JPH0462523A - マトリクス基板及びマトリクス型表示装置 - Google Patents
マトリクス基板及びマトリクス型表示装置Info
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- JPH0462523A JPH0462523A JP2174056A JP17405690A JPH0462523A JP H0462523 A JPH0462523 A JP H0462523A JP 2174056 A JP2174056 A JP 2174056A JP 17405690 A JP17405690 A JP 17405690A JP H0462523 A JPH0462523 A JP H0462523A
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- wiring
- bus wiring
- preliminary
- source bus
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、バス配線の断線を修正する機能を有するマト
リクス基板及びマトリクス型表示装置に関する。
リクス基板及びマトリクス型表示装置に関する。
(従来の技術)
マン・マシンインターフェイストシてCRTが主として
用いられてきた。しかし、近年、CRTに代わる画像表
示装置として、液晶等を用いたマトリクス型表示装置が
注目されている。マトリクス型表示装置には精細で大型
のものが望まれている。
用いられてきた。しかし、近年、CRTに代わる画像表
示装置として、液晶等を用いたマトリクス型表示装置が
注目されている。マトリクス型表示装置には精細で大型
のものが望まれている。
マトリクス型表示装置を用いて精細な画像を表示するた
めには、マトリクスを構成する絵素の大きさを非常に小
さ(し、しかも非常に多くの絵素数を用いる必要がある
。絵素数が増大すると、それに伴って走査線及び信号線
として機能するバス配線の全長も長くなる。バス配線の
全長が長くなるに伴い、該バス配線には断線が生じ易く
なる。
めには、マトリクスを構成する絵素の大きさを非常に小
さ(し、しかも非常に多くの絵素数を用いる必要がある
。絵素数が増大すると、それに伴って走査線及び信号線
として機能するバス配線の全長も長くなる。バス配線の
全長が長くなるに伴い、該バス配線には断線が生じ易く
なる。
そのうえ、表示装置の大型化に伴い、バス配線の全長は
更に長くなり、断線の無いバス配線を作製することは益
々困難となってくる。
更に長くなり、断線の無いバス配線を作製することは益
々困難となってくる。
〈発明が解決しようとする課題)
バス配線の断線を修正する機能を備えたマトリクス型表
示装置が、開発されている。第1A図にそのマトリクス
型表示装置の回路図の一例を模式的に示す。一方向に平
行する多数のゲートバス配ga2に直交して、多数のソ
ースバス配線1が平行して設けられている。ゲートバス
配線2及びソースバス配線1は、絶縁膜を介して非導通
状態で交差している。ゲートバス配線2及びソースバス
配線1に囲まれた矩形の各領域には、絵素電極12がそ
れぞれ設けられ、絵素電極12と対向電極lOとの開に
液晶が封入され、絵素容jl16が形成されている。各
絵素電極12には、スイッチング素子としてT P T
(Thin Film Transistor) 1
1が接続されている。TFTIIのゲート電極13及び
ソース電極14は、それぞれゲートバス配線2及びソー
スバス配線lに接続されている。TFTllのドレイン
電極15は絵素電極12に接続されている。多数の絵素
が形成されている領域の外周には、予備配線3が設けら
れている。予備配線3は各ゲートバス配線2及びソース
バス配線1と絶縁膜を介して非導通状態で交差している
。
示装置が、開発されている。第1A図にそのマトリクス
型表示装置の回路図の一例を模式的に示す。一方向に平
行する多数のゲートバス配ga2に直交して、多数のソ
ースバス配線1が平行して設けられている。ゲートバス
配線2及びソースバス配線1は、絶縁膜を介して非導通
状態で交差している。ゲートバス配線2及びソースバス
配線1に囲まれた矩形の各領域には、絵素電極12がそ
れぞれ設けられ、絵素電極12と対向電極lOとの開に
液晶が封入され、絵素容jl16が形成されている。各
絵素電極12には、スイッチング素子としてT P T
(Thin Film Transistor) 1
1が接続されている。TFTIIのゲート電極13及び
ソース電極14は、それぞれゲートバス配線2及びソー
スバス配線lに接続されている。TFTllのドレイン
電極15は絵素電極12に接続されている。多数の絵素
が形成されている領域の外周には、予備配線3が設けら
れている。予備配線3は各ゲートバス配線2及びソース
バス配線1と絶縁膜を介して非導通状態で交差している
。
このような回路を有するマトリクス基板に於て、例えば
ソースバス配線IXに断線が生じた場合には、予備配線
3を用いて修正することができる。
ソースバス配線IXに断線が生じた場合には、予備配線
3を用いて修正することができる。
第1A図に示すように、ソースバス配線IXに断線部4
が生じているとすると、不良ソースバス配線IXの両端
部の予備配線3と交差している交差部4a及び4bに、
レーザ光等が照射される。レーザ光照射により、不良ソ
ースバス配線ixと予備配線3とが溶融され、これらの
配線lx及び3の間の絶縁膜が破壊されて、不良ソース
バス配線1xと予備配線3とが電気的に接続される。こ
のように2箇所で接続することにより、不良ソースバス
配線1xの断線部4の両側の部分は、予備配線3を介し
て電気的に接続される。
が生じているとすると、不良ソースバス配線IXの両端
部の予備配線3と交差している交差部4a及び4bに、
レーザ光等が照射される。レーザ光照射により、不良ソ
ースバス配線ixと予備配線3とが溶融され、これらの
配線lx及び3の間の絶縁膜が破壊されて、不良ソース
バス配線1xと予備配線3とが電気的に接続される。こ
のように2箇所で接続することにより、不良ソースバス
配線1xの断線部4の両側の部分は、予備配線3を介し
て電気的に接続される。
しかし、このようにして修正を行う場合、ソースバス配
線1の融点の温度と、予備配線3の融点の温度との差が
大きいと、交差部4a及び4bでの不良ソースバス配線
1xと予備配線3との電気的接続が不安定となり、次の
ような問題点が発生する。
線1の融点の温度と、予備配線3の融点の温度との差が
大きいと、交差部4a及び4bでの不良ソースバス配線
1xと予備配線3との電気的接続が不安定となり、次の
ような問題点が発生する。
まず第一に、不良ソースバス配線1xと予備配ls3と
の開の確実な電気的接続が得られず、接続抵抗が大きく
なる。ソースバス配線1を介して絵素電極12に信号を
供給するドライバICの能力は、正常なソースバス配線
1の負荷抵抗を想定して設計されるので、大きな負荷抵
抗を有する上記接続部を介して絵素電極12を駆動する
には、能力不足となる。このような絵素電極12によっ
て形成される絵素は、他の正常なソースバス配線1に接
続された絵素電極12によって形成される絵素とは異な
った表示状態となる。そのため、上述のように予備配線
3による修正を行っても、断線部4は完全には修正され
得ないことになる。
の開の確実な電気的接続が得られず、接続抵抗が大きく
なる。ソースバス配線1を介して絵素電極12に信号を
供給するドライバICの能力は、正常なソースバス配線
1の負荷抵抗を想定して設計されるので、大きな負荷抵
抗を有する上記接続部を介して絵素電極12を駆動する
には、能力不足となる。このような絵素電極12によっ
て形成される絵素は、他の正常なソースバス配線1に接
続された絵素電極12によって形成される絵素とは異な
った表示状態となる。そのため、上述のように予備配線
3による修正を行っても、断線部4は完全には修正され
得ないことになる。
第二に、不安定な接続が行われた交差部4a及び4bに
於いては、電気的、熱的、又は機械的な衝撃、変化等に
より、不良ソースバス配線IXと予備配線3とが電気的
に非接触状態となることがある。このような場合には修
正前の表示状態に戻ってしまうことになる。
於いては、電気的、熱的、又は機械的な衝撃、変化等に
より、不良ソースバス配線IXと予備配線3とが電気的
に非接触状態となることがある。このような場合には修
正前の表示状態に戻ってしまうことになる。
上述のような断線部4が生じると、表示画面上では線欠
陥が生じる。線欠陥は重大な欠陥なので、線欠陥を生じ
た表示装置は不良品となり、表示装置のコストアップに
つながる。以上の問題点は、何れも表示装置が大型にな
るに従い、顕著に現れる。前述のように表示装置が大型
になるに従って断線は生じ易くなるので、大型の表示装
置はど上述の問題点の解決の必要性は大きくなる。
陥が生じる。線欠陥は重大な欠陥なので、線欠陥を生じ
た表示装置は不良品となり、表示装置のコストアップに
つながる。以上の問題点は、何れも表示装置が大型にな
るに従い、顕著に現れる。前述のように表示装置が大型
になるに従って断線は生じ易くなるので、大型の表示装
置はど上述の問題点の解決の必要性は大きくなる。
本発明は上記の問題点を解決するものであり、本発明の
目的は、バス配線の断線を修正するための予備配線を有
し、しかも、予備配線を用いて断線を修正しても修正さ
れたバス配線の電気抵抗が小さく安定しているマトリク
ス基板及びマトリクス型表示装置を提供することである
。
目的は、バス配線の断線を修正するための予備配線を有
し、しかも、予備配線を用いて断線を修正しても修正さ
れたバス配線の電気抵抗が小さく安定しているマトリク
ス基板及びマトリクス型表示装置を提供することである
。
(課題を解決するための手段)
本発明のマトリクス基板は、絶縁性基板上にマトリクス
状に配列された絵素電極と、該絵素電極の間にそれぞれ
一方向に列を成して縦横に配線された走査線及び信号線
と、を有するマトリクス基板であって、該走査線及び該
信号線の列の少なくとも一方の列中の少なくとも一部の
線の両端部のそれぞれに於て、該一部の線と絶縁膜を介
して交差している予備配線を備え、該予備配線が該一部
の線の融点に近い融点を有しており、そのことによって
上記目的が達成される。
状に配列された絵素電極と、該絵素電極の間にそれぞれ
一方向に列を成して縦横に配線された走査線及び信号線
と、を有するマトリクス基板であって、該走査線及び該
信号線の列の少なくとも一方の列中の少なくとも一部の
線の両端部のそれぞれに於て、該一部の線と絶縁膜を介
して交差している予備配線を備え、該予備配線が該一部
の線の融点に近い融点を有しており、そのことによって
上記目的が達成される。
本発明のマトリクス型表示装置は、上記の構成を有する
マトリクス基板を有しており、そのことによって上記目
的が達成される。
マトリクス基板を有しており、そのことによって上記目
的が達成される。
(作用)
本発明のマトリクス基板及びマトリクス型表示装置では
、絶縁性基板上に形成された走査線及び信号線から成る
バス配線のうち、少なくとも一方のバス配線の、少なく
とも一部のバス配線の両端部のそれぞれに於て、予備配
線が絶縁膜を介して交差している。予備配線は、該一部
の線の融点に近い融点を有している。
、絶縁性基板上に形成された走査線及び信号線から成る
バス配線のうち、少なくとも一方のバス配線の、少なく
とも一部のバス配線の両端部のそれぞれに於て、予備配
線が絶縁膜を介して交差している。予備配線は、該一部
の線の融点に近い融点を有している。
予備配線が交差しているバス配線の何れかに断線が生じ
、不良バス配線となった場合には、該不良バス配線と2
つの予備配線との2つの交差部のそれぞれに於て、該不
良バス配線と予備配線とがレーザ光等の照射によって電
気的に接続される。
、不良バス配線となった場合には、該不良バス配線と2
つの予備配線との2つの交差部のそれぞれに於て、該不
良バス配線と予備配線とがレーザ光等の照射によって電
気的に接続される。
2つの予備配線は、マトリクス基板上で互いに電気的に
接続されているか、又はマトリクス基板の外部で接続可
能に配されている構成とすることができる。後者の場合
には、上記のレーザ光照射による接続の後、更に接続可
能に配されている部分で2つの予備配線が互いに電気的
に接続される。
接続されているか、又はマトリクス基板の外部で接続可
能に配されている構成とすることができる。後者の場合
には、上記のレーザ光照射による接続の後、更に接続可
能に配されている部分で2つの予備配線が互いに電気的
に接続される。
このようにして断線したバス配線の両側は、予備配線を
介して電気的に接続され、不良バス配線は修正される。
介して電気的に接続され、不良バス配線は修正される。
予備配線は不良バス配線の融点に近い融点を有している
ので、不良バス配線と予備配線とは確実に接続され、そ
の接続部は低抵抗であり、しかも後の電気的、熱的、又
は機械的な衝撃、変化等により、抵抗値の変化を生ずる
こともない。このように修正された不良バス配線の抵抗
は、前述の従来例のように極端に大きくなることはない
。従って、ドライバICの能力不足が生じることもない
。
ので、不良バス配線と予備配線とは確実に接続され、そ
の接続部は低抵抗であり、しかも後の電気的、熱的、又
は機械的な衝撃、変化等により、抵抗値の変化を生ずる
こともない。このように修正された不良バス配線の抵抗
は、前述の従来例のように極端に大きくなることはない
。従って、ドライバICの能力不足が生じることもない
。
(実施例)
本発明を実施例について以下に説明する。本実施例のマ
トリクス型表示装置の回路図は、前述の従来令で説明し
た第1A図と同様である。第1A図を参照しながら、本
実施例について説明する。
トリクス型表示装置の回路図は、前述の従来令で説明し
た第1A図と同様である。第1A図を参照しながら、本
実施例について説明する。
本実施例のマトリクス基板は、マトリクス状に配線され
た絵素電極12と、絵素電極12の間にそれぞれ一方回
に列を成して配線されたゲートバス配線2及びソースバ
ス配線1とを有する。ゲートバス配線2は走査線として
機能し、ソースバス配線1は信号線として機能している
。ゲートバス配線2及びソースバス配線1は、絶縁膜を
介して非導通状態で交差している。
た絵素電極12と、絵素電極12の間にそれぞれ一方回
に列を成して配線されたゲートバス配線2及びソースバ
ス配線1とを有する。ゲートバス配線2は走査線として
機能し、ソースバス配線1は信号線として機能している
。ゲートバス配線2及びソースバス配線1は、絶縁膜を
介して非導通状態で交差している。
絵素電極12と対向電極10との間に液晶が封入され、
絵素容量16が形成されている。各絵素電極12には、
スイッチング素子としてTFTllが接続されている。
絵素容量16が形成されている。各絵素電極12には、
スイッチング素子としてTFTllが接続されている。
TFTIIのゲート電極13及びソース電極14は、そ
れぞれゲートバス配線2及びソースバス配!I!1に接
続されている。TFTIIのドレイン電極15は絵素電
極12に接続されている。多数の絵素容量16及びTF
Tllが形成されている領域の外周には、予備配線3が
設けられている。予備配線3はゲートバス配線2及びソ
ースバス配線lと絶縁膜を介して非導通状態で交差して
いる。
れぞれゲートバス配線2及びソースバス配!I!1に接
続されている。TFTIIのドレイン電極15は絵素電
極12に接続されている。多数の絵素容量16及びTF
Tllが形成されている領域の外周には、予備配線3が
設けられている。予備配線3はゲートバス配線2及びソ
ースバス配線lと絶縁膜を介して非導通状態で交差して
いる。
第1A図のソースバス配線lと予備配線3との交差部4
aに於ける予備配線3に沿った断面図を、第1B図に示
す。交差部4bに於ける予備配線3に沿った断面図も第
1B図と同様である。本実施例のマトリクス型表示装置
の断面構造を、第1B図に従って説明する。ガラス基板
5上の全面に、Ta205、A I 203、Si3N
4等からなるベースコート膜6が、3000〜9000
人の厚さに形成されている。ベースコート膜6は必ずし
も設ける必要はない。ベースコート膜6上の絵素電極1
2、TFTII等が形成される領域の外周部(第1A図
)には、予備配線3が形成されている。予備配線3は、
一般的には、Ta、 At、 TI、N1、Mo、W
% Cr等の単層又はこれらの多層金属で形成されてい
る。本実施例では予備配線3はTaによって、厚さ30
00人に形成されている。
aに於ける予備配線3に沿った断面図を、第1B図に示
す。交差部4bに於ける予備配線3に沿った断面図も第
1B図と同様である。本実施例のマトリクス型表示装置
の断面構造を、第1B図に従って説明する。ガラス基板
5上の全面に、Ta205、A I 203、Si3N
4等からなるベースコート膜6が、3000〜9000
人の厚さに形成されている。ベースコート膜6は必ずし
も設ける必要はない。ベースコート膜6上の絵素電極1
2、TFTII等が形成される領域の外周部(第1A図
)には、予備配線3が形成されている。予備配線3は、
一般的には、Ta、 At、 TI、N1、Mo、W
% Cr等の単層又はこれらの多層金属で形成されてい
る。本実施例では予備配線3はTaによって、厚さ30
00人に形成されている。
予備配線3上には、Ta205.5iNx(例えば5l
sNa)等からなる予備配線絶縁膜24が形成されてい
る。予備配線絶縁膜24がTa205からなる場合には
、予備配線3の上面を陽極酸化することによって形成す
ることができる。更に、ベースコート膜6上には、ゲー
トバス配線2(第1B図には図示せず)も予備配線3と
同様の金属で形成されている。従って、予備配線3とゲ
ートバス配線2とは予備配線絶縁膜24を挟んで交差す
ることになる。本実施例では予備配線3の融点がゲート
バス配線2のそれと等しくなるように、ゲートバス配線
2もTaで3000人の厚さに形成されている。
sNa)等からなる予備配線絶縁膜24が形成されてい
る。予備配線絶縁膜24がTa205からなる場合には
、予備配線3の上面を陽極酸化することによって形成す
ることができる。更に、ベースコート膜6上には、ゲー
トバス配線2(第1B図には図示せず)も予備配線3と
同様の金属で形成されている。従って、予備配線3とゲ
ートバス配線2とは予備配線絶縁膜24を挟んで交差す
ることになる。本実施例では予備配線3の融点がゲート
バス配線2のそれと等しくなるように、ゲートバス配線
2もTaで3000人の厚さに形成されている。
予備配線絶縁膜24及びゲートバス配線2を覆って基板
5上の全面に、ゲート絶縁膜としても機能しているベー
ス絶縁膜7がS i Nx(例えば5I3N4)によっ
て形成されている。ベース絶縁膜7の厚さは1500〜
6000人の範囲が適しているが、本実施例では200
0〜3500人の範囲に設定した。ベース絶縁膜7上に
はソースバス配線1が形成されている。従って、予備配
線3とソースバス配線1とは、予備配線絶縁膜24とベ
ース絶縁膜7とを挟んで交差することになる。本実施例
では予備配線3の融点とソースバス配線1の融点とを等
しくするため、ソースバス配線1には予備配線3と同じ
Taが用いられている。
5上の全面に、ゲート絶縁膜としても機能しているベー
ス絶縁膜7がS i Nx(例えば5I3N4)によっ
て形成されている。ベース絶縁膜7の厚さは1500〜
6000人の範囲が適しているが、本実施例では200
0〜3500人の範囲に設定した。ベース絶縁膜7上に
はソースバス配線1が形成されている。従って、予備配
線3とソースバス配線1とは、予備配線絶縁膜24とベ
ース絶縁膜7とを挟んで交差することになる。本実施例
では予備配線3の融点とソースバス配線1の融点とを等
しくするため、ソースバス配線1には予備配線3と同じ
Taが用いられている。
ソースバス配線1を覆って基板5上の全面に、S I
N ! (例えば5i3N4)等からなる保護膜8が形
成されている。保護膜8の適切な厚さは2000〜10
000人であるが、本実施例では5000人に設定した
。保護膜8及び前述のベース絶縁膜7を、SiN、以外
に、SiOx、Ta205、Al2O3、TiO2、Y
2O3等の酸化物又は窒化物ニよって形成してもよい。
N ! (例えば5i3N4)等からなる保護膜8が形
成されている。保護膜8の適切な厚さは2000〜10
000人であるが、本実施例では5000人に設定した
。保護膜8及び前述のベース絶縁膜7を、SiN、以外
に、SiOx、Ta205、Al2O3、TiO2、Y
2O3等の酸化物又は窒化物ニよって形成してもよい。
また、保護膜8を基板上の全面に形成せずに、TFTI
I、 ソースバス配線1、ゲートバス配線2、予備配
線3等の表示に直接関与しない部分のみを覆い、絵素電
極12の中央部で除去した窓あき形状としてもよい。保
護膜8上には表示媒体である液晶層21内の液晶分子の
配向を規制する配向膜9が形成されている。
I、 ソースバス配線1、ゲートバス配線2、予備配
線3等の表示に直接関与しない部分のみを覆い、絵素電
極12の中央部で除去した窓あき形状としてもよい。保
護膜8上には表示媒体である液晶層21内の液晶分子の
配向を規制する配向膜9が形成されている。
配向膜9は5i02、ポリイミド系樹脂等からなる。
ガラス基板5に対向するガラス基板20上には、対向電
極、カラーフィルタ(何れも第1B図には図示せず)、
及び配向膜17が形成されている。
極、カラーフィルタ(何れも第1B図には図示せず)、
及び配向膜17が形成されている。
カラーフィルタの周囲には、必要に応じてブラックマト
リクス(図示せず)が設けられている。ガラス基板5及
び20の間には、表示媒体としてツィステッドネマティ
ック液晶層21が封入されている。
リクス(図示せず)が設けられている。ガラス基板5及
び20の間には、表示媒体としてツィステッドネマティ
ック液晶層21が封入されている。
本実施例のマトリクス型表示装置では、ソースバス配線
1又はゲートバス配線2の断線による不良を修正するこ
とができる。この表示装置を全面駆動することにより、
ソースバス配線1又はゲットバス配線2が断線している
場合には、断線部を始点とする線欠陥が表示画面上に認
められる。ソースバス配線1及びゲートバス配線2の何
れが断線しているかは、発生した線欠陥の方向によって
知ることができる。以下では第1A図に示すように、ソ
ースバス配線1xに断線部4が生じている場合について
説明する。尚、ゲートバス配線2が断線している場合に
も、以下と同様にして修正することができる。
1又はゲートバス配線2の断線による不良を修正するこ
とができる。この表示装置を全面駆動することにより、
ソースバス配線1又はゲットバス配線2が断線している
場合には、断線部を始点とする線欠陥が表示画面上に認
められる。ソースバス配線1及びゲートバス配線2の何
れが断線しているかは、発生した線欠陥の方向によって
知ることができる。以下では第1A図に示すように、ソ
ースバス配線1xに断線部4が生じている場合について
説明する。尚、ゲートバス配線2が断線している場合に
も、以下と同様にして修正することができる。
断線しているソースバス配線1xが特定されると、不良
ソースバス配線IXの両端部の予備配線3と交差してい
る交差部4a及び4bに、レーザ光、赤外線、電子ビー
ム、その他のエネルギーが照射される。本実施例ではY
AGレーザ光を用いた。レーザ光は、第1B図に矢印2
3で示すように基板5側から、又は矢印25で示すよう
に基板20側から照射することができる。レーザ光照射
により、不良ソースバス配線IXと予備配線3とが溶融
され、これらの配線IX及び3の間の予備配線絶縁膜2
4及びベース絶縁膜7が破壊されて、不良ソースバス配
線lxと予備配線3とが斜線部22に示すように電気的
に接続される。尚、ゲートバス配線2と予備配線3とを
接続する場合には、予備配線絶縁膜24のみの絶縁破壊
が行われる。
ソースバス配線IXの両端部の予備配線3と交差してい
る交差部4a及び4bに、レーザ光、赤外線、電子ビー
ム、その他のエネルギーが照射される。本実施例ではY
AGレーザ光を用いた。レーザ光は、第1B図に矢印2
3で示すように基板5側から、又は矢印25で示すよう
に基板20側から照射することができる。レーザ光照射
により、不良ソースバス配線IXと予備配線3とが溶融
され、これらの配線IX及び3の間の予備配線絶縁膜2
4及びベース絶縁膜7が破壊されて、不良ソースバス配
線lxと予備配線3とが斜線部22に示すように電気的
に接続される。尚、ゲートバス配線2と予備配線3とを
接続する場合には、予備配線絶縁膜24のみの絶縁破壊
が行われる。
このように21T所で接続することにより、不良ソース
バス配線1xの断線部4の両側の部分は、予備配線3を
介して電気的に接続される。
バス配線1xの断線部4の両側の部分は、予備配線3を
介して電気的に接続される。
本実施例では、予備配線3、ソースバス配線1及びゲー
トバス配線2は何れもTaで形成されているので、予備
配線はソースバス配線1及びゲートバス配線2の融点と
同じ融点を有している。従って、上記のレーザ光照射に
よる接続が行われた交差部4a及び4bでは、不良ソー
スバス配線IXと予備配線3との電気的接続が確実に行
われ、これら交差部4a及び4bに於ける電気抵抗は小
さい。従って、ドライバICが能力不足となることもな
い。また、後の電気的、熱的、又は機械的な衝撃、変化
等により、不良ソースバス配線IXと予備配線3とが電
気的に非接触状態となることもない。
トバス配線2は何れもTaで形成されているので、予備
配線はソースバス配線1及びゲートバス配線2の融点と
同じ融点を有している。従って、上記のレーザ光照射に
よる接続が行われた交差部4a及び4bでは、不良ソー
スバス配線IXと予備配線3との電気的接続が確実に行
われ、これら交差部4a及び4bに於ける電気抵抗は小
さい。従って、ドライバICが能力不足となることもな
い。また、後の電気的、熱的、又は機械的な衝撃、変化
等により、不良ソースバス配線IXと予備配線3とが電
気的に非接触状態となることもない。
また、上述のようにレーザ光照射による接続を行っても
、本実施例では保護膜8が形成されているので、レーザ
光照射によって溶融した金属の液晶層21への混入は起
こらない。また、保護膜8は透明絶縁体からなるのでレ
ーザ光を透過させる。
、本実施例では保護膜8が形成されているので、レーザ
光照射によって溶融した金属の液晶層21への混入は起
こらない。また、保護膜8は透明絶縁体からなるのでレ
ーザ光を透過させる。
従って、保護膜8がレーザ光によって破壊されることも
ない。レーザ光が照射された部分の近傍の液晶層21は
白濁するが、この白濁はやがて消失し、液晶層21は元
の状態に復元される。
ない。レーザ光が照射された部分の近傍の液晶層21は
白濁するが、この白濁はやがて消失し、液晶層21は元
の状態に復元される。
第2図に本発明のマトリクス基板及びマトリクス型表示
装置の他の実施例の概略図を示す。第2図では簡単の為
にT P T、絵素電極等を省略し、ゲートバス配線2
、ソースバス配線1、及び予備配線3のみを示しである
。本実施例では予備配線3は4つの予備配線3a、3b
、3c、及び3dからなる。予備配線3aと3c、及び
3bと3dは、それぞれゲートバス配線2及びソースバ
ス配線1とは交差することなく、基板外部の小さな負荷
容量及び小さな電気抵抗を有する導線、ジャンパ線等の
配線によって、例えば回路基板上に導かれている。回路
基板上では、予備配線3aに接続された配線は、これに
対向する予備配線3cに接続された配線と互いに接続可
能に配されている。
装置の他の実施例の概略図を示す。第2図では簡単の為
にT P T、絵素電極等を省略し、ゲートバス配線2
、ソースバス配線1、及び予備配線3のみを示しである
。本実施例では予備配線3は4つの予備配線3a、3b
、3c、及び3dからなる。予備配線3aと3c、及び
3bと3dは、それぞれゲートバス配線2及びソースバ
ス配線1とは交差することなく、基板外部の小さな負荷
容量及び小さな電気抵抗を有する導線、ジャンパ線等の
配線によって、例えば回路基板上に導かれている。回路
基板上では、予備配線3aに接続された配線は、これに
対向する予備配線3cに接続された配線と互いに接続可
能に配されている。
同様に、予備配線3bに接続された配線は、これに対向
する予備配線3dに接続された配線と互いに接続可能に
配されている。
する予備配線3dに接続された配線と互いに接続可能に
配されている。
また、本実施例ではゲートバス配線2は2組のゲートバ
ス配線2a及び2bからなり、ゲートバス配線2a及び
2bは、それぞれ異なったドライバICに接続されてい
る。同様に、ソースバス配線1は2組のソースバス配線
1a及び1bからなり、ソースバス配線1a及び1bは
、−それぞれ異なったドライバICに接続されている。
ス配線2a及び2bからなり、ゲートバス配線2a及び
2bは、それぞれ異なったドライバICに接続されてい
る。同様に、ソースバス配線1は2組のソースバス配線
1a及び1bからなり、ソースバス配線1a及び1bは
、−それぞれ異なったドライバICに接続されている。
本実施例では予備配線3a及び3cをゲートバス配線2
と同時に形成することにより、表示装置の作製に用いる
マスクの数を低減することができる。同様に、予備配線
3b及び3dをソースバス配線lと同時に形成すること
により、表示装置の作製に用いるマスクの数を低減する
ことができる。
と同時に形成することにより、表示装置の作製に用いる
マスクの数を低減することができる。同様に、予備配線
3b及び3dをソースバス配線lと同時に形成すること
により、表示装置の作製に用いるマスクの数を低減する
ことができる。
本実施例の表示装置のソースバス配線1に断線が生じた
場合の修正方法を以下に示す。尚、ゲートバス配線2が
断線している場合にも、以下と同様にして修正すること
ができる。第2図に示すようにソースバス配線1xに断
線部4が生じているとすると、前述の第1A図の場合と
同様に、交差部4aに於いて、不良ソースバス配線1x
と予備配線3aとがレーザ光照射によって電気的に接続
される。同様に、交差部4bに於て、不良ソースバス配
線IXと予備配線3cとが電気的に接続される。更に前
述の回路基板上に於て、予備配線3a及び3cに接続さ
れた2つの配線が電気的に接続される。このように3箇
所で電気的接続を行うことにより、ソースバス配線1b
の断線部4の両端の部分が、基板外部の配線を介して電
気的に接続される。
場合の修正方法を以下に示す。尚、ゲートバス配線2が
断線している場合にも、以下と同様にして修正すること
ができる。第2図に示すようにソースバス配線1xに断
線部4が生じているとすると、前述の第1A図の場合と
同様に、交差部4aに於いて、不良ソースバス配線1x
と予備配線3aとがレーザ光照射によって電気的に接続
される。同様に、交差部4bに於て、不良ソースバス配
線IXと予備配線3cとが電気的に接続される。更に前
述の回路基板上に於て、予備配線3a及び3cに接続さ
れた2つの配線が電気的に接続される。このように3箇
所で電気的接続を行うことにより、ソースバス配線1b
の断線部4の両端の部分が、基板外部の配線を介して電
気的に接続される。
本実施例でも、予備配線3、ソースバス配線l及びゲー
トバス配線2は何れもTaで形成され、予備配線はソー
スバス配線1及びゲートバス配線2の融点と同じ融点を
有している。従って、上記のレーザ光照射による接続が
行われた交差部4a及び4bでは、不良ソースバス配線
IXと予備配線3との電気的接続が確実に行われ、これ
ら交差部4a及び4bに於ける電気抵抗は小さい。従っ
て、ドライバICが能力不足となることもない。
トバス配線2は何れもTaで形成され、予備配線はソー
スバス配線1及びゲートバス配線2の融点と同じ融点を
有している。従って、上記のレーザ光照射による接続が
行われた交差部4a及び4bでは、不良ソースバス配線
IXと予備配線3との電気的接続が確実に行われ、これ
ら交差部4a及び4bに於ける電気抵抗は小さい。従っ
て、ドライバICが能力不足となることもない。
また、後の電気的、熱的、又は機械的な衝撃、変化等に
より、不良ソースバス配線lxと予備配線3とが電気的
に非接触状態となることもない。尚、上記何れの実施例
でも、予備配線3、ゲートバス配線2、及びソースバス
配線1が全て同じ金属で形成されている場合について述
べたが、予備配線3に用いられる金属の融点と、ゲート
バス配線2又はソースバス配線lに用いられる金属の融
点との差が1400℃以内であることが好ましり、−方
の金属の融点が他方の金属の沸点よりも100℃以上小
さければ、何れの金属をも用いることができる。
より、不良ソースバス配線lxと予備配線3とが電気的
に非接触状態となることもない。尚、上記何れの実施例
でも、予備配線3、ゲートバス配線2、及びソースバス
配線1が全て同じ金属で形成されている場合について述
べたが、予備配線3に用いられる金属の融点と、ゲート
バス配線2又はソースバス配線lに用いられる金属の融
点との差が1400℃以内であることが好ましり、−方
の金属の融点が他方の金属の沸点よりも100℃以上小
さければ、何れの金属をも用いることができる。
本実施例ではアクティブマトリクス方式の表示装置のみ
について言及したが、本発明は他の方式の表示装置にも
適用することができる。また、上記の実施例ではTPT
をスイッチング素子として用いたマトリクス基板及びマ
トリクス型表示装置について説明したが、本発明はM
I M (Metal−insulator−meta
l)、ダイオード、バリスタ等の種々のスイッチング素
子を用いた広範囲のマトリクス基板及びマトリクス型表
示装置に用いることができる。更に、表示媒体として、
薄膜発光層、分散型EL発光層、プラズマ発光体等を用
いた各種のマトリクス基板及びマトリクス型表示装置に
も適用することができる。
について言及したが、本発明は他の方式の表示装置にも
適用することができる。また、上記の実施例ではTPT
をスイッチング素子として用いたマトリクス基板及びマ
トリクス型表示装置について説明したが、本発明はM
I M (Metal−insulator−meta
l)、ダイオード、バリスタ等の種々のスイッチング素
子を用いた広範囲のマトリクス基板及びマトリクス型表
示装置に用いることができる。更に、表示媒体として、
薄膜発光層、分散型EL発光層、プラズマ発光体等を用
いた各種のマトリクス基板及びマトリクス型表示装置に
も適用することができる。
(発明の効果)
本発明のマトリクス型表示装置は、バス配線の断線を修
正する機能を有し、しかも修正されたバス配線の電気抵
抗が小さく安定している。そのため、絵素欠陥を確実に
修正することができ、表示装置の歩留りが向上し、表示
装置のコスト低減に寄与することができる。
正する機能を有し、しかも修正されたバス配線の電気抵
抗が小さく安定している。そのため、絵素欠陥を確実に
修正することができ、表示装置の歩留りが向上し、表示
装置のコスト低減に寄与することができる。
4、 の、 な脱B
第1A図は本発明のマトリクス型表示装置の一実施例の
回路図、第1B図は第1A図の交差部4aに於ける予備
配線3に沿った断面図、第2図は本発明のマトリクス型
表示装置の他の実施例の概略図である。
回路図、第1B図は第1A図の交差部4aに於ける予備
配線3に沿った断面図、第2図は本発明のマトリクス型
表示装置の他の実施例の概略図である。
1、 la、lb−ソースバス配線、2,2a。
2 b−・・ゲートバス配線、3. 3a、 3b、
3c。
3c。
3d・・・予備配線、4・・・断線部、4a、4b・・
・交差部、5.20・・・ガラス基板、6・・・ベース
コート膜、7・・・ベース絶縁膜、8・・・保護膜、9
,17・・・配向膜、10・・・対向電極、11・・・
TPT、12・・・絵素電極、16・・・絵素容量、2
1・・・液晶層、24・・・予備配線絶縁膜。
・交差部、5.20・・・ガラス基板、6・・・ベース
コート膜、7・・・ベース絶縁膜、8・・・保護膜、9
,17・・・配向膜、10・・・対向電極、11・・・
TPT、12・・・絵素電極、16・・・絵素容量、2
1・・・液晶層、24・・・予備配線絶縁膜。
第1A図
第1B図
どb
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、絶縁性基板上にマトリクス状に配列された絵素電極
と、該絵素電極の間にそれぞれ一方向に列を成して縦横
に配線された走査線及び信号線と、を有するマトリクス
基板であって、 該走査線及び該信号線の列の少なくとも一方の列中の少
なくとも一部の線の両端部のそれぞれに於て、該一部の
線と絶縁膜を介して交差している予備配線を備え、該予
備配線が該一部の線の融点に近い融点を有するマトリク
ス基板。 2、請求項1に記載のマトリクス基板を有するマトリク
ス型表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2174056A JPH0462523A (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | マトリクス基板及びマトリクス型表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2174056A JPH0462523A (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | マトリクス基板及びマトリクス型表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0462523A true JPH0462523A (ja) | 1992-02-27 |
Family
ID=15971848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2174056A Pending JPH0462523A (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | マトリクス基板及びマトリクス型表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0462523A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002196352A (ja) * | 2000-12-07 | 2002-07-12 | Koninkl Philips Electronics Nv | 予備配線を有する液晶表示装置 |
-
1990
- 1990-06-29 JP JP2174056A patent/JPH0462523A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002196352A (ja) * | 2000-12-07 | 2002-07-12 | Koninkl Philips Electronics Nv | 予備配線を有する液晶表示装置 |
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