JPH0457988B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0457988B2 JPH0457988B2 JP57108874A JP10887482A JPH0457988B2 JP H0457988 B2 JPH0457988 B2 JP H0457988B2 JP 57108874 A JP57108874 A JP 57108874A JP 10887482 A JP10887482 A JP 10887482A JP H0457988 B2 JPH0457988 B2 JP H0457988B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correction coefficient
- correction
- light
- scintillator
- calculation circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、空間的非直線性を補正する機能を
持つシンチレーシヨンカメラに関する。
持つシンチレーシヨンカメラに関する。
シンチレーシヨンカメラでは、その光学的構成
から空間的非直線性が生じることが避けられず、
そのため従来より、これを補正する機能が付加さ
れる。すなわち、空間的非直線性を補正するため
の補正係数を位置毎に予め求めて、これを各位置
毎に補正係数メモリに記憶しておいて、実際の撮
影時に各放射線入射イベント毎に得られる位置信
号で対応する補正係数を読出し、この位置信号の
補正を各イベント毎にリアルタイムで行なうよう
にしている。
から空間的非直線性が生じることが避けられず、
そのため従来より、これを補正する機能が付加さ
れる。すなわち、空間的非直線性を補正するため
の補正係数を位置毎に予め求めて、これを各位置
毎に補正係数メモリに記憶しておいて、実際の撮
影時に各放射線入射イベント毎に得られる位置信
号で対応する補正係数を読出し、この位置信号の
補正を各イベント毎にリアルタイムで行なうよう
にしている。
ところで、上記の補正係数を求めるため、従来
では、シンチレーシヨンカメラの視野内で均一に
γ線を放射する放射性同位元素（以下RIと略す）
と所定の鉛パターンとを組合わせた所定のRIイ
メージをシンチレーシヨンカメラで撮影したり、
点線源のRIをシンチレーシヨンカメラの視野内
で移動させたりして、各位置におけるエネルギー
信号をカウントして既知の位置に関する情報と比
較し、コンピユータで処理していた。そのため補
正係数算出には大容量メモリが必要であり、また
補正係数を求めるまで手間と時間がかかるばかり
でなく、とりわけRIを用いる必要があるため放
射線被曝の問題があつた。
では、シンチレーシヨンカメラの視野内で均一に
γ線を放射する放射性同位元素（以下RIと略す）
と所定の鉛パターンとを組合わせた所定のRIイ
メージをシンチレーシヨンカメラで撮影したり、
点線源のRIをシンチレーシヨンカメラの視野内
で移動させたりして、各位置におけるエネルギー
信号をカウントして既知の位置に関する情報と比
較し、コンピユータで処理していた。そのため補
正係数算出には大容量メモリが必要であり、また
補正係数を求めるまで手間と時間がかかるばかり
でなく、とりわけRIを用いる必要があるため放
射線被曝の問題があつた。
この発明は上記に鑑み、放射線被曝の問題から
全く解放され、大容量メモリも不要でしかも手間
も時間もかからずに補正係数を求めることのでき
るシンチレーシヨンカメラを提供することを目的
とする。
全く解放され、大容量メモリも不要でしかも手間
も時間もかからずに補正係数を求めることのでき
るシンチレーシヨンカメラを提供することを目的
とする。
以下、この発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。第１図においてNaI（Tl）の
円板状シンチレータ１１の背面にガラスのオプテ
イカルウインドウ１２を介して多数のフオトマル
チプライア（光電変換器として機能する）１３が
配列されており、シンチレータ１１にγ線が入射
してシンチレーシヨンが生じるとその光がオプテ
イカルウインドウ１２を介してフオトマルチプラ
イア１３に導かれ、フオトマルチプライア１３の
各々から電気信号が得られる。これらフオトマル
チプライア１３の各出力は位置計算回路１４（重
みづけ抵抗マトリクス回路などから構成される）
に入力されて位置計算が行なわれ、位置信号Ｘ，
Ｙが得られる。これら位置信号Ｘ，ＹはAD変換
器１５，１６を介してデイジタル信号に変換され
た後、補正係数メモリ１７に送られてこの位置信
号Ｘ，Ｙに関する補正係数ΔX，ΔYを読出し、
補正計算回路１８において補正計算が行なわれ、
補正後の位置信号Ｘ＋ΔX，Ｙ＋ΔYが得られる。
これら補正後の位置信号Ｘ＋ΔX，Ｙ＋ΔYは
CRTなどの表示装置１９にそれぞれＸ及びＹ方
向に偏向信号として送られる。一方フオトマルチ
プライア１３の各出力はエネルギ計算回路２０に
入力され、エネルギ計算が行なわれてエネルギ信
号Ｚが得られる。このエネルギ信号Ｚはエネルギ
弁別回路２１に送られ、所定のエネルギウインド
内であると判定されるとアンブランク信号が生
じ、このアンブランク信号は表示装置１９に送ら
れる。表示装置１９はアンブランク信号が入力さ
れたとき、そのときの偏向信号で規定される表示
画面上の位置に点を表わす。
しながら説明する。第１図においてNaI（Tl）の
円板状シンチレータ１１の背面にガラスのオプテ
イカルウインドウ１２を介して多数のフオトマル
チプライア（光電変換器として機能する）１３が
配列されており、シンチレータ１１にγ線が入射
してシンチレーシヨンが生じるとその光がオプテ
イカルウインドウ１２を介してフオトマルチプラ
イア１３に導かれ、フオトマルチプライア１３の
各々から電気信号が得られる。これらフオトマル
チプライア１３の各出力は位置計算回路１４（重
みづけ抵抗マトリクス回路などから構成される）
に入力されて位置計算が行なわれ、位置信号Ｘ，
Ｙが得られる。これら位置信号Ｘ，ＹはAD変換
器１５，１６を介してデイジタル信号に変換され
た後、補正係数メモリ１７に送られてこの位置信
号Ｘ，Ｙに関する補正係数ΔX，ΔYを読出し、
補正計算回路１８において補正計算が行なわれ、
補正後の位置信号Ｘ＋ΔX，Ｙ＋ΔYが得られる。
これら補正後の位置信号Ｘ＋ΔX，Ｙ＋ΔYは
CRTなどの表示装置１９にそれぞれＸ及びＹ方
向に偏向信号として送られる。一方フオトマルチ
プライア１３の各出力はエネルギ計算回路２０に
入力され、エネルギ計算が行なわれてエネルギ信
号Ｚが得られる。このエネルギ信号Ｚはエネルギ
弁別回路２１に送られ、所定のエネルギウインド
内であると判定されるとアンブランク信号が生
じ、このアンブランク信号は表示装置１９に送ら
れる。表示装置１９はアンブランク信号が入力さ
れたとき、そのときの偏向信号で規定される表示
画面上の位置に点を表わす。
上記の構成は通常の直線性補正機能つきのシン
チレーシヨンカメラの構成と同等であるが、この
発明の一実施例では次のような構成が付加されて
いる。まずシンチレータ１１の放射線入射面側に
発光装置３１が装置される。この発光装置３１
は、この実施例のシンチレータ１１が潮解姓のあ
るNaI（Tl）で構成されるため、第２図に示すよ
うにシンチレータ１１の密封容器を兼ねており、
その底面３２に多数の発光ダイオード（以下
LEDと略す）３３が格子状に配列されてなる。
底面３２の材質は、γ線を吸収しないようγ線吸
収係数の小さい材質が選ばれ、底面３２自体の厚
さも薄く作られる。またLED３３の数は直線性
補正のために必要な数とし、たとえば６４×６４
個程度とする。LED３３は、光量及び発光波長
ともシンチレータ１１内におけるシンチレーシヨ
ン光量及び発光波長と同程度のものが選定され
る。この発光装置３１の各LED３３は発光制御
回路４１で制御されて順次パルス状に発光する。
ある位置（γ線入射位置に関する位置）X0，Y0
のLED３３が選ばれて発光すると、その光は、
その位置X0，Y0にγ線が入射して生じたシンチ
レーシヨンの光と同様に、シンチレータ１１及び
オプテイカルウインドウ１２中を伝搬してフオト
マルチプライア１３に入射する。その結果位置信
号Ｘ，Ｙが得られ、これらが平均化回路４２に入
力される。そして同一位置のLED３３について
予め定めた回数（数千回程度）の発光を行なう。
このとき各発光毎に得られるアンブランク信号を
発光制御回路４１にフイードバツクして、環境放
射線の入射による位置信号Ｘ，Ｙを除きこの
LED３３の発光による位置信号Ｘ，Ｙのみを平
均化回路４２に取り込ませるようにする。平均化
回路４２はたとえば積分回路からなり、発光回数
分の位置信号Ｘ，Ｙの平均値を算出する。この平
均化回路４２の平均位置出力，は、AD変換
器４３，４４でデイジタル信号にされた後非直線
性計算回路４５に入力され、発光制御回路４１か
ら送られている発光しているLED３３の位置信
号X0，Y0とのずれ量X0−，Y0−が計算さ
れ、このずれ量がメモリ４６に記憶される。この
動作がLED３３の全てについて行なわれ、この
実施例では６４×６４個のサンプリング点の全て
についてのずれ量の記憶がメモリ４６になされ
る。その後各ずれ量を読出して、空間非直線性を
補正するために必要な補正係数を算出する計算が
補正係数計算回路４７によつて行なわれ、各位置
毎の補正係数ΔX，ΔYが得られて、これらが補
正係数メモリ１７に書込まれるようになつてい
る。
チレーシヨンカメラの構成と同等であるが、この
発明の一実施例では次のような構成が付加されて
いる。まずシンチレータ１１の放射線入射面側に
発光装置３１が装置される。この発光装置３１
は、この実施例のシンチレータ１１が潮解姓のあ
るNaI（Tl）で構成されるため、第２図に示すよ
うにシンチレータ１１の密封容器を兼ねており、
その底面３２に多数の発光ダイオード（以下
LEDと略す）３３が格子状に配列されてなる。
底面３２の材質は、γ線を吸収しないようγ線吸
収係数の小さい材質が選ばれ、底面３２自体の厚
さも薄く作られる。またLED３３の数は直線性
補正のために必要な数とし、たとえば６４×６４
個程度とする。LED３３は、光量及び発光波長
ともシンチレータ１１内におけるシンチレーシヨ
ン光量及び発光波長と同程度のものが選定され
る。この発光装置３１の各LED３３は発光制御
回路４１で制御されて順次パルス状に発光する。
ある位置（γ線入射位置に関する位置）X0，Y0
のLED３３が選ばれて発光すると、その光は、
その位置X0，Y0にγ線が入射して生じたシンチ
レーシヨンの光と同様に、シンチレータ１１及び
オプテイカルウインドウ１２中を伝搬してフオト
マルチプライア１３に入射する。その結果位置信
号Ｘ，Ｙが得られ、これらが平均化回路４２に入
力される。そして同一位置のLED３３について
予め定めた回数（数千回程度）の発光を行なう。
このとき各発光毎に得られるアンブランク信号を
発光制御回路４１にフイードバツクして、環境放
射線の入射による位置信号Ｘ，Ｙを除きこの
LED３３の発光による位置信号Ｘ，Ｙのみを平
均化回路４２に取り込ませるようにする。平均化
回路４２はたとえば積分回路からなり、発光回数
分の位置信号Ｘ，Ｙの平均値を算出する。この平
均化回路４２の平均位置出力，は、AD変換
器４３，４４でデイジタル信号にされた後非直線
性計算回路４５に入力され、発光制御回路４１か
ら送られている発光しているLED３３の位置信
号X0，Y0とのずれ量X0−，Y0−が計算さ
れ、このずれ量がメモリ４６に記憶される。この
動作がLED３３の全てについて行なわれ、この
実施例では６４×６４個のサンプリング点の全て
についてのずれ量の記憶がメモリ４６になされ
る。その後各ずれ量を読出して、空間非直線性を
補正するために必要な補正係数を算出する計算が
補正係数計算回路４７によつて行なわれ、各位置
毎の補正係数ΔX，ΔYが得られて、これらが補
正係数メモリ１７に書込まれるようになつてい
る。
したがつてこの実施例のシンチレーシヨンカメ
ラでは、予め発光装置３１の各LED３３を発光
させて補正係数ΔX，ΔYを求めて係数メモリ１
７に書込んでおき、しかる後実際に撮影を行なつ
てこれら補正係数を読出して位置信号の補正を行
ない、空間非直線性が補正されたRIイメージを
表示装置１９により表示することができる。
ラでは、予め発光装置３１の各LED３３を発光
させて補正係数ΔX，ΔYを求めて係数メモリ１
７に書込んでおき、しかる後実際に撮影を行なつ
てこれら補正係数を読出して位置信号の補正を行
ない、空間非直線性が補正されたRIイメージを
表示装置１９により表示することができる。
なお、LED３３をシンチレータ１１の放射線
入射面側に多数配列するのでなく、第３図に示す
ように他の場所に置いたLED（第３図では省略）
からの光を光フアイバ３４の各々により導いてシ
ンチレータ１１の放射線入射面側に格子状に配列
された光フアイバ３４の一端から発光させるよう
にしてもよい。また発光装置３１がシンチレータ
１１の密封容器を兼用する構成とせずに、シンチ
レータ１１を薄いガラスなどで構成された密封容
器中に密封しておき、補正係数を求める時にだけ
上記のような容器状の発光装置３１を用い、補正
係数の書込み終了後は通常のアムミ容器にシンチ
レータ１１を密封容器に収められたまま収納する
ようにしてもよい。要するに、少なくとも補正係
数を求めるときにだけ、予め設定された位置に入
射したγ線に応じてシンチレーシヨンの光と同等
の光が、前記の位置に対応する位置で生じるよう
複数個の発光位置が定められていればよい。
入射面側に多数配列するのでなく、第３図に示す
ように他の場所に置いたLED（第３図では省略）
からの光を光フアイバ３４の各々により導いてシ
ンチレータ１１の放射線入射面側に格子状に配列
された光フアイバ３４の一端から発光させるよう
にしてもよい。また発光装置３１がシンチレータ
１１の密封容器を兼用する構成とせずに、シンチ
レータ１１を薄いガラスなどで構成された密封容
器中に密封しておき、補正係数を求める時にだけ
上記のような容器状の発光装置３１を用い、補正
係数の書込み終了後は通常のアムミ容器にシンチ
レータ１１を密封容器に収められたまま収納する
ようにしてもよい。要するに、少なくとも補正係
数を求めるときにだけ、予め設定された位置に入
射したγ線に応じてシンチレーシヨンの光と同等
の光が、前記の位置に対応する位置で生じるよう
複数個の発光位置が定められていればよい。
以上実施例について説明したように、この発明
によるシンチレーシヨンカメラでは、各位置毎に
順番に発光させて位置信号を得、この位置信号の
その既知の位置と比較することにより、空間的非
直線性を補正するための係数を求めるようにして
いるため、大容量メモリなどが不要で、手間がか
からず簡単・容易に空間的非直線補正用の係数を
得ることができ、しかもRIを使用しないので、
放射線被曝の問題もない。
によるシンチレーシヨンカメラでは、各位置毎に
順番に発光させて位置信号を得、この位置信号の
その既知の位置と比較することにより、空間的非
直線性を補正するための係数を求めるようにして
いるため、大容量メモリなどが不要で、手間がか
からず簡単・容易に空間的非直線補正用の係数を
得ることができ、しかもRIを使用しないので、
放射線被曝の問題もない。
第１図はこの発明の一実施例のブロツク図、第
２図は同実施例の要部の一部切欠分解斜視図、第
３図は他の実施例の要部の一部切欠斜視図であ
る。 １１……シンチレータ、１２……オプテイカル
ウインドウ、１３……フオトマルチプライア、１
４……位置計算回路、１５，１６，４３，４４…
…AD変換器、１７……補正係数メモリ、１８…
…補正計算回路、１９……表示装置、２０……エ
ネルギ計算回路、２１……エネルギ弁別回路、４
１……発光制御回路、４２……平均化回路、４５
……非直線性計算回路、４６……メモリ、４７…
…補正係数計算回路。
２図は同実施例の要部の一部切欠分解斜視図、第
３図は他の実施例の要部の一部切欠斜視図であ
る。 １１……シンチレータ、１２……オプテイカル
ウインドウ、１３……フオトマルチプライア、１
４……位置計算回路、１５，１６，４３，４４…
…AD変換器、１７……補正係数メモリ、１８…
…補正計算回路、１９……表示装置、２０……エ
ネルギ計算回路、２１……エネルギ弁別回路、４
１……発光制御回路、４２……平均化回路、４５
……非直線性計算回路、４６……メモリ、４７…
…補正係数計算回路。
Claims (1)
- １ 放射線入射に応じてシンチレーシヨンを生じ
るシンチレータと、このシンチレータの背面に配
列されシンチレーシヨンの光が導かれて電気信号
に変換する多数の光電変換器と、これら光電変換
器の出力より放射線入射位置を計算して位置信号
を出力する位置計算回路と、各位置毎に補正係数
が予め書込まれている補正係数メモリと、前記の
放射線入射毎に得られる位置記号により前記補正
係数メモリから対応する補正係数を続出して放射
線入射毎の位置信号の補正計算をリアルタイムで
行なう補正計算回路と、補正された位置信号に応
じた表面画面上の位置に点を表わす表示装置とか
らなるシンチレーシヨンカメラにおいて、前記シ
ンチレータの放射線入射位置に関して予め設定さ
れた複数の位置より発光するよう設けられた発光
装置と、該発光位置が順番に移つていくよう前記
発光装置を制御する発光制御回路と、この各位置
毎の発光により前記位置計算回路から得られる位
置信号と前記既知の発光位置とを比較して各位置
における補正係数を計算し前記補正係数メモリに
書込む補正係数演算回路とを具備することを特徴
とするシンチレーシヨンカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10887482A JPS58225377A (ja) | 1982-06-24 | 1982-06-24 | シンチレ−シヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10887482A JPS58225377A (ja) | 1982-06-24 | 1982-06-24 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58225377A JPS58225377A (ja) | 1983-12-27 |
| JPH0457988B2 true JPH0457988B2 (ja) | 1992-09-16 |
Family
ID=14495775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10887482A Granted JPS58225377A (ja) | 1982-06-24 | 1982-06-24 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58225377A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6044634B2 (ja) * | 1978-04-14 | 1985-10-04 | 株式会社東芝 | シンチレ−シヨンカメラ装置 |
| JPS5519511A (en) * | 1978-07-28 | 1980-02-12 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Method of covering steel pipe with plastic |
-
1982
- 1982-06-24 JP JP10887482A patent/JPS58225377A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58225377A (ja) | 1983-12-27 |
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