JPH0447660Y2 - - Google Patents

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JPH0447660Y2
JPH0447660Y2 JP1984003305U JP330584U JPH0447660Y2 JP H0447660 Y2 JPH0447660 Y2 JP H0447660Y2 JP 1984003305 U JP1984003305 U JP 1984003305U JP 330584 U JP330584 U JP 330584U JP H0447660 Y2 JPH0447660 Y2 JP H0447660Y2
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JP
Japan
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separator
ion source
glass
gas chromatograph
mass spectrometer
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JP1984003305U
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JPS60114958U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、ガスクロマトグラフと質量分析装置
をガラス製セパレータを介して接続したガスクロ
マトグラフ質量分析装置に関し、特にセパレータ
とイオン源の接続部の構造に関する。
ガスクロマトグラフと質量分析装置を接続し、
ガスクロマトグラフで展開した試料を質量分析装
置へ導入して質量分析する場合、キヤリアガスを
除去し試料成分を濃縮するため、両者の間にセパ
レータ(エンリツチヤ)が挿入される。このセパ
レータは、通常、ガラスで作られ、例えば第1図
に示すようにして質量分析装置のイオン源に取付
けられる。第1図において1は質量分析装置のイ
オン源の側壁、2はイオン化室、3は側壁2に開
けられた導入口、4はガラス製セパレータ、5は
該セパレータと一体に形成され濃縮した試料成分
をイオン源内部へ運ぶためのガラス製導入管、6
は導入管5を導入口3の部分に固定するための金
属製フランジ、7はフランジ6と導入管5との間
の気密を保持するための圧力を加えるナツト、8
はナツト7とフランジ6との間に介挿されたコー
ン、9はセパレータ4及び導入管5の部分を加熱
するためのオーブンである。
ところが、このような従来の構造では、オーブ
ン9内のコーン8の部分で温度変化によるリーク
が起こり易く、又、ナツトが焼きついたり、コー
ンがフランジに付着してしまつて取外せなくなる
といつた問題がある。更に、イオン源加速電圧が
高い場合、破線に沿つてグロー放電が起こり易
く、放電による試料の分解といつた好ましくない
現象がおきてしまう。
本考案は上述した点に鑑みてなされたもので、
ガスクロマトグラフによつて展開した試料をガラ
ス製セパレータを介してイオン源のイオン化室内
へ導入するガスクロマトグラフ質量分析装置にお
いて、前記セパレータと一体に形成され該セパレ
ータで濃縮された試料成分をイオン化室へ運ぶガ
ラス製導入管の途中の外周部に、該導入管よりも
径の大きな外管部を有する鍔部を形成することに
より二重管構造とし、該鍔部の外周部においてゴ
ム製パツキングを介して前記イオン源の導入口部
と接続すると共に、前記セパレータ及びガラス製
導入管を内部に収容し加熱するためのオーブンと
イオン源との間に間隙を形成し、該間隙部の温度
の低下した部分に前記ゴム製パツキングが配置さ
れるようにしたことにより、上記問題点を除くこ
とのできるガスクロマトグラフ質量分析装置を提
供することを目的としている。以下、図面を用い
て本考案を詳述する。
第2図は本考案の一実施例の構造を示す断面図
であり、第1図と同一の構成要素には同一番号が
付されている。第1図と異なるのは、導入管5の
途中に該導入管5よりも径の大きな外管部10を
有するガラス製の鍔11を融着し、その外管部1
0の外周においてOリングパツキング12を介し
てフランジ13及び側壁2と接続し、気密を保つ
ようにしている点である。Oリングパツキング1
2はイオン源側壁1とオーブン9との間に形成さ
れた間隙部分に配置されている。
この様な構成において、オーブン9とイオン源
側壁1の間隙ではオーブン内よりも温度が低下し
ており、また側壁に近接しているため温度変化も
少ない。Oリングはこの領域に配置されているた
め、リークが起こりにくく、Oリングの劣化及び
焼付きが防止でき従来の様に焼付きによりセパレ
ータが取り外せなくなるようなこともない。更
に、導入管5とフランジ13との間に絶縁抵抗の
高いガラス製の鍔11が介在するため、絶縁性が
高まり、従つてイオン源加速電圧が高い場合であ
つても放電が起こりにくく、放電による試料の分
解を防ぐことができる。しかも、この鍔11のイ
オン源側壁1とオーブン9との間の間隙に面して
いる部分は温度が低下し、この温度低下により放
電が起こる可能性がさらに低くなることが確認さ
れている。
又、本実施例では、外管10とフランジ13の
間に適宜な隙間を持たせ、Oリングを支点として
その隙間分だけ導入間5(従つてセパレータも)
が揺動できるようにしてあり、そのためガスクロ
マトグラフカラムを交換する時に鍔11の取付け
部Aにかかる力を分散することができ、A部にお
ける破損を防ぐことが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の構造を示す図、第2図は本考案
の一実施例の構成を示す断面図である。 1……イオン源側壁、2……イオン化室、3…
…導入口、4……ガラス製セパレータ、5……ガ
ラス製導入管、10……外管部、11……鍔、1
2……Oリングパツキング、13……フランジ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ガスクロマトグラフによつて展開した試料をガ
    ラス製セパレータを介してイオン源のイオン化室
    内へ導入するガスクロマトグラフ質量分析装置に
    おいて、前記セパレータと一体に形成され該セパ
    レータで濃縮された試料成分をイオン化室へ運ぶ
    ガラス製導入管の途中の外周部に、該導入管より
    も径の大きな外管部を有する鍔部を形成すること
    により二重管構造とし、該鍔部の外周部において
    Oリングパツキングを介して前記イオン源の導入
    口部と接続すると共に、前記セパレータ及びガラ
    ス製導入管を内部に収容し加熱するためのオーブ
    ンとイオン源との間に間隙を形成し、該間隙部の
    温度の低下した部分に前記Oリングパツキングが
    配置されるようにしたことを特徴とするガスクロ
    マトグラフ質量分析装置。
JP330584U 1984-01-13 1984-01-13 ガスクロマトグラフ質量分析装置 Granted JPS60114958U (ja)

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JP330584U JPS60114958U (ja) 1984-01-13 1984-01-13 ガスクロマトグラフ質量分析装置

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JP330584U JPS60114958U (ja) 1984-01-13 1984-01-13 ガスクロマトグラフ質量分析装置

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JPS60114958U JPS60114958U (ja) 1985-08-03
JPH0447660Y2 true JPH0447660Y2 (ja) 1992-11-10

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JP330584U Granted JPS60114958U (ja) 1984-01-13 1984-01-13 ガスクロマトグラフ質量分析装置

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5253923B2 (ja) * 2008-08-19 2013-07-31 日本電子株式会社 ガスクロマトグラフ質量分析装置用イオン源
JP2014149273A (ja) * 2013-02-04 2014-08-21 Horiba Ltd 反応装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS553419Y2 (ja) * 1975-10-09 1980-01-26
JPS5481792U (ja) * 1977-11-16 1979-06-09

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JPS60114958U (ja) 1985-08-03

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