JPH0458616A - 二重積分形a/d変換器の制御方法 - Google Patents
二重積分形a/d変換器の制御方法Info
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- JPH0458616A JPH0458616A JP2171159A JP17115990A JPH0458616A JP H0458616 A JPH0458616 A JP H0458616A JP 2171159 A JP2171159 A JP 2171159A JP 17115990 A JP17115990 A JP 17115990A JP H0458616 A JPH0458616 A JP H0458616A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 52
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1009—Calibration
- H03M1/1014—Calibration at one point of the transfer characteristic, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
- H03M1/1019—Calibration at one point of the transfer characteristic, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error by storing a corrected or correction value in a digital look-up table
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/50—Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
- H03M1/52—Input signal integrated with linear return to datum
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、積分コンデンサの電荷吸収特性による影響
を軽減する二重積分形A/D変換器の制御方法について
のものである。
を軽減する二重積分形A/D変換器の制御方法について
のものである。
[従来の技術]
次に、従来技術による二重積分形A/D変換器の構成図
を第2図により説明する。
を第2図により説明する。
第2図の1は入力端子、2A〜2Fはスイッチ、3Aと
3Bは基準電源、4Aは積分器、4Bは積分コンデンサ
、5は比較器、6はクロック発生器、7はゲート、8は
カウンタ、9は制御回路である。
3Bは基準電源、4Aは積分器、4Bは積分コンデンサ
、5は比較器、6はクロック発生器、7はゲート、8は
カウンタ、9は制御回路である。
第2図のA/D変換器には、1回の動作に3つのシーケ
ンスがある。
ンスがある。
第1のシーケンスでは、スイッチ2A・2Cをオンにし
、基準電g3Aの電圧V、と入力端子1に加えられる入
力信号に比例した電荷を積分コンデンサ4Bに蓄える。
、基準電g3Aの電圧V、と入力端子1に加えられる入
力信号に比例した電荷を積分コンデンサ4Bに蓄える。
第2のシーケンスでは、スイッチ2Dをオン、スイッチ
2A・2Cはオフにし、基準電i3Bの電圧v2で積分
コンデンサ4Bに蓄えた電荷を放電する。このとき、ス
イッチ2D・2Fをオンにし、A/D変換クロックをゲ
ート7に供給する。
2A・2Cはオフにし、基準電i3Bの電圧v2で積分
コンデンサ4Bに蓄えた電荷を放電する。このとき、ス
イッチ2D・2Fをオンにし、A/D変換クロックをゲ
ート7に供給する。
比較器5は積分コンデンサ4Bの放電時間中、ゲート7
からカウンタ8にA/Dクロックを供給す友 第3のシーケンスでは、スイッチ2Eをオン、スイッチ
2D・2Fをオフにし、積分コンデンサ4Bの残留電荷
を完全に放電する。
からカウンタ8にA/Dクロックを供給す友 第3のシーケンスでは、スイッチ2Eをオン、スイッチ
2D・2Fをオフにし、積分コンデンサ4Bの残留電荷
を完全に放電する。
次に、第2図のタイムチャートを第3図により説明する
。
。
第3図の横軸は時間であり、第3図アの縦軸は積分コン
デンサ4B内の電荷である。電荷Q、は誘電吸収現象に
よる吸収電荷である。
デンサ4B内の電荷である。電荷Q、は誘電吸収現象に
よる吸収電荷である。
第3図イの縦軸は積分コンデンサ4Bの充放電電流であ
り、電流工、は入力信号と基準電圧V。
り、電流工、は入力信号と基準電圧V。
による充電電流である。電流I2は基準電圧■2による
放電電流であり、電流I3は吸収電荷の放電電流である
。
放電電流であり、電流I3は吸収電荷の放電電流である
。
第3図つの縦軸は積分コンデンサ4Bの両端の電圧であ
る。
る。
第3図では、入力信号をA/D変換しない時間Toで積
分コンデンサ4Bを初期化する。
分コンデンサ4Bを初期化する。
時間T。で初期化される積分コンデンサ4Bの残留電荷
のうち、主なものは次のとおりである。
のうち、主なものは次のとおりである。
(ア)比較器5が接地電圧を検出してから制御回路9が
スイッチ2Dをオフにするまでの遅れ時間に蓄積される
電荷。
スイッチ2Dをオフにするまでの遅れ時間に蓄積される
電荷。
(イ)精分コンデンサ4Bの電荷吸収特性による吸収電
荷。
荷。
(ア)の残留電荷は、積分コンデンサ4Bの静電容量C
とスイッチ2Eのオン抵抗Rできまる時定数τ=CRと
したとき、時定数τの10倍以下の時間で放電初期化が
完了するが、(イ)の吸収電荷の初期化には数秒以上の
時間が必要である。
とスイッチ2Eのオン抵抗Rできまる時定数τ=CRと
したとき、時定数τの10倍以下の時間で放電初期化が
完了するが、(イ)の吸収電荷の初期化には数秒以上の
時間が必要である。
このため、早い周期で入力信号のA/D変換を繰り返し
た場合、前回のΔ/D変換による吸収電荷の影響で、A
/D変換データに誤差を与えてしまうことになる。
た場合、前回のΔ/D変換による吸収電荷の影響で、A
/D変換データに誤差を与えてしまうことになる。
次に、A/D変換を繰り返す場合の第2図のタイムチャ
ートを第4図により説明する。
ートを第4図により説明する。
第4図の横軸は時間であり、第4図アの縦軸は積分コン
デンサ4Bの電荷である。
デンサ4Bの電荷である。
第4図イの縦軸は積分コンデンサ4Bの両端の電圧であ
り、Wl、〜W13はA/D変換開始要求によって開始
される積分コンデンサ4Bの両端の電圧波形である。
り、Wl、〜W13はA/D変換開始要求によって開始
される積分コンデンサ4Bの両端の電圧波形である。
波形W、2は時間T3が長いので、吸収電荷の影響は少
ないが、波形W、3は時rIIJT3が短いので、吸収
電荷による影響が太きい。
ないが、波形W、3は時rIIJT3が短いので、吸収
電荷による影響が太きい。
積分コンデンサ4Bの吸収電荷によるA/D変換データ
への影響は、A/D変換周期と前回のA/D変換シーケ
ンスにおいて、入力信号を積分する時間T、で蓄積した
電荷の量に関係する。
への影響は、A/D変換周期と前回のA/D変換シーケ
ンスにおいて、入力信号を積分する時間T、で蓄積した
電荷の量に関係する。
このため、常に同じ周期でA/D変換をし、さらに入力
信号の範囲をある程度制限することにより吸収電荷の影
響を常にほぼ同じ程度受けることになる。
信号の範囲をある程度制限することにより吸収電荷の影
響を常にほぼ同じ程度受けることになる。
[発明が解決しようとする課題]
この同じ程度の影響は入力信号を無信号としてA/D変
換をすることにより、補正値データとして動作させるこ
とができる。この補正データを測定値から減算すること
により簡単に補正することができる。
換をすることにより、補正値データとして動作させるこ
とができる。この補正データを測定値から減算すること
により簡単に補正することができる。
この発明は、積分形A/D変換器において、早い周期で
A/D変換をした場合でも、積分コンデンサ4Bの電荷
吸収特性による影響を軽減することができる積分形A/
D変換器の制御方法を提供するものである。
A/D変換をした場合でも、積分コンデンサ4Bの電荷
吸収特性による影響を軽減することができる積分形A/
D変換器の制御方法を提供するものである。
[1lII題を解決するための手段]
この目的を達成するため、この発明では、変換要求のな
いときは接地電圧のA/D変換を繰り返し、積分コンデ
ンサの初期化時間は誘電吸収特性による吸収電荷以外の
残留電荷を放電するのに十分な時間とし、前記積分コン
デンサの前記初期化時間を同じにしてA/Dシーケンス
を繰り返し、積分コンデンサの初期化時間の変換データ
を補正データとし、A/D変換値から前記補正データを
減算する。
いときは接地電圧のA/D変換を繰り返し、積分コンデ
ンサの初期化時間は誘電吸収特性による吸収電荷以外の
残留電荷を放電するのに十分な時間とし、前記積分コン
デンサの前記初期化時間を同じにしてA/Dシーケンス
を繰り返し、積分コンデンサの初期化時間の変換データ
を補正データとし、A/D変換値から前記補正データを
減算する。
[作用]
次に、この発明によるA/D変換器の動作説明用タイム
チャートを第1図により説明する。
チャートを第1図により説明する。
第1図の縦軸は積分コンデンサ4Bの両端の電圧であり
、横軸は時間である。w1〜w7はA/D変換開始要求
によって開始される積分コンデンサ4Bの両端の電圧波
形である。
、横軸は時間である。w1〜w7はA/D変換開始要求
によって開始される積分コンデンサ4Bの両端の電圧波
形である。
波形W、・W2はA/D変換要求のないときに、接地電
位のA / D変換をした波形であり、波形W3はA/
D変換要求が波形W2の途中にきたとき、波形W2の変
換後さらに時間T3の後に入力信号のA/D変換をした
波形である。波形W、はA/D変換要求のないときに、
接地電位のA/D変換をした波形であり、波形W5はA
/D変換要求が波形W、の途中にきたとき、波形W、の
変換後さらに時間T、の後に入力信号のA/D変換をし
た波形である。波形W6はA/D変換要求が波形W5の
途中にきたとき、波形W、の変換後さらに時間T3の後
に入力信号のA/D変換をした波形である。波形W7・
W6はA/D変換要求のないときに、接地電位のA/D
変換を繰り返した波形である。
位のA / D変換をした波形であり、波形W3はA/
D変換要求が波形W2の途中にきたとき、波形W2の変
換後さらに時間T3の後に入力信号のA/D変換をした
波形である。波形W、はA/D変換要求のないときに、
接地電位のA/D変換をした波形であり、波形W5はA
/D変換要求が波形W、の途中にきたとき、波形W、の
変換後さらに時間T、の後に入力信号のA/D変換をし
た波形である。波形W6はA/D変換要求が波形W5の
途中にきたとき、波形W、の変換後さらに時間T3の後
に入力信号のA/D変換をした波形である。波形W7・
W6はA/D変換要求のないときに、接地電位のA/D
変換を繰り返した波形である。
第1図では、入力信号をA/D変換しないときは、入力
信号範囲の中間のレベルを入力信号としてA/D変換を
し、積分コンデンサ4Bの初期化の時間T3を常に同じ
時間となるよう制御して、A/Dシーケンスを繰り返し
ている。このときの変換データを補正データとして、制
御回路9に記憶しておく。
信号範囲の中間のレベルを入力信号としてA/D変換を
し、積分コンデンサ4Bの初期化の時間T3を常に同じ
時間となるよう制御して、A/Dシーケンスを繰り返し
ている。このときの変換データを補正データとして、制
御回路9に記憶しておく。
積分コンデンサ4Bの初期化時間T、は、誘電吸収特性
による吸取電荷以外の残留電荷を放電するに十分な時間
にする。例えば、時定数τ=CRの数倍にする。
による吸取電荷以外の残留電荷を放電するに十分な時間
にする。例えば、時定数τ=CRの数倍にする。
入力信号をA/D変換する場合は、A/D変換要求受付
後、現在進行中のA/Dシーケンスが終了してから、時
間]゛3をよって、変換要求に対するA/Dシ・−ケン
スを開始する。
後、現在進行中のA/Dシーケンスが終了してから、時
間]゛3をよって、変換要求に対するA/Dシ・−ケン
スを開始する。
吸収電荷による変換データへの影響は各A / L)変
換データに毎回同じ程度現れるので、補正データを変換
値から減算することにより、吸収電荷の影響を軽減した
精度の高い変換データを得ることができる。
換データに毎回同じ程度現れるので、補正データを変換
値から減算することにより、吸収電荷の影響を軽減した
精度の高い変換データを得ることができる。
[発明の効果]
この発明によれば、積分コンデンサの初期化時間を同じ
にしてA/Dシーケンスを繰り返し、積分コンデンサの
初期化時間の変換データを補正データどし、A/D変換
値から補正データを減算しているので、変換周期が早く
、しかも積分コンデンサの電荷吸収特性による影響を軽
減した精度の高い積分形A/D変換器を提供することが
できる。
にしてA/Dシーケンスを繰り返し、積分コンデンサの
初期化時間の変換データを補正データどし、A/D変換
値から補正データを減算しているので、変換周期が早く
、しかも積分コンデンサの電荷吸収特性による影響を軽
減した精度の高い積分形A/D変換器を提供することが
できる。
第1図はこの発明によるA/D変換器の動作説明用タイ
ムチャート、第2図は従来技術による二重積分形A/D
変換器の構成図、第3図は第2図のタイムチャート、第
4図はA/D変換を繰り返す場合の第2図のタイムチャ
ートである。 1・・・・・・入力端子、2A〜2 I”・・・・・・
スイッチ、3A・3B・・・・・・基準W1.源、4A
・・・・・・積分器、4B・・・・・・積分コンデンサ
、5・・・・・・比較器、6・・・・・・クロック発生
器、7・・・・・・ゲート、8・・・・・・カウンタ、
9・・・・・・制御回路。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 A/D変換開始要求 纂 図
ムチャート、第2図は従来技術による二重積分形A/D
変換器の構成図、第3図は第2図のタイムチャート、第
4図はA/D変換を繰り返す場合の第2図のタイムチャ
ートである。 1・・・・・・入力端子、2A〜2 I”・・・・・・
スイッチ、3A・3B・・・・・・基準W1.源、4A
・・・・・・積分器、4B・・・・・・積分コンデンサ
、5・・・・・・比較器、6・・・・・・クロック発生
器、7・・・・・・ゲート、8・・・・・・カウンタ、
9・・・・・・制御回路。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 A/D変換開始要求 纂 図
Claims (1)
- 1、変換要求のないときは接地電圧のA/D変換を繰り
返し、積分コンデンサの初期化時間は誘電吸収特性によ
る吸収電荷以外の残留電荷を放電するのに十分な時間と
し、積分コンデンサの初期化時間を同じにしてA/Dシ
ーケンスを繰り返し、積分コンデンサの初期化時間の変
換データを補正データとし、A/D変換値から前記補正
データを減算することを特徴とする二重積分形A/D変
換器の制御方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2171159A JP3046327B2 (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 二重積分形a/d変換器の制御方法 |
| US07/722,904 US5144307A (en) | 1990-06-28 | 1991-06-28 | Method of controlling double integral A-D converter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2171159A JP3046327B2 (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 二重積分形a/d変換器の制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0458616A true JPH0458616A (ja) | 1992-02-25 |
| JP3046327B2 JP3046327B2 (ja) | 2000-05-29 |
Family
ID=15918085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2171159A Expired - Fee Related JP3046327B2 (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 二重積分形a/d変換器の制御方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5144307A (ja) |
| JP (1) | JP3046327B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019152528A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 富士電機株式会社 | 電流測定装置及び放射線検出装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5519328A (en) * | 1994-10-28 | 1996-05-21 | Keithley Instruments, Inc. | Compensation for dielectric absorption effect |
| RU2550591C1 (ru) * | 2013-11-27 | 2015-05-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный технологический университет" | Способ интегрирующего аналого-цифрового преобразования напряжения |
| JP6293516B2 (ja) * | 2014-02-28 | 2018-03-14 | ローム株式会社 | 2重積分型a/d変換器 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4404545A (en) * | 1979-02-13 | 1983-09-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Analog-to-digital converter of the dual slope type |
| JPS5880927A (ja) * | 1981-11-09 | 1983-05-16 | Advantest Corp | 多重スロ−プ積分形ad変換器 |
| JPS61193521A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-28 | Nec Corp | Ad変換回路 |
| NZ215959A (en) * | 1985-04-29 | 1990-01-29 | Ishida Scale Mfg Co Ltd | Double integral a/d converter with auto-zero offset correction |
| US4707680A (en) * | 1986-03-04 | 1987-11-17 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Sample isolation in integrating analog-to-digital converters |
| JPS62264728A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Minolta Camera Co Ltd | A/d変換装置 |
| US4999632A (en) * | 1989-12-15 | 1991-03-12 | Boehringer Mannheim Corporation | Analog to digital conversion with noise reduction |
-
1990
- 1990-06-28 JP JP2171159A patent/JP3046327B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-06-28 US US07/722,904 patent/US5144307A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019152528A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 富士電機株式会社 | 電流測定装置及び放射線検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5144307A (en) | 1992-09-01 |
| JP3046327B2 (ja) | 2000-05-29 |
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|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |