JPH045892A - 多層回路基板の透孔の加工法 - Google Patents

多層回路基板の透孔の加工法

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JPH045892A
JPH045892A JP10523290A JP10523290A JPH045892A JP H045892 A JPH045892 A JP H045892A JP 10523290 A JP10523290 A JP 10523290A JP 10523290 A JP10523290 A JP 10523290A JP H045892 A JPH045892 A JP H045892A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
liquid
circuit board
multilayer circuit
smear
Prior art date
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Pending
Application number
JP10523290A
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English (en)
Inventor
Riichi Okubo
利一 大久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
Nikko Kyodo Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH045892A publication Critical patent/JPH045892A/ja
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は多層回路基板の透孔に発生するスミアの除去の
ための加工法に関するものである。
[従来の技術] 従来、多層回路基板は第1図に示すように、エポキシ樹
脂等よりなる多層の絶縁層1.1間及び表面に例えば銅
よりなる回路2,2を形成し、これに第2図に示すよう
に透孔(スルーホール)3を穿設し、内外層及び中間の
回路2.2の導通をもたせるために第3図に示すように
スルーホルめっき4を施す。かかる一連の工程において
透孔3を形成するときに、第4図に示す第2図のA部拡
大図で明らかなように、孔あけの際、ドリルの刃の摩擦
熱で絶縁層1を構成するエポキシ樹脂等が溶けて、回路
2の端面を覆ってしまういわゆるスミア5が発生する。
このままの状態でスルーホールめっき4を施すと、回路
2とスルーホールめっき4との間に絶縁層1のスミア5
が残っているために導通不良となる。そこでスミア5を
取り除いてからスルーホールめっきをする必要がある。
従来のスミア除去法としては、濃硫酸浸漬、クロム酸浸
漬、プラズマによる方法などがあるが、最近ではアルカ
リ性過マンガン酸塩溶液を使用することが一般的となっ
てきている。この方法は■膨潤、■デスミア、■還元と
いう3工程よりなるのが普通である。この中、■の膨潤
工程は、樹脂を有機分の高い溶液に浸漬することにより
樹脂を膨潤して■のデスミア工程におけるアルカリ性過
マンガン酸塩の作用による樹脂の酸化溶解を促進するも
のである。■の還元では樹脂上に付着したマンガン分を
還元除去する。
[発明が解決しようとする課題] 上記従来技術における■膨潤工程では、樹脂の網目構造
の間に、膨潤液中の有機分が侵入して、次工程への有機
分の排出量が多くなる。ところが、昨今の環境保護の観
点から、工場から有機分の排出を少なくすることが重要
である。
そこで、本発明では有機分を全くあるいはほとんど含′
まない液によるスミア除去方法を提供し、公害防止を図
るものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、
多層回路基板に設けた透孔のスミアを除去するに当り、
加熱アルカリ水溶液を用いて透孔内面の樹脂を処理する
多層回路基板の透孔の加工法である。
すなわち、本発明では前記従来技術における■膨潤工程
に使用する液として、水酸化ナトリウム、水酸化カリウ
ム又は水酸化リチウムの水溶液を加熱して使用する。こ
の液は溶液のくみ山し量や蒸発量を考慮して、濃度は1
0〜500g/l、好ましくは50〜800g/l、温
度は60〜100’c、好ましくは75〜90℃が適当
である。この液はごく少量の界面活性剤を添加して、ス
ルーホール内壁への液の濡れ性を向上させることもでき
る。
この界面活性剤の濃度は101/I又は10g/ l以
下と低濃度であることが望ましい。この液に浸漬した多
層基板は続いて水洗するか、又は続いてデスミア処理液
に浸漬する。
デスミア処理液としては、商品名CP 922(日本鉱
業■製)が挙げられる。この液はKMn O440−9
0g/l、N a OH30〜60g/ l、界面活性
剤10m1/1未満のもので60〜90℃で10分程度
前記処理基板を浸漬する。この後、水洗し更に透孔壁面
に生成している二酸化マンガンを溶解除去するため還元
処理を行う。液として還元剤を含む弱酸性の溶液である
商品名CP933(日本鉱業■製)液が挙げられる。こ
れに常温で2〜5分程度基板を浸漬する。その後再び基
板を水洗する。
以上のスミア除去の工程に続き、無電解銅めつき、電気
銅めっきをおこない、スルーホールが形成される。
[実施例] 銅よりなる回路を形成した多層のエポキシ樹脂基板(P
R−4グレード)に直径0.3及び0.8mmの透孔を
形成し、Na0HSKOH又はLiOHを含有する溶液
を用いて処理し、次いでデスミア処理液(商品名CP 
922) 、還元処理液(商品名CP H3)で処理し
た。デスミア処理は85℃で10分、還元処理は25℃
で3分行った。
こうして透孔を清浄化した回路基板の透孔に無電解銅め
っき(0,5μm)及び電気めっき(35μ11)を施
した。この試験基板の透孔部を硬化性樹脂に埋め込み、
透孔部の断面を顕微鏡で観察し、スミアの残留の有無を
検査した。
その結果を第1表に示す。
第1表 注1)COD (化学的酸素要求ff1)は、月S K
−0102,17の方法で測定した。
注2)市販有機膨潤液:ポリエーテル系化合物、水酸化
ナトリウムを含む溶液 第1表から明らかなように、実施例1〜5のデスミア前
処理液のCODは、すべて5ppm未満であった。この
5ppm未満という値は、排水処理上全く問題になるも
のではなく、この処理液を排出する場合にはHCIやH
2SO4による中和のみで容易に行うことができる。
一方、比較例として示した市販有機膨潤液のCODは、
110000ppであり、この溶液を排出する前には中
和処理のほか、酸化処理等が必要である。
[発明の効果] 本発明では、デスミア処理における前処理を水酸化アル
カリ溶液により行うので、従来の有機分を含む膨潤剤の
使用において、液のもち出し、その排出により起った排
出処理上の問題点を解決することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の処理対象物である多層回路載板の構成
の説明図、第2図は第1図の基板に透孔を穿設した状態
の説明図、第3図は第2図のもののデスミア処理後スル
ーホールめっきを施した状態の説明図、第4図は第2図
のA部拡大説明図である。 ■・・・絶縁層、2・・・回路、3・・・透孔、4、・
・・スルーホールめっき、5・・・スミア。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)多層回路基板に設けた透孔のスミアを除去するに
    当り、加熱アルカリ水溶液を用いて透孔内面の樹脂を処
    理することを特徴とする多層回路基板の透孔の加工法。
  2. (2)加熱アルカリ水溶液が60〜100℃で10〜5
    00g/lの濃度の水酸化ナトリウム、水酸化カリウム
    又は水酸化リチウム溶液である請求項(1)記載の多層
    回路基板の透孔の加工法。
JP10523290A 1990-04-23 1990-04-23 多層回路基板の透孔の加工法 Pending JPH045892A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150099450A (ko) * 2014-02-21 2015-08-31 김학경 황금알과 철기칼 보드게임방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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