JPH0464901A - 欠陥検出力測定装置 - Google Patents

欠陥検出力測定装置

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Publication number
JPH0464901A
JPH0464901A JP17811690A JP17811690A JPH0464901A JP H0464901 A JPH0464901 A JP H0464901A JP 17811690 A JP17811690 A JP 17811690A JP 17811690 A JP17811690 A JP 17811690A JP H0464901 A JPH0464901 A JP H0464901A
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JP
Japan
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defect detection
defect
medium
waveform
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP17811690A
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English (en)
Inventor
Masayoshi Murakami
政義 村上
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は欠陥検出力測定装置、特に、記録媒体の欠陥部
を検出する媒体欠陥検出回路の欠陥検出出力を自動的に
測定する欠陥検出力測定装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の欠陥検出力測定装置なるものは存在せず
、媒体欠陥検出回路の欠陥検出力の測定を行う場合、測
定の基礎となる基準欠陥波形として記憶装置に搭載され
た記録媒体の欠陥部の読みだし波形を使用し、媒体欠陥
検出回路へ与えるスライスレベルの変化に対する欠陥の
検出率の変化を求める作業をすべて人の手作業によって
行っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の媒体欠陥検出回路の欠陥検出力の測定で
は、測定の基礎となる基準欠陥波形として記憶装置に搭
載された記録媒体の欠陥部の読みだし波形を使用してい
るため記録媒体から基準欠陥波形を読み出す度に波形の
形状は多少異なり、また、再書き込みを行った場合、書
き込みのタイミンクのずれにより、全く同じ形状の波形
が読み出されることは稀であるため、測定のための基準
波形の再現性が低く精度の高い測定を行うには無理があ
り、また、基準欠陥波形の出力制御については記憶装置
を制御するコントローラからの指示が必要であり媒体欠
陥検出回路の欠陥検出力を測定するためのシステムが大
がかりになるという欠点がある。
また、欠陥検出力曲線を求めるには媒体欠陥検出回路に
与えるスライスレベルをいくつも変化させその度に数回
〜十数口の検出測定を行い検出率を求めねばならずこれ
を毎回人の手により操作し測定を行うには非常に時間と
手間がかかるという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の欠陥検出力測定装置は、記録媒体に情報を記録
すると共にその情報を読みだして前記記録媒体の欠陥を
検出する媒体欠陥検出回路の欠陥検出力測定装置におい
て、媒体欠陥検出回路の欠陥検出スライスレベルを制御
し且つ上記媒体欠陥検出回路が出力する欠陥検出信号を
感知する欠陥検出回路制御部と、媒体欠陥部の読みだし
信号を再現する任意波形発生器と、前記任意波形発生器
が出力する波形信号の出力開始、停止、波形の種類の選
択等の各種制御及び前記欠陥検出回路制御部の制御を行
うシステム制御部とを備える。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示す欠陥検出力測定装置は、システム制御装置
1と欠陥検出回路制御部2と任意波形発生器3とから構
成される。被制御回路である媒体欠陥検出回路(図示せ
ず)は欠陥検出回路制御部2の任意波形発生器3のそれ
ぞれに接続される。
続いて、本実施例の機能及び動作について説明する。
システム制御部1は、欠陥検出回路制御部2とのデータ
のやり取りを含む各種制御、及び任意波形発生器3が出
力する信号の各種制御を行うことができる。
媒体欠陥検出回路(図示せず)の検出出力を測定する場
合、システム制御部1は任意波形発生器3に実際の媒体
欠陥部の読みだし波形の同等な波形を有した欠陥レベル
が既知である基準欠陥波形信号10の出力を命じ、また
、欠陥検出回路制御部2へ媒体欠陥検出回路に与える欠
陥検出スライスレベル12の指示と欠陥検出信号13の
検出開始の指示を行う。
任意波形発生器3は、基準欠陥波形信号10の出力を行
うと共に基準欠陥波形信号10の出力に同期した波形出
力同期信号11を欠陥検出回路制御部2へ出力する。欠
陥検出回路制御部2は、媒体欠陥検出回路(図示せず)
が欠陥を検出した時に出力する欠陥検出信号13と任意
波形発生器3から出力される波形出力同期信号11を検
出し、その検出状況からシステム制御部1は現在出力し
ている基準欠陥波形信号10における現在媒体欠陥検出
回路に与えている欠陥検出スライスレベル12に対する
媒体欠陥検出回路の欠陥検出率を求める。
システム制御部1は、欠陥検出回路制御部2へ欠陥検出
スライスレベル12の値を順次自動的に変化させて与え
、その都度同様に各欠陥検出スライスレベルに対する媒
体欠陥検出回路の欠陥検出率を求める。
その結果より第2図に示すような欠陥検出力曲線を求め
る。第2図において、横軸は欠陥検出回路に設定する欠
陥検出スライスレベルであり、縦軸は各欠陥検出スライ
スレベルに対する欠陥の検出率を示す。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の欠陥検出力測定装置は、媒
体欠陥検出装置の欠陥検出力を測定するための基準欠陥
波形信号に実際の記録媒体の媒体欠陥部の読み出し波形
を使用するのではなく任意波形発生器を使用することに
より、より再現性の高い基準波形が得られ精度の高い測
定を行うことができ、且つ、基準欠陥波形の出力制御に
ついては記憶装置を制御するコントローラか必要無く欠
陥検出力を測定するためのシステムが小さくてすみ、ま
た、欠陥検出力曲線を求めるために媒体欠陥検出回路に
与える欠陥検出スライスレベルの変化及び検出率の算出
を自動的に行うため欠陥検出力の測定を従来のように時
間と手間をかけずに求めることが出来るという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
欠陥検出力の測定結果を示す欠陥検出力曲線を示すグラ
フである。 1・・・システム制御部、2・・・欠陥検出回路制御部
、3・・・任意波形発生器、10・・・基準欠陥波形信
号、11・・・波形出力同期信号、12・・・欠陥検出
スライスレベル、13・・・欠陥検出信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 記録媒体に情報を記録すると共にその情報を読みだして
    前記記録媒体の欠陥を検出する媒体欠陥検出回路の欠陥
    検出力測定装置において、媒体欠陥検出回路の欠陥検出
    スライスレベルを制御し且つ上記媒体欠陥検出回路が出
    力する欠陥検出信号を感知する欠陥検出回路制御部と、
    媒体欠陥部の読みだし信号を再現する任意波形発生器と
    、前記任意波形発生器が出力する波形信号の出力開始、
    停止、波形の種類の選択等の各種制御及び前記欠陥検出
    回路制御部の制御を行うシステム制御部とを備えること
    を特徴とする欠陥検出力測定装置。
JP17811690A 1990-07-05 1990-07-05 欠陥検出力測定装置 Pending JPH0464901A (ja)

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JP17811690A JPH0464901A (ja) 1990-07-05 1990-07-05 欠陥検出力測定装置

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JP17811690A JPH0464901A (ja) 1990-07-05 1990-07-05 欠陥検出力測定装置

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Publication Number Publication Date
JPH0464901A true JPH0464901A (ja) 1992-02-28

Family

ID=16042941

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JP17811690A Pending JPH0464901A (ja) 1990-07-05 1990-07-05 欠陥検出力測定装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63302475A (ja) * 1987-06-02 1988-12-09 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 疑似読出し信号発生装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63302475A (ja) * 1987-06-02 1988-12-09 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 疑似読出し信号発生装置

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