JPH0448289A - 光波距離計 - Google Patents
光波距離計Info
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- JPH0448289A JPH0448289A JP2157499A JP15749990A JPH0448289A JP H0448289 A JPH0448289 A JP H0448289A JP 2157499 A JP2157499 A JP 2157499A JP 15749990 A JP15749990 A JP 15749990A JP H0448289 A JPH0448289 A JP H0448289A
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- signal
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、特に近距離の測距に用いるのに好適な光波距
離計に関する。
離計に関する。
(従来の技術)
従来の光波距離計は、第4図に示すように、主発振器a
に接続された信号変換器すで、周波数f1の信号と周波
数f2の信号を作成し、この信号をセレクタCにより選
択的に発光素子dに加えて、発光素子dから粗測定用の
変調周波数f。
に接続された信号変換器すで、周波数f1の信号と周波
数f2の信号を作成し、この信号をセレクタCにより選
択的に発光素子dに加えて、発光素子dから粗測定用の
変調周波数f。
と精測定用の変調周波数f2の変調光を順次出射し、反
射鏡で反射した変調光を受光素子eで受信信号に変換し
、この受信信号をミキサg1フィルタh及び増幅器iを
介して位相検出器jに加え、この位相検出器jで基準信
号と比較して位相差を検出し、測距するようになってお
り、機械内部の光路の長さ分の測定誤差を無くすために
、発光素子dの前方に光路を測距光路し、から機械内部
の参照先路L2に選択的に切換えるミ上述の光波距離計
によれば、2つの周波数f1とf2の信号を作る必要が
あり、更にこの両者の信号を切替えるための回路が必要
である。また測距光の光路[1と参照光の光路[2の切
換えを変調周波数f、と12のそれぞれについて行なう
必要があるとともに位相差の測定も一方の周波数の信号
について行なった後他方の周波数の信号について行なう
ので、測距に時間がかかるという課題があった。
射鏡で反射した変調光を受光素子eで受信信号に変換し
、この受信信号をミキサg1フィルタh及び増幅器iを
介して位相検出器jに加え、この位相検出器jで基準信
号と比較して位相差を検出し、測距するようになってお
り、機械内部の光路の長さ分の測定誤差を無くすために
、発光素子dの前方に光路を測距光路し、から機械内部
の参照先路L2に選択的に切換えるミ上述の光波距離計
によれば、2つの周波数f1とf2の信号を作る必要が
あり、更にこの両者の信号を切替えるための回路が必要
である。また測距光の光路[1と参照光の光路[2の切
換えを変調周波数f、と12のそれぞれについて行なう
必要があるとともに位相差の測定も一方の周波数の信号
について行なった後他方の周波数の信号について行なう
ので、測距に時間がかかるという課題があった。
本発明は、従来のこのような課題を解決することをその
目的とするものである。
目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記の目的を達成するために、異なる変調周
波数の変調光を送出し、反射鏡で反射した該変調光を受
光素子で受信信号に変換し、該受信信号と基準信号との
位相差から測距する光波距離計において、前記変調光は
粗測定用の基本波成分に精測定用の高調波成分を含む矩
形波で変調された変調光であり、前記受光素子で変換し
た受信信号を粗測定用の基本波成分と精測定用の高調波
成分に分離し、各々の成分と基準信号との位相差を並列
的に測定して測距するようにしたことを特徴とする。
波数の変調光を送出し、反射鏡で反射した該変調光を受
光素子で受信信号に変換し、該受信信号と基準信号との
位相差から測距する光波距離計において、前記変調光は
粗測定用の基本波成分に精測定用の高調波成分を含む矩
形波で変調された変調光であり、前記受光素子で変換し
た受信信号を粗測定用の基本波成分と精測定用の高調波
成分に分離し、各々の成分と基準信号との位相差を並列
的に測定して測距するようにしたことを特徴とする。
(作 用)
第2図示のような出射光の矩形変調波は次のフーリエ変
換の式 で表わされ、第3図に示されるように基本波成分と各種
高次高調波の灯波を含んでおり、この基本波5Irlx
を粗測定用とし、高調波の1つ例え成分は高次程測定精
度がよくなるが、振幅が小さくなるので測距可能距離が
短くなる。したがって短距離例えば500m位までの測
定にはこの矩形波の変調光は、受光素子で受信信号で変
換された後、基本波成分と所定の高調波成分例えば第1
1次高調波底分が取り出され、各々が基準信号との位相
差が求められ、粗測定と精測定が並行して行なわれる。
換の式 で表わされ、第3図に示されるように基本波成分と各種
高次高調波の灯波を含んでおり、この基本波5Irlx
を粗測定用とし、高調波の1つ例え成分は高次程測定精
度がよくなるが、振幅が小さくなるので測距可能距離が
短くなる。したがって短距離例えば500m位までの測
定にはこの矩形波の変調光は、受光素子で受信信号で変
換された後、基本波成分と所定の高調波成分例えば第1
1次高調波底分が取り出され、各々が基準信号との位相
差が求められ、粗測定と精測定が並行して行なわれる。
(実施例)
以下本発明の実施例を図面につき説明する。
第1図において、1は主発振器2からの例えば8MHz
の信号を例えば800KHzの矩形波信号とする信号変
換器で、この800KHzの矩形波信号は増幅器3を介
して発光素子4に加えられる。5は発光素子4から出射
し反射鏡で反射された変調光を受信信号に変換する受光
素子で、この受光素子5は増幅器6.7as 7bを介
してフィルタ8aと8bに加えられ、かくして、このフ
ィルタ8aと8bにより基本波である800KHzの5
lrl信号と第11次高調波である8 、 8MHzの
5ffl信号が分離して取出されるようになっている。
の信号を例えば800KHzの矩形波信号とする信号変
換器で、この800KHzの矩形波信号は増幅器3を介
して発光素子4に加えられる。5は発光素子4から出射
し反射鏡で反射された変調光を受信信号に変換する受光
素子で、この受光素子5は増幅器6.7as 7bを介
してフィルタ8aと8bに加えられ、かくして、このフ
ィルタ8aと8bにより基本波である800KHzの5
lrl信号と第11次高調波である8 、 8MHzの
5ffl信号が分離して取出されるようになっている。
この800KHzと6.8MH2の受信信号はミキサ9
aと9bで信号変換器1から出力した630KHzと6
.63 MHzの参照信号により各々30 KHzと1
3..23MHzの信号に変換され、フィルタ10aと
lObを通すことにより受信信号の位相差を精密に測定
するに役立つ30 KHzの信号のみが鍛圧され、この
信号は各々増幅器11aとllbを経て位相検出器12
aと12bに加えられる。この位相検出器12aと12
bは各々30 KHzの受信信号と信号変換器1から出
力する30 KHzの基準信号との位相差を測定し、こ
の位相差信号をCPU13に出力する。
aと9bで信号変換器1から出力した630KHzと6
.63 MHzの参照信号により各々30 KHzと1
3..23MHzの信号に変換され、フィルタ10aと
lObを通すことにより受信信号の位相差を精密に測定
するに役立つ30 KHzの信号のみが鍛圧され、この
信号は各々増幅器11aとllbを経て位相検出器12
aと12bに加えられる。この位相検出器12aと12
bは各々30 KHzの受信信号と信号変換器1から出
力する30 KHzの基準信号との位相差を測定し、こ
の位相差信号をCPU13に出力する。
この実施例では、従来例と同様に発光素子4の前方に光
路を測距光路L1から機械内部の参照光路L2に選択的
に切換えるミラー14を備えており、受信信号と基準信
号の位相差を測定した後、ミラー14を切換えて参照光
を参照光路L2を経て受光素子5に入射させ、受光素子
5で変換された参照信号と基準信号との位相差を位相検
出器12aと12bで測定し、この位相差信号をCPU
13に出力する。CPU 13では、受信信号と基準
信号の位相差と、参照信号と基準信号の位相差から機械
内部の光路の長さ分の測定誤差を補正した測距値を算出
する。
路を測距光路L1から機械内部の参照光路L2に選択的
に切換えるミラー14を備えており、受信信号と基準信
号の位相差を測定した後、ミラー14を切換えて参照光
を参照光路L2を経て受光素子5に入射させ、受光素子
5で変換された参照信号と基準信号との位相差を位相検
出器12aと12bで測定し、この位相差信号をCPU
13に出力する。CPU 13では、受信信号と基準
信号の位相差と、参照信号と基準信号の位相差から機械
内部の光路の長さ分の測定誤差を補正した測距値を算出
する。
尚、第1図において、15は例えば15 MHzの信号
発生器で、位相検出器12aと12bは各々この15
MHzの信号を前記位相差に相当する期間カウントして
そのカウント値を位相差信号として出力するようになっ
ている。
発生器で、位相検出器12aと12bは各々この15
MHzの信号を前記位相差に相当する期間カウントして
そのカウント値を位相差信号として出力するようになっ
ている。
(発明の効果)
本発明は、上述の通りの構成を有するから、粗測定と精
測定とを並列的に行なうことができ、測定時間を短縮す
ることができる。また、粗測定用の低周波信号と精測定
用の高周波信号を作る必要もなくさらにこれらを交互に
出力する必要もないので、回路構成が簡潔になる。測距
光路と参照光路とを切換えるように構成する場合には、
この切換えが一度ですみ、測距時間を更に短縮できる。
測定とを並列的に行なうことができ、測定時間を短縮す
ることができる。また、粗測定用の低周波信号と精測定
用の高周波信号を作る必要もなくさらにこれらを交互に
出力する必要もないので、回路構成が簡潔になる。測距
光路と参照光路とを切換えるように構成する場合には、
この切換えが一度ですみ、測距時間を更に短縮できる。
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図はその
出射光の変調波の波形図、第3図はその含有成分波形図
、第4図は従来例のブロック図である。 1・・・信号変換器 4・・・発光素子5・・・受
光素子 8a、 8b・・・フィルタ10a 、 1
0b・・・フィルタ
出射光の変調波の波形図、第3図はその含有成分波形図
、第4図は従来例のブロック図である。 1・・・信号変換器 4・・・発光素子5・・・受
光素子 8a、 8b・・・フィルタ10a 、 1
0b・・・フィルタ
Claims (1)
- 矩形波に変調された変調光を送出し、反射鏡で反射した
該変調光を受光素子で受信信号に変換し、該受信信号と
基準信号との位相差から測距する光波距離計において、
前記変調光は粗測定用の基本波成分に精測定用の高調波
成分を含む矩形波で変調された変調光であり、前記受光
素子で変換した受信信号を粗測定用の基本波成分と精測
定用の高調波成分に分離し、各々の成分と基準信号との
位相差を並列的に測定して測距するようにしたことを特
徴とする光波距離計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2157499A JP2929387B2 (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | 光波距離計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2157499A JP2929387B2 (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | 光波距離計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0448289A true JPH0448289A (ja) | 1992-02-18 |
| JP2929387B2 JP2929387B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=15651024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2157499A Expired - Fee Related JP2929387B2 (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | 光波距離計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2929387B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09236662A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Ushikata Shokai:Kk | 光波距離計 |
| JP2006138702A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
| JP2007155660A (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
| CN106662641A (zh) * | 2014-11-06 | 2017-05-10 | 株式会社电装 | 光飞行型测距装置及其方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62127685A (ja) * | 1985-11-28 | 1987-06-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ−測距装置 |
-
1990
- 1990-06-18 JP JP2157499A patent/JP2929387B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62127685A (ja) * | 1985-11-28 | 1987-06-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ−測距装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09236662A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Ushikata Shokai:Kk | 光波距離計 |
| JP2006138702A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
| JP2007155660A (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
| CN106662641A (zh) * | 2014-11-06 | 2017-05-10 | 株式会社电装 | 光飞行型测距装置及其方法 |
| CN106662641B (zh) * | 2014-11-06 | 2019-08-16 | 株式会社电装 | 光飞行型测距装置及其方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2929387B2 (ja) | 1999-08-03 |
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