JPH045583A - データログ回路 - Google Patents

データログ回路

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JPH045583A
JPH045583A JP2107053A JP10705390A JPH045583A JP H045583 A JPH045583 A JP H045583A JP 2107053 A JP2107053 A JP 2107053A JP 10705390 A JP10705390 A JP 10705390A JP H045583 A JPH045583 A JP H045583A
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JP
Japan
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circuit
output
memory
data
address
Prior art date
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Pending
Application number
JP2107053A
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English (en)
Inventor
Toshiya Sato
俊弥 佐藤
Akira Shimizu
晃 清水
Hajime Hiroi
廣井 肇
Hirohisa Oishi
大石 浩久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
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Priority to US07/684,411 priority patent/US5305331A/en
Publication of JPH045583A publication Critical patent/JPH045583A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/3193Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
    • G01R31/31935Storing data, e.g. failure memory

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し産業上の利用分野コ この発明は、デバイスの不良データを解析するために、
ICテストシステムに用いるファンクションテスト良否
のフェイルデータをメモリへ格納するデータログ回路に
ついてのものである。
[従来の技術] 次に、ファンクショ〉・シフ1〜回路の構成図を第4図
により説明する。
第4図の21はパターンアドレスカウンタ、22はパタ
ーンメモリ、23はモジュレーション回路、211は被
測定デバイス(以下、DUTという1.25はドライバ
回路、26Aはハイコンパレータ、26Bはローコンパ
レータ、27は比較回路、28はメモリアドレスカウン
タ、29はタイミング発生器である。
第4図で、ファンクションテストを実行すると、パター
ンアドレスカウンタ21には指定されたパターンアドレ
スがセットされる。特に指定がない場合は0がセラ1−
される。
パターンアドレスカウンタ21の出力はパターンメモリ
22のアドレスに入力され、パターンメモリ22はその
アドレスのパターンデータを出力する。
パターンメモリ22から出力されたパターンデータは、
モジュレーション回路23でDUT24のファンクショ
ンテストに必要なパターンに加工され、ドライバ回28
25によりCUT24の入力に電気信号として印加され
る。
CUT24から出力された信号は、ハイコンパレータ2
6A・ローコンパレータ26Bに入力され、期待パター
ンがハイレベルの場合は、ハイコンパレータ26Aで、
ローレベルの場合はローコンパレータ26Bで比較され
た信号を比較回路27の出力としてデータログ回路に出
力する。
パターンアドレスカウンタ21は、タイミング発生部2
9から出力される基本クロックT。のタイミングて次の
アドレスをセットする。
メモリアドレスカウンタ28は、パターンアドレスがデ
ータログ開始アドレスに達したときからスター1〜する
データログ開始アドレスはデス1−前にデータログの条
件として設定されるものである。
、メモリアドレスカウンタ28も、はぼ基本クロックT
。のタイミングでカウントアツプする。
データ、ログ回路はパターンアドレス、メモリアドレス
、フェイルデータをデータログメモリへ書き込む回路で
ある。
データログメモリとは、ファンクションテストのときに
、D LJ T 24に与える入出力情報を時系列で格
納するメモリである。
次に、従来技術によるデータログ回路のタイミング信号
−1・を第5図により説明する。
第507゛は基本クロック、第5図イはパターンアドレ
スのデータ、第5図つはストロボ信号、第5図工は比較
器の出力データ、第5図才はフェイルデータ、第5図力
はメモリアドレス、第5図キはメモリライト信号である
第5図アのクロック信号T。はD し+ ’r 24に
信号を印加するタイミングを示す信号であり、基本クロ
ックT。の1周期をル−I・という。
第5図イのパターンアドレスデータは、基本クロック]
゛oのタイミングで発生ずる。
第5図つのストロボ信号は、比較器の出力をテスト結果
として取り込むタイミング信号であり、基本クロックT
。を基準として、設定された時間で出力する信号である
第5図つのストロボ信号は、基本クロックT0の立−F
りからT、のようにル−ト内に設定される場合、T2の
ように次のレートに入るように設定される場合、n番目
のレートに入るように設定される場合がある。
ストロボ信号の」−の数字はスl−ロポ番号を示し、数
字の同じものはストロボの設定時間が同じであることを
意味する。
第5図工の比較回路の出力データは、CU Tの出力と
期待値を比較した判定結果のデータである。
第5図才は、比較回路の出カニを第5図つのストロボ′
イ言号てラッチしたフェイルデータである、第5図力は
、基本クロック′「。に同期したメモリアドレスである
第5図キは、ストロボ信号つの遅延したメモリライト信
号である。
いま、メモリライト1言号キて、パターンアドレスカウ
タNl、N2、N3・・・・・・とフェイルデータA、
B、C・・・・・・をデータログメモリのアドレスA1
、A2、A3・・・・・・に書き込むと、メモリの書き
込み状態は第6図のようになる。
第6図のメモリアドレスA2にはパターンアドレスデー
タN2が書き込まれるべきであるが、実際にはパターン
アドレスデータN3が書き込まれている。
これは、第5図に示すように、イのパターシア1−レス
データがN2の場合のストロボ信号つの設定が池と違う
ためである。
第5図才のパターンアドレスデータN2のストロボはN
2のレートを越えてN3のレートにまたがって設定され
ており、第5図才のフェイルデータBが出たときには、
第5図才のパターンアドレスデータN2がN3に変わっ
ているので、第6図のようにパターンアドレスが誤って
データログメモリに書込まれる。
このため、従来は設定時間が違うス1〜ロボ信号に対し
て、パターンアドレスをいったんストロボの設定時間の
17’ 2の時間タイミングでラッチしてから、再びそ
のストロボを選択してラッチするという方法で、パター
ンアドレスN2とフェイルデータBの書込みを実現して
いた。
次に、ストロボ時間の1/2の時間でデータをラッチす
る場合のデータログ回路の構成図を第7図により説明す
る。
第7図の31はセしフタ、32はFF、33はライトパ
ルス発生回路、34はフェイルデータ用メモリ、35は
メモリアドレス用データラッチ回路、36はパターンア
ドレス用データラッチ回路、37はパターンアドレス用
メモリである。
メモリアドレス用データラッチ回路35は、セレクタ3
5A・セしフタ35C−FF35B・FF35[)から
なる。
パターンアドレス用データラッチ回路36は、メモリア
ドレス用データラッチ回11!835と同様に、セレク
タ36 A・セレクタ36C・FF36B・FF36D
からなる。
次に、第7図の動作を第8図のタイミングチャー1へに
より説明する。
第8図才のパターンアドレスは、第7図のパターンアド
レス用ラッチ回路36のセレクタ36Aにより選択され
たストロボ信号により、ストロボ信号■の設定時間T、
の1/2のタイミングで、FF36Bにラッチした信号
であり、第8図力のパターンアドレス2は、パターンア
ドレスを第7図のパターンアドレス用ラッチ回路36の
セレクタ36 Cにより選択されたス1−ロボ信号によ
り、ストロボ信号■でFF36Dにラッチした信号であ
る。
第8図キのフェイルデータは、第7図のセレクタ31に
より選択されたストロボ信号■て第8図工の比較器の出
力をFF32にラッチした信号である。メモリアドレス
に対しても、パターンアドレスと同様にス1−ロボ信号
■のタイミングで出力する。
このように第8図つのストロボ信号■のタイミングで出
力される第8図力のパターンアドレス2、第8図キのフ
ェイルデータを第8図つのストロボ信号から、第7図の
ライトパルス発生回路33に発生させた第8図ケのメモ
リライト信号により、フェイルデータ用メモリ34及び
パターンアドレス用メモリ37に書き込んでいる。
このとき、フェイルデータが書込まれるパターンアドレ
スは、セレクタ31・35C・36Cにより選択されて
いるストロボ信号が第8図つの■なので、第8図才のN
1.N4、N5、N6に対しててあり、N2、N3に対
してのフェイルデータは書き込まれない。
このため、パターンアドレスN2に対してのフェイルデ
ータを得るためには、ストロボ(M号■に対して、スト
ロボ信号■の設定時間T2の1772のタイミングで、
フェイルデータを書き込むようにス1〜ロボ信号■を選
択して、ストロボ信号■によるテストを再度実行する。
このときのストロボ(言号■を選択したときのパターン
アドレスデータのタイミングが、第8図すのパターンア
ドレス、第8図力のフェイルデータ、第8図工のメモリ
アドレス、第8図セのメモリライトである3 この最初のラッチタイミングのストロボ1/2の値はス
トロボの設定時間がn番目のレートにまたがる設定を可
能とする場合には、設定時間を1/!1のタイミングで
フェイルデータを書き込む。
[発明が解決しようとする課題] 従来の方法ては、データログを実行するときに必ずスト
ロボ信号を選択する必要があり、すべてのパターンに対
するデータログを実行するには、設定時間の違うストロ
ボ信号ごとにストロボ信号の選択とテストの実行を繰り
返す必要があるため、回路構成が大きくなるとともに、
テスト実行時間が長くかかるという問題がある。
この発明は、ストロボ信号の選択を必要とせず、1度の
テストですべでのパターンに対してデータログを実行す
ることができるデータログ回路の提供を目的とする。
[課題を解決するための手段] この目的を達成するため、この発明では、比較回路の出
力とストロボ信号を入力とし、比較回路の出力を基本ク
ロックT。のタイミングでnジ−1〜シフトする第1の
シフ1〜回路1と、基本クロックT。のタイミングをn
レートまたはn−ル−トシフトする第2のシフト回路2
と、シフト回路2の出力を入力とし、ライトパルスを発
生するライトパルス発生回路3と、メモリアドレスを入
力とし、基本クロックT。のタイミングで1ル−トシフ
トする第3のシフト回路4と、パターンアドレスを基本
クロックT。のタイミングでnジ−1〜シフトする第4
のシフト回路5と、第1のシフト回路1の出力をデータ
入力とし、第3の971〜回路4の出力をアドレス入力
とし、ライ1〜パルス発生回路3の出力によりnレート
シフトされた判定結果データを記憶する第1のメモリ6
と、第4のシフト回路5の出力をデータ入力とし、第3
のシフ1〜回路4の出力をアドレス入力とし、ライトパ
ルス発生回路3の出力によりnレートシフトたパターン
アドレスを記憶する第2のメモリ7とを備える。
次に、この発明によるデータログ回路の構成図を第1図
により説明する。
第1図の1と2はシフ1−回路、3はライトパルス発生
回路、4と5はシフト回路、6と7はメモリである。
シフト回路1は第4図の比較回路27の出力とストロボ
信号を入力とし、比較回路27の出力を基本クロックT
。のタイミングでnレートシフトし、シフト回路2は基
本クロックT.のタイミングをnまたはn−ルー1ヘシ
フトする。
ライトパルス発生回路3は、シフト回路2の出力を入力
とし、ライトパルスを発生する。
シフト回路4はメモリアドレスをT。のタイミンつてn
レートシフトシ、シフト回路5はパターンアドレスをT
。のタイミングでnレートシフトする。
メモリ6は、nレートシフト回路1の出力をデータ入力
とし、シフ1〜回路4の出力をアドレス入力とし、ライ
トパルス発生回路3の出力によりnレートシフトされた
判定結果データを記憶する。
メモリ7は、シフ1へ回路5の出力をデータ入力とし、
シフト回路4の出力をアドレス入力とし、ライトパルス
発生回路3の出力によりnレートシフトされたパターン
アドレスを記憶する。
次に、第1図の、2番目のレートにまたがる設定を可能
にする場合の実施例回路を第2図により説明する。
第2図の回路41、回路43は入力信号を3出力に順次
に出力する回路である。
回路41はストロボ信号9が入力されると、最初の信号
は41Aに出力され、次のストロボ信号で41Bに出力
、次のストロボ信号で41Cに出力というようにストロ
ボ信号が入力されるごとに41A・41B・41C・4
1A・41B・41Cというように繰り返し出力する回
路である。
回F#I43も回路41と同じ回路である。
次に、2レ一1〜シフト回路1の動作を第2図により説
明する。
入力端子8に入力された比較器の出力はストロボ信号9
により、FF42A〜FF42Cにいったんラッチされ
る。
このとき、ラッチされた信号の出力はストロボ信号の設
定時間が複数レートにまたがる場合もあり、パターンア
ドレスのタイミングとは一致しない。
このため、基本クロックT。の信号を2レ一トシフト回
路2でシフトシて回路43に入力し、F F 44 A
〜FF’44Cに順次ラッチし直すことにより、基本ク
ロックT。のタイミングで判定結果がメモリ6に出力さ
れる6 シフト回路4・5は、2レ一トシフト回路lと同じ回路
で構成されている。
シフト回路4・5がパターンアドレス及びメモリアドレ
スを基本クロックT。のタイミングで後ろに2レートシ
フトして出力することにより、ストロボ信号の設定に無
関係にパターンアドレス、判定結果データ、メモリアド
レスのすべての信号が2サイクルシフトされた基本クロ
ックT。のタイミングで出力させるので、すべてのパタ
ーンアドレスに対する判定結果を、ストロボ選択の必要
がなく、1度のテス1〜でメモリに格納することができ
る。
[実施例] 次に、第2図のタイミングチャートを第3図により説明
する。
第3図イのパターンアドレスN1、N2、N3・・・に
対応する比較器の出力が各々A−B、C2・−・に対応
する。
第3図オル・キは、それぞれF F −12A〜FF4
2Cの出力であり、端子8に人力される比較回路の判定
結果のデータは、第3図つのストロボ信号が第2図の回
路41に入力され、その出力41A・41B・41Cの
タイミングで順次ラッチされる。
第3図りは、2レ一トシフト回路2により基本クロック
′「。が2レートシフトした波形である。
第3図ケルすは、第2図の2レ一トシフト回路2により
シフトした基本クロックT。が回路43に入力したとき
の出力であり、43A・43B・43Cのタイミングで
順次出力される、第3図シ〜セは、第3図ケルすのタイ
ミングで順次FF44A〜F F 44 Cにラッチさ
れている比較回路の出力データである。
45A・45B・45Cは2人力のAND回路であり、
46はその各出力を入力とするOR回路であり、比較器
の出力を3レートまで保持するために3つのルートに分
岐していたものをAND回路45A・45B・45Cと
OR回路46により合成し、1つの信号としてメモリの
データ入力に接続する。
第3図ソは、OR回路46により合成されたデータであ
る。
パルス発生回路3は、メモリのデータ入力とメモリのア
ドレスに入力するデータがそろった時点でライトパルス
を発生する。
同様にパターンアドレスについても第2図に示したよう
に同じ回路で2レートシフトしておけば判定結果と同じ
タイミングでメモリ6へ書き込む二のため、ストロボの
設定によらず一定のタイミングですべてのパターンのア
ドレスと判定結果をメモリ6へ書き込むことができる。
[発明の効果] この発明によるデータログ回路はnレートにわたってス
トロボを設定されても、ス)・ロボ信号を選択すること
なく、−度にすべてのパターンアドレスとフェイルデー
タをデータログメモリに格納することができるので、ス
I・ロボ信号を選択するだめの回路構成を必要とせず、
テスト時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明によるデータログ回路の構成図、第2
17Iはこの発明によるデータログ回路の実施例の構成
図、第3図は第2図のタイミングチャート、第4図はフ
ァンクションテスト回路の構成図、第5図は従来技術に
よるデータログ回路のタイミングチャート、第6図はパ
ターンアドレスデータとフェイルデータをデータログメ
モリに害き込んだ状態図、第7図は従来技術によるデー
タログ回路の構成図、第8図はスl〜ロボの設定時間の
1 、”2でラッチする場合のタイミングチャートであ
る。 1・・・・・・シフト回路、2・・・・・・シフト回路
、3・・・・・・ライトパルス発生回路、4・・・・・
・シフト回路、5・・・・・・シフト回路、6・・・・
・・メモリ、7・・・・・・メモリ。 代理人  弁理士  小 俣 欽 司 第 1図 FF42A出力 FF42B出力 FF42C出力 回路2の出力 回路43A出力 回路43B出力 回路43C出力 FF44A出力 FF44B出力 FF44C出力 OR回路46出力 シフト回路4出力 シフト回路5出力 ^            DG e            ε XEmズニ一二 [=コ    D= ℃二二[二りこI 【二二[=二 戸=ODσ]ゴ]Iゴ 戸D=gコGα 戸D3■=IコGα 第 図 カ メモリアドレス AI   A2   A3   A4   A5   
A6キ メモリライト信号 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、比較回路の出力とストロボ信号を入力とし、比較回
    路の出力を基本クロックT_0のタイミングでnレート
    シフトする第1のシフト回路(1)と、 基本クロックT_0のタイミングをnレートまたはn−
    1レートシフトする第2のシフト回路(2)と、 シフト回路(2)の出力を入力とし、ライトパルスを発
    生するライトパルス発生回路(3)と、 メモリアドレスを入力とし、基本クロック T_0のタイミングでnレートシフトする第3のシフト
    回路(4)と、 パターンアドレスを基本クロックT_0のタイミングで
    nレートシフトする第4のシフト回路(5)と、 第1のシフト回路(1)の出力をデータ入力とし、第3
    のシフト回路(4)の出力をアドレス入力とし、ライト
    パルス発生回路(3)の出力によりnレート・シフトさ
    れた判定結果データを記憶する第1のメモリ(6)と、 第4のシフト回路(5)の出力をデータ入力とし、第3
    のシフト回路(4)の出力をアドレス入力とし、ライト
    パルス発生回路(3)の出力によりnレートシフトされ
    たパターンアドレスを記憶する第2のメモリ(7)とを
    備えることを特徴とするデータログ回路。
JP2107053A 1990-04-23 1990-04-23 データログ回路 Pending JPH045583A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2107053A JPH045583A (ja) 1990-04-23 1990-04-23 データログ回路
US07/684,411 US5305331A (en) 1990-04-23 1991-04-12 Data logging apparatus with memory and pattern testing device

Applications Claiming Priority (1)

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JP2107053A JPH045583A (ja) 1990-04-23 1990-04-23 データログ回路

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JPH045583A true JPH045583A (ja) 1992-01-09

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JP2107053A Pending JPH045583A (ja) 1990-04-23 1990-04-23 データログ回路

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