JPH0449570Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この考案は、高温雰囲気中での曲げ試験におい
て、試験片のたわみを直接測定することのできる
たわみ測定装置に関するものである。

（従来の技術） 高温雰囲気中での曲げ試験では、加熱炉内の曲
げ試験片のたわみを直接測定することが難しいの
で、従来は試験機のクロスヘツドの移動量やラム
ストロークを試験片のたわみとしていたが、この
ように試験片のたわみを間接的に測定する方法で
は、充分な測定精度が得られなかつた。

これを改良するものとして、先端部が試験片に
接触し、試験片のたわみとともに垂直方向に移動
するような検出ロツドを設け、この検出ロツドの
変位量を加熱炉の外部に設けた変位計で測定する
ように構成したたわみ測定装置が考えられてい
る。

（考案が解決しようとする問題点） 高温雰囲気中での曲げ試験では、加熱炉内にセ
ツトされた試験片を外部から観察することができ
ないのが普通である。一方、試験開始時には、試
験片を含む装置内の各部分の熱膨張によつて試験
片の位置等が変化するので、試験片を加熱した
後、各部分の熱膨張が安定した時点でたわみ検出
装置を試験片に接触させ、該検出装置の０点を調
整するようにしなければ、精度の高い測定を行な
うことができない。しかしながら、外部から見え
ない試験片に検出装置を接触させて０点を調節す
るのは実際上きわめて困難であり、従来の装置は
いずれも非常に操作性が悪いという問題点があつ
た。またセラミツクス等の微小曲げたわみを測定
するのも困難であつた。

（問題点を解決するための手段） 本考案は、上記問題点を解決するため、先端部
が曲げ試験片に接触し試験片のたわみとともに垂
直方向に移動する検出ロツドと、該検出ロツドの
変位を試験片から離れた位置で検出する差動トラ
ンス式変位計とを設け、前記検出ロツドには差動
トランス式変位計のコアを取り付けるとともに、
検出ロツドの後端部は該検出ロツドを試験片に対
し上下動させる移動装置に伸縮可能なばねを介し
て取り付け、前記差動トランス式変位計のコイル
は、前記コアの外周部に独立に上下位置調節可能
に設けた。

（作用） 検出ロツドを移動装置で前進させて試験片に接
触させると、その位置で検出ロツドの移動は停止
し、移動装置との間に介装されているばねのみが
変形する。検出ロツドの先端が試験片に接触した
ことは、差動トランス式変位計の出力信号が変動
しなくなることで確認できる。コイルがコアと独
立に上下位置調節可能に設けられているので機械
的に０点調節を行なうことが出来る。

（実施例） 第１図は本考案の１実施例をあらわすもので、
このたわみ測定装置１は、加熱炉２の内部に設け
られた支点部材３上に載置された試験片５の曲げ
試験に用いられ、試験中は、図示しないクロスヘ
ツドに取り付けられたポンチ７によつて試験片５
の中央部に下向きの負荷が加えられる。支点部材
３は、材料試験機のテーブル９上に固定された負
荷フレーム１０の上部に設けられている中空の負
荷ロツド１２によつて支持され、該負荷ロツドの
中空部１２ａには、中空の検出棒１４が挿通され
ている。この検出棒１４の上下両端部にはフラン
ジ１４ａ，１４ｂが一体に設けられ、その中空部
１４ｃの内径はこれらフランジ１４ａ，１４ｂの
位置で小径に絞られている。検出棒１４は、支点
部材３を上下に貫通してその基部３ａの上面側に
上部フランジ１４ａを係止した状態で支持されて
いる。負荷フレーム１０の内部には、ばね１６に
よつて吊られたコイル取付枠１７が設けられ、そ
の下面側に設けた凹部１７ａに前記検出棒１４の
下部フランジ１４ｂが係止されている。

断面概略コ字形のコイル取付枠１７の下部に
は、マイクロメータヘツド２０が設けられ、その
スピンドル２０ａの上端部にコイル支持具２１が
取り付けられている。コイル支持具２１の内側に
は、差動トランス式変位計２３の筒状のコイル２
５が固定されている。マイクロメータヘツド２０
を回せば、コイル支持具２１がコイル２５と一体
となつて上下動する。

コイル取付枠１７の前記マイクロメータヘツド
２０取付位置に隣接して、ねじ式の移動装置２７
が取り付けられている。移動装置２７は、芯部に
通孔２７ａが穿設され、下端部にツマミ２９が一
体に設けられている。ツマミ２９よりも上の小径
の部分は、外周部にねじ３０の設けられたねじ筒
部３１となつており、このねじ筒部３１がコイル
取付枠１７のねじ穴に螺合している。

前記中空の検出棒１４の内部には検出ロツド３
３が挿通されている。検出ロツド３３は、検出棒
１４の上下のフランジ１４ａ，１４ｂの内側の小
径部に摺動自在に嵌合しており、この小径部によ
つて案内される。検出ロツド３３の先端部は試験
中に試験片５の下面側に接触する尖端部３３ａと
なつている。検出ロツド３３の中間部の前記コイ
ル２５の位置付近には、差動トランスのコア３５
がコイル２５の内部に位置するように取り付けら
れている。検出ロツド３３の下部にはばね押え３
６が設けられ、このばね押え３６と移動装置２７
の上端面との間に、検出ロツド３３を上向きに押
すコイルばね３７が介装されている。なお、検出
ロツド３３の下端部は、移動装置２７の通孔２７
ａの上端部に形成されている小径部２７ｂに摺動
自在に嵌合し、この部分によつて案内されるよう
になつている。

このたわみ測定装置の使用に際しては、試験片
５を支点部材３の両支点３ｂ，３ｂ上に載せ、加
熱炉２を昇温する。炉内の温度が安定したら、ポ
ンチ７を下降させ、試験片の上面に接触させる。
これによって、試験片５が両支点３ｂ，３ｂとポ
ンチ７によつて固定される。

つぎに、移動装置２７のツマミ２９を回して検
出ロツド３３の尖端部３３ａを試験片の下面に接
触させる。検出ロツド３３の尖端部３３ａが試験
片５に接触した後は、ツマミ２９を回してもコイ
ルばね３７が収縮するだけで、検出ロツド３３が
移動せず、差動トランスの出力信号が変化しなく
なるので、これによって検出ロツド３３の試験片
に対する接触を知ることができる。検出ロツド３
３の尖端部が試験片５の下面に接触し、コイル２
５とコア３５によつて構成される差動トランスの
出力信号が安定したら、マイクロメータヘツド２
０を回してコイル２５を移動させつつ、差動トラ
ンスの出力を０点に合わせる。しかるのち、材料
試験機のクロスヘツドを下降させて試験片５に荷
重を加えてゆけばよい。荷重によつて試験片５が
変形するが、その変形量（たわみ量）はコイル２
５とコア３５の相対移動量としてあらわれ、差動
トランス式変位計２３の出力信号として取り出さ
れる。

このたわみ測定装置は、加熱炉の内部が安定し
た後、加熱炉の外部から検出ロツドを移動させて
試験片に接触したことを確認できる機能をそなえ
ているので、操作性がよく、正確な測定を行なう
ことができる。また、加熱炉の外部からの操作に
よつて、差動トランスを構成するコアとコイルを
移動させ機械的に０点調整を行なうことができる
ので、実用上便利である。

なお、上記図示例では、コア３５を検出ロツド
３３に取り付けたが、逆にコイル２５を検出ロツ
ド３３に取り付け、コアを独立に上下位置調節可
能に支持してもよい。また、このたわみ測定装置
１を、加熱炉以外の雰囲気槽内での試験片の曲げ
試験に使用することができることは云うまでもな
い。

（効果） 以上の説明から明らかなように、本考案にかか
るたわみ量測定装置は、加熱炉等の内部に支持さ
れている試験片のたわみ量を直接的に測定するこ
とができるとともに、外部からの操作によつて変
位計の検出ロツドを試験片に接触させ、その接触
を確認するとともに０点調整を行なうことができ
るので、測定精度と操作性が著しく向上し、実用
上便利なものとなつた。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の１実施例をあらわす断面図で
ある。 １……たわみ測定装置、２……加熱炉、３……
支点部材、５……試験片、７……ポンチ、９……
テーブル、１０……負荷フレーム、１２……負荷
ロツド、１４……検出棒、１６……ばね、１７…
…コイル取付枠、２０……マイクロメータヘツ
ド、２３……差動トランス式変位計、２５……コ
イル、３３……検出ロツド、３５……コア、３７
……コイルばね。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 先端部が曲げ試験片に接触し試験片のたわみと
   ともに垂直方向に移動する検出ロツドと、該検出
   ロツドの変位を試験片から離れた位置で検出する
   差動トランス式変位計とをそなえ、前記検出ロツ
   ドには差動トランス式変位計のコアが取り付けら
   れるとともに、検出ロツドの後端部は該検出ロツ
   ドを試験片に対し上下動させる移動装置に伸縮可
   能なばねを介して取り付けられ、前記差動トラン
   ス式変位計のコイルは、前記コアの外周部に独立
   に上下位置調節可能に設けられていることを特徴
   とする曲げ試験用たわみ測定装置。