JPH0455726A - フーリエ分光器 - Google Patents
フーリエ分光器Info
- Publication number
- JPH0455726A JPH0455726A JP16556690A JP16556690A JPH0455726A JP H0455726 A JPH0455726 A JP H0455726A JP 16556690 A JP16556690 A JP 16556690A JP 16556690 A JP16556690 A JP 16556690A JP H0455726 A JPH0455726 A JP H0455726A
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- JP
- Japan
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- light
- mirror
- light beam
- interference
- measured
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は2光束干渉を利用して光のスペクトルを測定す
るフーリエ分光器に関するものである。
るフーリエ分光器に関するものである。
[従来の技術]
精密なスペクトルを測定する装置として知られるフーリ
エ分光器は、被測定光を2分割し、光路長差を少しずつ
変化させながらそれら2光を干渉させ、その可視度を光
路長差の関数として求めた後、この関数をフーリエ変換
することによりスペクトルを測定するものである。従来
は光路長差を少しずつ変化させるために、マイケルソン
干渉計を構成している一方のミラーを微小距離ずつ移動
させていた。
エ分光器は、被測定光を2分割し、光路長差を少しずつ
変化させながらそれら2光を干渉させ、その可視度を光
路長差の関数として求めた後、この関数をフーリエ変換
することによりスペクトルを測定するものである。従来
は光路長差を少しずつ変化させるために、マイケルソン
干渉計を構成している一方のミラーを微小距離ずつ移動
させていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来例では干渉計を構成するミラー
の一方を微小8動させる度に干渉の可視度を測定するの
で次のような欠点があった。第一にエキシマレーザのよ
うにパルス発光する場合その1パルスのスペクトル測定
ができなかった。又連続光でもスペクトルが時間的に変
化する場合は正確な測定ができなかった。第二にミラー
の微小移動機構が必要なので、装置が複雑化していた。
の一方を微小8動させる度に干渉の可視度を測定するの
で次のような欠点があった。第一にエキシマレーザのよ
うにパルス発光する場合その1パルスのスペクトル測定
ができなかった。又連続光でもスペクトルが時間的に変
化する場合は正確な測定ができなかった。第二にミラー
の微小移動機構が必要なので、装置が複雑化していた。
第三に測定に長時間を要していた。
本発明は上記従来技術の欠点に鑑みなされたものであっ
て、干渉計を構成するミラーを移動させることなくフー
リエ分光によるスペクトル測定を可能とし、装置構成を
簡素化し、測定時間の短縮を可能としたフーリエ分光器
の提供を目的とする。
て、干渉計を構成するミラーを移動させることなくフー
リエ分光によるスペクトル測定を可能とし、装置構成を
簡素化し、測定時間の短縮を可能としたフーリエ分光器
の提供を目的とする。
[課題を解決するための手段および作用]前記目的を達
成するため、本発明によれば、フーリエ分光器の内部で
2分割された1方または両方の光束中に光束の出射方向
を波長に依って分散させる回折格子等の分散素子を設け
、また干渉縞を読み込む手段としての2次元センサと更
にこの2次元センサで受光した光束の部分別の干渉縞の
可視度を計算する画像処理装置を設けることにより、ミ
ラーを移動させることなくフーリエ分光法によるスペク
トル測定ができるようにしたものである。なお、以下分
散素子とは光束の出射方向を波長に依って分散させる機
能を有するものを言うものとする。
成するため、本発明によれば、フーリエ分光器の内部で
2分割された1方または両方の光束中に光束の出射方向
を波長に依って分散させる回折格子等の分散素子を設け
、また干渉縞を読み込む手段としての2次元センサと更
にこの2次元センサで受光した光束の部分別の干渉縞の
可視度を計算する画像処理装置を設けることにより、ミ
ラーを移動させることなくフーリエ分光法によるスペク
トル測定ができるようにしたものである。なお、以下分
散素子とは光束の出射方向を波長に依って分散させる機
能を有するものを言うものとする。
[実施例]
第1図は本発明の実施例の構成を表わす図面であり、同
図において、1は光源、10は光源1より発せられた被
測定光、2は光束を必要なだけ拡大するビーム拡大器、
3は被測定光10を2光束に分割するハーフミラ−4は
ミラー 5は回折格子、11はハーフミラ−3で分割さ
れた2光束のうちミラー4に向う光束、12は同しく回
折格子5に向う光束、13はハーフミラ−3で再合成さ
れた光束、6は光束13を2次元センサ7の受光部のサ
イズに合わせるためのビーム縮小器、7は2次元センサ
、8は2次元センサからの信号を処理する画像処理装置
である。
図において、1は光源、10は光源1より発せられた被
測定光、2は光束を必要なだけ拡大するビーム拡大器、
3は被測定光10を2光束に分割するハーフミラ−4は
ミラー 5は回折格子、11はハーフミラ−3で分割さ
れた2光束のうちミラー4に向う光束、12は同しく回
折格子5に向う光束、13はハーフミラ−3で再合成さ
れた光束、6は光束13を2次元センサ7の受光部のサ
イズに合わせるためのビーム縮小器、7は2次元センサ
、8は2次元センサからの信号を処理する画像処理装置
である。
光源1から発した被測定光10はビーム拡大器2を通り
て光束径りまで拡大された後、ハーフミラ−3により光
束11と光束12に分割される。
て光束径りまで拡大された後、ハーフミラ−3により光
束11と光束12に分割される。
光束11はミラー4で反射し再びハーフミラ−3に戻る
。一方光束12は回折格子5で回折されハーフミラ−3
に戻る。回折格子5は被測定光10の中心波長λ。にお
いて回折角ψと入射角θが等しくなるようにθを調整し
である。回折条件はよく知られているように、回折格子
5の格子定数をdとし、mを整数とすれば、次式(1)
を満たすことである。
。一方光束12は回折格子5で回折されハーフミラ−3
に戻る。回折格子5は被測定光10の中心波長λ。にお
いて回折角ψと入射角θが等しくなるようにθを調整し
である。回折条件はよく知られているように、回折格子
5の格子定数をdとし、mを整数とすれば、次式(1)
を満たすことである。
d (sinθ+sin ψ)=mλ ・・
・・・・(1)λ=λ。、ψ=θとして2dsinθ=
mλ。
・・・・(1)λ=λ。、ψ=θとして2dsinθ=
mλ。
・・・・・・(2)
ハーフミラ−3は合成された光束13が2次元センサ7
上で適当な本数(数本〜数十本)の横縞を生じるように
わずかに前傾または後傾させである。ここでハーフミラ
−3とミラー4の距離LH、ハーフミラ−3と回折格子
5の下端の距離L2としてLl=L2とすれば、光束1
1と光束12の干渉パターンのコントラストは、2次元
センサ7の受光部の1端aではいわゆるマイケルソン干
渉計において、光路差0での2光束干渉のコントラスト
に等しく、他端すでは同様に光路差D tanθでの2
光束干渉のコントラストに等しい。この理由を次に述べ
る。回折格子の分散は、式(1)をλて微分した後、式
(2)でmとdを消去して と表わされるので、回折格子5による波長λ0の光と波
長λ、=λ。+Δλの光では回折光の方向が だけ異なる。したがって、ハーフミラ−で合成された光
束13の1端Oではλ0とλ1の光の位相差δの差Δδ
は、Δδ=0であり点0からXだけ離れた点Pでは ・・・・・・(5) となる。ここで位相差δとはハーフミラ−3で分離され
た光束11と光束12がハーフミラ−で再結合した時の
位相差であり、位相差の差Δδとは、波長λ1の光の位
相差δ1と波長λ。の光の位相差δ。の差δ1−δ。の
ことである。一方いわゆるマイケルソン干渉計では、分
離された2光束の光路長差がkの場合、波長λ0の光の
位相差δ。は、 波長λ、の光の位相差δ1は である。したがって、 Δ δ = δ 1−6゜ ・・・・・・(8) 式(5)と(8)を比較して42 = x tanθと
すれば両式の値は等しくなる。言い換えれば、図1の点
Pのコントラストとマイケルソン干渉計で光路差がx
tanθである時の2光束干渉のコントラストが等しい
。
上で適当な本数(数本〜数十本)の横縞を生じるように
わずかに前傾または後傾させである。ここでハーフミラ
−3とミラー4の距離LH、ハーフミラ−3と回折格子
5の下端の距離L2としてLl=L2とすれば、光束1
1と光束12の干渉パターンのコントラストは、2次元
センサ7の受光部の1端aではいわゆるマイケルソン干
渉計において、光路差0での2光束干渉のコントラスト
に等しく、他端すでは同様に光路差D tanθでの2
光束干渉のコントラストに等しい。この理由を次に述べ
る。回折格子の分散は、式(1)をλて微分した後、式
(2)でmとdを消去して と表わされるので、回折格子5による波長λ0の光と波
長λ、=λ。+Δλの光では回折光の方向が だけ異なる。したがって、ハーフミラ−で合成された光
束13の1端Oではλ0とλ1の光の位相差δの差Δδ
は、Δδ=0であり点0からXだけ離れた点Pでは ・・・・・・(5) となる。ここで位相差δとはハーフミラ−3で分離され
た光束11と光束12がハーフミラ−で再結合した時の
位相差であり、位相差の差Δδとは、波長λ1の光の位
相差δ1と波長λ。の光の位相差δ。の差δ1−δ。の
ことである。一方いわゆるマイケルソン干渉計では、分
離された2光束の光路長差がkの場合、波長λ0の光の
位相差δ。は、 波長λ、の光の位相差δ1は である。したがって、 Δ δ = δ 1−6゜ ・・・・・・(8) 式(5)と(8)を比較して42 = x tanθと
すれば両式の値は等しくなる。言い換えれば、図1の点
Pのコントラストとマイケルソン干渉計で光路差がx
tanθである時の2光束干渉のコントラストが等しい
。
したがって2次元センサ5上の一端aから他端すに向フ
て光路差lが0からD tanθまで連続的に変化する
2光束干渉による干渉縞が生じる。2次元センサ7の受
光部を縦に細かく区分して、縦長の多数の列を作り各列
毎の干渉縞の可視度を画像処理装置8により計算する。
て光路差lが0からD tanθまで連続的に変化する
2光束干渉による干渉縞が生じる。2次元センサ7の受
光部を縦に細かく区分して、縦長の多数の列を作り各列
毎の干渉縞の可視度を画像処理装置8により計算する。
区分数をnとすれば、各列の可視度はマイケルソン干渉
計において一方のミラーを−taneづつ1回移動させ
て、その度に測定した干渉の可視度に等しい。一般にフ
ーリエ分光法として知られるように、光路長差ρと可視
度V (J2)の関係から次式(2)によってスペクト
ルE(ν)を求めることができる。ただしνは波数であ
る。
計において一方のミラーを−taneづつ1回移動させ
て、その度に測定した干渉の可視度に等しい。一般にフ
ーリエ分光法として知られるように、光路長差ρと可視
度V (J2)の関係から次式(2)によってスペクト
ルE(ν)を求めることができる。ただしνは波数であ
る。
E(ν)−const x ’)”、 V (It )
C05(2πv ・Q)dΩ・・・・・・ (2) ここでスペクトル幅Δνによってぎまる一定光路1ハ1
以上は可視度V(Il)はv(1)〜0となるので式(
2)の積分範囲は0からJZ 、、、までとしてよい、
ガウス分布のスペクトルの場合はj2.、、=1/2Δ
νである0例えば波長λ=248nm、Δλl!!!1
pmとすればΔν=Δλ・C/λ” ”0.16cm−
’ (ただしCは光束)となる。したがって、11 v
aa* −311Jとなる。これよりD tanθ≧3
11■となればよい。
C05(2πv ・Q)dΩ・・・・・・ (2) ここでスペクトル幅Δνによってぎまる一定光路1ハ1
以上は可視度V(Il)はv(1)〜0となるので式(
2)の積分範囲は0からJZ 、、、までとしてよい、
ガウス分布のスペクトルの場合はj2.、、=1/2Δ
νである0例えば波長λ=248nm、Δλl!!!1
pmとすればΔν=Δλ・C/λ” ”0.16cm−
’ (ただしCは光束)となる。したがって、11 v
aa* −311Jとなる。これよりD tanθ≧3
11■となればよい。
第2図は光路長差を大きくとるために、2個の回折格子
を用いた実施例を示している。同図において24は第1
図のミラー4に代えて用いた回折格子である。
を用いた実施例を示している。同図において24は第1
図のミラー4に代えて用いた回折格子である。
上記のように変更することにより、第1の実施例と同じ
光束径で、より大籾な光路差を得ることができる。たと
えば回折格子24を回折格子5と同じ物を使用すれば第
1の実施例の2倍の光路長差が得られる。これにより、
スペクトル測定の分解能を2倍にすることができる。
光束径で、より大籾な光路差を得ることができる。たと
えば回折格子24を回折格子5と同じ物を使用すれば第
1の実施例の2倍の光路長差が得られる。これにより、
スペクトル測定の分解能を2倍にすることができる。
第3図は、第1の実施例の回折格子5の代りに分散素子
としてプリズムを用いた場合の実施例を示している。
としてプリズムを用いた場合の実施例を示している。
30はプリズム、35はミラーである。
この実施例では、プリズム30の分散と等しい分散の回
折格子を用いた場合の第1の実施例と同じ効果が得られ
る。
折格子を用いた場合の第1の実施例と同じ効果が得られ
る。
一般にプリズムの分散は回折格子に比べて、数分の1か
ら数10分の1程度なので、スペクトル幅の狭い光の測
定は困難だが、光量損失が小さいので、光量損失が大き
い回折格子に比べて微弱光の測定には有利である。また
回折格子を使用した場合に比べ、コストの低減にもなる
。
ら数10分の1程度なので、スペクトル幅の狭い光の測
定は困難だが、光量損失が小さいので、光量損失が大き
い回折格子に比べて微弱光の測定には有利である。また
回折格子を使用した場合に比べ、コストの低減にもなる
。
[発明の効果]
以上説明したように、フーリエ分光器を構成しているマ
イケルソン干渉計等の一方または両方のミラーを回折格
子等の分散素子にすることによりミラーを移動させるこ
となく、フーリエ分光ができる。
イケルソン干渉計等の一方または両方のミラーを回折格
子等の分散素子にすることによりミラーを移動させるこ
となく、フーリエ分光ができる。
特にエキシマレーザ光のようにパルス発光の各パルスの
スペクトルを測定する場合には有効である。
スペクトルを測定する場合には有効である。
更にミラーの移動が不用なため装置の簡素化および測定
時間の短縮が図られる。
時間の短縮が図られる。
第1図は本発明を実施したフーリエ分光器の構成図、
第2図は2個の回折格子を使用した実施例の干渉計部分
を表わした部分構成図、 第3図はプリズムを使用した実施例の干渉計部分を表わ
した部分構成図である。 30ニブリズム、 35:ミラー
を表わした部分構成図、 第3図はプリズムを使用した実施例の干渉計部分を表わ
した部分構成図である。 30ニブリズム、 35:ミラー
Claims (3)
- (1)被測定光束の光路上に該被測定光束を2分割する
ためのビームスプリッタを設け、該ビームスプリッタに
より2分割された透過光束および反射光束の各々の光路
上に各光束を前記ビームスプリッタに戻すための反射手
段を設け、該反射手段のうち少なくとも一方は光束の出
射方向を波長に依って分散させる固定された分散素子に
より構成し、該ビームスプリッタにより再合成された前
記被測定光束の光路上に該被測定光束の干渉縞を検出す
る光センサを設け、該光センサの検出結果に基づき被測
定光束のスペクトルを演算する画像処理装置を備えたこ
とを特徴とするフーリエ分光器。 - (2)前記分散素子は回折格子からなることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のフーリエ分光器。 - (3)前記分散素子はプリズムおよびミラーの組合せか
らなることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のフ
ーリエ分光器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16556690A JPH0455726A (ja) | 1990-06-26 | 1990-06-26 | フーリエ分光器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16556690A JPH0455726A (ja) | 1990-06-26 | 1990-06-26 | フーリエ分光器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0455726A true JPH0455726A (ja) | 1992-02-24 |
Family
ID=15814799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16556690A Pending JPH0455726A (ja) | 1990-06-26 | 1990-06-26 | フーリエ分光器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0455726A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000062026A1 (de) * | 1999-04-09 | 2000-10-19 | Campus Technologies Ag | Vorrichtung und verfahren zur optischen spektroskopie |
| EP0930485A3 (de) * | 1998-01-16 | 2001-08-08 | Campus Technologies AG | Vorrichtung zur Erfassung oder Erzeugung optischer Signale |
| US7466421B2 (en) | 2002-07-15 | 2008-12-16 | Campus Technologies Ag | Diffractive interferometric optical device for measuring spectral properties of light |
| WO2019240227A1 (ja) * | 2018-06-13 | 2019-12-19 | 国立大学法人香川大学 | 分光測定装置及び分光測定方法 |
-
1990
- 1990-06-26 JP JP16556690A patent/JPH0455726A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0930485A3 (de) * | 1998-01-16 | 2001-08-08 | Campus Technologies AG | Vorrichtung zur Erfassung oder Erzeugung optischer Signale |
| WO2000062026A1 (de) * | 1999-04-09 | 2000-10-19 | Campus Technologies Ag | Vorrichtung und verfahren zur optischen spektroskopie |
| US7466421B2 (en) | 2002-07-15 | 2008-12-16 | Campus Technologies Ag | Diffractive interferometric optical device for measuring spectral properties of light |
| WO2019240227A1 (ja) * | 2018-06-13 | 2019-12-19 | 国立大学法人香川大学 | 分光測定装置及び分光測定方法 |
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