JPH0459474U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0459474U JPH0459474U JP10250490U JP10250490U JPH0459474U JP H0459474 U JPH0459474 U JP H0459474U JP 10250490 U JP10250490 U JP 10250490U JP 10250490 U JP10250490 U JP 10250490U JP H0459474 U JPH0459474 U JP H0459474U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- signal line
- tip
- utility
- scope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第１図は、本考案の一実施例のＩＣクリツプ型
テストプローブの正面図、第２図は従来のテスト
プローブを示す正面図である。 １０−１……テストクリツプ、１０−２……リ
ード線、２０−１，３０−２……ＩＣテストクリ
ツプ、２０−２……ＩＣテストクリツプリードピ
ン、３０−１……信号線、４０……ＩＣ、５０…
…プリント基板。
テストプローブの正面図、第２図は従来のテスト
プローブを示す正面図である。 １０−１……テストクリツプ、１０−２……リ
ード線、２０−１，３０−２……ＩＣテストクリ
ツプ、２０−２……ＩＣテストクリツプリードピ
ン、３０−１……信号線、４０……ＩＣ、５０…
…プリント基板。
Claims (1)
- 信号線の先端にＩＣテストクリツプを直結した
ことを特徴とするテストプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10250490U JPH0459474U (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10250490U JPH0459474U (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0459474U true JPH0459474U (ja) | 1992-05-21 |
Family
ID=31846813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10250490U Pending JPH0459474U (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0459474U (ja) |
-
1990
- 1990-09-28 JP JP10250490U patent/JPH0459474U/ja active Pending