JPH0448543Y2 - - Google Patents
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- JPH0448543Y2 JPH0448543Y2 JP8698685U JP8698685U JPH0448543Y2 JP H0448543 Y2 JPH0448543 Y2 JP H0448543Y2 JP 8698685 U JP8698685 U JP 8698685U JP 8698685 U JP8698685 U JP 8698685U JP H0448543 Y2 JPH0448543 Y2 JP H0448543Y2
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(考案の背景)
本考案は、集積回路の試験を改善することを目
的とする集積回路のソケツト端子切換装置に関す
るものである。
的とする集積回路のソケツト端子切換装置に関す
るものである。
コンデンサーに蓄積されたチヤージを、集積回
路の2端子間に加え、且つ該端子間に何か異常現
象が起きたか否かを点検することによつて、集積
回路を試験し、集積回路の欠点を発見したり、又
は集積回路のダイオード特性を調査することは公
知である。
路の2端子間に加え、且つ該端子間に何か異常現
象が起きたか否かを点検することによつて、集積
回路を試験し、集積回路の欠点を発見したり、又
は集積回路のダイオード特性を調査することは公
知である。
集積回路の2端子を適宜ピツクアツプしながら
このような測定を繰返すことによつて集積回路全
体の特性を知ることができるが、集積回路の2端
子を適宜ピツクアツプする為には、集積回路の2
端子を適宜切換えることが必要である。
このような測定を繰返すことによつて集積回路全
体の特性を知ることができるが、集積回路の2端
子を適宜ピツクアツプする為には、集積回路の2
端子を適宜切換えることが必要である。
しかし、集積回路の2端子を手によつて切換え
ていたのでは、極めて非効率的であることは明ら
かである。
ていたのでは、極めて非効率的であることは明ら
かである。
他方集積回路の2端子を切換えるのにリレー回
路が用いられた場合には、リレー回路に於ては、
多くの電線が使用される為に電源と集積回路の各
端子の間の距離は、長いものとなる。
路が用いられた場合には、リレー回路に於ては、
多くの電線が使用される為に電源と集積回路の各
端子の間の距離は、長いものとなる。
そしてリード線とアースとの間には、浮遊キヤ
パシタンスが存在し、リード線が長くなればなる
程、浮遊容量は大きいものとなる。
パシタンスが存在し、リード線が長くなればなる
程、浮遊容量は大きいものとなる。
即ちリレー回路を使用することはコンデンサー
内部に蓄えられたエネルギーを測定する際、浮遊
キヤパシタンスを生じさせ、これが必然的に招く
ことになる。
内部に蓄えられたエネルギーを測定する際、浮遊
キヤパシタンスを生じさせ、これが必然的に招く
ことになる。
本考案の目的は各端子を自動的に切換え、しか
も最小限の誤差で蓄積エネルギーを測定すること
のできる集積回路のソケツト端子切換装置を提供
することである。
も最小限の誤差で蓄積エネルギーを測定すること
のできる集積回路のソケツト端子切換装置を提供
することである。
(考案の構成)
上記の目的を達成する為の集積回路のソケツト
端子切換装置の構成は、集積回路の端子によつて
差込まれる為の複数のソケツト及び相互に同心円
状に形成された2列の接触端子を持つソケツト基
盤を備え、該ソケツト基盤に於ては、該2列の接
触端子の各端子は、該複数のソケツトの各相応す
るソケツトに接続されており、2つの各接触ピン
をそれぞれ回転運動させ、且つこれを上記2列の
接触端子の内の任意に選択された2つの端子に接
触させる手段を備えることによつてなる。以下図
面に従つて説明する。
端子切換装置の構成は、集積回路の端子によつて
差込まれる為の複数のソケツト及び相互に同心円
状に形成された2列の接触端子を持つソケツト基
盤を備え、該ソケツト基盤に於ては、該2列の接
触端子の各端子は、該複数のソケツトの各相応す
るソケツトに接続されており、2つの各接触ピン
をそれぞれ回転運動させ、且つこれを上記2列の
接触端子の内の任意に選択された2つの端子に接
触させる手段を備えることによつてなる。以下図
面に従つて説明する。
先ず本考案の記載に入る前に考案の理解に資す
る為に、集積回路の試験について説明することに
する。
る為に、集積回路の試験について説明することに
する。
第1図は、集積回路の2端子間に対し、コンデ
ンサーに蓄積されたエネルギーを放電する回路と
集積回路のダイオード特性を測定する回路図を示
すものである。
ンサーに蓄積されたエネルギーを放電する回路と
集積回路のダイオード特性を測定する回路図を示
すものである。
第1図に於て、コンデンサーCは、電源回路側
にスイツチ21を切換えることによつて充電され
る。
にスイツチ21を切換えることによつて充電され
る。
他方予め、スイツチ22を閉じて、電流源43
より予め選択した集積回路の2端子に電流を流
し、電圧計Vより、該2端子の電圧を測定してお
く。次にスイツチ22を開放し、スイツチ21を
集積回路側に切換えるとコンデンサーCに蓄積さ
れた電荷が集積回路の2つの端子間に流れ、且つ
電荷の蓄積エネルギーによつて該集積回路の2端
子間は損傷を受けることになる。この損傷の度合
を測定する為に、スイツチ21を集積回路1の側
から切離して、中立にしておき、スイツチ22を
再び閉じて、集積回路に電流源43より電流を流
し、電圧計Vによりこの時の該2端子間に生じた
電圧を測定することによつて該2端子にコンデン
サーCの蓄積されたエネルギーを印加する前後の
ダイオード特性の変化を知ることができる。
より予め選択した集積回路の2端子に電流を流
し、電圧計Vより、該2端子の電圧を測定してお
く。次にスイツチ22を開放し、スイツチ21を
集積回路側に切換えるとコンデンサーCに蓄積さ
れた電荷が集積回路の2つの端子間に流れ、且つ
電荷の蓄積エネルギーによつて該集積回路の2端
子間は損傷を受けることになる。この損傷の度合
を測定する為に、スイツチ21を集積回路1の側
から切離して、中立にしておき、スイツチ22を
再び閉じて、集積回路に電流源43より電流を流
し、電圧計Vによりこの時の該2端子間に生じた
電圧を測定することによつて該2端子にコンデン
サーCの蓄積されたエネルギーを印加する前後の
ダイオード特性の変化を知ることができる。
上記の方法を繰返していきながら、該2端子間
に異常現象が生じた場合には、電圧計3を用いて
該2端子間に加えられた蓄積エネルギーが測定さ
れることになる。
に異常現象が生じた場合には、電圧計3を用いて
該2端子間に加えられた蓄積エネルギーが測定さ
れることになる。
該2端子間のダイオード特性を測定した後、別
の2端子が選択され、これにつき上記の方法によ
つてダイオード特性が更に測定される。
の2端子が選択され、これにつき上記の方法によ
つてダイオード特性が更に測定される。
第2図は、上記測定方法をプログラマーコント
ローラーを用いることによつて自動的に繰返す回
路図を示す。
ローラーを用いることによつて自動的に繰返す回
路図を示す。
第2図に於て、切換機51及び52は、任意の
2端子をピツクアツプするために使われ、プログ
ラマーコントローラー42は、予め設定されたプ
ログラムに従つて、電源電圧及び切換装置をコン
トロールする為に用いられる。
2端子をピツクアツプするために使われ、プログ
ラマーコントローラー42は、予め設定されたプ
ログラムに従つて、電源電圧及び切換装置をコン
トロールする為に用いられる。
第2図に於てプログラマーコントローラー42
は、単に電圧電源41及び、電流電源43をコン
トロールするだけでなく、切換装置51,52を
もコントロールする。
は、単に電圧電源41及び、電流電源43をコン
トロールするだけでなく、切換装置51,52を
もコントロールする。
プログラマーコントローラーのコントロールに
従つて、電流43から電圧計3に流れる電流は、
集積回路の任意に選択された2端子に印加される
電圧の制御値に対応して一定の大きさに制御され
ている。
従つて、電流43から電圧計3に流れる電流は、
集積回路の任意に選択された2端子に印加される
電圧の制御値に対応して一定の大きさに制御され
ている。
電圧電源41と電流電源43に対するプログラ
マーコントローラー42の各制御段階に於て、第
1図に示される測定と同様に2端子間のダイオー
ド特性が測定され、該2端子間に異常現象が生じ
たか否かを知ることができる。
マーコントローラー42の各制御段階に於て、第
1図に示される測定と同様に2端子間のダイオー
ド特性が測定され、該2端子間に異常現象が生じ
たか否かを知ることができる。
ピン切換装置51と52は、集積回路の任意の
2端子を拾いだす為にプログラマーコントローラ
ーにおいて予め設定したプログラムに従つて作動
することになる。
2端子を拾いだす為にプログラマーコントローラ
ーにおいて予め設定したプログラムに従つて作動
することになる。
本考案はこのような集積回路の試験において用
いるピン切換装置51,52の具体的な構成を提
供するものであるが、第3図は、本考案に用いる
ソケツト基盤の実施例の構成を示す。
いるピン切換装置51,52の具体的な構成を提
供するものであるが、第3図は、本考案に用いる
ソケツト基盤の実施例の構成を示す。
第3図に於て、集積回路の各端子を差込む為の
複数のソケツトa1,a2・・・anが設けられてい
る。
複数のソケツトa1,a2・・・anが設けられてい
る。
2列の接触端子b1,b2…bnと、c1,c2…cnは、
相互に同心円状に配置されてソケツト基盤6に付
着されている。
相互に同心円状に配置されてソケツト基盤6に付
着されている。
各接触端子biとciは、相当するソケツトaiに接
続されている(i=1,2,…n)。
続されている(i=1,2,…n)。
第4a図は、本発明の切換装置の実施例の構成
を示す。
を示す。
第4a図に於て、接触ピン511と521は同
心円軸512と522の頂上に付着され、同心軸
521と522の回転によつて切換えの為の回転
運動が行われる。尚ボールベアリング11は摩擦
を防止するために使用されている。
心円軸512と522の頂上に付着され、同心軸
521と522の回転によつて切換えの為の回転
運動が行われる。尚ボールベアリング11は摩擦
を防止するために使用されている。
同心軸521と522は、ベルト514と52
4とを介してモーター513と523によつて回
転する。
4とを介してモーター513と523によつて回
転する。
接触端子と電圧電源との接続は、2列の接触端
子b1,b2…bnと、c1,c2…cnとの間から適宜選択
された接触端子biとcjに接触ピン511と521
と接触すること及び各接触ピン511と521と
が、それぞれ電圧電源4に接続されている配線用
スプリング81と82と接続することによつて行
われる。そして接触ピン511と521と上記接
触端子biとcjとの相対的位置は同心軸512と5
22を上下させることによつてコントロールされ
る。
子b1,b2…bnと、c1,c2…cnとの間から適宜選択
された接触端子biとcjに接触ピン511と521
と接触すること及び各接触ピン511と521と
が、それぞれ電圧電源4に接続されている配線用
スプリング81と82と接続することによつて行
われる。そして接触ピン511と521と上記接
触端子biとcjとの相対的位置は同心軸512と5
22を上下させることによつてコントロールされ
る。
第4a図に示す実施例では、接触ピン511は
アーム516、キヤツプ17を通して、配線用ス
プリング81に接続し、他方接触ピン521はア
ーム526、同心軸522、ボールベアリング1
1、スタンド13、バー14とを通じて配線用ス
プリングに接触している。
アーム516、キヤツプ17を通して、配線用ス
プリング81に接続し、他方接触ピン521はア
ーム526、同心軸522、ボールベアリング1
1、スタンド13、バー14とを通じて配線用ス
プリングに接触している。
各同心軸512,522の回転角度は、接触ピ
ン511,512の位置が上記接触端子bi,cjの
下にあるか否かを判別するために、ポテンシヨメ
ーター515,525によつて測定されている。
接触ピン511と512が上記接触端子biとcjと
の下に位置する場合には、ソレノイド7が印加さ
れ、同心軸512と522は、ソレノイド7と磁
石9との間で誘導された磁気による力によつて上
に上げられ、接触ピン511と521は、各同心
軸512と522と共に上昇し、上記接触端子bi
とcjに触れることになる。
ン511,512の位置が上記接触端子bi,cjの
下にあるか否かを判別するために、ポテンシヨメ
ーター515,525によつて測定されている。
接触ピン511と512が上記接触端子biとcjと
の下に位置する場合には、ソレノイド7が印加さ
れ、同心軸512と522は、ソレノイド7と磁
石9との間で誘導された磁気による力によつて上
に上げられ、接触ピン511と521は、各同心
軸512と522と共に上昇し、上記接触端子bi
とcjに触れることになる。
ここに、磁気による力は、バー14と第15の支
点15に関する回転モーメントによつて同心軸5
12と522に伝達される。
点15に関する回転モーメントによつて同心軸5
12と522に伝達される。
スタンド13上のボールベアリングは同心軸5
12が滑らかに回転するために使用される。
12が滑らかに回転するために使用される。
各接触ピン511と512が接触端子biとcjに
それぞれ接触した場合には、配線用スプリング8
1は、弾性的にキヤツプ17によつて接触され、
配線用スプリング82はバー14によつて弾性的
に接触され、各接触端子biとcjは、配線用スプリ
ング81と82を通して、電圧電源41に接続さ
れることになる。
それぞれ接触した場合には、配線用スプリング8
1は、弾性的にキヤツプ17によつて接触され、
配線用スプリング82はバー14によつて弾性的
に接触され、各接触端子biとcjは、配線用スプリ
ング81と82を通して、電圧電源41に接続さ
れることになる。
ソレノイド7に対する入力が切れた時は、同心
軸512と522は、自らの重力によつて下に下
がることになる。
軸512と522は、自らの重力によつて下に下
がることになる。
逆に同心軸512と522とが上げられていな
い場合には、各接触ピン512と522が接触端
子biとcjとからそれぞれ離れているために、配線
用スプリング81と82とは、同心軸512と5
22とに接続せず、各接触端子biとcjは電圧電源
に対し、接続されないことになる。又、配線用ス
プリング82はこのような電圧電源との接続の作
用とは別に接触ピン511と521が同心軸51
2と522とが接触ピン511と521とを接触
端子biとcjにそれぞれ接触させる際において、接
触端子biとcjを押す力を調整する作用を行う。
い場合には、各接触ピン512と522が接触端
子biとcjとからそれぞれ離れているために、配線
用スプリング81と82とは、同心軸512と5
22とに接続せず、各接触端子biとcjは電圧電源
に対し、接続されないことになる。又、配線用ス
プリング82はこのような電圧電源との接続の作
用とは別に接触ピン511と521が同心軸51
2と522とが接触ピン511と521とを接触
端子biとcjにそれぞれ接触させる際において、接
触端子biとcjを押す力を調整する作用を行う。
第4b図は、同心軸512と522の断面図を
示すがここに示されるように、同心軸512と5
22とは相互に接触しないよう設計されている。
尚第4a図に示されるように、同心軸512の上
部には、接触ピン511と521とが相互に短絡
しないよう絶縁体10が備えられている。
示すがここに示されるように、同心軸512と5
22とは相互に接触しないよう設計されている。
尚第4a図に示されるように、同心軸512の上
部には、接触ピン511と521とが相互に短絡
しないよう絶縁体10が備えられている。
第5a図は本考案の切換装置の他の実施例の構
成を示す。
成を示す。
第5a図においては第5b図に示されるように
下方から支持バネ83と84とによつて押された
接触ピン511と512とが、前記接触端子biと
cjに弾性的に接触し、ソケツト端子を切換る為
に、ソケツト基盤を摺動しながら回転運動を行
う。
下方から支持バネ83と84とによつて押された
接触ピン511と512とが、前記接触端子biと
cjに弾性的に接触し、ソケツト端子を切換る為
に、ソケツト基盤を摺動しながら回転運動を行
う。
第5a図においては、接触ピン511と512
とは常にソケツト基盤6に常に接触していること
になる。
とは常にソケツト基盤6に常に接触していること
になる。
しかし第4a図に関連して説明された方法に替
えて、接触ピン511と521及び電圧電源との
間の接続の開閉の為にはスイツチ12が用いられ
ている。
えて、接触ピン511と521及び電圧電源との
間の接続の開閉の為にはスイツチ12が用いられ
ている。
第4a及び第5a図に示される実施例において
は、集積回路の二つの端子は同心軸512と52
2の回転によつて可能となる。
は、集積回路の二つの端子は同心軸512と52
2の回転によつて可能となる。
これらの実施例においては、集積回路の端子と
電圧電源との間のリード線の長さは、リレー回路
を使う場合に比してはるかに短く設計することが
可能となり、リード線と地面との間の浮遊容量の
影響を最小限にすることができ、集積回路のダイ
オード特性の測定における誤差を最小限とするこ
とができる。
電圧電源との間のリード線の長さは、リレー回路
を使う場合に比してはるかに短く設計することが
可能となり、リード線と地面との間の浮遊容量の
影響を最小限にすることができ、集積回路のダイ
オード特性の測定における誤差を最小限とするこ
とができる。
このように本考案によつて、集積回路のダイオ
ード特性を比較的簡単な手法でしかも正確に測定
することができるので極めて便利である。
ード特性を比較的簡単な手法でしかも正確に測定
することができるので極めて便利である。
第1図は、集積回路の2端子間に対し、コンデ
ンサーに蓄積されたチヤージによるエネルギーを
放電する回路と集積回路のダイオード特性の測定
を行う回路を示す回路図である。第2図は、2端
子を適宜取上げる切換装置とプログラマーコント
ローラーを使用することによつて、第1図に示す
測定を自動的に繰返すことを示す回路図である。
第3図は、本発明のソケツトベースの実施例の平
面図である。第4a図は、本発明の切換装置の側
面図兼部分破断面図である。第4b図は、第4a
図によつて示される切換装置の実施例の同軸の断
面図である。第5a図は、本発明の切換装置の、
他の実施例の側面図兼部分破断面図である。第5
b図は、第5a図に示される接触ピンと配線用ス
プリングの部分の側面図兼部分断面図である。 1……集積回路、21,22……スイツチ、3
……電圧計、41……電圧電源、42……プログ
ラマーコントローラー、43……電流源、51,
52……ピン切換装置、511,521……接触
ピン、512,522……同軸回転軸、513,
523……ステツプモーター、514,524…
…ベルト、515,525……ポテンシヨメータ
ー、516,526……アーム、6……ソケツト
基盤、7……ソレノイド、81,82……配線用
スプリング、9……磁石、10……絶縁体、11
……ボールベアリング、12……スイツチ、13
……スタンド、14……バー、a1,a2…an……集
積回路の各端子の差し込み止めのソケツト、b1,
b2…bn,c1,c2…cn……2列の接触端子。
ンサーに蓄積されたチヤージによるエネルギーを
放電する回路と集積回路のダイオード特性の測定
を行う回路を示す回路図である。第2図は、2端
子を適宜取上げる切換装置とプログラマーコント
ローラーを使用することによつて、第1図に示す
測定を自動的に繰返すことを示す回路図である。
第3図は、本発明のソケツトベースの実施例の平
面図である。第4a図は、本発明の切換装置の側
面図兼部分破断面図である。第4b図は、第4a
図によつて示される切換装置の実施例の同軸の断
面図である。第5a図は、本発明の切換装置の、
他の実施例の側面図兼部分破断面図である。第5
b図は、第5a図に示される接触ピンと配線用ス
プリングの部分の側面図兼部分断面図である。 1……集積回路、21,22……スイツチ、3
……電圧計、41……電圧電源、42……プログ
ラマーコントローラー、43……電流源、51,
52……ピン切換装置、511,521……接触
ピン、512,522……同軸回転軸、513,
523……ステツプモーター、514,524…
…ベルト、515,525……ポテンシヨメータ
ー、516,526……アーム、6……ソケツト
基盤、7……ソレノイド、81,82……配線用
スプリング、9……磁石、10……絶縁体、11
……ボールベアリング、12……スイツチ、13
……スタンド、14……バー、a1,a2…an……集
積回路の各端子の差し込み止めのソケツト、b1,
b2…bn,c1,c2…cn……2列の接触端子。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 集積回路の端子を差し込む為の複数のソケツ
トと同心軸上に配列された2列の接触端子を有
するソケツト基盤を備え、2列の接触端子の各
接触端子は上記複数のソケツトの各対応するソ
ケツトに接続されていることを特徴とし、二つ
の接触ピンをそれぞれ回転運動させ、二つの各
接触ピンを二列の接触端子から適宜選ばれた二
つの接触端子に接触させる為の手段を備えたこ
とを特徴とする集積回路の端子切換装置。 (2) 二つの各接触ピンが、二つの各同心軸の頂部
にそれぞれ付けられており、かつ二つの各同心
軸の回転によりそれぞれ円運動を行うことがで
きることを特徴とする実用新案登録請求の範囲
(1)記載の集積回路の端子切換装置。 (3) 接触端子と電圧電源との接続が二つの各接触
ピンによつて二列の接触端子の内それぞれ任意
に選択された二つの各接触端子に接触すること
及び二つの各接触ピンによつて電圧電源に接続
されている二つの各配線用スプリングにそれぞ
れ接触することによつて行われ、二つの各接触
ピンと上記二つの各接触端子との相対的な位置
は二つの各同心軸を上下することによつて制御
されることを特徴とする実用新案登録請求の範
囲(2)記載の集積回路のソケツト端子切換装
置。 (4) ソレノイドと磁石との間に誘導された磁気に
よる力によつて各同心軸の上下が行われること
を特徴とする特許請求の範囲(3)記載の集積
回路のソケツト端子切換装置。 (5) 二つの支持ばねによつて下方から押されてい
る接触ピンが二列の接触端子の内から適宜選択
された二つの各接触端子に接触し、ソケツト基
盤を摺動しながら円運動を行うことを特徴とす
る実用新案登録請求の範囲(2)記載の集積回
路のソケツト端子切換装置。 (6) 各同心軸の回転角度がポテンシヨメーターに
よつて測定されることを特徴とする実用新案登
録請求の範囲(2)記載の集積回路のソケツト
端子切換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8698685U JPH0448543Y2 (ja) | 1985-06-11 | 1985-06-11 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8698685U JPH0448543Y2 (ja) | 1985-06-11 | 1985-06-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61203373U JPS61203373U (ja) | 1986-12-20 |
| JPH0448543Y2 true JPH0448543Y2 (ja) | 1992-11-16 |
Family
ID=30638790
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8698685U Expired JPH0448543Y2 (ja) | 1985-06-11 | 1985-06-11 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0448543Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-06-11 JP JP8698685U patent/JPH0448543Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61203373U (ja) | 1986-12-20 |
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