JPS5883370A - 磁気デイスク用サ−ボパタ−ン書込み間隔検査方法 - Google Patents
磁気デイスク用サ−ボパタ−ン書込み間隔検査方法Info
- Publication number
- JPS5883370A JPS5883370A JP18040081A JP18040081A JPS5883370A JP S5883370 A JPS5883370 A JP S5883370A JP 18040081 A JP18040081 A JP 18040081A JP 18040081 A JP18040081 A JP 18040081A JP S5883370 A JPS5883370 A JP S5883370A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- voltage
- servo
- disk
- patterns
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/58—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B5/596—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following on disks
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検査時のディスク回転速度が書込み時あるいは
基準の回転速度と多少異なっていても、書込まれたサー
ボパターン間隔の合否を正しく判定できる磁気ディスク
用サーボパターン書込み間隔検査方法に関する。
基準の回転速度と多少異なっていても、書込まれたサー
ボパターン間隔の合否を正しく判定できる磁気ディスク
用サーボパターン書込み間隔検査方法に関する。
磁気ディスク製造時には、そのサーボ面に書込んだヘッ
ド位置決めなどに用いるサーボパターンが、それぞれ所
定の間隔で正しく書込まれているか否かを検査して合否
を判定しなければならない。
ド位置決めなどに用いるサーボパターンが、それぞれ所
定の間隔で正しく書込まれているか否かを検査して合否
を判定しなければならない。
このサーボパターンの書込み間隔を測定するのに、積分
器等により時間を電圧和変換して、あらかじめ設定され
ている基準電圧と比較して判定する方法＆寥、数μＳの
間隔を数十ｎｓ以内の所望精度で測定することが困難で
ある。また１００ＭＨｚ程度の超高速ディジタル発ａＳ
およびカクンタにより、パターン読取り時刻の間隔（時
間）を測定する方法が′一般に用いられているが、この
方法でも、もし検査時のディスク回転速度が規準あるい
は書込み時の回転速度と異なっていれば正確な測定はで
きない。したがって従来はサーボパターン書込み間隔の
正確な検査を行うには高価な大規模な設備を必要とした
・ 本発明の目的は、検査時のディスク回転速度が書込み時
あるいは基準の回転速度と多少異なつ【いても、書込ま
れたサーボパターン間隔の合否を正しく判定できるサー
ボパターン書込み間隔検査方法を提供することにある。
器等により時間を電圧和変換して、あらかじめ設定され
ている基準電圧と比較して判定する方法＆寥、数μＳの
間隔を数十ｎｓ以内の所望精度で測定することが困難で
ある。また１００ＭＨｚ程度の超高速ディジタル発ａＳ
およびカクンタにより、パターン読取り時刻の間隔（時
間）を測定する方法が′一般に用いられているが、この
方法でも、もし検査時のディスク回転速度が規準あるい
は書込み時の回転速度と異なっていれば正確な測定はで
きない。したがって従来はサーボパターン書込み間隔の
正確な検査を行うには高価な大規模な設備を必要とした
・ 本発明の目的は、検査時のディスク回転速度が書込み時
あるいは基準の回転速度と多少異なつ【いても、書込ま
れたサーボパターン間隔の合否を正しく判定できるサー
ボパターン書込み間隔検査方法を提供することにある。
上記目的を達成するために本発明においては、通常のデ
ィスク回転状態で一つのトラックに書込まれたサーボパ
ターンをヘッドに読出させ、この読出した信号にＰＬＬ
（フェーズロックドループ）内のＶＣＯ（電圧制御発振
器）の発振を引込ませ、読出し時の回転速度でディスク
が１回転するのに要する時間を特定整数で正確に等分し
た間隔でクロックパルスを発生させ、このクロックを基
準にして、あるサーボパターンを読出した信号によりボ
パターンに対するパターンパルス発生時点までの時間を
計測することにした。すなわち前述のクロックパルスの
間隔（時間）の絶対値は回転速度の変動に応じて変動す
るけれども、パターンパルス発生間隔（時間）の絶対値
もまた回転速度の影響を全く同様に受けるので、本発明
に係るクロックパルスのパルスカウントで計測すれば、
ディスクに書込まれたサーボパターンの間隔は、ディス
ク回転速度の変動にかかわらず、それぞれ常に同じ値と
なる筈だからである。またディスクは相当大きい慣性能
率を有し、相当高速回覧（例えば、３．６０Ｏｒ？ｆｆ
１）しているから定常運転中に生ずる回転速度の変動は
、今計測しようとするサーボパターン間の（時間）間隔
に比べれば極めて長い時間を要して極めて緩徐に生ずる
にすぎないｏしたがって目的とするサーボパターンの間
隔を計測している途中でクセツクが狂うなどの問題は生
じない。なおパターンパルス間の間隔測定の実際は、前
記クロックに同期して作成したゲートパルスと、Ｃノ’
？ ” トパルス内に読出された一つのサーボパターン
に対するパターンパルスとの位相差を積分ホールド回路
で電圧に変換したものを基準電圧とし、同様にして前記
ゲートパルスに対し所定クロック数だけ遅らせて作成し
たゲートパルスと、前記パターンの次のパターンに対す
るパターンパル所定値以内か否かにより、前記２サ一ボ
パターン間の書込み間隔の合否を判定することとした。
ィスク回転状態で一つのトラックに書込まれたサーボパ
ターンをヘッドに読出させ、この読出した信号にＰＬＬ
（フェーズロックドループ）内のＶＣＯ（電圧制御発振
器）の発振を引込ませ、読出し時の回転速度でディスク
が１回転するのに要する時間を特定整数で正確に等分し
た間隔でクロックパルスを発生させ、このクロックを基
準にして、あるサーボパターンを読出した信号によりボ
パターンに対するパターンパルス発生時点までの時間を
計測することにした。すなわち前述のクロックパルスの
間隔（時間）の絶対値は回転速度の変動に応じて変動す
るけれども、パターンパルス発生間隔（時間）の絶対値
もまた回転速度の影響を全く同様に受けるので、本発明
に係るクロックパルスのパルスカウントで計測すれば、
ディスクに書込まれたサーボパターンの間隔は、ディス
ク回転速度の変動にかかわらず、それぞれ常に同じ値と
なる筈だからである。またディスクは相当大きい慣性能
率を有し、相当高速回覧（例えば、３．６０Ｏｒ？ｆｆ
１）しているから定常運転中に生ずる回転速度の変動は
、今計測しようとするサーボパターン間の（時間）間隔
に比べれば極めて長い時間を要して極めて緩徐に生ずる
にすぎないｏしたがって目的とするサーボパターンの間
隔を計測している途中でクセツクが狂うなどの問題は生
じない。なおパターンパルス間の間隔測定の実際は、前
記クロックに同期して作成したゲートパルスと、Ｃノ’
？ ” トパルス内に読出された一つのサーボパターン
に対するパターンパルスとの位相差を積分ホールド回路
で電圧に変換したものを基準電圧とし、同様にして前記
ゲートパルスに対し所定クロック数だけ遅らせて作成し
たゲートパルスと、前記パターンの次のパターンに対す
るパターンパル所定値以内か否かにより、前記２サ一ボ
パターン間の書込み間隔の合否を判定することとした。
これは、これらのサーボパターンの書込み間隔が正しけ
れば、それを読出して作成したパターンパルス間の間隔
は、本発明に係るクロックの丁度所定（整）数倍になる
筈であるが、実際には多少の誤差が生ずるのは止むを得
ないから、クロックの端数に相当する誤差部分をアナロ
グ的に測定するために、２つのサーボパターンに対し、
それぞれクロックに同期してゲートパルスを発生させ、
これらゲートパルスとそれぞれのパターンパルスとの位
相差をそれぞれ別の積分ホールド回路で電圧に変換して
比較し、電圧差が所定値以内ならば合格とすることにし
たのである。この所定の許容値は十数ａＳＳ壱である。
れば、それを読出して作成したパターンパルス間の間隔
は、本発明に係るクロックの丁度所定（整）数倍になる
筈であるが、実際には多少の誤差が生ずるのは止むを得
ないから、クロックの端数に相当する誤差部分をアナロ
グ的に測定するために、２つのサーボパターンに対し、
それぞれクロックに同期してゲートパルスを発生させ、
これらゲートパルスとそれぞれのパターンパルスとの位
相差をそれぞれ別の積分ホールド回路で電圧に変換して
比較し、電圧差が所定値以内ならば合格とすることにし
たのである。この所定の許容値は十数ａＳＳ壱である。
以下本発明一実施例の回路ブロック図である第１図と、
その中の各信号の波形、タイミングを示す第２図につい
て説明する。第１図中に、例えば信号１などと記入しで
あるが、それに相当する波形が第２図中に示しである。
その中の各信号の波形、タイミングを示す第２図につい
て説明する。第１図中に、例えば信号１などと記入しで
あるが、それに相当する波形が第２図中に示しである。
サーボパターンをヘッドで読出し、増幅器で増幅した信
号ａは第２図に示す如くである。これをピーク検出回路
を通してゲイジタルバルス化した信号すは第２図に示す
如くである。この信号をＰＬＬからなるパターン同期＠
考発生回路に入力し、ＰＬＬ内のｖＣｏの発振をこの人
力に引込ませる。こうしてパターン同期信号発生回路に
発生させた（入力に引込まれたＰＬＬ内のｖＣＯが発生
）信号Ｃが本発明の骨子をなす、ディスク回転に対応し
たりｐツクである。このクロックをもとにして第１図中
に示すチェックタイ建イグ作成回路で各種ゲート信号を
作成する。なお一方で前記信号すをパルス作成回路に通
しで信号ｄすなわちパターンパルスに変換する。第２図
中に示すように本與施例では所定の不同間隔で設けたサ
ーボパターンα、β、γが１組をなし、ディスクの１ト
ラツク上にかかるパターンの組が何千組も書込まれてい
る。なお第２図中の信号ｄ、パターンパルスの図にα′
と示したのは次の組のαパルスを示す。第１図に示すよ
うにチェックタイミング作成回路により作成されたゲー
ト（いわゆる測定窓）Ａとパターンパルスαとの位相差
Ｔ、を位相差検出回路（Ａ）で検出する。これを積分ホ
ールド回路（Ａ）で電圧（ｅ）Ｋ変換し、これを基準電
圧とみなし、これに許容範囲いわば公差を加減して上Ｍ
ＹＨ（ｆ）、下限ＶＬ（ｇ）を作る。
号ａは第２図に示す如くである。これをピーク検出回路
を通してゲイジタルバルス化した信号すは第２図に示す
如くである。この信号をＰＬＬからなるパターン同期＠
考発生回路に入力し、ＰＬＬ内のｖＣｏの発振をこの人
力に引込ませる。こうしてパターン同期信号発生回路に
発生させた（入力に引込まれたＰＬＬ内のｖＣＯが発生
）信号Ｃが本発明の骨子をなす、ディスク回転に対応し
たりｐツクである。このクロックをもとにして第１図中
に示すチェックタイ建イグ作成回路で各種ゲート信号を
作成する。なお一方で前記信号すをパルス作成回路に通
しで信号ｄすなわちパターンパルスに変換する。第２図
中に示すように本與施例では所定の不同間隔で設けたサ
ーボパターンα、β、γが１組をなし、ディスクの１ト
ラツク上にかかるパターンの組が何千組も書込まれてい
る。なお第２図中の信号ｄ、パターンパルスの図にα′
と示したのは次の組のαパルスを示す。第１図に示すよ
うにチェックタイミング作成回路により作成されたゲー
ト（いわゆる測定窓）Ａとパターンパルスαとの位相差
Ｔ、を位相差検出回路（Ａ）で検出する。これを積分ホ
ールド回路（Ａ）で電圧（ｅ）Ｋ変換し、これを基準電
圧とみなし、これに許容範囲いわば公差を加減して上Ｍ
ＹＨ（ｆ）、下限ＶＬ（ｇ）を作る。
つぎに所定クロック（パターンパルスα、β間の本来の
、又は所期の、間隔に相当）後に作成したグー）Ｂとパ
ターンパルスβの位相差を位相差検出回路（Ｂ）で検出
し、これを積分ホールド回路ＣＢ）で電圧（ｈ）に変換
し、これを被検電圧Ｖとし、これを上限コンパレータで
■〈ｖＨであるか否か、下限コンパレータでＶ、＜Ｖか
否かを検査し、そらばパターンパルスα、β間の時間間
隔したがってこれらに対応するディスク上のサーボパタ
ーン書込み（距離）間隔は合格とし、そうでなければ不
合格と判定する。なお第１図中の位相検出回路（Ｄ）、
積分ホークド回路ＣＤ）は、パターンパルスα′に対す
るものである。
、又は所期の、間隔に相当）後に作成したグー）Ｂとパ
ターンパルスβの位相差を位相差検出回路（Ｂ）で検出
し、これを積分ホールド回路ＣＢ）で電圧（ｈ）に変換
し、これを被検電圧Ｖとし、これを上限コンパレータで
■〈ｖＨであるか否か、下限コンパレータでＶ、＜Ｖか
否かを検査し、そらばパターンパルスα、β間の時間間
隔したがってこれらに対応するディスク上のサーボパタ
ーン書込み（距離）間隔は合格とし、そうでなければ不
合格と判定する。なお第１図中の位相検出回路（Ｄ）、
積分ホークド回路ＣＤ）は、パターンパルスα′に対す
るものである。
以上説明したように本発明によれば、磁気ディスクに書
込まれたサーボパターンの間隔の合否を、ディスクの回
転速度変動の影響を受けずに、しかも比較的安価な設備
で、判定できる。
込まれたサーボパターンの間隔の合否を、ディスクの回
転速度変動の影響を受けずに、しかも比較的安価な設備
で、判定できる。
第１図は本発明実施例の回路ブロック図、第２図は該回
路中の信号を示す図である。 代理人 弁理士 縣 武 雄 第 １ 図 第 ２ 図
路中の信号を示す図である。 代理人 弁理士 縣 武 雄 第 １ 図 第 ２ 図
Claims (1)
- 磁気ディス夛用サーボパターンの書込み間隔検査におい
て、通常のディスク回転状態で一つのトラックに書込ま
れたサーボパターンをヘッドに読出させ；この読出した
信号にＰＬＬ内ｖｃｏの発振を引込ませて、読出し時の
回転速度でディスクが１回転するのに要する時間を特定
整数で正確に等分した間隔でクロックパルスを発生させ
；このクロックに同期して作成したゲートパルスと、こ
ノゲートパルス内に読出された一つのパターンｆ）ｓら
作成したパターンパルスとの位相差を積分ホールド回路
で電圧に変換陣だものを基準電圧とし；同様にして所定
クロック後に作成したゲートパルスと前記パターンの次
のパターンに対するパターンパルスとの位相差を他の積
分ホールド回路で電圧に変換して被検電圧とし；前記基
準電圧と被検電圧の差が所定値以内か否かにより前記２
パタ一ン間の書込み間隔の合否を判定するようにしたこ
とを特徴とする磁気ディスク用サーボパターン書込み間
隔検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18040081A JPS5883370A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 磁気デイスク用サ−ボパタ−ン書込み間隔検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18040081A JPS5883370A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 磁気デイスク用サ−ボパタ−ン書込み間隔検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5883370A true JPS5883370A (ja) | 1983-05-19 |
| JPH0142073B2 JPH0142073B2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=16082571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18040081A Granted JPS5883370A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 磁気デイスク用サ−ボパタ−ン書込み間隔検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5883370A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6337873A (ja) * | 1986-07-31 | 1988-02-18 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | サ−ボトラツクライタにおけるマスタクロツク作成装置 |
| JPH0359857A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-14 | Toshiba Corp | データ記録再生装置のサーボ異常検出装置 |
| KR20040096958A (ko) * | 2004-10-11 | 2004-11-17 | 김영권 | 승강기 |
-
1981
- 1981-11-12 JP JP18040081A patent/JPS5883370A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6337873A (ja) * | 1986-07-31 | 1988-02-18 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | サ−ボトラツクライタにおけるマスタクロツク作成装置 |
| JPH0359857A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-14 | Toshiba Corp | データ記録再生装置のサーボ異常検出装置 |
| KR20040096958A (ko) * | 2004-10-11 | 2004-11-17 | 김영권 | 승강기 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0142073B2 (ja) | 1989-09-08 |
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