JPH0453572U - - Google Patents

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JPH0453572U
JPH0453572U JP9633590U JP9633590U JPH0453572U JP H0453572 U JPH0453572 U JP H0453572U JP 9633590 U JP9633590 U JP 9633590U JP 9633590 U JP9633590 U JP 9633590U JP H0453572 U JPH0453572 U JP H0453572U
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terminal holder
drive
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JP9633590U
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例1を示す斜視図、第2
図は本考案の実施例2を示す斜視図、第3図は従
来例を示す斜視図である。 1……クランパー部、3……パターン部、4…
…端子圧下部、4a……端子枠、6……入出力端
子押え、7……駆動端子押え、8……スライドテ
ーブル、9,11……ばね機構、12a……ベー
ス、12b……支柱、13……アーム。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) クランパー部と、端子圧下部と、2組のば
    ね機構と、パターン部とを含む半導体特性選別用
    測定治具であつて、 クランパー部は、ベースと、ベース上に植立さ
    れた支柱と、支柱に上下方向に回動可能に枢支さ
    れたアームと、支柱に誘導案内されアームに連動
    して上下動するスライドテーブルとを有するもの
    であり、 端子圧下部は、スライドテーブルに上下変位可
    能に支持された端子枠と、駆動端子押えと、入出
    力端子押えとを有するものであり、 駆動端子押えは、端子枠に一体に組付けられた
    もので、半導体装置の駆動用端子を圧下するもの
    であり、 入出力端子押えは、端子枠に上下変位可能に支
    持されたもので、半導体装置の入出力用端子を圧
    下するものであり、 2組のばね機構は、駆動端子押えと入出力端子
    押えとにそれぞれ対応して別個独立に装備され、
    かつ個別にばね力が調整されるものであり、 一方のばね機構は、端子枠と一体の駆動端子押
    えを付勢するものであり、 他方のばね機構は、入出力端子を付勢するもの
    であり、 パターン部は、ベース上に端子圧下部と向き合
    せに設けられたもので、駆動端子押えで圧下され
    た半導体装置の駆動用端子が電気的に接触する駆
    動用パターンと、入出力端子押えで圧下された半
    導体装置の入出力用端子が電気的に接触する入出
    力パターンとを有するものであることを特徴とす
    る半導体特性選別用測定治具。 (2) 前記パターン部は、姿勢調整機構を有する
    ものであり、 姿勢調整機構は、パターン部の四隅を支持する
    4本の調整ネジ棒からなり、調整ネジ棒で四隅の
    高さを調整してパターンと端子との接触状態を均
    一化させるものであることを特徴とする請求項第
    (1)項記載の半導体特性選別用測定治具。
JP9633590U 1990-09-13 1990-09-13 Pending JPH0453572U (ja)

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JPH0453572U true JPH0453572U (ja) 1992-05-07

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