltd | 冷凍システムにおける冷却水ラインの汚れ評価方法 |
| JP2015169370A (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-28 | 栗田工業株式会社 | 冷却水ラインの汚れ評価方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0697126B2 (ja) * | 1987-07-24 | 1994-11-30 | 東京瓦斯株式会社 | 吸収冷温水機の診断装置 |
| JP4966921B2 (ja) * | 2008-07-03 | 2012-07-04 | 株式会社日立製作所 | 冷熱供給システムの劣化診断装置、劣化診断方法、及び劣化診断システム |
| JP2018031558A (ja) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | 株式会社日立ビルシステム | 吸収冷凍機の性能診断方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56146966A (en) * | 1980-04-15 | 1981-11-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Operation monitoring of suction refrigerating machine |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP1985046513U patent/JPH0447569Y2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011208861A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 熱交換器性能管理装置及び方法 |
| JP2012207832A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Kurita Water Ind Ltd | 冷凍システムにおける冷却水ラインの汚れ評価方法 |
| JP2015169370A (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-28 | 栗田工業株式会社 | 冷却水ラインの汚れ評価方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61162767U (ja) | 1986-10-08 |
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