JPH046452A - 残留塩素計 - Google Patents
残留塩素計Info
- Publication number
- JPH046452A JPH046452A JP2109002A JP10900290A JPH046452A JP H046452 A JPH046452 A JP H046452A JP 2109002 A JP2109002 A JP 2109002A JP 10900290 A JP10900290 A JP 10900290A JP H046452 A JPH046452 A JP H046452A
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- time
- residual chlorine
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- residual
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、例えば３か月程度の長期間ノーメンテナンス
が要求される配水モニターに使用される残留塩素計に係
るものであり、詳しくはスパンドリフトを時間的に補償
するような改善を図った残留塩素計に関するものである
。
が要求される配水モニターに使用される残留塩素計に係
るものであり、詳しくはスパンドリフトを時間的に補償
するような改善を図った残留塩素計に関するものである
。
〈従来の技術〉
第３図は残留塩素計の概要の説明に供する図である。
第３図において、残留塩素計は、試料水１か流入流出す
る容器２内に、銀電極３と回転電極４からなる残塩検出
センサー５が設けられ、この時に前記回転電極４にあっ
てはガラス、セラミックビズ等の研磨材６内に挿入され
、この探な状態で回転電極表面が研磨されながら、残塩
検出センサー５の測定値に基づいて演算回路７において
試料水２の残留塩素を演算・測定する構造となっている
。
る容器２内に、銀電極３と回転電極４からなる残塩検出
センサー５が設けられ、この時に前記回転電極４にあっ
てはガラス、セラミックビズ等の研磨材６内に挿入され
、この探な状態で回転電極表面が研磨されながら、残塩
検出センサー５の測定値に基づいて演算回路７において
試料水２の残留塩素を演算・測定する構造となっている
。
〈発明が解決しようとする課題〉
このような技術にあって、以下のような問題点があった
。
。
スパン校正は、一般的にドリフトに応じて短い周期で行
なっており、又、回転電極は第３図に示すように研磨状
態で測定が行なわれているが例えば３か月程度の長期間
ノーメンテナンスという訳にはいかない６尚、自動的に
スパン調整をすることかできる構成は考えられるか、長
期間安定にスパン点を供給できるスパン液については現
在得られていない。
なっており、又、回転電極は第３図に示すように研磨状
態で測定が行なわれているが例えば３か月程度の長期間
ノーメンテナンスという訳にはいかない６尚、自動的に
スパン調整をすることかできる構成は考えられるか、長
期間安定にスパン点を供給できるスパン液については現
在得られていない。
本発明は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、予め
実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づき、
ＣＰＵを用いてプログラムにより経過時間に対しドリフ
ト補償分を演算して、スパンドリフトを補償することに
より長期間安定で信頼性の高い残留塩素計を提供するも
のである。
てなされたものであり、その目的とするところは、予め
実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づき、
ＣＰＵを用いてプログラムにより経過時間に対しドリフ
ト補償分を演算して、スパンドリフトを補償することに
より長期間安定で信頼性の高い残留塩素計を提供するも
のである。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するために、本発明は、試料水内に残塩
検出センサーが設けられ、該残塩検出センサーの測定値
に基づいて前記試料水の残留塩素を測定する残留塩素計
において、 予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づ
いて演算で使用するスパン係数やパラメタを設定する条
件設定手段と、 該条件設定手段により設定される値を取入れ、前記残塩
検出センサーで検出される試料水に含まれる残留塩素に
係わる検出信号を取込んで、該検出信号について、前記
スパン係数やパラメータ及び予めプログラムされた演算
式を用いて、時間経過に対して自動的に刻々と変化させ
たりその変化割合を変えたりしてドリフト補償分を演算
し、スパンドリフトを補償する演算をし、その時の残留
塩素濃度を演算する残留塩素濃度演算手段と、を具備し
たことを特徴とするものである。
検出センサーが設けられ、該残塩検出センサーの測定値
に基づいて前記試料水の残留塩素を測定する残留塩素計
において、 予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づ
いて演算で使用するスパン係数やパラメタを設定する条
件設定手段と、 該条件設定手段により設定される値を取入れ、前記残塩
検出センサーで検出される試料水に含まれる残留塩素に
係わる検出信号を取込んで、該検出信号について、前記
スパン係数やパラメータ及び予めプログラムされた演算
式を用いて、時間経過に対して自動的に刻々と変化させ
たりその変化割合を変えたりしてドリフト補償分を演算
し、スパンドリフトを補償する演算をし、その時の残留
塩素濃度を演算する残留塩素濃度演算手段と、を具備し
たことを特徴とするものである。
〈実施例〉
実施例について図面を参照して説明する。
尚、以下の図面において、第３図と重複する部分は同一
番号を付してその説明は省略する。
番号を付してその説明は省略する。
第１図は本発明の残留塩素計の具体的実施例の説明に供
する図である。
する図である。
第２図は第１図の説明に供する図であり、横軸に経過時
間（１）を取り、縦軸に残塩濃度のスパン（Ｆ）をとっ
た時の残留塩素計のスパンドリフトの特性曲線を示す。
間（１）を取り、縦軸に残塩濃度のスパン（Ｆ）をとっ
た時の残留塩素計のスパンドリフトの特性曲線を示す。
第１図乃至第２図において、８は残塩検出センサー５で
検出される試料水２に含まれる残留塩素に係わる検出信
号が導かれるプリアンプである。
検出される試料水２に含まれる残留塩素に係わる検出信
号が導かれるプリアンプである。
９はプリアンプ８で増幅された残塩検出センサ５の検出
信号をＡ／Ｄ （アナログ／デジタル）変換するＡ／Ｄ
変換回路である。１０はＡ／Ｄ変換回路８でデジタル変
換された信号を取込んで、予め決められた演算式、及び
操作キー等の条件設定手段（以下「操作キー」という）
１１によって設定される演算で使用されるスパン係数や
パラメータ（補償係数）等によって、残留塩素濃度を演
算してその演算結果を表示部１２で表示するために出力
したり、例えばアナログ計器等が設けられる場合におい
てはそこにアナログ出力を供給するためのＤ／Ａ （デ
ジタル／′アナログ）変換回７１１３にこの演算結果を
出力したりする残留塩素濃度演算手段である。尚、Ｄ／
Ａ変換回路１３は必要に応じて設けられるものであり、
残留塩素濃度演算手段１０内に設けられるようにしても
よい事はいうまでもない。
信号をＡ／Ｄ （アナログ／デジタル）変換するＡ／Ｄ
変換回路である。１０はＡ／Ｄ変換回路８でデジタル変
換された信号を取込んで、予め決められた演算式、及び
操作キー等の条件設定手段（以下「操作キー」という）
１１によって設定される演算で使用されるスパン係数や
パラメータ（補償係数）等によって、残留塩素濃度を演
算してその演算結果を表示部１２で表示するために出力
したり、例えばアナログ計器等が設けられる場合におい
てはそこにアナログ出力を供給するためのＤ／Ａ （デ
ジタル／′アナログ）変換回７１１３にこの演算結果を
出力したりする残留塩素濃度演算手段である。尚、Ｄ／
Ａ変換回路１３は必要に応じて設けられるものであり、
残留塩素濃度演算手段１０内に設けられるようにしても
よい事はいうまでもない。
ところで、前記残留塩素濃度演算手段１０を前記目的を
達成するための構成とするために、具体的には、例えば
、ｌ１０（入出力インターフェイス）１０ａ ＲＯＭ
（リードオンリメモリ）１０ｂ、ＲＡＭ（ランタムアク
セスメモリ）１０Ｃ及び演算結果を外部に出力したりす
る演算／指令等の制御機能を有する演算制御部（ＣＰＵ
ｉＯｄを主構成要素とする。そして、ＲＯＭ １０ｂに
予め決められた（プログラムされた）演算式等を格納す
る。又、ＲＡＭ１０ｃには、ｌ１０１０ａを介して入力
する、操作キー１１の操作・設定により演算で使用され
る、予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに
基づいてきめられたスパン係数やパラメータ（補償係数
）等を格納する。
達成するための構成とするために、具体的には、例えば
、ｌ１０（入出力インターフェイス）１０ａ ＲＯＭ
（リードオンリメモリ）１０ｂ、ＲＡＭ（ランタムアク
セスメモリ）１０Ｃ及び演算結果を外部に出力したりす
る演算／指令等の制御機能を有する演算制御部（ＣＰＵ
ｉＯｄを主構成要素とする。そして、ＲＯＭ １０ｂに
予め決められた（プログラムされた）演算式等を格納す
る。又、ＲＡＭ１０ｃには、ｌ１０１０ａを介して入力
する、操作キー１１の操作・設定により演算で使用され
る、予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに
基づいてきめられたスパン係数やパラメータ（補償係数
）等を格納する。
従って、ＣＰＵ１０ｄにおいて、１．１０１０ａからＡ
／Ｄ変換回路９の検出信号を入力すると、この検出信号
について、ＲＡ Ｍ １０ｃに格納される演算で使用さ
れるスパン係数やパラメータをＲＯＭ １０ｂに格納さ
れているプログラムにより時間経過に対して自動的に刻
々と変化させたり、その変化割合を変えたりして、その
時の残留塩素濃度（残塩濃度）を演算する。
／Ｄ変換回路９の検出信号を入力すると、この検出信号
について、ＲＡ Ｍ １０ｃに格納される演算で使用さ
れるスパン係数やパラメータをＲＯＭ １０ｂに格納さ
れているプログラムにより時間経過に対して自動的に刻
々と変化させたり、その変化割合を変えたりして、その
時の残留塩素濃度（残塩濃度）を演算する。
ここで、前記残塩濃度のスパンＦは、第２図のように、
時間経過ｔと共に時開の関数／（α、１＞により減少し
ていく。即ち、式で表わすと、Ｆ＝Ｆ、−／（α・ｔ）
・・・（１）で表わすことができる［
但し、ＦＯをスパンの初期値、αを関数を決定する定数
即ち関数を決定するパラメータ（補償係数）とする］。
時間経過ｔと共に時開の関数／（α、１＞により減少し
ていく。即ち、式で表わすと、Ｆ＝Ｆ、−／（α・ｔ）
・・・（１）で表わすことができる［
但し、ＦＯをスパンの初期値、αを関数を決定する定数
即ち関数を決定するパラメータ（補償係数）とする］。
従って、関数／（α・ｔ）の逆関数（１／ｆ（α・１）
）を発生させて、これをスパンＦに乗算すれば、スパン
変化は補償することができる。
）を発生させて、これをスパンＦに乗算すれば、スパン
変化は補償することができる。
スパン変化の補償値をＦ−とすれば、これは、即ち、（
１）式から、 Ｆ−＝Ｆ ・（１／／ （ａ・ｔ） ｌ ＝Ｆｏ ’
・’（２）として求めることかできる。つまり、スパン
係数。
１）式から、 Ｆ−＝Ｆ ・（１／／ （ａ・ｔ） ｌ ＝Ｆｏ ’
・’（２）として求めることかできる。つまり、スパン
係数。
パラメータ及びプログラムにより、検出信号を時間経過
ｔに対して刻々と変化させたり変化割合を変えたりして
、経過時間ｔに対してドリフト補償分を演算し更にスパ
ンドリフトを補償する演算をすることができ、長期間安
定で信頼性の高いその時の残留塩素濃度（残塩濃度）を
演算する事ができる。
ｔに対して刻々と変化させたり変化割合を変えたりして
、経過時間ｔに対してドリフト補償分を演算し更にスパ
ンドリフトを補償する演算をすることができ、長期間安
定で信頼性の高いその時の残留塩素濃度（残塩濃度）を
演算する事ができる。
尚、パラメータ（補償係数）αは任意に操作キ１０によ
り設定することができる。
り設定することができる。
〈発明の効果〉
本発明は、以上説明したように構成されているので、次
に記載するような効果を奏する。
に記載するような効果を奏する。
■ニスパンのドリフ１〜を自動的にプログラムによる演
算により補償するように構成できる。
算により補償するように構成できる。
■：これにより、長期間に渡り安定した出力を得ること
ができる。
ができる。
■：これにより、長期間ノーメンテナンスの製品か実現
できる。
できる。
■：低コストでしかも簡単に実現できる。
第１図は本発明の残留塩素計の具体的実施例の説明に供
する図、第２図は第１図の説明に供する図、第３図は残
留塩素計の概要の説明に供する図である。 ２・・・試料水、５・・・残塩検出センサー、８・・・
プリアンプ、９・・・Ａ／Ｄ変換回路、１０・・・残留
演算濃度演算手段、１１・・・条件設定手段（操作キー
）、１２・・・表示部。
する図、第２図は第１図の説明に供する図、第３図は残
留塩素計の概要の説明に供する図である。 ２・・・試料水、５・・・残塩検出センサー、８・・・
プリアンプ、９・・・Ａ／Ｄ変換回路、１０・・・残留
演算濃度演算手段、１１・・・条件設定手段（操作キー
）、１２・・・表示部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試料水内に残塩検出センサーが設けられ、該残塩検出セ
ンサーの測定値に基づいて前記試料水の残留塩素を測定
する残留塩素計において、 予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づ
いて演算で使用するスパン係数やパラメータを設定する
条件設定手段と、 該条件設定手段により設定される値を取入れ、前記残塩
検出センサーで検出される試料水に含まれる残留塩素に
係わる検出信号を取込んで、該検出信号について、前記
スパン係数やパラメータ及び予めプログラムされた演算
式を用いて、時間経過に対して自動的に刻々と変化させ
たりその変化割合を変えたりしてドリフト補償分を演算
し、スパンドリフトを補償する演算をし、その時の残留
塩素濃度を演算する残留塩素濃度演算手段と、を具備し
たことを特徴とする残留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2109002A JP2850481B2 (ja) | 1990-04-25 | 1990-04-25 | 残留塩素計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2109002A JP2850481B2 (ja) | 1990-04-25 | 1990-04-25 | 残留塩素計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH046452A true JPH046452A (ja) | 1992-01-10 |
| JP2850481B2 JP2850481B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=14499080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2109002A Expired - Fee Related JP2850481B2 (ja) | 1990-04-25 | 1990-04-25 | 残留塩素計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2850481B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5483750A (en) * | 1993-06-16 | 1996-01-16 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Springback angle measuring instrument for V-bending |
| US5802788A (en) * | 1994-02-22 | 1998-09-08 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Komatsu Plastics Industry Co., Ltd. | Fixing device for tensioning member for prestressed concrete |
| JP2020148652A (ja) * | 2019-03-14 | 2020-09-17 | 東亜ディーケーケー株式会社 | データ処理機能付きケーブル、測定システム及び制御システム |
| CN115266835A (zh) * | 2022-07-05 | 2022-11-01 | 华电国际电力股份有限公司技术服务分公司 | 一种基于电导率测量多种补偿的废水含盐量测量方法 |
-
1990
- 1990-04-25 JP JP2109002A patent/JP2850481B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5483750A (en) * | 1993-06-16 | 1996-01-16 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Springback angle measuring instrument for V-bending |
| US5802788A (en) * | 1994-02-22 | 1998-09-08 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Komatsu Plastics Industry Co., Ltd. | Fixing device for tensioning member for prestressed concrete |
| JP2020148652A (ja) * | 2019-03-14 | 2020-09-17 | 東亜ディーケーケー株式会社 | データ処理機能付きケーブル、測定システム及び制御システム |
| CN115266835A (zh) * | 2022-07-05 | 2022-11-01 | 华电国际电力股份有限公司技术服务分公司 | 一种基于电导率测量多种补偿的废水含盐量测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2850481B2 (ja) | 1999-01-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071113 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081113 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091113 Year of fee payment: 11 |
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