JPH045525A - 非接触式変位検出装置 - Google Patents
非接触式変位検出装置Info
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- JPH045525A JPH045525A JP10692790A JP10692790A JPH045525A JP H045525 A JPH045525 A JP H045525A JP 10692790 A JP10692790 A JP 10692790A JP 10692790 A JP10692790 A JP 10692790A JP H045525 A JPH045525 A JP H045525A
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- coils
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、軸振動測定器や磁気軸受などの振動制御等に
用いる非接触式の変位検出装置に関するものである。
用いる非接触式の変位検出装置に関するものである。
(従来の技術)
従来の非接触式変位検出装置は、例えば、渦電流を利用
して被検出体の変位検出を行っているが、変位検出器及
び被検出体の温度変化による出力変動があった。この変
動を相殺するために被検出体の2つの面に夫々対向して
2個の変位検出器を配置させ、該2個の検出器から取り
出された2つの検出信号を演算回路で1つの検出信号に
変換するようにしていた。
して被検出体の変位検出を行っているが、変位検出器及
び被検出体の温度変化による出力変動があった。この変
動を相殺するために被検出体の2つの面に夫々対向して
2個の変位検出器を配置させ、該2個の検出器から取り
出された2つの検出信号を演算回路で1つの検出信号に
変換するようにしていた。
(発明が解決しようとする課題)
従来の非接触式変位検出装置は前記のような構造である
ため、該2個の変位検出器から取り出された2つの検出
信号を演算回路で1つの検出信号に変換する必要があり
、このため、回路構成が複雑であり且つ各検出器と演算
回路間を結線するための配線数も多く、コストが高いと
いう問題点があった。
ため、該2個の変位検出器から取り出された2つの検出
信号を演算回路で1つの検出信号に変換する必要があり
、このため、回路構成が複雑であり且つ各検出器と演算
回路間を結線するための配線数も多く、コストが高いと
いう問題点があった。
又、真空、活性ガス雰囲気中等の特殊環境中で変位検出
装置を使用する場合には軸受のグリス等からのガスの発
生や腐食を防ぐために被検出体または検出器をステンレ
ス箔のような導体で囲む対策が講じられる。この場合、
従来の渦電流を利用した非接触式変位検出装置では、被
検出体の変位を検出することは不可能であった。
装置を使用する場合には軸受のグリス等からのガスの発
生や腐食を防ぐために被検出体または検出器をステンレ
ス箔のような導体で囲む対策が講じられる。この場合、
従来の渦電流を利用した非接触式変位検出装置では、被
検出体の変位を検出することは不可能であった。
そこで、本発明は上述した課題を解決するために、2つ
の検出器を使用し温度による変動を相殺する構造にする
と共に、検出信号を単一検出信号出力にし、且つ被検出
体または検出器を導体箔で囲んだ場合にも被検出体の変
位を検出できるようにすることを目的とする。
の検出器を使用し温度による変動を相殺する構造にする
と共に、検出信号を単一検出信号出力にし、且つ被検出
体または検出器を導体箔で囲んだ場合にも被検出体の変
位を検出できるようにすることを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明に依れば、上述の目的は、被検出体の変位を検出
する非接触式変位検出装置において、各々巻線を有する
2個の検出器の一方を磁性体からなる被検出体の一の面
に対向配置し、他方を前記被検出体の中心に関し前記一
の面と反対側の他の面に対向配置し、前記2個の検出器
の巻線同士を直列に接続し、各巻線の両端に逆位相の励
磁用交流電圧を印加して、前記2個の検出器の巻線の接
続点より出力を取り出し、検出信号とすることにより達
成される。
する非接触式変位検出装置において、各々巻線を有する
2個の検出器の一方を磁性体からなる被検出体の一の面
に対向配置し、他方を前記被検出体の中心に関し前記一
の面と反対側の他の面に対向配置し、前記2個の検出器
の巻線同士を直列に接続し、各巻線の両端に逆位相の励
磁用交流電圧を印加して、前記2個の検出器の巻線の接
続点より出力を取り出し、検出信号とすることにより達
成される。
(作用)
磁性体からなる被検出体のその中心に関し互いに反対側
の2つの面に対向配置された2個の検出器の直列に接続
された巻線の各々の両端に逆位相の励磁用交流電圧を印
加する。2つの巻線のインダクタンスによる各巻線にお
ける電圧降下の差分が両巻線の接続点から単一の検出信
号として取り出される。
の2つの面に対向配置された2個の検出器の直列に接続
された巻線の各々の両端に逆位相の励磁用交流電圧を印
加する。2つの巻線のインダクタンスによる各巻線にお
ける電圧降下の差分が両巻線の接続点から単一の検出信
号として取り出される。
(実施例)
先ず、本発明の非接触式変位検出装置の基本構成を第4
図乃至第6図を参照して説明する。
図乃至第6図を参照して説明する。
第4図に示すように、本発明の変位検出装置は、基本的
には、夫々第1、第2の検出器を成し直列に接続された
2個の巻線Ml、M2と、該巻線M l。
には、夫々第1、第2の検出器を成し直列に接続された
2個の巻線Ml、M2と、該巻線M l。
M2に夫々励磁用交流電圧Vl、V2を互いに逆位相で
印加するように該巻線M+、M2に接続された発振器A
C1,A C2とにより構成され、前記第1、第2の
検出器は磁性体から成る図示しない被検出体の2つの面
に、夫々対向して配置される。
印加するように該巻線M+、M2に接続された発振器A
C1,A C2とにより構成され、前記第1、第2の
検出器は磁性体から成る図示しない被検出体の2つの面
に、夫々対向して配置される。
上記巻線Ml、M2は磁極面積及び透磁率が相等しいよ
うに設計される。
うに設計される。
第1、第2検出器の巻線Ml、M2の両端に印加される
電圧をVとすると V=Vl−V2 で表わされる。
電圧をVとすると V=Vl−V2 で表わされる。
交流電圧の角周波数をQ)とすると、巻線M l。
M2のインピーダンスZl、Z2は、Z+=ωL1、Z
2=ωL2となる。ここで、Ll、L2は巻線M t
。
2=ωL2となる。ここで、Ll、L2は巻線M t
。
M2のインダクタンスである。従って、巻線M 1゜M
2における電圧降下をVLI、 VL2とすれば、とな
り、巻線Ml、M2の接続点の出力(以下「センサ出力
」という)Voは、 わされる。
2における電圧降下をVLI、 VL2とすれば、とな
り、巻線Ml、M2の接続点の出力(以下「センサ出力
」という)Voは、 わされる。
次に、検出器の巻線の磁極と被検出体1との位置関係が
センサ出力Voに与える影響について述べる。
センサ出力Voに与える影響について述べる。
第5図において各巻線Ml、M2の磁極と被検出体lと
の距離をg’+g2とする。被検出体lが磁極間の中心
に位置する場合(第5図に示す位置)、即ちg 1=
g 2=hoの時、磁極の面積をS、透磁率わされるの
で、L+=L2となり、 この時のセンサ出力VOは、 となる。
の距離をg’+g2とする。被検出体lが磁極間の中心
に位置する場合(第5図に示す位置)、即ちg 1=
g 2=hoの時、磁極の面積をS、透磁率わされるの
で、L+=L2となり、 この時のセンサ出力VOは、 となる。
次に、被検出体1が第5図の位置からM2側にXたけ移
動した場合、即ちgl:>gzの時は、と表わされ、 この時のセンサ出力Voは、 一方、被検出体1が第5図の位置からM1側にXだけ移
動した場合、即ち、g 1(g 2の時は、と表わされ
、 この時のセンサ出力Voは、 となる。
動した場合、即ちgl:>gzの時は、と表わされ、 この時のセンサ出力Voは、 一方、被検出体1が第5図の位置からM1側にXだけ移
動した場合、即ち、g 1(g 2の時は、と表わされ
、 この時のセンサ出力Voは、 となる。
このように、センサ出力VOは、磁極を2個組み合わせ
ることにより、巻線Ml、M2の両端に印加される電圧
Vが一定であるので被検出体の移動量Xと比例した値を
執ることがわかる。
ることにより、巻線Ml、M2の両端に印加される電圧
Vが一定であるので被検出体の移動量Xと比例した値を
執ることがわかる。
又、磁極と被検出体1間にステンレス箔のような非磁性
体の導体が介在した場合にも、上述の如く、センサ出力
VOは、Ll、L2の変化には関係しないため、センサ
出力Voは被検出体1の移動量Xに比例した値を執るこ
とになる。
体の導体が介在した場合にも、上述の如く、センサ出力
VOは、Ll、L2の変化には関係しないため、センサ
出力Voは被検出体1の移動量Xに比例した値を執るこ
とになる。
次に被検出体、検出器が温度変化により変形した場合の
、センサ出力Voに与える影響について述べる。
、センサ出力Voに与える影響について述べる。
第6図において、例えば、被検出体lの変形量をyとし
た場合について考えると、被検出体が磁極間の中心に位
置する時、即ちg1=g2:=hOの時の巻線のインダ
クタンスLl、L2は、と表わされる。
た場合について考えると、被検出体が磁極間の中心に位
置する時、即ちg1=g2:=hOの時の巻線のインダ
クタンスLl、L2は、と表わされる。
従って、L1=L2となり、センサ出力VOは■
■o=L1+L2(Ll−L2)=Oとなる。
このことから、温度変化により被検出体lが変形しても
巻線Ml、M2のインダクタンスの変化は相殺されるこ
とになリセンサ出力Voは同等影響されない。
巻線Ml、M2のインダクタンスの変化は相殺されるこ
とになリセンサ出力Voは同等影響されない。
次に、本発明の実施例について詳細に説明する。
第2図は、本発明の一実施例に係る非接触式変位検出装
置の全体構成のブロック図である。同図に示すように、
円形断面を有する被検出体1の2つの面1a、It)に
夫々対向して2つの検出器2゜3の巻線2a、3aが配
置され、該巻線2a、3aは互いに直列に接続され、そ
れらの両端は発振器4に接続され、該発振器から夫々互
いに逆位相の励磁用交流電圧(以下「励磁電圧」と云う
)vl。
置の全体構成のブロック図である。同図に示すように、
円形断面を有する被検出体1の2つの面1a、It)に
夫々対向して2つの検出器2゜3の巻線2a、3aが配
置され、該巻線2a、3aは互いに直列に接続され、そ
れらの両端は発振器4に接続され、該発振器から夫々互
いに逆位相の励磁用交流電圧(以下「励磁電圧」と云う
)vl。
v2が印加される。発振器4は、変換器5の同期整流器
6にも接続され、後者に前記励磁電圧と同一の周波数の
同期整流周基単信号Rerを供給する。
6にも接続され、後者に前記励磁電圧と同一の周波数の
同期整流周基単信号Rerを供給する。
該同期整流器6のセンサ出力入力端にはmj記巻線2a
、3aの接続点Aが接続され、センサ出力VOを供給す
る。同期整流器6の出力側は変換器5のローパスフィル
タフに接続される。
、3aの接続点Aが接続され、センサ出力VOを供給す
る。同期整流器6の出力側は変換器5のローパスフィル
タフに接続される。
上記構成の非接触式変位検出装置の作動を第3図を参照
して説明すると、発振器4は第3図(a)に示す励磁電
圧Vl、V2を巻線2a、3aに夫々供給する。被検出
体lが変位する(第3図(b))と、その変位量に応じ
て巻線2,3のインダクタンスが変化し、従ってそれら
のインピーダンスが変化する。巻線2a、3aの接続点
からセンサ出力Voが巻線2a、3aの両端に加えられ
た励磁電圧Vl、V2を巻線2a、3aのインピーダン
ス比で分圧した出力として取り出され(第3図(C))
、変換器5の同期整流器6に供給される。同期整流器6
は発振器4からの同期整流用基準信号Refを基準とし
て前記入力されたセンサ出力Voを同期整流し、同期整
流出力vRとして出力する(第3図(d))。ローパス
フィルタ7は入力された同期整流出力vRのキャリア周
波数分をカットし、出力を変位検出装置出力VCとして
出力する(第3図(e))。
して説明すると、発振器4は第3図(a)に示す励磁電
圧Vl、V2を巻線2a、3aに夫々供給する。被検出
体lが変位する(第3図(b))と、その変位量に応じ
て巻線2,3のインダクタンスが変化し、従ってそれら
のインピーダンスが変化する。巻線2a、3aの接続点
からセンサ出力Voが巻線2a、3aの両端に加えられ
た励磁電圧Vl、V2を巻線2a、3aのインピーダン
ス比で分圧した出力として取り出され(第3図(C))
、変換器5の同期整流器6に供給される。同期整流器6
は発振器4からの同期整流用基準信号Refを基準とし
て前記入力されたセンサ出力Voを同期整流し、同期整
流出力vRとして出力する(第3図(d))。ローパス
フィルタ7は入力された同期整流出力vRのキャリア周
波数分をカットし、出力を変位検出装置出力VCとして
出力する(第3図(e))。
第1図は第2図の被検出体1と検出器2,3の配置を詳
細に示した図である。被検出体としての軸体lの外周」
二の直径方向反対側の面1a、lbには検出器2.3の
コア2b、3bが夫々対向して配され、該コアに巻線2
a、3aがその軸線を各対向する而1a、+bに直角に
して巻装される。
細に示した図である。被検出体としての軸体lの外周」
二の直径方向反対側の面1a、lbには検出器2.3の
コア2b、3bが夫々対向して配され、該コアに巻線2
a、3aがその軸線を各対向する而1a、+bに直角に
して巻装される。
発振器4からの励磁電圧Vl、’V2により巻線2a、
3aが励磁されるとコア2b、3bと軸体lとを通る磁
束φ1.φ2が形成され、軸体lの変位量に応じた電圧
のセンサ出力Voが巻線2a。
3aが励磁されるとコア2b、3bと軸体lとを通る磁
束φ1.φ2が形成され、軸体lの変位量に応じた電圧
のセンサ出力Voが巻線2a。
3aの接続点Aから出力される。
第7図は上述した第1図の実施例の変形例を示し、この
変形例は、第1図の実施例に対し、巻線2a、3aをそ
れらの軸線が軸体1の対向面1a。
変形例は、第1図の実施例に対し、巻線2a、3aをそ
れらの軸線が軸体1の対向面1a。
1bに対して平行になるようにコア2b、3bに巻装し
た点が異なる。
た点が異なる。
第8図は本発明の別の実施例による被検出体lと検出器
2,3の配置を示す図である。この実施例は、第1図、
第7図の実施例において被検出体lの外側に検出器2,
3を配置したのに対し、被検出体1の内側に検出器2,
3を配したものである。
2,3の配置を示す図である。この実施例は、第1図、
第7図の実施例において被検出体lの外側に検出器2,
3を配置したのに対し、被検出体1の内側に検出器2,
3を配したものである。
第8図に示すように、被検出体lは中空円筒体から成り
、コア2b、3bは共通の単一部材により一体に形成さ
れ、被検出体1の内周の直径方向反対側の2つの面1a
、lbに夫々対向して配される。−巻線2a、3aはそ
れらの軸線が夫々対向する面1a、lbに対し直角にな
るようにコア2b、3bに巻装される。
、コア2b、3bは共通の単一部材により一体に形成さ
れ、被検出体1の内周の直径方向反対側の2つの面1a
、lbに夫々対向して配される。−巻線2a、3aはそ
れらの軸線が夫々対向する面1a、lbに対し直角にな
るようにコア2b、3bに巻装される。
第9図は上述した第8図の実施例の変形例を示す図であ
り、この変形例は、第8図の構成に対し、コア2b、3
bの形状が異なり、各コア2b。
り、この変形例は、第8図の構成に対し、コア2b、3
bの形状が異なり、各コア2b。
3bは2つの巻装部2b1,2b2;3b+、3b2を
有し、これらの巻装部2b+、2b2;3bt。
有し、これらの巻装部2b+、2b2;3bt。
3b2に巻線2a、3aが夫々巻装されている点が異な
る。
る。
第10図は被検出体1を導体箔9で囲んだ実施例を示す
。この実施例は前述した第1図の実施例と同様の構成に
おいて例えばステンレス等の非磁性体から成り、厚さ0
.1〜0.2mmの導体箔9を被検出体の軸体1と検出
器2,3との間に介在するように軸体Iの外周を覆って
配したものである。
。この実施例は前述した第1図の実施例と同様の構成に
おいて例えばステンレス等の非磁性体から成り、厚さ0
.1〜0.2mmの導体箔9を被検出体の軸体1と検出
器2,3との間に介在するように軸体Iの外周を覆って
配したものである。
この構成において、発振器4からの励磁電圧Vl、V2
により、巻線2a、3aが励磁されると、コア2b、3
bに発生した磁束φ1.φ2が導体箔9を通り抜けて被
検出体1を通る第1図と同様の磁路が形成される。これ
により、被検出体(軸体)1の変位量に応じた電圧のセ
ンサ出力VDが巻線2a、3aの接続点Aから出力され
る。このように、本発明は渦電流を利用するものではな
いから、導体箔の介在に同等影響されることなく被検出
体1の変位量を検出することができる。
により、巻線2a、3aが励磁されると、コア2b、3
bに発生した磁束φ1.φ2が導体箔9を通り抜けて被
検出体1を通る第1図と同様の磁路が形成される。これ
により、被検出体(軸体)1の変位量に応じた電圧のセ
ンサ出力VDが巻線2a、3aの接続点Aから出力され
る。このように、本発明は渦電流を利用するものではな
いから、導体箔の介在に同等影響されることなく被検出
体1の変位量を検出することができる。
第11図は第7図の実施例と同様の構成において被検出
体1を導体箔9で囲んだ構成である。
体1を導体箔9で囲んだ構成である。
この構成に依っても上述の第7図と同様の磁路が形成さ
れ、導体箔9の介在にもかかわらず被検出体lの変位量
を検出できる。
れ、導体箔9の介在にもかかわらず被検出体lの変位量
を検出できる。
第12図は第8図の実施例と同様の構成において検出器
2.3を導体箔で囲んだ構成、又、第13図は第9図の
実施例と同様の構成において検出器2,3を導体箔で囲
んだ構成を夫々示すもので、これらの構成においても第
8図、第9図と同様の磁路が形成され、導体箔の介在に
もかかわらず、被検出体1の変位量を検出できる。
2.3を導体箔で囲んだ構成、又、第13図は第9図の
実施例と同様の構成において検出器2,3を導体箔で囲
んだ構成を夫々示すもので、これらの構成においても第
8図、第9図と同様の磁路が形成され、導体箔の介在に
もかかわらず、被検出体1の変位量を検出できる。
第14図は更に別の実施例を示し、この実施例は、上述
した各実施例が被検出体としてl個の軸体の変位を検出
する一軸検出構成のものであるのに対して、複数の軸体
の変位を検出する多軸検出構成のものである。
した各実施例が被検出体としてl個の軸体の変位を検出
する一軸検出構成のものであるのに対して、複数の軸体
の変位を検出する多軸検出構成のものである。
第14図において、図示しない被検出体としての第1乃
至第Nの軸体の各々には、前述した各実施例と同様の直
列接続された検出器巻線2a、 3aが対向して配され
る。第1乃至第Nの軸体の検出器巻線2a、3aは互い
に並列接続される。並列接続された第1乃至第Nの軸体
の検出器巻線2a。
至第Nの軸体の各々には、前述した各実施例と同様の直
列接続された検出器巻線2a、 3aが対向して配され
る。第1乃至第Nの軸体の検出器巻線2a、3aは互い
に並列接続される。並列接続された第1乃至第Nの軸体
の検出器巻線2a。
3aには、発振器4が接続され励磁電圧を検出器巻線に
印加する。各列の検出器巻線2 a + 3 aの接
続点は夫々の変換器5に接続され、該接続点出力Voを
供給する。変換器5は前述した一軸検出構成のものと同
様に構成することができ、変位検出装置の出力VCを出
力する。
印加する。各列の検出器巻線2 a + 3 aの接
続点は夫々の変換器5に接続され、該接続点出力Voを
供給する。変換器5は前述した一軸検出構成のものと同
様に構成することができ、変位検出装置の出力VCを出
力する。
このように、本発明の非接触式変位検出装置を多軸検出
構成とした場合は各列の検出器巻線は単一の発振器を共
有できるので、配線数が更に少なくなり一層の低コスト
化を図ることができる。
構成とした場合は各列の検出器巻線は単一の発振器を共
有できるので、配線数が更に少なくなり一層の低コスト
化を図ることができる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明に依る非接触式変位検出装
置は、各々巻線を有する2個の検出器の一力を磁性体か
らなる被検出体の一の面に対向配置し、他方を前記被検
出体の中心に関し前記一の面と反対側の他の面に対向配
置し、前記2個の検出器の巻線同士を直列に接続し、各
巻線の両端に逆位相の励磁用交流電圧を印加して、前記
2個の検出器の巻線の接続点より出力を取り出し、検出
信号とするようにしたので、温度による出力変動がない
ことはもとより、演算回路が不要であり、4゜ 構成が簡単で且つ配線数が減少でき低コスト化を図るこ
とができると云う優れた効果を奏することができる。更
に渦電流の利用ではなく、磁束の変化を検出する構成で
あるため、被検出体と検出器間に導体箔が介在した場合
でも、被検出体の変位量を正確に検出できるものである
。
置は、各々巻線を有する2個の検出器の一力を磁性体か
らなる被検出体の一の面に対向配置し、他方を前記被検
出体の中心に関し前記一の面と反対側の他の面に対向配
置し、前記2個の検出器の巻線同士を直列に接続し、各
巻線の両端に逆位相の励磁用交流電圧を印加して、前記
2個の検出器の巻線の接続点より出力を取り出し、検出
信号とするようにしたので、温度による出力変動がない
ことはもとより、演算回路が不要であり、4゜ 構成が簡単で且つ配線数が減少でき低コスト化を図るこ
とができると云う優れた効果を奏することができる。更
に渦電流の利用ではなく、磁束の変化を検出する構成で
あるため、被検出体と検出器間に導体箔が介在した場合
でも、被検出体の変位量を正確に検出できるものである
。
第1図は本発明の一実施例に係る一軸検出構成を示す配
置図、第2図は本発明の一実施例を示すブロック図、第
3図は第2図の各部の信号の波形図、第4図は本発明の
非接触式変位検出装置の基本構成図、第5図は被検出体
が磁極間の中心にある状態を示す図、86図は被検出体
が温度変化により変位した状態を示す図、第7図乃至第
13図は本発明に係る一軸検出構成の他の実施例を示す
配置図であり、第7図は被検出体の外側に検出器を配置
した実施例、第8図、第9図は被検出体の内側に検出器
を配置した実施例、第10図〜第13図は検出器と被検
出体の間に導体箔を介在させた実施例を夫々示す図、第
14図は本発明に係る多軸検出構成の実施例を示す配置
図である。 1・・・被検出体、2,3・・・検出器、2a、3a・
・・検出器巻線、4・・・発振器、5・・・変換器、6
・・・同期整流器。
置図、第2図は本発明の一実施例を示すブロック図、第
3図は第2図の各部の信号の波形図、第4図は本発明の
非接触式変位検出装置の基本構成図、第5図は被検出体
が磁極間の中心にある状態を示す図、86図は被検出体
が温度変化により変位した状態を示す図、第7図乃至第
13図は本発明に係る一軸検出構成の他の実施例を示す
配置図であり、第7図は被検出体の外側に検出器を配置
した実施例、第8図、第9図は被検出体の内側に検出器
を配置した実施例、第10図〜第13図は検出器と被検
出体の間に導体箔を介在させた実施例を夫々示す図、第
14図は本発明に係る多軸検出構成の実施例を示す配置
図である。 1・・・被検出体、2,3・・・検出器、2a、3a・
・・検出器巻線、4・・・発振器、5・・・変換器、6
・・・同期整流器。
Claims (1)
- 1、被検出体の変位を検出する非接触式変位検出装置に
おいて、各々巻線を有する2個の検出器の一方を磁性体
からなる被検出体の一の面に対向配置し、他方を前記被
検出体の中心に関し前記一の面と反対側の他の面に対向
配置し、前記2個の検出器の巻線同士を直列に接続し、
各巻線の両端に逆位相の励磁用交流電圧を印加して、前
記2個の検出器の巻線の接続点より出力を取り出し、検
出信号とすることを特徴とする非接触式変位検出装置。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02106927A JP3097094B2 (ja) | 1990-04-23 | 1990-04-23 | 非接触式変位検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02106927A JP3097094B2 (ja) | 1990-04-23 | 1990-04-23 | 非接触式変位検出装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH045525A true JPH045525A (ja) | 1992-01-09 |
| JP3097094B2 JP3097094B2 (ja) | 2000-10-10 |
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ID=14446046
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP02106927A Expired - Fee Related JP3097094B2 (ja) | 1990-04-23 | 1990-04-23 | 非接触式変位検出装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3097094B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003520949A (ja) * | 2000-01-20 | 2003-07-08 | ハイ スピード テック オイ リミテッド | 電気機械のロータの位置を決定する方法および位置センサ |
| JP2012233806A (ja) * | 2011-05-02 | 2012-11-29 | Okuma Corp | ステータおよびレゾルバ |
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-
1990
- 1990-04-23 JP JP02106927A patent/JP3097094B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2014036498A (ja) * | 2012-08-08 | 2014-02-24 | Central Japan Railway Co | 電機子軸の支持構造の破損検出装置 |
| US9389202B2 (en) | 2012-08-08 | 2016-07-12 | Central Japan Railway Company | Damage detecting device for supporting structure for armature shaft |
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