JPH04502999A - 高信頼度トリップ動作を有する故障給電、プロセッサ制御遮断器トリップ方式 - Google Patents

高信頼度トリップ動作を有する故障給電、プロセッサ制御遮断器トリップ方式

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JPH04502999A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般的に遮断器に関し、より詳細には遮断器用プロセッサ制御トリップ 機構に関する。
背景技術 トリップ方式は遮断器で検出される電力故障に応答するように設計されている。
最も簡単なトリップ方式は電磁石を使用し短絡もしくは過負荷故障に応答して回 路をトリップさせる。電磁石はブレーカを流れる電流に応答して磁界を生じる。
電流値が所定の閾値を越えると、−組の遮断器接点を解除させる機構が磁界によ り“トリップ”されて、回路が“切られる”。
応答速度の遅いバイメタル片を使用した簡単なトリップ方式も多く、それはより 微妙な過負荷故障を検出するのに青用である。これはバイメタル片の反の度合い が遮断器の正確な熱履歴、従って僅かな電流過負荷をも表わすためである。一般 的に電流過負荷により発生する熱によりバイメタル片はトリップ機構内へ反って 回路を切る。
前記したトリップ方式は多くの簡単な遮断器応用に対しては適切であるが、より インテリジェントで柔軟性の高いトリップ方式に対する要望が高まっている。例 えば、今日多くの工場は定期的に交換もしくは移動される3相電力装置を備えて いる。従って、その装置に対する、電流閾値等の、遮断器トリップ仕様を調整し なければならない。このようにして、ユーザプログラマブルな柔軟性を提供する プロセッサペーストリップ方式が開発されている。
柔軟性を付与すると、プロセッサペーストリップ方式はある状況の元では不正確 もしくは信頼度の低い技術を使用して電力故障に応答して電流径路を遮断する。
例えば、故障給電、すなわち遮断器を流れる電流により給電されるプロセッサベ ース方式は、通常遮断器電流径路を切るためのソレノイドを使用している。代表 的に、電流径路内で電力故障が検出された後でしかプロセッサはソレノイドとの 保合を試みない。しかしながら、電力故障の後では、系統電力はソレノイドとう まく係合するのに不十分となることがある。係合の試みが失敗するだけでなく、 系統電力も消散する。
従来技術の方式は故障に対して敏感ではない独立電源を備えることにより、この ような信頼度問題を回避している。残念ながら、コスト及び保守の問題により独 立電源を採用できない応用が多い。
発明の要約 本発明の実施例に従って、故障給電トリップ方式はプロセッサが発生するトリッ プ信号に応答して電流径路を遮断するソレノイドを含んでいる。プロセッサはイ ンターフェイス回路を介して電流センサが供給する電流を分析して、いつトリッ プ信号を発生すべきかを決定する。
電源はソレノイドへ送出できる電力量を示す基準信号をプロセッサへ与える。ソ レノイドとの係合を試みる前に、プロセッサは基準信号値をチェックしてその時 電源が電流径路を遮断するのに充分な量の電力をソレノイドへ供給できるかどう かを決定し、ソレノイドの不適切な保合による電力損失を回避する。ソレノイド と係合するのに充分な電力値であれば、プロセッサは電流径路を遮断するトリッ プ信号を発生する。
図面の簡単な説明 発明の他の目的及び利点は添付図を参照として以下の詳細説明を読めば明らかで あり、ここに、第1図は本発明に従ったマイクロプロセッサベース遮断器トリッ プ方式のブロー/り図、 第2図は第1図のブロック図に示す遮断器トリップ方式の斜視図、 第3a図は第1図の手元ディスプレイ150を示す線図、 第3bは第3a図のLCDディスプレイ322を制御するように第3a図のディ スプレイプロセッサ316をプログラムする方法を示すフロー図、 第4図は第1図のアナログ入力回路108、地絡故障センサ回路110、利得回 路134及び電源122を示す路線図、 第5図は利得回路+34からの受信信号を第1図のマイクロコンピュータがサン プルする好ましい方法を示す線図、 第6a図は第4図の定格プラグ531の側面図、第6b図は第4図の定格プラグ 531の平面図、第7図は第1図の熱メモリ138を示す路線図、第8図は第1 図のリセット回路124を示す路線図、第9図は第1図のユーザ選定回路132 図である。
本発明はさまざまに修正を加えたり別の形式をとることができるが、特定実施例 を図示して詳細説明を行う。
しかしながら、本発明は開示される特定形式に限定されるのではなく、特許請求 の範囲に記載された発明の精神及び範囲に入る全ての修正、等偏力式及び代替方 式を包含するものとする。
本発明はユーザがプログラムすることのできる仕様に従って配電系統内の電流径 路を監視及び遮断するのに直接応用される。本発明はいかなる種類の電流径路に も役立つが、3相電流径路の監視及び遮断に特に青用である。
次に図面を参照として、第1図は電源人力102と負荷出力104を有する回線 106上の3相電流径路に使用する一体型マイクロプロセッサ制御トリップ方式 100のブロック図を示す。トリップ方式100はアナログ入力回路108及び 地絡故障センサ110を使用して電流径路106上の3相電流を検出する。トリ ップ方式が過負荷、短絡もしくは地絡状態を検出するか、もしくは電流径路を遮 断すべきと決定すると、ソレノイド112と係合して一組の接点114をトリッ プさせA。
B、C相電流径路を断つ。従って、接地径路もしくはオプショナルな中性線(N )を介した任意の地絡故障回路も断たれる。
第1図のトリップ方式(装置)100は電流径路を遮断すべき時期を決定するた めのいくつかの回路を使用している。この決定はイリノイ州、シャラムバーブの モトローラ社から入手できMC68HCII HCMOSシングルチップマイク ロコンピュータプログラマの参照マニュアル、1985年及びMC688CI  IA8アドバンス情報HCMOSシングルチップマイクロコンピュータ、198 5年に記載された、好ましくはMC68HCl1A1である、マイクロコンピュ ータ120において中央処理される。マイクロコンピュータ120を支援する周 辺回路にはトリップ方式100の健全性を立証するリセット回路124、マイク ロコンピュータ120内のアナログ/デジタル(A/D)回路に対して安定した 高信頼度の基準を与える電圧基準回路+26、マイクロコンピュータ120の動 作命令を記憶するROM128、及びROM128及びユーザ選定回路132を 含むさまざまな回路とマイクロプロセッサ120をインターフェイスさせる従来 のアドレス及びデータ複号回#+30が含まれる。アドレス及びデータ復号回路 】30は、例えば、アドレスデコーダ、部品N[174HC138、及び従来の 方法で8データビツトと交互に多重化される下位8アドレスビツトをラッチする 8ビツトラツチ、部品NCL74HC373、を含んでいる。ROMは、例えば 、部品Nf127C64である。ユーザ選定回路132によりユーザは、過負荷 及び不平衡位相故障状態等の、トリップ方式100に対するトリップ特性を指定 することができる。
動作上トリップ方式100は入力及び出力抑制回路105.107を介して、( 図示せぬ)従来の配電系線と接続される。入力抑制回路】05からの受信信号は 下流の遮断器が過負荷(もしくは過電流)状態にあることを示す。出力抑制回路 107は上流の遮断器へ信号を送ってそれ自体の状態及び全ての下流遮断器状態 を示すのに使用される。一般的に、下流遮断器が開いて状態をクリアするものと すれば、下流遮断器が過負荷(もしくは過電流)状態にある場合トリップ方式1 00はコンタクタ114のトリップを遅延させる。さもなくば、トリップ方式1 00はコンタクタ114のトリップを遅延させてはならない。restrain t−in/restraint−out (入力抑制/出力抑制)配電系統の詳 細についてはデュリベージ等の米国特許第4.706.155号を参照されたい 。
トリップ方式100に信頼度及び完全性を与えるための他の回路が前記回路と共 に使用されている。例えば、マイクロコンピュータ120は利得回路134と共 にアナログ入力回路108を使用して回線106の各相のRMS (実効値)を 流を精密に測定する。
アナログ入力回路108は回線+06上の電流を表わす位相信号A″、B″、C ゛を発生する。利得回路134各二重利得部を介して各位相信号A−,B−。
C′を増幅し、それからマイクロコンピュータ120はそのA/D回路を使用し て増幅された各信号を測定する。
各信号A−,B”、C”に対して2つの利得段を提供することにより、マイクロ コンピュータ120は任意所与の時間において必要な分解能に応じて各電流位相 に対する高利得もしくは低利得測定を既座に行うことができる。
アナログ入力回路108はトリップ方式100に信頼度の高い電源を提供するた めにも使用される。
回線106から引き出される電流を使用して、アナログ入力回路108は電源1 22により作動してトリップ方式100へ3つの電力信号(VT、+ 9 VE t、U+ 5 V)を与える。電力信号VTはデコード回路】30を介してマイ クロコンピュータ120により監視され、システムの信頼度を高める。
システムの信頼性はマイクロコンピュータ120が相互作用してバイメタル反り 機構をシミュレートする熱メモリ138を使用してさらに高められる。熱メモリ 138はマイクロコンピュータ120への給電か遮断される場合にトリップ方式 100内の熱の正確な2次評価を与える。
地絡故障センサ110は回線106の1本以上に存在する地絡故障を検出してマ イクロコンピュータ120へ報告するのに使用される。ユーザ選定トリップ特性 を使用して、マイクロコンピュータ120はコンタクタ114をトリップさせる のに充分なレベルで充分な時間だけ地絡故障が存在するかどうかを決定する。マ イクロコンピュータ120は地絡故障遅延時間をその内部RAMに累積する。停 電中にある期間だけ地絡故障履歴を保存するためにRAM保持回路140が使用 される。
RAM保持回路140はマイクロコンピュータ120に組み込まれた能力を利用 して、そのMOPDB/Vstby入力141に外部供給電圧が加えられている 場合にその内部RAMの内容を保持する。この外部供給電圧は6,2にΩ抵抗器 】45を介して+9V給電により充電される150μF電解コンデンサ143に 蓄えられる。コンデンサ143は+9v給電により充電され、ダイオードにより +5■給電にクランプされてパワーアップ中に急速に放電するようにされる。
内部RAMに記憶された地絡故障遅延時間はおよそ3.6秒よりも長く続く停電 の後では問題にならない。
このような停電が生じているかどうかを調べるために、RAM保持回路140は ある時定数を確立する抵抗器161とコンデンサ153、及びコンデンサ153 を放電させるのに充分な時間だけマイクロコンピュータ120への給電が断たれ ているかどうかを感知するシュミットトリガ−インバータ155を含んでいる。
パワーアップ中にマイクロコンピュータがシュミットトリガ−155を読み取っ てから間もなく、コンデンサ153はダイオード157及びプルアップ抵抗器1 59を介して再充電される。要素の好ましい値は、例えば、抵抗器161は36 5にΩ、コンデンサ153はlOμF、シュミットトリガ−155は部品NCL 74HC14、ダイオード157は部品NIILIN4148、抵抗器159は 47にΩである。
トリップ方式100のもう一つの重要な局面はそれ自体とユーザとの間で情報を 転送する能力である。この情報には回線106のリアルタイム電流及び位相測定 値、トリップ方式100のシステム構成及びトリップ原因(マイクロコンピュー タ120がコンタクタ114をトリップさせた理由)の履歴に関する情報が含ま れる。前記したように、リアルタイム回線測定値はアナログ入力回路108及び 利得回路134を使用して精密に決定される。トリップ方式100のシステム構 成と他の関連情報はROM128及びユーザ選定回路132から容易に得ること ができる。トリップ原因の履歴に関する情報は持久型トリップメモリ144から 得ることかできる。この種の情報はユーザのために手元ディスプレイ150上に ローカルに表示されるか、もしくはリモートインターフェイス160を介して従 来のディスプレイ端末162に遠隔表示される。ディスプレイ端末162と通信 を行うために、トリップ方式はマイクロコンピュータ120内部の非同期通信イ ンターフェイスを使用する。MC68HC11を使用して、シリアル通信インタ ーフェイス(SCI)を利用することができる。
第2図は遮断器一体もしくは枠210内で使用されるトリップ方式100の斜視 図である。相電流A、B、 Cヲ運ぶ回線(106)はアナログ入力回路108 の一部である埋設された変流器510.512.514(破線)を通過する。( やはり、破線で示す)ソレノイド112が回線106の電流径路を断つと、ユー ザは遮断器ハンドル220を使用して電流径路を再接続する。
遮断器ハンドル220を除けば、トリップ方式100とユーザ間のインターフェ イスはスイッチ盤222、LCDディスプレイuaoo及び通信ボート224に 含まれている。スイッチ盤222はユーザがユーザ選定回路132内の2進化l O進(BCD)ダイアル(第8図)を調整できるようにするアクセス孔230を 提供する。
通信ボート224は(図示せぬ)光リンクを介してディスプレイ端末162へ情 報を転送するのに使用することができる。
次節で、トリップ方式100をさらに詳細に説明する。
A1手元ディスプレイ 第3a図は第1図の手元ディスプレイ150の路線図である。手元ディスプレイ 150はトリップ方式100の残部から物理的に分離されているが、従来のコネ クタ組立体310を使用してそこに接続されている。コネクタ組立体310には マイクロコンピュータ120から手元ディスプレイ150への複数の通信回線3 12が接続されている。これらの回線312にはトリップ方式接地、電源122 からの+5v信号、ディスプレイプロセッサ316の直列通信回線、及びラッチ 320のデータ回線318が含まれる。データ回線318は回線318のもう1 本によりラッチ320ヘクロツクされる4本のトリップ表示回線(過負荷、短絡 、地絡及び位相不平衡)を含んでいる。
LCDディスプレイ322はラッチ320及びディスプレイプロセッサ316か ら与えられる状態情報を表示する。ライスコンシル州、レークミルズのハムリン 社から入手できる組合せスタティックドライブ/マルチブレラスカスタムもしく はセミカスタムLCDを含むさまざまなデバイスを使用してLCDディスプレイ 322の異なるセグメントを実施することができる。カスタムもしくはセミカス タムディスプレイの詳細情報については、ラッチ320はセグメント370〜3 73を制御して上記トリップ状態をそれぞれ表示する。これらの各セグメント3 70−373はLCDドライバ回路326及び発振器回路328を使用してラッ チ320により制御される。対応するセグメント370〜373はラッチ320 からの関連する出力信号が論理ハイレベルにある時に照光する。
ディスプレイプロセッサ316は回線106を流を表示する電流計として4個の 7セグメントデジツト317を制御する。ディスプレイプロセッサ316は、例 えば、4ビットCMOSマイクロプロセッサ及び2K ROMを含むNEC部品 隘UPD7502 LCDコントローラ/ドライバである。このNEC部品は、 カリフォルニア州、マウンティンビューのNEC社から入手できる322の他の セグメント375はディスプレイプロセッサ31Bもしくは他の手段により制御 してさまざまな種類の状態メツセージを表示することができる。
例えば、押釦スイッチ311を使用してバッテリ338をテストすることができ る。このテストを行うには、バッテリ338をダイオード313を介してセグメ ント375の一つに接続し、スイッチ311を押下するとバッテリの状態が表示 されるようにする。好ましくは、押釦スイッチ311を押下するとラッチ320 がリセットされる。このため、スイッチ311はトランジスタ315を励起する 。ラッチは、例えば、40174集積回路である。
さらに、スイッチ311を使用してLCDディスプレイ322上に表示される相 電流を選定し、セグメント375が4個の7セグメントデジツト317上に表示 される回線106の相電流(A、B、CもしくはN)を識別するように制御する ことができる。このため、スイッチ311はトランジスタ327を励起してバッ テリから与えられる信号を反転させディスプレイプロセッサ316を遮断する。
ディスプレイプロセッサ316が遮断されるたびに、表示される相電流は、例え ば、A相−B相−C相−地絡故障−A相等へ変化する。
電流径路の最大許容連続電流の1%を示すオプショナルバーセグメント324が LCDディスプレイ322内に含まれている。バーセグメント324は独立した LCDドライバ330を介して+5V信号により制御される。
LCDドライバ330は発振器回路328と共にLCDドライバ326と同様に 作動する。しかしながら、LCDドライバ330及び発振器回路328は、およ そ2〜3vの比較的低い動作電圧で作動する。モトローラ社から入手できるMC l 4070集積回路を使用してLCDドライバ330,326を実施すること ができる。従って、トリップ方式が充分な作動電力(もしくは電流)をディスプ レイプロセッサ316に供給できない場合でも、LCDドライバ330はまだバ ーセグメント324を駆動することができる。定格トリップ電流のおよそ20% よりも低い電流が回線106を介して負荷へ通されることをトリップ方式が検出 する時は常にLCDドライバ330はバーセグメント324を駆動する。
別の実施例として、バーセグメント324はLCDドライバ330を断路して作 動不能とすることができる。
さらに、バーセグメント332〜335がディスプレイプロセッサ316により 駆動され、定格トリップ電流の少くとも20〜40%、40〜60%、60〜8 0%及び80〜100%が回線106を介して負荷へ通される時をそれぞれ表示 する。
発振器328はまた、例えばそれぞれ、IMΩ、IMΩ及び0.001μFの値 を有する抵抗器329.336及びコンデンサ331を含む標準CMOS発振器 回路内に部品NllMCl 4070を使用する。
たとえ電力故障によりシステムがトリップして回線106上の電流を遮断した場 合でも、手元ディスプレイはまだ限定ベースで作動することができる。この持続 動作はバッテリ338を第2の電源として使用して行われる。バッテリは、例え ば、突出した17年の寿命を有する3〜3.6vリチユウムバツテリである。バ ッテリ338は2つの状態すなわち、(1)、ラッチ320がマイクロコンピュ ータ120からトリップ信号を受信している(すなわち、テストスイッチ311 が励起されている)、(2)、+5V電源の出力電圧値がバッテリ338の電圧 値よりも低い、が存在する場合のみ手元ディスプレイ150の一部へ給電する。
ラッチ320がデータ回[312からの4本のトリップ表示線の任意の1本をラ ッチすると、ラッチ出力線340上に制御信号か発生ずる。制御信号は電子スイ ッチ342をオンとし、それによりダイオード344が順バイアスされている限 りバッテリ338はVccで給電することかできる。
第2の状態も存在する時は常にダイオード344は順バイアスされる。従って、 +5Vt源の出力電圧がバッテリ338の電圧値よりも低ければ、ダイオード3 44は順バイアスされバッテリ338は手元ディスプレイ150へ給電する。さ らに、パワーアップ回路348 +:より励起されるスイッチ346により+5 ■信号がVccで給電できるようになるまで、ダイオード344は順バイアスさ れる。パワーアップ回路348はディスプレイプロセッサ316をリッセトさせ た後でのみ電子スイッチ346を励起する。パワーアップ回路348は、例えば それぞれ620にΩ、300にΩ及びIOMΩの値を有する抵抗器349.35 1.353と一緒に作動する部品klcL7665である。
VCCからラッチ320、LCDドライバ326、LCDドライバ330、及び 発振器回路328のみへ給電が行われる。LCDドライバ330及び発振器回路 328はダイオード350.352を介した+5Vt源出力もしくははバッテリ から受電する。この構成により、ユーザは任意の電力故障状況中にトリップ方式 100の状態を見ながらバッテリ338から電流の流出を最小限とすることがで きる。
コネクタ310がバッテリ338の負端子の接地接続を行うため、バッテリ33 8がコネクタ310を介してトリップ方式の残部と相互接続されない限りバッテ リ338から電力を引き出すことは出来ない。手元ディスプレイ150のこの局 面によりバッテリ寿命はさらに延びシステムの保守が少くなる。
第3b図において、フロー図はディスプレイプロセッサ316好ましいプログラ ミングを示す。フロー図はブロック376で開始され、そこでディスプレイプロ セッサの内部メモリが初期化される。メモリ初期化は内部RAM、入出力ポート 及び遮断及びスタックレジスタをクリアすることを含んでいる。
ブロック378において、ソフトウェアタイマがリセットされディスプレイプロ セッサは第1図のマイクロコンピュータ120からデータが受信されていること を示すデータレディフラグを待機する。ソフトウェアタイマはディスプレイプロ セッサの健全性を維持する従来のソフトウェアウオッチドツク機能を提供する。
ソフトウェアタイマが(ある時間内に)定期的にリッセトされない場合には、デ ィスプレイプロセッサ自体がリセットする。
データレディフラグは第3b図のブロック390〜398に示す割込みルーチン で設定される。第1図のマイクロコンピュータ120からデータを受信する時割 込みルーチンを実行するようにディスプレイプロセッサはプログラムされている 。割込ルーチンのブロック390において、受信したばかりのデータバイトはマ イクロコンビ二一タから送られたパケットの最終データバイトであるかを決定す るテストが行われる。受信したばかりのデータバイトが最終データバイトでなけ れば、フローはブロック398へ進みそこでreturn−from−inte rrupt命令が実行される。受信したばかりのデータバイトが最終データバイ トであれば、フローはブロック392へ進む。
ブロック392において、受信したデータパケットの完全性を決定するテストが 行われる。これは予め受信した7バイトの8ビツト和を最近受信したバイト(最 終バイト)と比較し行われる。8ビツト和と最終バイトが異っておれば、フロー はブロック398へ進む。8ビツト和と最終バイトが同じであれば、ディスプレ イプロセッサは、ブロック396に示すように、前にデータレディフラグと呼ん だフラグを設定しブッロク398を介して割込みからブロック380へ戻る。
ブロック380において、受信データはメモリ内に記憶されデータレディフラグ がリセットされる。
ブロック382及び384において、ディスプレイプロセッサは従来の変換技術 を利用して記憶されたデータをBCDフォーマットへ変換し、第3a図のLCD ディスプレイ322に表示する。
第1図のマイクロコンピュータ120から受信されるデータに示すように、送出 されてLCDディスプレイ322に表示されるデータは3相電流及び地絡故障電 流の各々をシーケンスするスイッチ311を使用してオペレータが選択する。
ブロック386において、ディスプレイプロセッサはセンサー識別、定格プラグ 型式及び長時間ピックアップ値を含む受信データを使用して、第1図の回線10 6上を運ばれる定格トリップ電流の%を決定する。ブロック388において、こ の決定に応答してディスプレイプロセッサによりバーセグメント(第3a図の3 24及び332〜335)が駆動される。ブロック388から、フローはブロッ ク378へ戻る。
第3b図のブロック400〜406はスイッチ311の押下に応答してディスプ レイプロセッサが実行するようにプログラムすることができる第2の割込みルー チンを表わす。この第2の割込みルーチンのブロック400において、ディスプ レイプロセッサはスイッチ311の押下によりオペレータがとの相(もしくは地 絡故障)電流を選定したかを決定する。ブロック402.404において、ディ スプレイプロセッサはそのI10ボートを監視してスイッチ311が解除される 時を決定し、スイッチ311から受信した信号をデバウンス(debounce )する。ブロック406において、ディスプレイプロセッサは割込みコマンドか らのリターンを実行する。
ディスプレイプロセッサ316は手元ディスプレイ+50にとってオプショナル であり従ってその動作にとって必要ではないことをお判り願いたい。さらに、手 元ディスプレイ150自体がトリップ方式のオプションでありトリップ方式を作 動させるのに必要ではない。
B、電流及び地絡故障検出 第4図は第1rEiのアナログ入力回路108、地絡故障センサ110、電源1 22及び利得回路134の拡大図である。これらの各回路は3相電流回線106 から受電する。この電力を使用して、こられの回路は信号を与えそれらからトリ ップ方式100は:(1)、回線106の位相及び電流値を決定し、(2)、任 意の地絡故障の存在を検出し、(3)、系統電力を供給し、(4)、その電流定 格を確立する。
(1)8位相及び電流値を決定する。
第4図において、アナログ入力及び地絡故障感知回路108.110は回J11 106に適切に隣接配置され各相電流径路A、B、Cからエネルギを受けれる変 流器510.512.514を含んでいる。各変流器510.512.514は 一定の比率で1次電流に比例する電流出力を生じるように構成されている。この 比率は1次電流が定格変流器サイズ(もしくはセンササイズ)の100%である 時に、変流器が定出力電流値を生じているように設定される。例えば、200A 遮断器に対して、各変流器510.512.514は100%(20OA)で作 動している時は100%(4000A)で作動している4000A遮断器内の変 流器と同じ電流出力信号を発生する。好ましい構成では1次電流が定格電流の1 00%である場合に282.8mA (RMS)の変流器出力電流が生じる。
変流器510.512.514から生じる出力電流は地絡故障感知トロイド50 8、全波整流器ブリッジ516.518.520及び電源122を介してトリッ プ方式接地へ通される。出力電流はトリップ方式接地から負担抵抗器構成530 を介して戻される。地絡故障感知トロイド508は変流器510.512.51 4からの出力電流を加算する。中性(N)線108を使用するシステムでは、地 絡故障感知トロイドは中性線(N)に接続されて任意の戻り電流を感知する変成 器506からの出力電流をも加算する。この電流加算を表わす信号が出力巻線5 09に生じ、第4の整流器ブリッジ522へ運ばれる。整流器ブリッジ522は 地絡故障状態を検出するのに使用され、本節の第2部で検討される。
整流器ブリッジ516〜522の右(正)側で、正の相電流信号が発生されリー ド524において一緒に加えられる。リード524の電流は電源122に使用さ れ、それについては本節の第3部で検討する。
整流器ブリッジ516〜520の左(負)側で、負位相電流信号が負担抵抗器構 成530及びトリップ方式接地へ通され、電源122を介して整流器ブリッジ5 16〜520へ戻される。この電流径路は、各々が負担電圧と呼ばれる、電圧信 号A−,B−,(、”を確立しそれらは利得回路134を介してマイクロコンピ ュータ120により測定される。
第4図において、信号A−,B”、C−は各二重利得部へ送られて反転及び増幅 される。第4図の利得回路134は、一般的に符号533に示す、3つの同じ二 重利得部の一つを拡大して示しである。二重利得部533は位相信4!A″を受 信する。各二重利得部は一対の低域フィルタ532及び一対の増幅器534.5 36を含んでいる。低域フィルタ532はノイズ抑制を行い、増幅器534.5 36は、所望の分解能に対し、信号の大きさをそれぞれ0.5倍及び3倍に増減 する。この構成により、マイクロコンピュータ120は任意の利得回路を変える 時間を浪費することなくこれらの電流値を瞬時に測定することができる。要素の 好ましい値は、例えば、抵抗器541.543.545.553はIOKΩ、抵 抗器547.559は4.75にΩ、抵抗器557は60にΩ、コンデンサ54 9.561は0,03μFである。増幅器551,663は、例えば、部品N[ L L M124である。
利得回路!34を使用して、マイクロコンピュータ120は信号A=、B”、C ”に展開される負担電圧をサンプルすることにより回線106上のRMSt流値 を測定する。RMS計算は次式に基いている。
二重に、 N=サンプル数 1=(サンプルレートにより定まる) 個別間隔の時間 I(t)=遮断器を流れる電流の瞬時値遮断器を流れる電流は一定の時間隔でサ ンプルされ、従って、1 (t)が展開される。この瞬時電流サンプルの値は二 乗され、一定数のサンプルNの他の二乗サンプルと加算される。この和の平均値 はそれをNで除して得られる。次に、平均値の平方根をとることにより最終2M S電流値が得られる。
第5図に、100Aの尖頭振幅を有する60&信号の1.5サイクルに対する整 流された正弦波電流波形の例を示す。サンプルされた電流は全波整流されている 。垂直線は電流値がサンプルされる個別の時点を示す。
0.5mSのサンプルレートで、25mSの時間にわたって、50サンプルがと られる。
第1表において、第4図からのサンプルに対するデータをI (t)(Amps )列に示す。
1(t)二乗(A)(1(t)SQUARED (Amps))列は二乗値を与 え、加算(A)(Summa ti on (Amps))列は二乗電流値の時 間累積を示す。
第1表の下段に示す和の平均値はサンプル数50で除した最終累積値に等しい。
この値の平方根は70.7106854となり、それは誤差が0.00001% 以下である。
第1表の他の列は100Aが255バイナリに等しい比率を使用してマイクロコ ンピュータが処理する2進等価データの詳細である。
■、。の値は1=0からt=Nまでに存在した電流波形の加熱効果を正確に反映 する。この電流波形は代表的に50〜60七の基本周波数を有する交流波形であ るが、多くの高調波(すなわち、基本周波数の倍数)を含むことがきる。
実施例では、サンプルレート及びサンプル数を含むいくつかの要因がI *xs 計算の精度に影響を及ぼす。実施例では、サンプルレートは2,000Hzであ り電流の大きさを評価する前に少くとも128サンプルがとられた。
(2)、地絡故障の存在を検出する。
地絡故障感知トロイド508は入力巻[540,542,544からの電流信号 を磁気的に加えて、回線106上に地絡故障が存在するかどうかを表示する。ト ロイド508は4個の同じ入力巻pA540.542.544.546により構 成され、各変流器51O5512,514に対して1個ずつとオプショナルな中 性電流径路変成器506に対するものとである。トロイド508は加算された電 流信号を与える1個の出力巻線509を有している。
地絡故障感知トロイド508は端子552にテスト信号を加えられるようにする もう一個の巻線550を含んでいる。瞬時スイッチ554を使用して、テスト信 号はトリップ方式に対する擬似地絡故障を生成する。トリップ方式は真の地絡故 障と同様にこの擬似地絡故障に反応する。テスト巻線550は加熱されると抵抗 値が増大する正係数抵抗器556により保護され、それと巻線550を流れる電 流を制限する。正係数抵抗器は、例えば、キーストン、PTC可復帰ヒユーズ、 部品NcLRL3510−110−120−PTFである。テスト巻線により従 来技術のシステムで使用されている独立したテスト変成器が不要となる。
地絡故障感知トロイド508の動作は地絡故障がある場合及び無い場合のトリッ プ方式の動作を考慮すれば良く理解できる。地絡故障の無い平衡3泪方式の場合 、各相の電流の大きさは等しいが互いに120°位相がずれており、中性電流は 存在せず従って出力巻線509は電流を発生しない。任意の位相(A、Bもしく はC)を流れる電流が増大すると、中性径路の電流はベクトル的に大きが等しい が相電流増大方向とは反対となり、磁気的和はゼロのままである。地絡故障が存 在すると、電流は何げない径路を通って接地物体へ流れ、中性変成器506をバ イパスして変圧器509内に電流信号を生じる。従って、変圧器509は地絡故 障が存在する場合のみ電流信号を発生する。
地絡故障感知トロイド508の出力変圧器509からの電流信号は整流器ブリッ ジ522、電源122を通り、負担抵抗器構成530を介して戻される。負担抵 抗器構成530及び整流器ブリッジ522はその電流信号を交流整流信号558 へ変換し、それはトリップ方式接地に対して反転されており変圧器509の電流 に比例する電圧を有している。
交流整流信号558はフィルター560によりノイズ抑制され、次にアナログイ ンバータ562を使用して反転される。アナログインバータ562から、正とな る信号がマイクロコンピュータ120のA/D入カへ送られる。マイクロコンピ ュータ120はアナログインバータ562の出力の尖頭値を測定して地絡故障の 存在を検出する。従来の分圧器スイッチ564がマイクロコンピュータ120に より制御されて、厳しい地絡故障状態の元で要求されるように、その信号を2/ 3へ選択的に低減する。要素の好ましい値は、例えば、抵抗器565.567は IOKΩ、抵抗器569は20にΩ、抵抗器573は19.6にΩ、抵抗器57 5はIOKΩ、コンデンサ577は0.033μF1増輻器579は部品NαL M124、LGFET581は部品NaB5170である。
(3)、系統電力を供給する。
トリップ方式の電力は回線106を介した電流から直接供給され、回線106の 任意の1本の電流を使用することができる。この特徴によりトリップ方式は3相 のいずれか一つの相でパワーアップすることができ、一つ以上の位相線106に 地絡故障が存在する場合に給電することができる。
変流器510,512.514により誘起される出力電流は整流器ブリッジ51 6.518.522へ通されて電源122電流を提供する。整流器ブリッジ51 6〜522の右側、リード524において、出力電流は加算されダーリントント ランジスタ568.9.1Vツエナーダイオード570及びバイアス抵抗器57 2へ直接供給される。この電流の大部分はトランジスタ568を介して直接大地 へ流れ、トランジスタ568のベースに9、IVの定電圧を生じる。公称エミッ ターベース電圧(Veb)はおよそ1.OVであるため、トランジスタ568の エミッタはおよそIOVである。トランジスタ568はそこを流れる電流に無関 係にエミッターコレクタ間に】OVを維持しようとする。好ましい要素の値は、 例えば、ダーリントントランジスタ568は部品Nα2N6285、ツェナーダ イオード570はlN4739、抵抗器572は220Ωである。
トランジスタ568のエミッタにおいて、電力信号VT(“トリップ電圧”)が 与えられる。
+5v信号は調整された+SVtSVt借出力信号、それは電圧調整器571  (部品嵐LP2950ACZ−5,0)及び調整器571の出力の振動を防止す るコンデンサ582を使用して供給される。電圧調整器はダイオード576を介 してVTからその入力をとる。ダイオード5761tVTの1ダイオード降下( 0,6V)以内にコンデンサ584を充電しておよそ+9vの第2の電源を生成 し、それは+9v電源と呼ばれる。コンデンサ584に蓄えられたエネルギによ り電子回路は+eVt源により給電されて、トリップが生じた後しばらく給電さ れ続ける。トランジスタ568のエミッタに接続されたコンデンサ574は電圧 リップルを濾波するのを助ける。コンデンサ574はマイクロコンピュータ(第 1図の120)もしくはつtッチドッグ(Watchdog)回路(第8図の7 12)からの“トリップ′信号によりパワーICFET583がオンとされる時 に励起されるソレノイド112のエネルギ蓄積素子としても使用される。トリッ プ信号は各ダイオード591,593により結合される。ソレノイド112はま た、部品NcLI N 5246等の、16Vツエナーダイオード595が感知 する過電圧状態によっても励起される。要素の好ましい値は、例えば、コンデン サ574は220μF1コンデンサ584は100μF1コンデンサ582は1 0μF1抵抗器585は100KΩ、抵抗器589はIOKΩ、コンデンサ58 7は0.1μF1 IGFETは部品尚6660である。
ダイオード576.578はオプショナルな外部電源(図示せず)から電流を受 電するのに使用される。
(4)、電流定格を確立する。
整流器ブッリジの左側において、ブリッジからの負位相信号(A=、B″、C゛ )が定格プラグ531を含む負担抵抗器構成530へ送られ、トリップ方式の電 流定格を設定する。前記したように、1次電流がユーザ選定回路132を使用し て指定した定格電流すなわち“センサーサイズ′の100%であれば、変流器出 力電流は282.8mA (RMS)となる。従って、マイクロ)ンビュータ1 20が利得回路134(第1図)を使用して負担電圧を読み取ると、マイクロコ ンピュータ120は回線106の実際の電流を計算することができる。
第4図は回#1106を通る最大許容連続電流を確立するのに使用される各抵抗 器527.529間の並列接続を示す。抵抗器527は定格プラグ531の一部 であり、抵抗器529は定格プラグ531から独立している。抵抗器529は、 例えば、各々が4.99Ω、1%、5W抵抗器である。この値は地絡故障信号に 対する負担抵抗器525の対応する12.4Ωの値と比較しなければならない。
定格プラグの抵抗器527は抵抗器529と並列接続され、従って合成抵抗値が 低減する。従って、抵抗器529 ) IJ ノブ方式の最小電流定格を設定す る。実施例において、例えば、最小電流定格は最大電流定格の40%に対応する 。定格プラグ内の抵抗器527はマイクロコンピュータが読み取った電圧(A− 、B”、C”’)を校正する。これにより、マイクロコンピュータ内のA/Dコ ンバータの分解能は最小及び最大電流定格に対して定格電流の端数まで同じとす ることができる。従って、最小電流定格に対してコンバータの分解能は全く犠牲 にされない。
第6a図及び第6b図において、定格プラグ531は印刷回路板587上に載置 された抵抗器527を含んでいる。定格プラグをトリップ方式100の残部と相 互接続するのにコネクタ588が使用される。定格プラグがトリップ方式から離 れると、トリップ方式はその最小定格へ戻る。
定格プラグ531はさらに銅製の可溶性印刷回路リンク(copper fus ible printedcircuit 11nks)A、B、C,Dを含み 、それらは印刷回路接続589から選択的に断路(開放)されて、負担抵抗器構 成530内の抵抗器の値、すなわち負担電圧/電流比をマイクロコンピュータ1 20に知らせる。印刷回路接続589はコネクタ588の一つの接点を介して+ 5V信号に接続される。この接続589によりトリップ方式は印刷回路リンクA 、B、C,Dを2進論理でコード化し、各並列抵抗器構成の16の値の一つがそ こから定義されるようにすることができる。実施例において、2進コード“11 11”及び“1110”はテストの目的で保存され、14のコード”o o o  o”〜“1101”は次のように0.400〜1.000の電流定格乗数に対 応する。
コード 電流定格乗数 第9図のユーザ選定回路132はマイクロコンピュータ120が定格プラグ53 1から2進コード化抵抗値を読み取るのに使用するインターフェイスを含んでい る。
3状態バツフア820によりマイクロコンピュータ120は定格プラグ531上 の4本の可溶性印刷回路リンクの状態を表わす4本のリードの各々の論理値を選 択的に読み取ることができる。可溶性印刷回路リンク+5V信号間の接続により 与えられるバッファ820の入力の論理ハイは対応するリンクが閉成しているこ とを示す。バッファ820の入力のプルダウン抵抗器826により与えられるバ ッファ820の入力の論理ローは対応するリンクが開放されていることを示す。
可溶性印刷回路リンクA、B、C,Dは電流発生器を使用して開放して過剰な量 の電流をリンクへ送り、銅リンクを焼損させることができる。好ましくは、これ は定格プラグ531をトリップ方式内に設ける前に行われる。従って、一度設置 すると、定格プラグ531はマイクロコンピュータ120にその抵抗値を自動的 に知らせ、任意の設定や使用する定格プラグの型式をマイクロコンピュータに知 らせる必要がなくなる。マイクロコンピュータは2進コード化抵抗値に対応する 所定の校正係数によりそのA/Dコンバータから読み取られる値を調整して、定 格プラグ531内の抵抗器の値とは無関係な実際の電流値を計算することができ る。
(C)、バイメタルの反りのシミュレーションマイクロコンピュータ120は無 プロセッサトリップ方式に一般的に使用されているバイメタル反り機構を正確に シミュレートするようにプログラムされている。これはアナログ入力回路108 が感知する測定された電流サンプルの二乗値を累積して行われる。この電流の二 乗値の和はトリップ方式100内に蓄積された熱に比例する。
冷却中のバイメタルの反りをシミュレートするために、マイクロプロセッサ12 0は電流の二乗の累積を対数的に減分するようにプログラムされている。すなわ ち、サンプリング期間中に、熱損失率は周囲温度よりも高い電力系統導体の温度 に比例するという事実を考慮してI(t)!の累積値AはAに比例する量だけ減 分される。
特に、トリップ方式100内の温度は切られるもしくは中断される回線106内 の電流径路に応答して低下・する。
しかしながら、これが生じると、マイクロコンピュータ120は動作電力を失っ てこの数値シミュレーションを維持できな(なる。
この問題はマイクロコンピュータ120への動作電力が失われる所定期間だけ累 積電流の覆歴を維持する第1図の熱メモリ138を使用して克服される。第7図 に示すように、これはマイクロコンピュータ120が監視且つ制御して電流の二 乗の累積に比例する電圧をコンデンサ611に維持するRC回路610を使用し て行われる。
マイクロコンピュータの電力が失われると、RC回路610の両端間電圧は対数 的に減衰する。(減衰はV=v0exp (−t/RC)式に支配される。)電 圧が0に達する前にマイクロコンピュータが再びパワーアップすると、マイクロ コンピュータ120は従来のアナログバッファ612を使用してRC回路610 両端間電圧を読み取りその遅延アキュムレータを正しい値へ初期化する。アナロ グバッファは、例えば、部品NaLM714の増幅器627及び4,7にΩ抵抗 器629を含んでいる。
100μFコンデンサ611及び3.24MΩ抵抗器613を含む好ましいRC 回路610は324秒、すなわちおよそ5.4分、の定時定数を与える。
RC回路610の電圧制御はそれぞれ部品kVP0808及びB5170等のT GFET)−ランジスタロ18.620を使用して行われる。正規の休止状態で は、マイクロコンピュータ120は過負荷状態にはなくトランジスタ620のゲ ートで論理ローを駆動し、トランジスタ620.622を非作動としコンデンサ 611がトリップ方式接地へ放電できるようにする。トランジスタ618.62 0は、例えばそれぞれ100にΩ、47にΩ、5.IKΩの値を育する抵抗器6 21.623.625と一緒に作動する。
過負荷状態中に、マイクロコンピュータ120は電流情報をその内部RAM内に 蓄積して熱レベルをシミュレートし、トランジスタ620のゲートで論理ハイを 駆動してコンデンス611が選定された対応レベルへ充電できるようにする。コ ンデンサ611が充電されている間、マイクロコンピュータ120はアナログバ ッファ612を使用して電圧レベルを監視する。選定レベルに達すると、マイク ロコンピュータはトランジスタのゲートで論理ローを駆動してこれ以上の充電を 防止する。コンデンサ611の電圧はクランプダイオード622を使用して5v に制限される。クランプダイオード622の順電圧降下は直列ダイオード625 の電圧降下と平衡する。
例えば、突然過負荷状態が生じマイクロコンピュータ120はこの過負荷故障レ ベルにおいてトリップ信号が発生される前に2分間の遅延を見込むようにプログ ラムされているものとする。この過負荷状態で1分後に、マイクロコンピュータ 120はトリップ途上の50%を示す電流情報を蓄積している。マイクロコンピ ュータはまたRC回路610を2.5v、すナワち最大5V(7)50%まで充 電できている。この例に対して、過負荷故障状態はこの点て除去され電子トリッ プ方式は動作電力を失うものとすると、マイクロプロセッサ120への電力が0 ■に降下する時に内部に蓄えられた電流蓄積か失われる。しかしながら、RCC 回路61雨 として存在し5.4分(RC回路610の時定数)ごとにおよそ63.2%減衰 する。従って、電流なしで5、4分後に、RCC回路61画 36、8%、すなわち0.92Vとなる。
この点において過負荷状態が再び生じると、マイクロコンピュータ120がパワ ーアップしてRC回路610の両端間は0.92Vとなる。次に、マイクロコン ピュータ120はその内部電流蓄積を予めプログラムされた全トリップ遅延時間 のおよそ18%(最大5Vで除した0、92V)へ初期化する。
マイクロコンピュータが実施する累積計算は次式に基N=サンプル数 1=(累積速度により定まる)個別間隔の時間1 (t) =遮断器を通る電流 の真のRMS値である。
故障中、トリップユニットは電流が所定レベルを所定期間越えるか、選定過負荷 状態を越えるとすぐに電流二乗値を加算開始する。電子トリップ方式は電流の二 乗に比例する値を内部累算レジスタに蓄積させ続け、それは累算速度に基いて定 期的に増分される。電流の定故障レベル、定累算速度、及び1=0における累算 レジスタの公知の状態を仮定すると、累算レジスタ内の値は所定速度で増大し任 意所与の時点tにおいて公知の値を含んでいる。
例えば、6 4mSの累算期間で7 0.7 1A (RMS)の連続故障が測 定されるものとする。さらに、累算レジタスは故障前は0てあったものとする。
マイクロコンピュータ120は6 4mSごとに電流の二乗値をレジスタへ累算 し、一定速度でそれを増加させる。
連続した定レベル故障では、時間の増加と共に内部累算レジスタは比例的に増大 する。システムをこの故障から保護するために、この増大する累算値はシステム の最大許容熱容量を表わすように選択されている所定の閾値と周期的に比較され る。累算値がこの所定閾値以上である場合には、トリップ方式は遮断器をトリッ プさせる。
電流二乗値を累積することの貴重な局面は電流が2倍になると、電流二乗値は4 倍となり内部累算レジスタはより高速で増加され、より高速にトリップされるこ とである。従って、ある電流レベルにおける遅延時間(検出された電力故障によ りトリップが行われるまでの期間)任意の定電流に対する遅延時間の計算式は次 のようでここに、 A2= 累算速度(秒) K = 所定の最終累算値 I = 遮断器を流れる電流の真のRMS値次に第8図を参照として、リセット 回路124の拡大図を示し、それはパワーアップリセット回路710及びトリッ プ方式100の完全性を維持するウォッチドッグ回路712を含んでいる。パワ ーアップリセット回路710は2つの機能を実施し、その両方がパワーアップ中 に生じる。それはトリップ方式100が電流回線106から充分な動作電力を引 き出すまでマイクロプロセッサ120をリセット状態に維持する(ローとされた )リセット信号を線743へ与え、リード744を介してウォッチドッグ回路7 】2へ(ローとされた)リセット信号を与えてパワーアップ中にウォッチドッグ 回路かソレノイド112と係合するのを防止する。この後者の機能により迷惑な トリップが防止される。
好ましくは、パワーアップリセット回路はマイクロコンピュータ(第1図の12 0)が適切に機能できる所定の基準電圧よりも+5■給電の出力電圧が低いかど うかを検出する不足電圧感知集積回路745を含んでいる。
集積回路745は、例えば、部品尚MC33064P−5であり、それは+5■ 給電の出力電圧か4.6Vを越えるまでリセット線743をローに保持する。マ イクロコンピュータ120は4.5V以上で作動することができる。好ましいリ セット回路はプルアップ抵抗器741、コンデンサ739、及び集積回路745 をウォッチドッグ回路712へ接続するダイオード753も含んでいる。
抵抗器741は、例えば、47にΩの値を有しコンデンサ739は0.O1μF の値を有している。ダイオード753はマイクロコンピュータ160がリセット されている場合のみリセット回路710がウォッチドッグ回路712に影響を及 ぼすことを保証する。
ウォッチドッグ回路712はトリップ方式をマイクロコンピュータの故障から保 護する。従って、マイクロコンピュータ120が所定時間内にウォッチドッグ回 路712をリセットできない場合にはソレノイド112と係合するように設計さ れている。マイクロコンピュータJ20はリード714上に、好ましくはおよそ 200m5ごとに、規則的に論理バイパルスを発生してウォッチドッグ回路71 2をリセットする。これらのパルスはコンデンサ7!8へ通されてI GFET  トランジスタ720を励起し、次に回路制限抵抗器733を介してRCタイミ ング回路724を放電させる。コンデンサ718から大地へのパルスを参照する のに抵抗器730及びクランプダイオード732が使用される。
リード714上のパルスはRCタイミング回路724がコンバータ726の入力 の基準電圧、Vr、I、を越えて充電されるのを防止する。RCタイミング回路 724がV r @ rを越えて充電されると、コンバータ726はソレノイド 112ヘトリップ信号を送って回線106内の電流径路を遮断する。基1s電圧 は、例えば、抵抗器729を介して電流供給される4、3Vツエナーダイオード 427により供給される。要素の好ましい値は、例えば、コンデンサ718は0 .001μF、抵抗器730は27にΩ、ダイオード732は部品NCLIN4 148、トランジスタ720は部品NcLBS170、抵抗器733は10Ω、 抵抗器737は820にΩ、コンデンサ735は0.22μF、コンバレタ72 6は部品魚LM29031.ダイオード727は部品嵐lN4687、抵抗器7 29は100KΩ、抵抗器751はIOKΩである。
E、ユーザ選定スイッチ 前記したように、ユーザ選定回路132を第9図に示す。定格プラグ用バッファ 820の他に、ユーザ選定回路132は各々が一対のBCDダイアル812及び 第1図のアドレス及びデータデコーダ130によりイネーブルされる3状態バツ フア814を存する複数のユーザインターフェイス回路810を含んでいる。各 BCDダイアル812によりユーザはいくつかのトリップ方式特性の中の一つを 選定することができる。例えば、一対のBCDスイッチを使用して長時間ピック アップ及び長時間遅延(過負荷トリップ特性)を指定することができ、もう一対 のBCDスイッチを使用して短時間ピックアップ及び短時間遅延(短時間トリッ プ特性)を指定することができる。他のBCDスイッチを使用してセンサ及び遮 断器サイズ、瞬時ピックアップ、地絡故障トリップ特性、及び位相不平衡閾値を 指定することができる。
F、ソレノイド励起のためのエネルギ確認第1図及び第9図のユーザ選定回路1 32はまたソレノイド112を励起するのに充分なエネルギがあるかどうかをも 決定する。アドレス及びデータデコード回路130を使用して、バッファ820 はその入力線830の一つを読み出すように選定される。第1図の電源122か らのVT倍信号入力線830へ送られ、バッファ820は抵抗器832及びクラ ンプダイオード834により過剰電圧から保護される。抵抗器832は、例えば 、620にΩの値を有している。
マイクロコンピュータ120がソレノイド112と係合する前に、入力線830 がアクセスされてVTが論理ハイとして読み出されるか論理ローとして読み出さ れるかを決定する。入力が2.5V〜3.OVよりも大きい場合は常にバッファ 820はその出力に論理ハイを与える。VTか論理ハイとして読み出されると、 マイクロコンピュータ120はソレノイド112を励起するのに充分な電力かあ ると決定してそうするように試みる。VTが論理ローとして読み出されると、マ イクロコンピュータ120はソレノイド1】2を励起するのに充分な電力か無い と決定し、繰返しVTをチェックしながら、間欠電力故障によりVTが降下した ものと予想して待機する。
VTが2.5〜3.0vレベルを越えると、マイクロコンピュータ120はソレ ノイドを再び励起しようとする。
G、情報ディスプレイ用通信 マイクロコンピュータ120は同じトリップ状態情報を手元ディスプレイ150 及びディスプレイ端末162へ送る。情報はシリアル周辺インターフェイス19 1を介して手元ディスプレイ150へ同期送信され、シリアル通信インターフェ イス151を介してディスプレイ端末162へ非同期送信される。インターフェ イス151゜191はMC88HC11内のSCI及びSPIボートを使用して 実施することができる。トリップ方式状態情報の履歴は持久型トリップメモリ1 44に記憶される。
履歴には最終トリップの特定原因及び電流レベル及び異なるトリップ原因の運転 累積が含まれる。
好ましくは、トリップメモリ144は電気的に消去可能なプログラマブルメモリ ROM (EEFROM)、例えば、カリフォルニア州、ミルビタスのクシコー ル社から入手可能なX24CO4Iである。この場合、マイクロコンピュータ1 20とEEPROMl 44間の双方向データ転送のためにシリアル周辺インタ ーフェイス191が使用される。このデータ転送はデータを転送するシリアル周 辺インターフェイス191の1回線とマイクロコンピュータ120及びEEPR OMI 14間で同期化クロック信号を送信するもう1回線を使用して行われる 。
トリップ方式のパワーアップ中に、マイクロコンピュータ120はデータ要求コ ードとして解釈されるユニークなビットパターンをトリップメモリ144へ送信 する。
次に、マイクロコンピュータ120は双方向データ回線を入力として設定しトリ ップメモリ144に対して要求されたデータをクロックする。
マイクロコンピュータ120は履歴データのコピーをその内部RAM内に維持し 、トリップ時にそれを更新しインターフェイス191を介してトリップメモリ1 44へ戻し、再びユニークなビットパターンを使用してトリップメモリ】44を 受信モードへ設定する。データを受信すると、トリップメモリ144はその内容 を再プログラムし新しく受信したデータで古い履歴情報を無効とする。
正規動作中(すなわち、パワーアップ後でトリップの無い時)、マイクロコンピ ュータ120はシリアル周辺インターフェイス191を介して動作情報を送信す る。
この情報はトリップメモリ144を励起するのに必要なユニークなビットパター ンを含んでいないため、トリップメモリ+44は正規の送信を無視する。しかし なから、シリアル周辺インターフェイス191に接続することができる他の装置 が情報を受信して正確に解釈することができる。
マイクロコンピュータ120は、例えば、トリップ方式+00がディスプレイプ ロセッサ316内の比較的低電力のプロセッサと通信できるような通信手順を実 行するようにプログラムされる。この手順はインターフェイス151,191を 介して情報を送る時の周波数を追跡するソフトウェア割込機構を使用する。正規 動作中に、情報の一つの8ビツトバイトが7mSごとに送信される。
トリップ状態中に、情報はマイクロコンピュータ120が送信できる限り速く連 続的に送られる。この手順により、ディスプレイ端末162及びディスプレイプ ロセッサ316はそのプロセッサをこの繰返し機能に排他的に専用することなく トリップ方式100からの状態メツセージを連続的にディスプレイすることがで きる。同様に重要なことは、この手順によりマイクロコンピュータ120は回線 106上の電流の連続分析を含む、さまざまなタスクを実施できることである。
好ましくは、状態メツセージはパケット毎8バイト、多パケット送信技術を使用 して送信される。各パケットに含まれる情報のタイプは8つの異なるグループ、 すなわち8つの異なるパケット、パケット0〜7、へ類別することができる。各 パケットの第1バイトはバイト及びパケット番号及びトリップ方式100のトリ ップ状態を識別するのに使用される。例えば、第1バイトはバイトタイプを識別 する1ビツト、パケット番号を識別する4ビツト及びトリップ状態を識別する3 ビツトを含むことかでき、それは、非トリップ状態、電流過負荷トリップ、短絡 トリップ、瞬時トリップ、地絡故障トリップ及び位相不平衡トリップである。各 パケットの2〜6バイトはパケット番号に従って変る。7バイトは(多システム 構成に対して)情報を送出するトリップ方式を識別するのに使用され、8バイト はデータの完全性を立証するチェックサム(checksum)として使用され る。
マイクロコンピュータは情報の優先度タイプに従って、各パケットに含まれる情 報のタイプを交替する。正規(非トリップ)状態中に、トリップユニットはパケ ット番号0を送信し、それにはパケット番号1が続き、さらに残りの規定パケッ ト番号2〜7の中の一つが続く。シーケンスをグラフィックに示すと次のように なる。
1) Packet O−Packet l −Packet 2 )リップが 2) Packet O−Packet 1− Packet 3 生じるまで 3) Packet O−Packet l −Packet 4 繰り返す4 ) Packet O−Packet 1− Packet 55) Pack et O−Packet 1− Packet 66) Packet O−P acket 1− Packet 7トリツプ状態中に、正規動作パケット送信 シーケンスが中断され電力が失われるまでパケットNα2が連続的に送信される 。送信速度は最高可能速度へ増大する。
パケット番号に従って変化する各パケットの5バイトが合計8つの異なるパケッ ト、0〜7に対して構成されている。これらのバイトの情報は各パケット番号に 対し次のように実施される。
従って、マイクロコンピュータ120は4つの実在的クラスで情報を送信する。
第1のクラスは各パケットの第1バイトに述べられたトリップ状態情報を構成す る。
第2及び第3のクラスは電流測定情報を伴い、第2のクラスはパケットO及び1 に述べられた各回111106の電流測定情報を含み、第3のクラスはパケット 2に述べられた最大電流状態情報を含んでいる。最終クラスの情報は本構成のト リップ方式に関しパケット3〜7に含まれ添付する付録は実施例で前記した方式 を実施するのに第1図のマイクロコンピュータ120及び第3a図のディスプレ イプロセッサ316をプログラムする好ましい方法をそれぞれ示す。
FIG、2 浄書(内容に変更なし) FIG、3b 浄書(内容に変更なし) 1(t) 時間(ms) FIG、5 FIG、60 FIG、6b 手続補正書(自発) PCT/US90104724 2、発明の名称 高信頼度トリップ動作を有する故障給電、プロセッサ制御遮断器トリップ方式 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称 スフウェアー ディー カンパニー4、代理人 居 所 〒100東京都千代田区大手町二丁目2番1号新大手町ビルヂング33 1 6、補正の内容 別紙のとおり 手続補 正書坊式) %式% 1、事件の表示 スフウェアー テ゛イー カンパニー 6−ネ…正心こより士曽カロする言青求項の数7−補正の対象 国際調査報告

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.電流径路を遮断するトリップ装置において、トリップ信号に応答して前記電 流径路を遮断するソレノイドと、 前記ソレノイドに前記電流径路の遮断を行う電力を供給する電源と、 前記電源に接続され、前記電源が現在前記電流径路遮断を行うのに充分な量の電 力を前記ソレノイドに供給できるかどうかを示す電源感知手段と、 前記電流径路の電流を感知する電流センサと、前記電流センサ及び前記電源感知 手段に応答して、前記電源が現在前記電流径路遮断を行うのに充分な量の電力を 前記ソレノイドに供給できることを前記電源感知手段が示す場合に、ソレノイド を係合させる発生手段と、を具備する、トリップ装置。
  2. 2.請求項1記載のトリップ装置において、前記電源は前記電流径路から電流を 受電する、トリップ装置。
  3. 3.請求項2記載のトリップ装置において、前記電流センサは前記電流径路と誘 導結合されたコイルを含み、前記電源は前記コイルに誘起される電流を整流した 電流により充電されるコンデンサを含む、トリップ装置。
  4. 4.請求項1記載のトリップ装置において、前記発生手段は前記電流径路を流れ る電流が過剰となる時期及び、前記ソレノイドと係合する前の前記電源感知手段 からの入力データを決定するようにプログラムされているプロセッサを含む、ト リップ装置。
  5. 5.請求項4記載のトリップ装置において、前記プロセッサは、さらに、故障信 号に応答して、前記電源が現在電流径路遮断を行うのに充分な量の電力をソレノ イドへ供給できることを前記電源感知手段が示すまで前記電源感知手段を繰り返 しチェックする手段を含む、トリップ装置。
  6. 6.故障給電トリップ装置にソレノイドを使用して電流径路を遮断する方法にお いて、 a)前記電流径路を流れる電流からエネルギを受け入れて蓄える段階と、 b)前記電流径路を流れる電流量を感知する段階と、c)前記受け入れて蓄えら れたエネルギが前記ソレノイドを係合させるのに充分かどうかを検出する段階と 、d)前記段階b)において過剰な量の電流を感知し、かつ、前記段階c)にお いて前記エネルギが前記ソレノイドを係合させるのに充分であることを検出した 後、前記ソレノイドを励起して電流径路を遮断する段階と、を備えてなる電流径 路遮断方法。
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