JPH0457706U - - Google Patents

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JPH0457706U
JPH0457706U JP10005590U JP10005590U JPH0457706U JP H0457706 U JPH0457706 U JP H0457706U JP 10005590 U JP10005590 U JP 10005590U JP 10005590 U JP10005590 U JP 10005590U JP H0457706 U JPH0457706 U JP H0457706U
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  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の表面形状測定器の一実施例を
示す構成図、第2図は第1図装置に用いられる光
源の分光特性および音響光学素子の出力を示す図
、第3図はパワー変動の影響の補正動作を示す図
、第4図は本考案の表面形状測定器の他の実施例
を示す図である。 1……波長可変光源部、2……測定用干渉計部
、3,4……検出部、5……割算器、6……干渉
位相測定器、11……スペクトル線幅の広い白色
光を出射する光源、12……光源11の駆動部、
13……フアイバ、14……分光用音響光学素子
、15……音響光学素子14の駆動部、16……
ピンホール、21……ハーフミラー、22……参
照光用ミラー、23……集光レンズ、24……測
定対称、25……ステージ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 光の干渉を利用して物体の表面形状を測定する
    表面形状測定器であつて、 スペクトル線幅の広い白色光を出射する光源と
    、この光源からの出射光が入射される分光用の音
    響光学素子と、この音響光学素子により回折され
    た1次回折光および2次回折光が入射するピンホ
    ールとから成る波長可変光源部と、 前記ピンホールを通過した1次回折光が入射さ
    れる測定用干渉計部と、 この測定用干渉計部からの測定用干渉光を受光
    する第1の検出部と、 前記ピンホールを通過した2次回折光を受光す
    る第2の検出部と、 この第2の検出部からの出力信号と前記第1の
    検出部からの干渉信号との比をとる割算器と、 この割算器の出力を受けて前記物体の表面形状
    に対応する干渉位相と形状を測定する干渉位相測
    定器とを備え、 前記光源からのスペクトル線幅の広い白色光を
    前記音響光学素子で分光し、1次回折光は測定用
    干渉光として、また2次回折光はパワーモニタと
    して使用し、両者の比を前記割算器でとることに
    より、強度変化の影響を除去するようにしたこと
    を特徴とする表面形状測定器。
JP10005590U 1990-09-25 1990-09-25 表面形状測定器 Expired - Fee Related JPH0742084Y2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014016247A (ja) * 2012-07-09 2014-01-30 Shimadzu Corp 波長可変単色光光源

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014016247A (ja) * 2012-07-09 2014-01-30 Shimadzu Corp 波長可変単色光光源

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JPH0742084Y2 (ja) 1995-09-27

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