JPH0460548B2 - - Google Patents
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- JPH0460548B2 JPH0460548B2 JP24433986A JP24433986A JPH0460548B2 JP H0460548 B2 JPH0460548 B2 JP H0460548B2 JP 24433986 A JP24433986 A JP 24433986A JP 24433986 A JP24433986 A JP 24433986A JP H0460548 B2 JPH0460548 B2 JP H0460548B2
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- light
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- microprocessor
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8983—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood for testing textile webs, i.e. woven material
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- D—TEXTILES; PAPER
- D04—BRAIDING; LACE-MAKING; KNITTING; TRIMMINGS; NON-WOVEN FABRICS
- D04B—KNITTING
- D04B35/00—Details of, or auxiliary devices incorporated in, knitting machines, not otherwise provided for
- D04B35/10—Indicating, warning, or safety devices, e.g. stop motions
- D04B35/20—Indicating, warning, or safety devices, e.g. stop motions responsive to defects, e.g. holes, in knitted products
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- D—TEXTILES; PAPER
- D06—TREATMENT OF TEXTILES OR THE LIKE; LAUNDERING; FLEXIBLE MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- D06H—MARKING, INSPECTING, SEAMING OR SEVERING TEXTILE MATERIALS
- D06H1/00—Marking textile materials; Marking in combination with metering or inspecting
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- D—TEXTILES; PAPER
- D06—TREATMENT OF TEXTILES OR THE LIKE; LAUNDERING; FLEXIBLE MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- D06H—MARKING, INSPECTING, SEAMING OR SEVERING TEXTILE MATERIALS
- D06H3/00—Inspecting textile materials
- D06H3/08—Inspecting textile materials by photo-electric or television means
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- G—PHYSICS
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- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/36—Textiles
- G01N33/367—Fabric or woven textiles
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
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- B65H2551/20—Display means; Information output means
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- G—PHYSICS
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- G01N2021/8858—Flaw counting
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- G—PHYSICS
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- G01N21/93—Detection standards; Calibrating baseline adjustment, drift correction
- G01N2021/936—Adjusting threshold, e.g. by way of moving average
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- G—PHYSICS
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- G01N2201/126—Microprocessor processing
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、発信器としての光反射原理に基く少
なくとも1つの光電監視ヘツドと、マイクロプロ
セツサを含みかつ少なくとも1つの切換え装置を
制御する出力信号を供給する電気信号評価回路と
を有する、欠陥個所の記録用長尺織物監視装置に
関する。ここで織物は編物も含むように広義に解
釈されるものとする。
なくとも1つの光電監視ヘツドと、マイクロプロ
セツサを含みかつ少なくとも1つの切換え装置を
制御する出力信号を供給する電気信号評価回路と
を有する、欠陥個所の記録用長尺織物監視装置に
関する。ここで織物は編物も含むように広義に解
釈されるものとする。
光電監視ヘツドを持つ長尺織物監視装置は、例
えばドイツ連邦共和国特許出願公開第1435180号
明細書により既に公知である。光電監視ヘツドの
信号評価回路がマイクロコンピユータを含んでい
る長尺織物監視装置も公知である(ドイツ連邦共
和国特許出願公開第3133428号明細書)。これまで
公知の長尺織物監視装置は、その感度を時間のか
かる手動設定で監視すべき長尺織物に合わせねば
ならず、かつ/又は誤切換えを回避する複雑な回
路構造を必要とするという欠点を持つている。
えばドイツ連邦共和国特許出願公開第1435180号
明細書により既に公知である。光電監視ヘツドの
信号評価回路がマイクロコンピユータを含んでい
る長尺織物監視装置も公知である(ドイツ連邦共
和国特許出願公開第3133428号明細書)。これまで
公知の長尺織物監視装置は、その感度を時間のか
かる手動設定で監視すべき長尺織物に合わせねば
ならず、かつ/又は誤切換えを回避する複雑な回
路構造を必要とするという欠点を持つている。
本発明の基礎になつている課題は、監視すべき
長尺織物の反射度を決定するパラメータへ感度を
自動的に設定するのを可能にして、一層確実な欠
陥表示を保証するように、最初にあげた種類の長
尺織物監視装置を構成することである。
長尺織物の反射度を決定するパラメータへ感度を
自動的に設定するのを可能にして、一層確実な欠
陥表示を保証するように、最初にあげた種類の長
尺織物監視装置を構成することである。
最初にあげた種類の長尺織物監視装置におい
て、この課題を解決するため本発明によれば、監
視ヘツドが、所定のサイクルで光パルスを供給す
る少なくとも1つの発光器と、それに応じたサイ
クルの反射光パルスを検出する少なくとも1つの
光電受光器とを持ち、少なくとも1つの受光器に
接続される信号評価回路が、マイクロプロセツサ
により制御可能な複数の感度段階を持つ信号増幅
器、マイクロプロセツサにより制御可能で信号増
幅器の感度状態に関係して設定可能なトリガレベ
ルを持つトリガ段、欠陥表示段、及び少なくとも
1つの欠陥表示評価段を持つている。
て、この課題を解決するため本発明によれば、監
視ヘツドが、所定のサイクルで光パルスを供給す
る少なくとも1つの発光器と、それに応じたサイ
クルの反射光パルスを検出する少なくとも1つの
光電受光器とを持ち、少なくとも1つの受光器に
接続される信号評価回路が、マイクロプロセツサ
により制御可能な複数の感度段階を持つ信号増幅
器、マイクロプロセツサにより制御可能で信号増
幅器の感度状態に関係して設定可能なトリガレベ
ルを持つトリガ段、欠陥表示段、及び少なくとも
1つの欠陥表示評価段を持つている。
本発明により構成される長尺織物監視装置は、
欠陥監視の開始前に監視装置の自動校正を可能に
する。本発明によるこの校正方法によれば、まず
信号増幅器が、検出の所定の校正時間又は所定の
相対速度区間にわたつて欠陥のない長尺織物範囲
に生ずる最も弱い反射信号の検出に必要な増幅段
階へマイクロプロセツサにより設定され、続いて
マイクロプロセツサが欠陥表示段を作用させる前
に、マイクロプロセツサによりトリガ段のトリガ
レベルが、信号増幅器の設定された感度レベルよ
り、予め選択可能な間隔だけ下へ移される。
欠陥監視の開始前に監視装置の自動校正を可能に
する。本発明によるこの校正方法によれば、まず
信号増幅器が、検出の所定の校正時間又は所定の
相対速度区間にわたつて欠陥のない長尺織物範囲
に生ずる最も弱い反射信号の検出に必要な増幅段
階へマイクロプロセツサにより設定され、続いて
マイクロプロセツサが欠陥表示段を作用させる前
に、マイクロプロセツサによりトリガ段のトリガ
レベルが、信号増幅器の設定された感度レベルよ
り、予め選択可能な間隔だけ下へ移される。
本発明により構成される長尺織物監視装置とマ
イクロプロセツサにより制御されるその運転方法
では、監視すべき長尺織物の異なる反射度のため
監視装置の不可避な感度設定が全自動的に行なわ
れ、欠陥信号を発生するトリガレベルは自動的に
設定されて、異なる反射度の範囲を持つ模様のあ
る長尺織物の走査の際不可避な信号変動は欠陥信
号を発生させず、長尺織物の穴や欠陥を伴う編目
形成等により生ずる薄い個所が欠陥信号を発生さ
せる。
イクロプロセツサにより制御されるその運転方法
では、監視すべき長尺織物の異なる反射度のため
監視装置の不可避な感度設定が全自動的に行なわ
れ、欠陥信号を発生するトリガレベルは自動的に
設定されて、異なる反射度の範囲を持つ模様のあ
る長尺織物の走査の際不可避な信号変動は欠陥信
号を発生させず、長尺織物の穴や欠陥を伴う編目
形成等により生ずる薄い個所が欠陥信号を発生さ
せる。
長尺織物監視装置の運転の確実性は光電監視ヘ
ツドの特別な構成により高められ、この光電監視
ヘツドが1列に設けられた複数の発光器としての
赤外線発光ダイオードを持ち、それぞれ前置増幅
器に接続される受光器がこれらの発光ダイオード
に付属していると有利である。この場合発光ダイ
オードのパルス状赤外光と監視対象物から反射さ
れた光とが、監視対象物に対してその表面上を動
かされる少なくとも1つのレンズ体又は導光体を
通して導かれるようにすることができる。
ツドの特別な構成により高められ、この光電監視
ヘツドが1列に設けられた複数の発光器としての
赤外線発光ダイオードを持ち、それぞれ前置増幅
器に接続される受光器がこれらの発光ダイオード
に付属していると有利である。この場合発光ダイ
オードのパルス状赤外光と監視対象物から反射さ
れた光とが、監視対象物に対してその表面上を動
かされる少なくとも1つのレンズ体又は導光体を
通して導かれるようにすることができる。
信号評価回路の信号増幅器の前にフイルタ段が
接続され、信号評価回路の欠陥表示段として、ト
リガ段のパルス出力信号により制御されるモノフ
リツプフロツプ回路が設けられて、トリガ段出力
信号のない時欠陥パルス信号を供給することがで
きるとよい。
接続され、信号評価回路の欠陥表示段として、ト
リガ段のパルス出力信号により制御されるモノフ
リツプフロツプ回路が設けられて、トリガ段出力
信号のない時欠陥パルス信号を供給することがで
きるとよい。
長尺織物監視装置の1つ又は複数の欠陥表示評
価段は、なるべく機械停止装置及び監視ヘツドに
接続される標識付け装置であることができる。標
識付け装置は検出された欠陥の標識付けを可能に
する。公知のように、欠陥計数器、少なくとも1
つの光学表示装置、及びマイクロプロセツサの値
の入力及び/又は切換え用キーボードを持つ信号
評価回路は、欠陥表示段のパルス出力信号により
始動されて欠陥表示段の動作を期限付きで中断可
能な時限段を持つていると有利である。この装置
は、丸編機の丸編地の監視の際、一旦検出された
欠陥が次の丸編機回転の際再び監視ヘツドにより
記録されるのを防止するのに有利である。一般に
編成工具制御装置を切換えにより生ずる欠陥を伴
う縦縞が丸編地に現われても監視装置により記録
されないような丸編機では、縦縞範囲を走査する
発信器例えば誘導発信器によりこの中断回路又は
別の中断回路を始動させるのがよい。
価段は、なるべく機械停止装置及び監視ヘツドに
接続される標識付け装置であることができる。標
識付け装置は検出された欠陥の標識付けを可能に
する。公知のように、欠陥計数器、少なくとも1
つの光学表示装置、及びマイクロプロセツサの値
の入力及び/又は切換え用キーボードを持つ信号
評価回路は、欠陥表示段のパルス出力信号により
始動されて欠陥表示段の動作を期限付きで中断可
能な時限段を持つていると有利である。この装置
は、丸編機の丸編地の監視の際、一旦検出された
欠陥が次の丸編機回転の際再び監視ヘツドにより
記録されるのを防止するのに有利である。一般に
編成工具制御装置を切換えにより生ずる欠陥を伴
う縦縞が丸編地に現われても監視装置により記録
されないような丸編機では、縦縞範囲を走査する
発信器例えば誘導発信器によりこの中断回路又は
別の中断回路を始動させるのがよい。
本発明による長尺織物監視装置は、こじんまり
した装置として構成され、その監視ヘツドは特別
な使用目的に容易に合わされ、この監視装置は監
視すべき長尺織物を製造する機械に有利に設けら
れて、完成した長尺織物のこれまで普通であつた
手による点検を不要にする。装置の自動感度設定
により、例えば機械をまだ停止させない限界とし
ての特定の欠陥目標値を規定するため、又は例え
ば特定の大きさ以上の穴のみを欠陥として記録す
るためトリガレベルが設定された信号増幅器レベ
ルから取る間隔段の数を規定するため、専門家の
熟練を要することなく数値的に規定可能なキー操
作に設定過程が限定されるので、監視装置が容易
に操作可能である。
した装置として構成され、その監視ヘツドは特別
な使用目的に容易に合わされ、この監視装置は監
視すべき長尺織物を製造する機械に有利に設けら
れて、完成した長尺織物のこれまで普通であつた
手による点検を不要にする。装置の自動感度設定
により、例えば機械をまだ停止させない限界とし
ての特定の欠陥目標値を規定するため、又は例え
ば特定の大きさ以上の穴のみを欠陥として記録す
るためトリガレベルが設定された信号増幅器レベ
ルから取る間隔段の数を規定するため、専門家の
熟練を要することなく数値的に規定可能なキー操
作に設定過程が限定されるので、監視装置が容易
に操作可能である。
本発明により構成されて丸編機で使用するため
に設けられる長尺織物監視装置の実施例を、添付
図面により以下に説明する。
に設けられる長尺織物監視装置の実施例を、添付
図面により以下に説明する。
第1図に示す架台10を持つ丸編機は、定置カ
ム箱12内で場合によつては針を持つダイアル板
と共に回転して公知のように丸編地13を形成す
る図示しない針筒用の側方に設置された駆動部分
11を持つている。丸編地13は、丸編機の編目
形成範囲から引出し兼巻取り装置14への途中
で、長尺織物監視装置により編地欠陥を監視され
る。監視装置は丸編地13の外側へ密接する光電
監視ヘツド15を持ち、回転する丸編地13がこ
の監視ヘツドを通り過ぎる。監視ヘツド15は丸
編機の駆動部分11に組込まれた信号評価回路に
接続され、第1図にはこの信号評価回路のうち表
示兼操作側16のみが見える。
ム箱12内で場合によつては針を持つダイアル板
と共に回転して公知のように丸編地13を形成す
る図示しない針筒用の側方に設置された駆動部分
11を持つている。丸編地13は、丸編機の編目
形成範囲から引出し兼巻取り装置14への途中
で、長尺織物監視装置により編地欠陥を監視され
る。監視装置は丸編地13の外側へ密接する光電
監視ヘツド15を持ち、回転する丸編地13がこ
の監視ヘツドを通り過ぎる。監視ヘツド15は丸
編機の駆動部分11に組込まれた信号評価回路に
接続され、第1図にはこの信号評価回路のうち表
示兼操作側16のみが見える。
第2図及び第3図は光電監視ヘツド15の第1
実施例を示している。丸編地13の長さ方向に合
わされるその細長いケース17は、連結片18及
び19を介して丸編機の架台10に結合されて、
引張りばね20により、その走査側を丸編地13
に密接せしめられる。ケース17の走査側を閉じ
る挿入体21には、細長いレンズ体22が挿入さ
れている。監視ヘツド15のケース17の内部に
は、等間隔で取付けられる1列の赤外発光ダイオ
ード23が、ケース17及び丸編地13の長さ方
向に、レンズ体22から出る隔壁24の一方の側
に設けられている。隔壁24の他方の側には1列
のフオトダイオード25があり、それぞれの発光
ダイオード23からパルスとして出てレンズ体2
2を通つて丸編地13の表面へ向けられる赤外光
のうち丸編地13からレンズ体22へ反射される
部分を受けて、公知のように電気信号を変換し、
この信号が監視装置の信号評価回路へ導かれる。
監視ヘツド15の走査側を示す第3図からわかる
ように、発光ダイオード23とそれに付属するフ
オトダイオード25が、レンズ体22を持つ挿入
体21の後でそれぞれ1列に等間隔に設けられて
いる。
実施例を示している。丸編地13の長さ方向に合
わされるその細長いケース17は、連結片18及
び19を介して丸編機の架台10に結合されて、
引張りばね20により、その走査側を丸編地13
に密接せしめられる。ケース17の走査側を閉じ
る挿入体21には、細長いレンズ体22が挿入さ
れている。監視ヘツド15のケース17の内部に
は、等間隔で取付けられる1列の赤外発光ダイオ
ード23が、ケース17及び丸編地13の長さ方
向に、レンズ体22から出る隔壁24の一方の側
に設けられている。隔壁24の他方の側には1列
のフオトダイオード25があり、それぞれの発光
ダイオード23からパルスとして出てレンズ体2
2を通つて丸編地13の表面へ向けられる赤外光
のうち丸編地13からレンズ体22へ反射される
部分を受けて、公知のように電気信号を変換し、
この信号が監視装置の信号評価回路へ導かれる。
監視ヘツド15の走査側を示す第3図からわかる
ように、発光ダイオード23とそれに付属するフ
オトダイオード25が、レンズ体22を持つ挿入
体21の後でそれぞれ1列に等間隔に設けられて
いる。
監視ヘツド15のケース17には標識付け装置
26が取付けられて、その丸編地13へ向く端面
に1つ又は複数の標識付けピン27を持ち、この
ピンが丸編地13へ向かつて前進して、信号評価
回路により記録される丸編地の欠陥個所を標識付
けすることができる。監視ヘツドの付属回路部分
例えばフオトダイオード25に接続される前置増
幅器、パルス発生器及び給電部分は、ケース17
内に設けられる印刷配線板29上に取付けられて
いる。
26が取付けられて、その丸編地13へ向く端面
に1つ又は複数の標識付けピン27を持ち、この
ピンが丸編地13へ向かつて前進して、信号評価
回路により記録される丸編地の欠陥個所を標識付
けすることができる。監視ヘツドの付属回路部分
例えばフオトダイオード25に接続される前置増
幅器、パルス発生器及び給電部分は、ケース17
内に設けられる印刷配線板29上に取付けられて
いる。
第4図は光電監視ヘツド15の別の実施例を示
し、丸編地13に接触せしめられるケース17a
の透明端板21aの後には、ガラス導光体28が
赤外発光ダイオード23aの列の前に設けられて
いる。フオトダイオード25aはこのガラス導光
体28の前端の横に設けられている。これら装置
部分はすべて印刷配線板29a上に直接取付けら
れている。
し、丸編地13に接触せしめられるケース17a
の透明端板21aの後には、ガラス導光体28が
赤外発光ダイオード23aの列の前に設けられて
いる。フオトダイオード25aはこのガラス導光
体28の前端の横に設けられている。これら装置
部分はすべて印刷配線板29a上に直接取付けら
れている。
第5図は監視装置の信号評価回路のブロツク線
図を示している。回路において信号伝送路は簡単
な矢印又は三角形矢印を持つ2本線により示され
ている。ここには、メモリ保護のため停電の場合
図示しない電池へ接続される電源部分30、付属
の制御回路を持つマイクロプロセツサ31、フイ
ルタ段33、信号増幅器34、トリガ段35及び
欠陥表示段36から成る直列回路に接続される監
視ヘツド端子32が示されている。複数の可能な
欠陥表示評価段のうち、機械停止段37が示され
ている。信号導線として、監視ヘツド端子32か
らフイルタ段33へ通じる導線38、別の監視ヘ
ツド端子39からマイクロプロセツサ31へ通じ
る導線40、検出器端子41例えば誘導発信器か
らマイクロプロセツサ31へ通じる導線42、欠
陥表示段36からマイクロプロセツサ31の制御
兼表示回路へ通じる導線43、マイクロプロセツ
サ31の制御回路から機械停止段37へ通じる導
線44、マイクロプロセツサ31の制御回路から
第2図の標識付け装置26へ通じる導線45、及
びキー操作スイツチ46からマイクロプロセツサ
31へ通じる導線47が示されている。マイクロ
プロセツサ制御導線48及び49はマイクロプロ
セツサ31から信号増幅器34及びトリガ段35
へ通じる。さらにマイクロプロセツサ制御導線5
0及び51が、キーボード52及び光学表示部分
53へ通じる。
図を示している。回路において信号伝送路は簡単
な矢印又は三角形矢印を持つ2本線により示され
ている。ここには、メモリ保護のため停電の場合
図示しない電池へ接続される電源部分30、付属
の制御回路を持つマイクロプロセツサ31、フイ
ルタ段33、信号増幅器34、トリガ段35及び
欠陥表示段36から成る直列回路に接続される監
視ヘツド端子32が示されている。複数の可能な
欠陥表示評価段のうち、機械停止段37が示され
ている。信号導線として、監視ヘツド端子32か
らフイルタ段33へ通じる導線38、別の監視ヘ
ツド端子39からマイクロプロセツサ31へ通じ
る導線40、検出器端子41例えば誘導発信器か
らマイクロプロセツサ31へ通じる導線42、欠
陥表示段36からマイクロプロセツサ31の制御
兼表示回路へ通じる導線43、マイクロプロセツ
サ31の制御回路から機械停止段37へ通じる導
線44、マイクロプロセツサ31の制御回路から
第2図の標識付け装置26へ通じる導線45、及
びキー操作スイツチ46からマイクロプロセツサ
31へ通じる導線47が示されている。マイクロ
プロセツサ制御導線48及び49はマイクロプロ
セツサ31から信号増幅器34及びトリガ段35
へ通じる。さらにマイクロプロセツサ制御導線5
0及び51が、キーボード52及び光学表示部分
53へ通じる。
信号評価回路はここには図示しない欠陥計数器
を持ち、この計数器は欠陥表示段36の出力信号
によりトリガされ、その計数状態は第1図に示す
表示範囲58を持つ表示部分53で見ることがで
きる。欠陥計数器は比較段として構成されて、目
標値発信器に接続され、特定の最小欠陥数になつ
た後始めて機械の停止を行なう場合、表示範囲5
8に現われる特定の最小欠陥数をキーボード52
で目標値発信器へ入れることができる。同様に図
示してないが、マイクロプロセツサ31の制御回
路へ挿入される時限段は、欠陥表示段36に欠陥
信号が現われる際この欠陥表示を期限付きで停止
して、同じ欠陥の二重記録を回避する。この校正
状態は例えば緑の運転表示灯の点灯により表示す
ることができ、一方赤の運転表示灯は機械の停止
を表示する。
を持ち、この計数器は欠陥表示段36の出力信号
によりトリガされ、その計数状態は第1図に示す
表示範囲58を持つ表示部分53で見ることがで
きる。欠陥計数器は比較段として構成されて、目
標値発信器に接続され、特定の最小欠陥数になつ
た後始めて機械の停止を行なう場合、表示範囲5
8に現われる特定の最小欠陥数をキーボード52
で目標値発信器へ入れることができる。同様に図
示してないが、マイクロプロセツサ31の制御回
路へ挿入される時限段は、欠陥表示段36に欠陥
信号が現われる際この欠陥表示を期限付きで停止
して、同じ欠陥の二重記録を回避する。この校正
状態は例えば緑の運転表示灯の点灯により表示す
ることができ、一方赤の運転表示灯は機械の停止
を表示する。
第6図は信号評価回路の信号増幅器34及びト
リガ段35の構成を示す。信号増幅器34はマイ
クロプロセツサにより制御される切換え段54を
持ち、この切換え段により本来の増幅回路55の
増幅度が全体として例えば16段階に変化可能で
ある。同じようにトリガ段35もマイクロプロセ
ツサにより制御される切換え段56を持ち、この
切換え段により本来のトリガ回路57のトリガレ
ベルが例えば16個の種々の値に設定可能である。
リガ段35の構成を示す。信号増幅器34はマイ
クロプロセツサにより制御される切換え段54を
持ち、この切換え段により本来の増幅回路55の
増幅度が全体として例えば16段階に変化可能で
ある。同じようにトリガ段35もマイクロプロセ
ツサにより制御される切換え段56を持ち、この
切換え段により本来のトリガ回路57のトリガレ
ベルが例えば16個の種々の値に設定可能である。
第10図は第5図に示した回路部分を持つ信号
評価回路を収容するケースの表示兼操作側16を
示す。ここには光学表示区域58、キーボード5
2、キースイツチ46のキー穴、2つの運転表示
灯59及び60、オンオフスイツチ61、電源接
続ケーブル62、及び監査ヘツド、発信器例えば
誘導発信器及び機械停止装置の端子用の3つのフ
ランジ形ソケツト63,64及び65がある。
評価回路を収容するケースの表示兼操作側16を
示す。ここには光学表示区域58、キーボード5
2、キースイツチ46のキー穴、2つの運転表示
灯59及び60、オンオフスイツチ61、電源接
続ケーブル62、及び監査ヘツド、発信器例えば
誘導発信器及び機械停止装置の端子用の3つのフ
ランジ形ソケツト63,64及び65がある。
長尺織物監視装置の作用は次の通りである。監
視すべき長尺織物、ここでは丸編地13に接する
監視ヘツド15は、そのフオトダイオード25に
より、それにより受信されたパルス状反射赤外光
に対応する信号を供給する。複数のフオトダイオ
ード25の信号は、監視ヘツド15で前段増幅し
かつまとめた後、端子32を介して信号評価回路
へ達し、そこから信号導線38を介してフイルタ
段33へ達する。端子39及び信号導線40を介
して、マイクロプロセツサ31は監視ヘツド15
が接続されているかどうかを確認することができ
る。フイルタ段33において外乱信号及び雑音信
号が除去される。次の信号増幅器34において、
後述する校正過程で規定される増幅度だけ増幅が
行なわれ、こうして増幅校正信号はトリガ段35
へ送られる。このトリガ段のトリガレベルも後述
する校正過程中に前もつて規定されている。第9
図の線図は、校正の際設定されるトリガレベル6
6と、信号増幅器34で増幅される個々のパルス
信号の先端から得られる信号曲線67とを示して
いる。丸編地に欠陥がないと、増幅されたパルス
信号はすべてトリガレベル66より上にある。し
かし丸編地に穴があると、反射される光の量は少
ないか又は全くないので、欠陥個所に生じて信号
増幅器34で一様に増幅される信号は弱くて、ト
リガレベル66より下にある。第9図は、小さい
穴により生ずる第1の欠陥個所68及び大きい穴
により生ずる第2の欠陥個所69における信号曲
線の経過を示している。レベル66を超過するパ
ルス信号のみがトリガ段35に出力信号を発生す
る。
視すべき長尺織物、ここでは丸編地13に接する
監視ヘツド15は、そのフオトダイオード25に
より、それにより受信されたパルス状反射赤外光
に対応する信号を供給する。複数のフオトダイオ
ード25の信号は、監視ヘツド15で前段増幅し
かつまとめた後、端子32を介して信号評価回路
へ達し、そこから信号導線38を介してフイルタ
段33へ達する。端子39及び信号導線40を介
して、マイクロプロセツサ31は監視ヘツド15
が接続されているかどうかを確認することができ
る。フイルタ段33において外乱信号及び雑音信
号が除去される。次の信号増幅器34において、
後述する校正過程で規定される増幅度だけ増幅が
行なわれ、こうして増幅校正信号はトリガ段35
へ送られる。このトリガ段のトリガレベルも後述
する校正過程中に前もつて規定されている。第9
図の線図は、校正の際設定されるトリガレベル6
6と、信号増幅器34で増幅される個々のパルス
信号の先端から得られる信号曲線67とを示して
いる。丸編地に欠陥がないと、増幅されたパルス
信号はすべてトリガレベル66より上にある。し
かし丸編地に穴があると、反射される光の量は少
ないか又は全くないので、欠陥個所に生じて信号
増幅器34で一様に増幅される信号は弱くて、ト
リガレベル66より下にある。第9図は、小さい
穴により生ずる第1の欠陥個所68及び大きい穴
により生ずる第2の欠陥個所69における信号曲
線の経過を示している。レベル66を超過するパ
ルス信号のみがトリガ段35に出力信号を発生す
る。
欠陥表示段36はいわゆるモノフリツプフロツ
プ回路で、そのパルス持続時間は監視ヘツド15
から供給される信号のパルス間隔より少し大き
い。従つて前に接続されるトリガ段35の出力端
に走査パルスの出力信号が現われる間、欠陥表示
段36のモノフリツプフロツプ回路は第9図に示
される信号レベル70に保たれる。しかし欠陥個
所68及び29のためトリガ段35の出力信号が
なくなると、信号レベル70は短い時間71又は
長い時間72にわたつて中断される。この中断に
より欠陥表示段36に出力信号が生じて、信号導
線43を介して評価のためマイクロプロセツサ3
1の制御回路へ供給される。
プ回路で、そのパルス持続時間は監視ヘツド15
から供給される信号のパルス間隔より少し大き
い。従つて前に接続されるトリガ段35の出力端
に走査パルスの出力信号が現われる間、欠陥表示
段36のモノフリツプフロツプ回路は第9図に示
される信号レベル70に保たれる。しかし欠陥個
所68及び29のためトリガ段35の出力信号が
なくなると、信号レベル70は短い時間71又は
長い時間72にわたつて中断される。この中断に
より欠陥表示段36に出力信号が生じて、信号導
線43を介して評価のためマイクロプロセツサ3
1の制御回路へ供給される。
信号増幅器34の増幅度及び後続のトリガ段3
5のトリガレベル66は、欠陥監視に先行する校
正過程において、監視すべき丸編地13の性質に
合わせて自動的に設定される。このためまず監視
ヘツド15から丸編機の少なくとも1回転にわた
つて欠陥のない丸編地範囲から供給される走査信
号がマイクロプロセツサ31により評価され、信
号増幅器34の増幅度が欠陥のない丸編地の最小
反射度の個所から供給される最も弱い信号に合わ
される。従つて最も弱い走査信号でも良好な増幅
が行なわれるように、信号増幅器の増幅度がその
16段階に設定される。模様のある丸編地では、信
号レベルは異なる強さを持つことができる。単色
で単一組織の丸編地では、実際上の差はない。マ
イクロプロセツサ31によつて、増幅レベルが信
号増幅器34の制御限界から充分離れているよう
にされる。
5のトリガレベル66は、欠陥監視に先行する校
正過程において、監視すべき丸編地13の性質に
合わせて自動的に設定される。このためまず監視
ヘツド15から丸編機の少なくとも1回転にわた
つて欠陥のない丸編地範囲から供給される走査信
号がマイクロプロセツサ31により評価され、信
号増幅器34の増幅度が欠陥のない丸編地の最小
反射度の個所から供給される最も弱い信号に合わ
される。従つて最も弱い走査信号でも良好な増幅
が行なわれるように、信号増幅器の増幅度がその
16段階に設定される。模様のある丸編地では、信
号レベルは異なる強さを持つことができる。単色
で単一組織の丸編地では、実際上の差はない。マ
イクロプロセツサ31によつて、増幅レベルが信
号増幅器34の制御限界から充分離れているよう
にされる。
第7図及び第8図の線図の左半分は、校正過程
中における信号増幅器34の過程を示している。
第7図による実施例では、入つて来るパルス状走
査信号の振幅に合わせて増幅度が段階的に高めら
れ、それにより段階曲線73が生ずる。この段階
曲線が後続のトリガ段35の線図に記入された最
高レベル66maxを曲線範囲73aで超過すると、
マイクロプロセツサ31は増幅度を再びトリガ段
13の最高レベル66max以下の振幅値を持つ増
幅段階へ戻すので、曲線73は第7図の範囲73
bの経過をとる。範囲73bにおける一様な曲線
経過は、単色の丸編地が走査されることを示して
いる。
中における信号増幅器34の過程を示している。
第7図による実施例では、入つて来るパルス状走
査信号の振幅に合わせて増幅度が段階的に高めら
れ、それにより段階曲線73が生ずる。この段階
曲線が後続のトリガ段35の線図に記入された最
高レベル66maxを曲線範囲73aで超過すると、
マイクロプロセツサ31は増幅度を再びトリガ段
13の最高レベル66max以下の振幅値を持つ増
幅段階へ戻すので、曲線73は第7図の範囲73
bの経過をとる。範囲73bにおける一様な曲線
経過は、単色の丸編地が走査されることを示して
いる。
第8図による実施例では、始めにおいて、最高
トリガレベル66maxを超過する増幅範囲73a
からその下にある曲線経過73bの増幅範囲へ信
号増幅器34の増幅度の段階的減少が行なわれ
る。
トリガレベル66maxを超過する増幅範囲73a
からその下にある曲線経過73bの増幅範囲へ信
号増幅器34の増幅度の段階的減少が行なわれ
る。
信号増幅器34の増幅度のこの設定後、マイク
ロプロセツサ31により、トリガ段35のトリガ
レベル66が、段階的に最高レベル66maxから、
第7図及び第8図の右半分に示すように低下され
る。トリガレベル66は少なくとも第7図及び第
8図に記入したレベル段階66aまで低下され、
このレベル段階は明らかに信号増幅器34の曲線
範囲73bより下にある。もつと粗い欠陥のみ表
示する場合、トリガレベル66はもつと低く段階
66b又は66cへ低下されるが、これは信号評
価回路の前面板16のキーボード52において作
業員が設定できる。
ロプロセツサ31により、トリガ段35のトリガ
レベル66が、段階的に最高レベル66maxから、
第7図及び第8図の右半分に示すように低下され
る。トリガレベル66は少なくとも第7図及び第
8図に記入したレベル段階66aまで低下され、
このレベル段階は明らかに信号増幅器34の曲線
範囲73bより下にある。もつと粗い欠陥のみ表
示する場合、トリガレベル66はもつと低く段階
66b又は66cへ低下されるが、これは信号評
価回路の前面板16のキーボード52において作
業員が設定できる。
上述した校正過程の終了後始めて、欠陥表示段
36が有効になり、本来の欠陥監視過程が第9図
の線図により説明したように始まる。
36が有効になり、本来の欠陥監視過程が第9図
の線図により説明したように始まる。
第1図は監視装置を備えた丸編器の概略正面
図、第2図は標識付け装置に連結される監視装置
の光電監視ヘツドの第1実施例の断面図、第3図
はこの監視ヘツドを第2図の矢印の方向に見た
図、第4図は監視ヘツドの第2実施例の第2図に
対応する断面図、第5図は監視装置の電気信号評
価回路のブロツク線図、第6図は監視装置の信号
評価回路の信号増幅器及びトリガ段のブロツク線
図、第7図及び第8図は信号評価回路の信号増幅
器及びトリガ段の作用を説明する信号線図、第9
図は欠陥表示を説明する信号線図、第10図は信
号評価回路を収容する監視装置のケースの表示兼
操作側の概略正面図である。 13……長尺織物、15……監視ヘツド、2
3,23a……発光器(発光ダイオード)、25,
25a……受光器(フオトダイオード)、31…
…マイクロプロセツサ、34……信号増幅器、3
5……トリガ段、36……欠陥表示段、37……
欠陥表示評価段、66……トリガレベル。
図、第2図は標識付け装置に連結される監視装置
の光電監視ヘツドの第1実施例の断面図、第3図
はこの監視ヘツドを第2図の矢印の方向に見た
図、第4図は監視ヘツドの第2実施例の第2図に
対応する断面図、第5図は監視装置の電気信号評
価回路のブロツク線図、第6図は監視装置の信号
評価回路の信号増幅器及びトリガ段のブロツク線
図、第7図及び第8図は信号評価回路の信号増幅
器及びトリガ段の作用を説明する信号線図、第9
図は欠陥表示を説明する信号線図、第10図は信
号評価回路を収容する監視装置のケースの表示兼
操作側の概略正面図である。 13……長尺織物、15……監視ヘツド、2
3,23a……発光器(発光ダイオード)、25,
25a……受光器(フオトダイオード)、31…
…マイクロプロセツサ、34……信号増幅器、3
5……トリガ段、36……欠陥表示段、37……
欠陥表示評価段、66……トリガレベル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 発信器としての光反射原理に基く少なくとも
1つの光電監視ヘツドと、マイクロプロセツサを
含みかつ少なくとも1つの切換え装置を制御する
出力信号を供給する電気信号評価回路とを有する
ものにおいて、監視ヘツド15が、所定のサイク
ルで光パルスを供給する少なくとも1つの発光器
23,23aと、それに応じたサイクルの反射光
信号を検出する少なくとも1つの光電受光器2
5,25aとを持ち、少なくとも1つの受光器2
5,25aに接続される信号評価回路が、マイク
ロプロセツサ31により制御可能な複数の増幅段
階を持つ信号増幅器34、マイクロプロセツサ1
5により制御可能で信号増幅器34の増幅度に関
係して設定可能なトリガレベルを持つトリガ段3
5、欠陥表示段36、及び少なくとも1つの欠陥
表示評価段37を持つていることを特徴とする、
欠陥個所の記録用長尺織物監視装置。 2 光電監視ヘツド15が1列に設けられた複数
の発光器としての赤外線発光ダイオード23,2
3aを持ち、それぞれ前置増幅器に接続される受
光器25,25aがこれらの発光ダイオードに付
属していることを特徴とする、特許請求の範囲第
1項に記載の長尺織物監視装置。 3 発光ダイオード23,23aのパルス状赤外
光と監視対象物13から反射された光とが、監視
対象物に対してその表面上を動かされる少なくと
も1つのレンズ体22又は導光体28を通して導
かれることを特徴とする、特許請求の範囲第2項
に記載の長尺織物監視装置。 4 信号評価回路の信号増幅器34の前にフイル
タ段33が接続されていることを特徴とする、特
許請求の範囲第1項に記載の長尺織物監視装置。 5 信号評価回路の欠陥表示段36が、トリガ段
35のパルス出力信号により制御されるモノフリ
ツプフロツプ回路であり、トリガ段出力信号のな
い時欠陥パルス信号を供給することを特徴とす
る、特許請求の範囲第1項に記載の長尺織物監視
装置。 6 欠陥表示評価段として、機械停止装置37及
び監視ヘツド15に接続される標識付け装置26
が設けられていることを特徴とする、特許請求の
範囲第1項に記載の長尺織物監視装置。 7 信号評価回路が欠陥計数器、少なくとも1つ
の光学表示装置58、及びマイクロプロセツサ3
1の値の入力及び/又は切換え用キーボード52
を持つていることを特徴とする、特許請求の範囲
第1項に記載の長尺織物監視装置。 8 信号評価回路が欠陥表示段36のパルス出力
信号により始動されて欠陥表示段36の動作を期
限付きで中断可能な時限段を持つていることを特
徴とする、特許請求の範囲第1項に記載の長尺織
物監視装置。 9 信号評価回路の欠陥計数器が目標値発信器に
接続される比較段として構成されていることを特
徴とする、特許請求の範囲第7項に記載の長尺織
物監視装置。 10 発信器としての光反射原理に基く少なくと
も1つの光電監視ヘツドと、マイクロプロセツサ
を含みかつ少なくとも1つの切換え装置を制御す
る出力信号を供給する電気信号評価回路とを有
し、監視ヘツドが所定のサイクルで光パルスを供
給する少なくとも1つの発光器と、それに応じた
サイクルの反射光信号を検出する少なくとも1つ
の光電受光器とを持ち、少なくとも1つの受光器
に接続される信号評価回路が、マイクロプロセツ
サにより制御可能な複数の増幅段階を持つ信号増
幅器、マイクロプロセツサにより制御可能で信号
増幅器の増幅度に関係して設定可能なトリガレベ
ルを持つトリガ段、欠陥表示段、及び少なくとも
1つの欠陥表示評価段を持つているものにおい
て、まず信号増幅器34が、監視ヘツド15の所
定の校正時間又は所定の相対速度区間にわたつて
欠陥のない長尺織物範囲に生ずる最も弱い反射信
号の検出に必要な増幅段階へマイクロプロセツサ
31により設定され、続いてマイクロプロセツサ
31が欠陥表示段36を作用させる前に、マイク
ロプロセツサ31によりトリガ段35のトリガレ
ベル66が、信号増幅器34の設定された感度レ
ベル73bより、予め選択可能な間隔66a,6
6b,66cだけ下へ移されることを特徴とす
る、長尺織物監視装置の自動校正方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19853536991 DE3536991C1 (de) | 1985-10-17 | 1985-10-17 | Textilbahn-UEberwachungsgeraet zum Registrieren von Fehlerstellen |
| DE3536991.4 | 1985-10-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6295452A JPS6295452A (ja) | 1987-05-01 |
| JPH0460548B2 true JPH0460548B2 (ja) | 1992-09-28 |
Family
ID=6283795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24433986A Granted JPS6295452A (ja) | 1985-10-17 | 1986-10-16 | 欠陥個所の記録用長尺織物監視装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6295452A (ja) |
| CH (1) | CH672682A5 (ja) |
| DE (1) | DE3536991C1 (ja) |
| FR (1) | FR2588960B1 (ja) |
| GB (1) | GB2181834B (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3741195A1 (de) * | 1987-07-23 | 1989-02-02 | Gebhard Birkle | Verfahren zur qualitaetskontrolle eines flaechigen objektes, insbesondere zur fehlererkennung bei textilen stoffen, und vorrichtung hierzu |
| DE3729804A1 (de) * | 1987-09-05 | 1989-03-16 | Menschner Maschf Johannes | Verfahren zur automatischen erkennung von fehlern in bewegten warenbahnen |
| DE3733791A1 (de) * | 1987-10-06 | 1989-04-27 | Herbst Protechna Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur optischen ueberwachung einer maschenware |
| US4954891A (en) * | 1988-07-11 | 1990-09-04 | Process Automation Business, Inc. | Light guided illuminating/sectioning device for sheet inspection system |
| DD300314A7 (de) * | 1989-01-31 | 1992-06-04 | Rationalisierungs Und Automati | Verfahren und einrichtung zur fehlerkontrolle einer textilen warenbahn, insbesondere an rundstrickmaschinen |
| US4951223A (en) * | 1989-03-28 | 1990-08-21 | Langdon Wales R | Web material inspection system |
| JPH043031Y2 (ja) * | 1989-03-31 | 1992-01-31 | ||
| FR2652161B1 (fr) * | 1989-09-15 | 1991-12-27 | Inst Textile De France | Dispositif endoscopique pour la detection de defauts sur metier a tricoter circulaire. |
| US5006722A (en) * | 1990-03-02 | 1991-04-09 | Intec Corp. | Flaw annunciator with a controllable display means for an automatic inspection system |
| GB9008632D0 (en) * | 1990-04-17 | 1990-06-13 | Leicester Polytechnic | Inspecting garments |
| GB9024936D0 (en) * | 1990-11-16 | 1991-01-02 | Leicester Polytechnic | Methods and apparatus for fabric inspection |
| DE4039991A1 (de) * | 1990-12-14 | 1992-06-17 | Limaba Limbacher Maschinenbau | Verfahren zur fehlerkontrolle einer auf strickmaschinen erzeugten textilen warenbahn |
| DE4129126A1 (de) * | 1991-09-02 | 1993-03-04 | Memminger Iro Gmbh | Verfahren zum feststellen von fehlern in einer textilen warenbahn |
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