JPH0450912A - 走査光学装置 - Google Patents
走査光学装置Info
- Publication number
- JPH0450912A JPH0450912A JP15721790A JP15721790A JPH0450912A JP H0450912 A JPH0450912 A JP H0450912A JP 15721790 A JP15721790 A JP 15721790A JP 15721790 A JP15721790 A JP 15721790A JP H0450912 A JPH0450912 A JP H0450912A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- scanning
- optical
- detection means
- reflection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は走査光学装置に関し、特に記録画像情報に基づ
いて光変調された光源手段からの光束を光走査系により
感光体等の被走査面上に導光して光走査する際、該被走
査面上の走査開始位置を検出する為の検出手段に該光走
査系からの光束の一部を入射させる反射系の構成を適切
に設定することにより高精度な光走査を可能としたレー
ザビームプリンター、画像形成装置等に好適な走査光学
装置に関するものである。
いて光変調された光源手段からの光束を光走査系により
感光体等の被走査面上に導光して光走査する際、該被走
査面上の走査開始位置を検出する為の検出手段に該光走
査系からの光束の一部を入射させる反射系の構成を適切
に設定することにより高精度な光走査を可能としたレー
ザビームプリンター、画像形成装置等に好適な走査光学
装置に関するものである。
(従来の技術)
従来よりレーザビームプリンター等には画像形成用とし
て走査光学装置か用いられている。
て走査光学装置か用いられている。
第4図は従来のこの種の走査光学装置の光学系の要部概
略図である。同図において光欅手段lとしてのレーザか
ら発せられた光変調を受けたレーザ光束は回転多面鏡(
ポリゴンミラー)4の反射面4aて反射し、レンズ系(
f−θレンズ)9を介して被走査面である感光体8面上
に導光される。そして回転多面鏡4の回転により感光体
8面上を光走査している。
略図である。同図において光欅手段lとしてのレーザか
ら発せられた光変調を受けたレーザ光束は回転多面鏡(
ポリゴンミラー)4の反射面4aて反射し、レンズ系(
f−θレンズ)9を介して被走査面である感光体8面上
に導光される。そして回転多面鏡4の回転により感光体
8面上を光走査している。
このとき感光体8面上を光走査する前に感光体8面上の
走査開始位置を調整する為にレンズ系9からの光束をミ
ラー5とミラー12で反射させBD (Beam D
etect)レンズlOにより検出手段7の検出面Q°
に導光している。そして検出手段7で得られる信号を利
用して感光体8面上への画像記録の走査開始位置を調整
している。
走査開始位置を調整する為にレンズ系9からの光束をミ
ラー5とミラー12で反射させBD (Beam D
etect)レンズlOにより検出手段7の検出面Q°
に導光している。そして検出手段7で得られる信号を利
用して感光体8面上への画像記録の走査開始位置を調整
している。
このときBDレンズ10は検出手段7面上の検出面Q°
とミラー12の反射面t′とか略共役関係となるように
しており、これにより各要素の組立誤差を緩和している
。
とミラー12の反射面t′とか略共役関係となるように
しており、これにより各要素の組立誤差を緩和している
。
(発明か解決しようとする問題点)
従来の走査光学装置ては回転多面鏡4の反射面4aの反
射位置Sから感光体8の入射位置mまての光路長と、該
反射位置Sからミラー5とミラー12を介した検出手段
7の検出面Q゛までの光路長とを略等しくする際、装置
全体の小型化を図る為に2個の折り曲げミラー5.2を
用いていた。
射位置Sから感光体8の入射位置mまての光路長と、該
反射位置Sからミラー5とミラー12を介した検出手段
7の検出面Q゛までの光路長とを略等しくする際、装置
全体の小型化を図る為に2個の折り曲げミラー5.2を
用いていた。
そしてBDレンズ10によりミラー12上の反射位置t
゛と検出面Q°とか略共役関係となるようにして組立誤
差を緩和していた。
゛と検出面Q°とか略共役関係となるようにして組立誤
差を緩和していた。
このように従来は感光体面上における走査開始位置用の
信号を得る為に2個のミラー5.12と1個のBDレン
ズlOを使用していた為に各要素の組立調整か難しくな
り、又装置全体か複雑化してくる傾向かあった。
信号を得る為に2個のミラー5.12と1個のBDレン
ズlOを使用していた為に各要素の組立調整か難しくな
り、又装置全体か複雑化してくる傾向かあった。
本発明は光走査系と感光体面との間の光路中に配置する
反射系の構成を適切に設定することにより光走査系から
の光束を走査開始位置信号を得る為の検出手段に効率的
に導光することかでき、又部品点数を少なくシ、装置全
体の小型化を図りつつ、各要素の組立誤差を緩和させる
ことかできる走査光学装置の提供を目的とする。
反射系の構成を適切に設定することにより光走査系から
の光束を走査開始位置信号を得る為の検出手段に効率的
に導光することかでき、又部品点数を少なくシ、装置全
体の小型化を図りつつ、各要素の組立誤差を緩和させる
ことかできる走査光学装置の提供を目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明の走査光学装置は光源手段から放射された光変調
された光束を光走査系を介して被走査面上に導光して光
走査する際、該光走査系と該被走査面との間の光路中に
該光走査系からの光束の部を走査開始位置検出用の検出
手段に導光する為の反射系を配置し、u、反射系は該検
出手段に光学的に最も近い位置に金属板より成る曲面鏡
を配置しており、該曲面鏡は該検出手段の検出面と該曲
面鏡に対向する反射部材の反射面とを光学的に略共役関
係となるようにしていることを特徴としている。
された光束を光走査系を介して被走査面上に導光して光
走査する際、該光走査系と該被走査面との間の光路中に
該光走査系からの光束の部を走査開始位置検出用の検出
手段に導光する為の反射系を配置し、u、反射系は該検
出手段に光学的に最も近い位置に金属板より成る曲面鏡
を配置しており、該曲面鏡は該検出手段の検出面と該曲
面鏡に対向する反射部材の反射面とを光学的に略共役関
係となるようにしていることを特徴としている。
(実施例)
第1図は本発明の第1実施例の要部概略図である。
同図においてレーザ等の光源手段lから出射した記録画
像情報に基づいて光変調されたレーザ光はコリメーター
レンズ2により乎行光束となってシリンドリカルレンズ
3に入射する。シリンドリカルレンズ3に入射したレー
ザ光は1次元方向に収束されて回転多面鏡(ポリゴンミ
ラー)4の反射面4a上で焦点を結ぶ。
像情報に基づいて光変調されたレーザ光はコリメーター
レンズ2により乎行光束となってシリンドリカルレンズ
3に入射する。シリンドリカルレンズ3に入射したレー
ザ光は1次元方向に収束されて回転多面鏡(ポリゴンミ
ラー)4の反射面4a上で焦点を結ぶ。
反射面4aて反射したレーザ光はf−θレンズ9を介し
て被走査面としての感光体8面上に入射する。そして回
転多面鏡4を回転することにより感光体8面上を矢印8
a方向に光走査している。
て被走査面としての感光体8面上に入射する。そして回
転多面鏡4を回転することにより感光体8面上を矢印8
a方向に光走査している。
尚1回転多面鏡4とf−θレンズ9は光走査系の一部を
構成している。
構成している。
本実施例においては感光体8面とを光走査する前に次の
方法により走査開始位置の調整を行っている。
方法により走査開始位置の調整を行っている。
まずf−θレンズ9を通過したレーザ光の一部を平面ミ
ラー5と曲面鏡(凹面鏡や楕円鏡等)6て反射させた後
走査開始位置検出用の検出手段7の検出面Qに入射させ
ている。
ラー5と曲面鏡(凹面鏡や楕円鏡等)6て反射させた後
走査開始位置検出用の検出手段7の検出面Qに入射させ
ている。
曲面鏡6は金属板より成っており、又検出手段7に光学
的に最も近くに位置している。
的に最も近くに位置している。
又曲面鏡6は検出面Qと曲面鏡6と対向するミラー5の
反射点Pとか略共役関係となるように設定されている。
反射点Pとか略共役関係となるように設定されている。
尚、ミラー5と曲面鏡6は反射系を構成している。
検出手段7は光ファイバー78と受光素子7bとを有し
ている。検出面Qは光ファイハーフ8の入射端面に相当
している。
ている。検出面Qは光ファイハーフ8の入射端面に相当
している。
本実施例に8いては以上のような構成により光走査系か
らのレーザ光の一部をミラー5と曲面鏡6とにより光フ
ァイハーフ8の入射端面に入射させている、そして入射
端面に入射したレーザ光は光ファイハーフ8より伝送さ
れてフォトダイオード等の受光素子7bにより検出され
る。
らのレーザ光の一部をミラー5と曲面鏡6とにより光フ
ァイハーフ8の入射端面に入射させている、そして入射
端面に入射したレーザ光は光ファイハーフ8より伝送さ
れてフォトダイオード等の受光素子7bにより検出され
る。
このとき受光素子7bより得られた信号は増幅器21に
よって増幅され、該増幅された信号か所定レベルまて立
ち上がった時点を検出部22て検出する。そしてタイマ
23はこの時点から所定時間後にメモリ24を作動させ
て、メモリ24から記録画像情報を駆動回路26に伝達
する。
よって増幅され、該増幅された信号か所定レベルまて立
ち上がった時点を検出部22て検出する。そしてタイマ
23はこの時点から所定時間後にメモリ24を作動させ
て、メモリ24から記録画像情報を駆動回路26に伝達
する。
このときメモリ24には原稿読取装置、ワードプロセッ
サ等の信号源25からの予め画像情報信号か付与され記
憶されている。
サ等の信号源25からの予め画像情報信号か付与され記
憶されている。
そして駆動回路26はメモリ24からの記録画像情報に
基づいて光源手段lとしての半導体レーザから出射する
レーザ光の光変調を行っている。
基づいて光源手段lとしての半導体レーザから出射する
レーザ光の光変調を行っている。
このようにしてレーザ光か検出手段7て検出されてから
所定時間後に記録画像情報に基づいてレーザ光の光変調
を開始し、これより感光体8面上の光走査を行い感光体
8であるドラムの円周方向に3ける記録画像線の頭出し
を行っている。
所定時間後に記録画像情報に基づいてレーザ光の光変調
を開始し、これより感光体8面上の光走査を行い感光体
8であるドラムの円周方向に3ける記録画像線の頭出し
を行っている。
次に本実施例の光学的な構成の特長について説明する。
光走査系に近いミラー5の反射位MPから曲面鏡6の反
射位置tまての距離ドτに比べて、曲面鏡6の反射点t
と検出手段7の検出面Qまての距離Qtの方か短くなっ
ている。
射位置tまての距離ドτに比べて、曲面鏡6の反射点t
と検出手段7の検出面Qまての距離Qtの方か短くなっ
ている。
例えばPt = 146.6 (n+m)に対してQt
=9.8 (mm)程度となっている。
=9.8 (mm)程度となっている。
又1本実施例ては曲面鏡6によりミラー5の反射位置P
と検出面Qとが略共役関係となるようにしている。これ
によりミラー5の組立精度を緩和している。
と検出面Qとが略共役関係となるようにしている。これ
によりミラー5の組立精度を緩和している。
例えばミラー5か組立誤差により正規の位置よりlO分
振れたとすると曲面鏡6への入射光は0.85mmずれ
る。
振れたとすると曲面鏡6への入射光は0.85mmずれ
る。
一方曲面#I16かlO分振れても検出手段7の検出面
Q上への入射光束は0.06mmしかずれない、即ち本
実施例ては曲面鏡6の振れによる検出手段7の検出面Q
への入射光束のズレ量は、ミラー5の振れによる曲面鏡
6への入射光束のズレ量に比べて約77100と大変小
さくなっている。
Q上への入射光束は0.06mmしかずれない、即ち本
実施例ては曲面鏡6の振れによる検出手段7の検出面Q
への入射光束のズレ量は、ミラー5の振れによる曲面鏡
6への入射光束のズレ量に比べて約77100と大変小
さくなっている。
これにより走査開始位置の検出を高精度に行っている。
又本実施例では曲面鏡6を所定の屈折力を有した金属板
より構成し、ガラス部材より構成した場合に比べて安価
でしかも従来のBDレンズの光学作用も同時に持たせる
ことにより部品点数の減少及び簡素化を図っている。
より構成し、ガラス部材より構成した場合に比べて安価
でしかも従来のBDレンズの光学作用も同時に持たせる
ことにより部品点数の減少及び簡素化を図っている。
第2図は本発明の第2実施例の要部概略図である。同図
において第1図て示す要素と同一要素には同符番を付し
ている。
において第1図て示す要素と同一要素には同符番を付し
ている。
本実施例では回転多面鏡4で反射されf−θレンズ9を
通過したレーザ光を主走査方向に長いミラー11で反射
させた後に感光体9面上に導光して光走査している。
通過したレーザ光を主走査方向に長いミラー11で反射
させた後に感光体9面上に導光して光走査している。
このときミラー11の端部の点Pて反射したレーザ光を
金属板より成る曲面鏡6て反射させ、走査開始位置検出
用の検出手段7の検出面Qに集光している。尚、ミラー
11と曲面鏡6は反射系を構成している。検出手段7以
降の各構成は第1実施例と同様である為同図ては省略し
ている。
金属板より成る曲面鏡6て反射させ、走査開始位置検出
用の検出手段7の検出面Qに集光している。尚、ミラー
11と曲面鏡6は反射系を構成している。検出手段7以
降の各構成は第1実施例と同様である為同図ては省略し
ている。
本実施例ては曲面鏡6によりミラー11の反射点Pと検
出手段7の検出面Qとが略共役関係となるようにしてい
る。そして以上の各構成により第1実施例と同様の効果
を得ている。
出手段7の検出面Qとが略共役関係となるようにしてい
る。そして以上の各構成により第1実施例と同様の効果
を得ている。
第3図は本発明の第3実施例の要部概略図である。同図
において第1図で示す要素と同一要素には同符番を付し
ている。
において第1図で示す要素と同一要素には同符番を付し
ている。
本実施例ては回転多面鏡4て反射されf−θレンズ9を
通過したレーザ光を感光体8面上に導光して光走査して
いる。
通過したレーザ光を感光体8面上に導光して光走査して
いる。
このときf−θレンズ9からのレーザ光の一部を反射系
を構成する金属板より成る曲面鏡6を光路中に配置し、
曲面鏡6て反射させて走査開始位置検出用の検出手段7
の検出面Qに集光している。検出手段7以降の構成は第
1実施例と同様である為同図では省略している。
を構成する金属板より成る曲面鏡6を光路中に配置し、
曲面鏡6て反射させて走査開始位置検出用の検出手段7
の検出面Qに集光している。検出手段7以降の構成は第
1実施例と同様である為同図では省略している。
本実施例ては曲面鏡6とf−θレンズ9とにより回転多
面鏡4の反射面4aの反射点Pと検出手段7の検出面Q
とが略共役関係となるようにしている。
面鏡4の反射面4aの反射点Pと検出手段7の検出面Q
とが略共役関係となるようにしている。
そして以上の各構成により第1実施例と同様の効果を得
ている。
ている。
(発明の効果)
本発明によれば光走査系と感光体面との間の光路中に前
述のような光学特性を有した反射系を配置することによ
り、BDレンズを用いずに光走査系からの光束の一部を
走査開始位置検出用の検出手段に装置全体の簡素化を図
りつつ効率的に導光することができ、又各要素の組立誤
差を緩和させることができ、高精度な光走査か可能な走
査光学装置を達成することかできる。
述のような光学特性を有した反射系を配置することによ
り、BDレンズを用いずに光走査系からの光束の一部を
走査開始位置検出用の検出手段に装置全体の簡素化を図
りつつ効率的に導光することができ、又各要素の組立誤
差を緩和させることができ、高精度な光走査か可能な走
査光学装置を達成することかできる。
第1.第2、第3図は本発明の走査光学装置のipH,
第2.第3実施例の要部概略図、第4図は従来の走査光
学装置の概略図である。 図中1は光源手段、2はコリメーターレンズ、3はシリ
ンドリカルレンズ、4は回転多面鏡5.12.11はミ
ラー、6は曲面鏡、7は検出手段、8は感光体、9はf
−8レンズ、21は増幅器、22は検出部、23はタイ
マ、24はメモリ、25は信号源、26は駆動回路、で
ある。
第2.第3実施例の要部概略図、第4図は従来の走査光
学装置の概略図である。 図中1は光源手段、2はコリメーターレンズ、3はシリ
ンドリカルレンズ、4は回転多面鏡5.12.11はミ
ラー、6は曲面鏡、7は検出手段、8は感光体、9はf
−8レンズ、21は増幅器、22は検出部、23はタイ
マ、24はメモリ、25は信号源、26は駆動回路、で
ある。
Claims (1)
- (1)光源手段から放射された光変調された光束を光走
査系を介して被走査面上に導光して光走査する際、該光
走査系と該被走査面との間の光路中に該光走査系からの
光束の一部を走査開始位置検出用の検出手段に導光する
為の反射系を配置し、該反射系は該検出手段に光学的に
最も近い位置に金属板より成る曲面鏡を配置しており、
該曲面鏡は該検出手段の検出面と該曲面鏡に対向する反
射部材の反射面とを光学的に略共役関係となるようにし
ていることを特徴とする走査光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15721790A JPH0450912A (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | 走査光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15721790A JPH0450912A (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | 走査光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0450912A true JPH0450912A (ja) | 1992-02-19 |
Family
ID=15644781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15721790A Pending JPH0450912A (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | 走査光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0450912A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012118245A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Kyocera Document Solutions Inc | 光走査装置及び画像形成装置 |
-
1990
- 1990-06-15 JP JP15721790A patent/JPH0450912A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012118245A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Kyocera Document Solutions Inc | 光走査装置及び画像形成装置 |
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