JPH04285864A - 周波数測定装置 - Google Patents
周波数測定装置Info
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- JPH04285864A JPH04285864A JP7377491A JP7377491A JPH04285864A JP H04285864 A JPH04285864 A JP H04285864A JP 7377491 A JP7377491 A JP 7377491A JP 7377491 A JP7377491 A JP 7377491A JP H04285864 A JPH04285864 A JP H04285864A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- oscillator
- measuring device
- low
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- Pending
Links
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 17
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は周波数測定装置に関し、
特に低精度でしかも低周波数用の周波数測定器を用いて
高い周波数を高精度に測定可能とした周波数測定装置に
関する。
特に低精度でしかも低周波数用の周波数測定器を用いて
高い周波数を高精度に測定可能とした周波数測定装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の周波数測定装置では、例えば図２
に示すように被測定発振器１の発振周波数を直接測定す
るための周波数測定器１１として構成されたものがある
。又、図３のように周波数分周器１３を周波数測定器１
２の前段に挿入し、被測定発振器１の周波数を分周して
低周波にして測定する装置もある。
に示すように被測定発振器１の発振周波数を直接測定す
るための周波数測定器１１として構成されたものがある
。又、図３のように周波数分周器１３を周波数測定器１
２の前段に挿入し、被測定発振器１の周波数を分周して
低周波にして測定する装置もある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した図２に示す周
波数測定装置では、周波数測定器１１には周波数測定精
度以上（通常では測定精度の１０倍以上）の高精度が必
要とされ、かつ被測定発振器１の発振周波数以上が測定
可能な周波数測定範囲が要求される。特に、発振周波数
を高精度で測定する場合には、測定精度以上の高精度の
周波数測定器が必要とされるという問題がある。このこ
とは、図３の分周器１３を用いて周波数測定を行う周波
数測定器１２の場合でも、高周波数測定範囲は緩和され
るものの、高精度が要求される点は同様である。本発明
の目的は、低精度の周波数測定器で高精度に周波数測定
を実現可能とした周波数測定装置を提供することにある
。
波数測定装置では、周波数測定器１１には周波数測定精
度以上（通常では測定精度の１０倍以上）の高精度が必
要とされ、かつ被測定発振器１の発振周波数以上が測定
可能な周波数測定範囲が要求される。特に、発振周波数
を高精度で測定する場合には、測定精度以上の高精度の
周波数測定器が必要とされるという問題がある。このこ
とは、図３の分周器１３を用いて周波数測定を行う周波
数測定器１２の場合でも、高周波数測定範囲は緩和され
るものの、高精度が要求される点は同様である。本発明
の目的は、低精度の周波数測定器で高精度に周波数測定
を実現可能とした周波数測定装置を提供することにある
。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の周波数測定装
置は、周波数が測定される被測定発振器と、この被測定
発振器の発振周波数に可及的に近い周波数を発振する基
準発振器と、前記被測定発振器と基準発振器の出力を乗
算するミキサと、このミキサ出力の低周波成分のみを取
り出す低域ろ波器と、この低域ろ波器の出力周波数を測
定する周波数測定器とで構成される。必要に応じて、低
域ろ波器の出力側にシュミット・トリガ・バッファを介
挿することができる。
置は、周波数が測定される被測定発振器と、この被測定
発振器の発振周波数に可及的に近い周波数を発振する基
準発振器と、前記被測定発振器と基準発振器の出力を乗
算するミキサと、このミキサ出力の低周波成分のみを取
り出す低域ろ波器と、この低域ろ波器の出力周波数を測
定する周波数測定器とで構成される。必要に応じて、低
域ろ波器の出力側にシュミット・トリガ・バッファを介
挿することができる。
【０００５】
【作用】本発明によれば、被測定発振器の発振周波数と
、基準発振器の発振周波数との差を周波数測定器で測定
するため、低周波数及び低精度の周波数測定器での測定
が可能となる。
、基準発振器の発振周波数との差を周波数測定器で測定
するため、低周波数及び低精度の周波数測定器での測定
が可能となる。
【０００６】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の構成を示すブロック図である。同図
において、１はＶＣＸＯ（水晶発振型電圧制御発振器）
等の被測定発振器１であり、これには被測定発振器１の
発振周波数と可及的に近く、周波数精度の高い基準発振
器２を設け、これら発振器１，２の出力をミキサ３に入
力する。そして、このミキサ３において各発振器１，２
の出力を乗算することで、各出力の周波数成分の和と差
を出力する。更に、このミキサ３の出力をＬＰＦ（低域
ろ波器）４を通すことにより和の成分を減衰させて差の
成分のみを取り出し、この差の成分をシュミット・トリ
ガ・バッファ５を通した上で周波数測定器６において周
波数測定を行っている。このシュミット・トリガ・バッ
ファ５は、前記ＬＰＦ４の出力に含まれている高調波成
分によって周波数測定器６が誤測定するのを避けるため
に、高調波成分を除去する機能を有する。
る。図１は本発明の構成を示すブロック図である。同図
において、１はＶＣＸＯ（水晶発振型電圧制御発振器）
等の被測定発振器１であり、これには被測定発振器１の
発振周波数と可及的に近く、周波数精度の高い基準発振
器２を設け、これら発振器１，２の出力をミキサ３に入
力する。そして、このミキサ３において各発振器１，２
の出力を乗算することで、各出力の周波数成分の和と差
を出力する。更に、このミキサ３の出力をＬＰＦ（低域
ろ波器）４を通すことにより和の成分を減衰させて差の
成分のみを取り出し、この差の成分をシュミット・トリ
ガ・バッファ５を通した上で周波数測定器６において周
波数測定を行っている。このシュミット・トリガ・バッ
ファ５は、前記ＬＰＦ４の出力に含まれている高調波成
分によって周波数測定器６が誤測定するのを避けるため
に、高調波成分を除去する機能を有する。
【０００７】したがって、この周波数測定装置では、周
波数測定器６において被測定発振器１と基準発振器２と
の周波数差を測定し、この周波数差と基準発振器２の発
振周波数を用いることで被測定発振器１の発振周波数を
算出することができる。そして、この測定に際しては、
周波数測定器６は周波数差を測定可能な低周波数の測定
器で良く、しかも基準発振器２の精度並の精度で測定で
きる。
波数測定器６において被測定発振器１と基準発振器２と
の周波数差を測定し、この周波数差と基準発振器２の発
振周波数を用いることで被測定発振器１の発振周波数を
算出することができる。そして、この測定に際しては、
周波数測定器６は周波数差を測定可能な低周波数の測定
器で良く、しかも基準発振器２の精度並の精度で測定で
きる。
【０００８】具体的に数値を用いて示すと、基準発振器
２の発振周波数 １００ＭＨＺ 精度１０−９
（ ０．１ＨＺ ） 被測定発振器１の発振周波数 １００ＭＨＺ ±１
０ＫＨＺ （１００ＭＨＺ ± １００ｐｐｍ ）上記
２周波数の差 ±１０ＫＨＺ
周波数測定器６の精度を１０ｐｐｍ としたとき±１０
ＫＨＺ を測定したときの誤差 ± ０．１ＨＺ （±１０ＫＨＺ ×１０ｐｐｍ ）基
準発振周波数（ １００ＭＨＺ ）に対する誤差（±
０．１ＨＺ ）の割合 １０−９ したがって、精度１０ｐｐｍ の測定器を用いて、基準
発振器並の精度（１０−９オーダー）で周波数を測定す
ることができる。尚、周波数測定器６が誤動作するおそ
れがない場合には、シュミット・トリガ・バッファは省
略してもよい。
２の発振周波数 １００ＭＨＺ 精度１０−９
（ ０．１ＨＺ ） 被測定発振器１の発振周波数 １００ＭＨＺ ±１
０ＫＨＺ （１００ＭＨＺ ± １００ｐｐｍ ）上記
２周波数の差 ±１０ＫＨＺ
周波数測定器６の精度を１０ｐｐｍ としたとき±１０
ＫＨＺ を測定したときの誤差 ± ０．１ＨＺ （±１０ＫＨＺ ×１０ｐｐｍ ）基
準発振周波数（ １００ＭＨＺ ）に対する誤差（±
０．１ＨＺ ）の割合 １０−９ したがって、精度１０ｐｐｍ の測定器を用いて、基準
発振器並の精度（１０−９オーダー）で周波数を測定す
ることができる。尚、周波数測定器６が誤動作するおそ
れがない場合には、シュミット・トリガ・バッファは省
略してもよい。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、被測定発
振器と基準発振器の各発振周波数の差を周波数測定器で
測定するため、低周波用の低精度の周波数測定器を用い
て基準発振器並の精度で被測定発振器の発振周波数を測
定できるという効果を有する。
振器と基準発振器の各発振周波数の差を周波数測定器で
測定するため、低周波用の低精度の周波数測定器を用い
て基準発振器並の精度で被測定発振器の発振周波数を測
定できるという効果を有する。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】従来の周波数測定装置の一例のブロック図であ
る。
る。
【図３】従来の周波数測定装置の他の例のブロック図で
ある。
ある。
１ 被測定発振器
２ 基準発振器
３ ミキサ
４ ＬＰＦ
５ シュミット・トリガ・バッファ
６ 周波数測定器
Claims (2)
- 【請求項１】 周波数が測定される被測定発振器と、
この被測定発振器の発振周波数に可及的に近い周波数を
発振する基準発振器と、前記被測定発振器と基準発振器
の出力を乗算するミキサと、このミキサ出力の低周波成
分のみを取り出す低域ろ波器と、この低域ろ波器の出力
周波数を測定する周波数測定器とで構成されることを特
徴とする周波数測定装置。 - 【請求項２】 低域ろ波器の出力側にシュミット・ト
リガ・バッファを介挿してなる請求項１の周波数測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7377491A JPH04285864A (ja) | 1991-03-14 | 1991-03-14 | 周波数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7377491A JPH04285864A (ja) | 1991-03-14 | 1991-03-14 | 周波数測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04285864A true JPH04285864A (ja) | 1992-10-09 |
Family
ID=13527895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7377491A Pending JPH04285864A (ja) | 1991-03-14 | 1991-03-14 | 周波数測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04285864A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010593A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器 |
| JP2007057393A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Epson Toyocom Corp | 周波数安定度測定装置 |
| JP2014052282A (ja) * | 2012-09-07 | 2014-03-20 | Rohm Co Ltd | 周波数測定回路 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54148576A (en) * | 1978-05-15 | 1979-11-20 | Mitsubishi Electric Corp | Frequency calibrator |
| JPS5694275A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-30 | Fuji Electric Co Ltd | Frequency detector |
-
1991
- 1991-03-14 JP JP7377491A patent/JPH04285864A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54148576A (en) * | 1978-05-15 | 1979-11-20 | Mitsubishi Electric Corp | Frequency calibrator |
| JPS5694275A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-30 | Fuji Electric Co Ltd | Frequency detector |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010593A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器 |
| JP2007057393A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Epson Toyocom Corp | 周波数安定度測定装置 |
| JP2014052282A (ja) * | 2012-09-07 | 2014-03-20 | Rohm Co Ltd | 周波数測定回路 |
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