JPH0339263B2 - - Google Patents
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- JPH0339263B2 JPH0339263B2 JP57200591A JP20059182A JPH0339263B2 JP H0339263 B2 JPH0339263 B2 JP H0339263B2 JP 57200591 A JP57200591 A JP 57200591A JP 20059182 A JP20059182 A JP 20059182A JP H0339263 B2 JPH0339263 B2 JP H0339263B2
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- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の分野〕
この発明は非破壊検査における電磁誘導試験法
等に使用する渦流探傷装置に関するものである。
特にその信号処理において従来のアナログ信号処
理方式を改良してデイジタル信号処理方式にする
ことにより、高性度で而も再現性のある装置の実
現を目指するものである。
等に使用する渦流探傷装置に関するものである。
特にその信号処理において従来のアナログ信号処
理方式を改良してデイジタル信号処理方式にする
ことにより、高性度で而も再現性のある装置の実
現を目指するものである。
従来非破壊検査に用いる電磁誘導試験に使用す
る渦流探傷装置としては、第１図に示すようなも
のがあつた。即ち、第１図は、アナログ信号処理
の渦流探傷装置のブロツク図である。図におい
て、１は探傷周波数の信号電流を発生する発信
器、２は上記の発振器１の出力信号を増幅する電
力増幅器、３はブリツジ回路、４は探傷用のコイ
ル、５はブリツジ回路３の不平衡電圧すなわち欠
陥を示す信号を増幅する増幅器、６は発信器１の
交流信号を基準に位相をα゜遅らす移相器、７は上
記位相器６と同様に位相を（α＋90）゜遅らす移
相器、８は増幅器５の出力信号を上記移相器６，
７の位相で同期検波する同期検波器、９は増幅器
５の出力信号を移相器６の出力信号に同期して出
力する同期ゲート回路、１０は上記同期ゲート回
路９の出力信号を積分するCR回路よりなる積分
器、１１は増幅器５の出力信号を移相器７の出力
信号に同期して出力する同期ゲート回路、１２は
上記同期ゲート回路１１の出力信号を積分する積
分器、１３は同期検波器８の出力信号から被検材
の性状を判定する判定器、１４は積分器１０の信
号をＸ軸に、積分器１２の信号をＹ軸に入力し
て、欠陥を示す信号をベクトル表示する記録器
で、この実施例では、CRTとする。
る渦流探傷装置としては、第１図に示すようなも
のがあつた。即ち、第１図は、アナログ信号処理
の渦流探傷装置のブロツク図である。図におい
て、１は探傷周波数の信号電流を発生する発信
器、２は上記の発振器１の出力信号を増幅する電
力増幅器、３はブリツジ回路、４は探傷用のコイ
ル、５はブリツジ回路３の不平衡電圧すなわち欠
陥を示す信号を増幅する増幅器、６は発信器１の
交流信号を基準に位相をα゜遅らす移相器、７は上
記位相器６と同様に位相を（α＋90）゜遅らす移
相器、８は増幅器５の出力信号を上記移相器６，
７の位相で同期検波する同期検波器、９は増幅器
５の出力信号を移相器６の出力信号に同期して出
力する同期ゲート回路、１０は上記同期ゲート回
路９の出力信号を積分するCR回路よりなる積分
器、１１は増幅器５の出力信号を移相器７の出力
信号に同期して出力する同期ゲート回路、１２は
上記同期ゲート回路１１の出力信号を積分する積
分器、１３は同期検波器８の出力信号から被検材
の性状を判定する判定器、１４は積分器１０の信
号をＸ軸に、積分器１２の信号をＹ軸に入力し
て、欠陥を示す信号をベクトル表示する記録器
で、この実施例では、CRTとする。
第２図は第１図に示したブリツジ回路３の構成
の一例を示す接続図で、第１図と同一符号は同一
又は相当部分を示し、３５，３６および３７はコ
イル４と共にブリツジ回路３の各アームを構成す
るインピーダンス、３８，３９はブリツジ回路３
の出力端子、４０は被検材を示している。
の一例を示す接続図で、第１図と同一符号は同一
又は相当部分を示し、３５，３６および３７はコ
イル４と共にブリツジ回路３の各アームを構成す
るインピーダンス、３８，３９はブリツジ回路３
の出力端子、４０は被検材を示している。
第３図は第１図のブロツク図に示す従来装置の
各部における出力信号波形を示したものである。
図において、ａは発信器１の出力信号波形、ｂは
被検材に欠陥が存在した場合の増幅器５の出力信
号波形で、ａの信号波形を基準として位相がβ゜遅
れていることを示している。ｃは移相器６の出力
信号波形で、移相量α＝0゜で、信号波形ａに同期
している。ｄは同期ゲート回路９の出力信号波形
で、この図で斜線を施した部分の信号は積分器１
０に入力されると相殺され同図の破線で示す波形
の信号が出力されることゝなる。ｅは同期ゲート
回路１１の出力信号波形で、信号波形ｃを基準に
位相が90゜遅れたパルス信号となる。ｆは上記信
号波形ｄと同様に積分器１２の出力信号波形を示
し、同図の斜線部分は積分器１２に入力されると
相殺され、同図の破線で示す波形の信号が出力さ
れる。
各部における出力信号波形を示したものである。
図において、ａは発信器１の出力信号波形、ｂは
被検材に欠陥が存在した場合の増幅器５の出力信
号波形で、ａの信号波形を基準として位相がβ゜遅
れていることを示している。ｃは移相器６の出力
信号波形で、移相量α＝0゜で、信号波形ａに同期
している。ｄは同期ゲート回路９の出力信号波形
で、この図で斜線を施した部分の信号は積分器１
０に入力されると相殺され同図の破線で示す波形
の信号が出力されることゝなる。ｅは同期ゲート
回路１１の出力信号波形で、信号波形ｃを基準に
位相が90゜遅れたパルス信号となる。ｆは上記信
号波形ｄと同様に積分器１２の出力信号波形を示
し、同図の斜線部分は積分器１２に入力されると
相殺され、同図の破線で示す波形の信号が出力さ
れる。
次に従来技術を示す第１図のブロツク図につい
て、その動作を説明する。図において、発振器１
の出力信号は、電力増幅器２で増幅し、第３図ａ
に示す信号波形をブリツジ回路３に入力する。被
検材検出用のコイル４は上記発振器１の発振周波
数で第２図に示す被検材４０と電磁的に結合さ
れ、被検材４０の表層部に渦電流を誘導発生さ
せ、この渦電流の逆起電力によつて、コイル４の
インピーダンスが定まる。かくして、被検材４０
の正常な部分においてブリツジ回路３の平衡をと
り、端子３８，３９の出力電圧を０（ボルト）に
しておくと、被検材４０の欠陥のある部分では渦
電流に対するインピーダンスが変化する。従つて
コイル４のインピーダンスが変化し、ブリツジ回
路３が不平衡状態となつて、第２図に示す端子３
８，３９に第３図ｂで示すように発振器１の出力
信号波形ａと波形及び周波数は同じで、位相だけ
がβ゜遅れた欠陥を示す信号波形ｂが出力される。
増幅器５は上記信号波形ｂを増幅し、同期検波器
８に入力し、信号波形ｂを0゜と90゜との位相成分
に分類する。まず、同期ゲート回路９において
は、増幅器５の出力信号（第３図ｂ）は、発振器
１の出力信号（第３図ａ）に同期した移相器６の
出力信号（第３図ｃ）に一致した信号波形のみ出
力する。この信号波形を第３図ｄに示す。上記信
号波形ｄは、積分器１０で積分されると、斜線部
分の記号は相殺され、破線で示すような信号波形
となる。すなわち、移相器６、同期ゲート回路９
および積分器１０は、発振器１の出力信号の周波
数に同期した同期検波器となる。
て、その動作を説明する。図において、発振器１
の出力信号は、電力増幅器２で増幅し、第３図ａ
に示す信号波形をブリツジ回路３に入力する。被
検材検出用のコイル４は上記発振器１の発振周波
数で第２図に示す被検材４０と電磁的に結合さ
れ、被検材４０の表層部に渦電流を誘導発生さ
せ、この渦電流の逆起電力によつて、コイル４の
インピーダンスが定まる。かくして、被検材４０
の正常な部分においてブリツジ回路３の平衡をと
り、端子３８，３９の出力電圧を０（ボルト）に
しておくと、被検材４０の欠陥のある部分では渦
電流に対するインピーダンスが変化する。従つて
コイル４のインピーダンスが変化し、ブリツジ回
路３が不平衡状態となつて、第２図に示す端子３
８，３９に第３図ｂで示すように発振器１の出力
信号波形ａと波形及び周波数は同じで、位相だけ
がβ゜遅れた欠陥を示す信号波形ｂが出力される。
増幅器５は上記信号波形ｂを増幅し、同期検波器
８に入力し、信号波形ｂを0゜と90゜との位相成分
に分類する。まず、同期ゲート回路９において
は、増幅器５の出力信号（第３図ｂ）は、発振器
１の出力信号（第３図ａ）に同期した移相器６の
出力信号（第３図ｃ）に一致した信号波形のみ出
力する。この信号波形を第３図ｄに示す。上記信
号波形ｄは、積分器１０で積分されると、斜線部
分の記号は相殺され、破線で示すような信号波形
となる。すなわち、移相器６、同期ゲート回路９
および積分器１０は、発振器１の出力信号の周波
数に同期した同期検波器となる。
また、移相器７においては、発振器１の出力信
号波形より90゜遅れた信号波形（第３図ｅ）を出
力し、同期ゲート回路１１と積分器１２で同期検
波されると、第３図ｆの破線で示す信号波形が出
力される。上記の同期検波器８の出力信号波形ｄ
を記録器相当のCRT１４のＸ軸に入力し、信号
波形ｆを、Ｙ軸に入力し、欠陥を示す信号波形を
ベクトル表示する。
号波形より90゜遅れた信号波形（第３図ｅ）を出
力し、同期ゲート回路１１と積分器１２で同期検
波されると、第３図ｆの破線で示す信号波形が出
力される。上記の同期検波器８の出力信号波形ｄ
を記録器相当のCRT１４のＸ軸に入力し、信号
波形ｆを、Ｙ軸に入力し、欠陥を示す信号波形を
ベクトル表示する。
判定器１３は、上記ベクトルの大きさを位相か
ら欠陥の性状を判定するものである。特に、上記
の位相を求めると、欠陥のある位置の深さを求め
ることができる。第３図の場合、信号波形ｄ，ｆ
の同期検波器８の出力信号が等しいので位相は
45゜となる。
ら欠陥の性状を判定するものである。特に、上記
の位相を求めると、欠陥のある位置の深さを求め
ることができる。第３図の場合、信号波形ｄ，ｆ
の同期検波器８の出力信号が等しいので位相は
45゜となる。
従来の渦流探傷装置は以上の様に構成されてい
るので、微小な欠陥部分（幅が狭く深さの浅い様
な欠陥）を検出するに当つては、同期検波器８の
積分器１０，１２のCR回路の積分定数を最適値
にしないと、欠陥を示す信号（第３図ｄ，ｆ）に
対する応答性が悪くなり、高い精度で欠陥部分の
深さを求めることができなく、Ｃ，Ｒ、の値は加
減器でアナログ的に設定するために、再現性に乏
しい等の欠点があつた。特に、上記の欠点は、微
小な欠陥を高速で検出する場合、顕著に現われ
る。
るので、微小な欠陥部分（幅が狭く深さの浅い様
な欠陥）を検出するに当つては、同期検波器８の
積分器１０，１２のCR回路の積分定数を最適値
にしないと、欠陥を示す信号（第３図ｄ，ｆ）に
対する応答性が悪くなり、高い精度で欠陥部分の
深さを求めることができなく、Ｃ，Ｒ、の値は加
減器でアナログ的に設定するために、再現性に乏
しい等の欠点があつた。特に、上記の欠点は、微
小な欠陥を高速で検出する場合、顕著に現われ
る。
この発明は上記の様な、従来のアナログ式渦流
探傷装置の欠点を除去する為になされたもので、
従来の欠陥信号の処理を、アナログ式からデイジ
タル式に変更すると共に、欠陥の深さを高精度で
求められる装置を提供することを目的としてい
る。
探傷装置の欠点を除去する為になされたもので、
従来の欠陥信号の処理を、アナログ式からデイジ
タル式に変更すると共に、欠陥の深さを高精度で
求められる装置を提供することを目的としてい
る。
以下に、この発明の一実施例を図面について詳
しく説明する。第４図は、この発明の一実施例を
示すブロツク図である。図において１５は探傷周
波数と波形を定める設定器、１６は上記設定器１
５の信号によりその波形と周波数に比例したデイ
ジタルの関数を時系列に発生する関数発生器、１
７は上記関数発生器１６のデイジタル出力信号を
アナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１８は増
幅器５の出力信号（アナログ信号）をデイジタル
信号に変換するＡ／Ｄ変換器、１９はＡ／Ｄ変換
器１８の出力信号をラチエツト式に送り込む第１
記憶回路、２０は同様の機能を果す第２記憶回
路、２１は、第１，第２記憶回路１９，２０の出
力を交互に出力するゲート回路、３１は、上記第
１，第２記憶回路１９，２０と、ゲート回路２１
とよりなる記憶部、２２は関数発生器１６に同期
してα゜の位相でゲート信号を出力する第１移相
器、２３は関数発生器１６で同期して（α＋90）
゜の位相ゲート信号を出力する第２移相器、２４
は第１移相器２２に同期してゲート回路２１の出
力信号を加算する第１加算器、２５は第２ゲート
回路２１の出力信号を加算する第２加算器、２６
は設定器１５の信号によつて上記の各ブロツク１
８〜２５を制御する制御器、２７はデイジタル信
号処理よりなる同期検波器、２８はデイジタル信
号処理により第１図に示す判定器１３と同等の機
能を持つ判定器２９，３０はＤ／Ａ変換器であ
る。図中第１図と同一符号は同一又は相当部分を
示す。第５図は第４図に示す各回路ブロツクのそ
れぞれの出力信号波形を示す。即ち、ａ，ｂは第
３図に示したａ，ｂと同等のものであるが、時間
軸を引き延ばして画いてある。図中、ｇは移相器
２２の出力信号波形で、移相量α＝0゜に設定さ
れ、信号波形ａに同期している。ｈは第２移相器
２３の出力信号波形で、信号波形ｇを基準とすれ
ば、90゜遅れている。ｉは制御器２６の出力信号
で、Ａ／Ｄ変換器１８の変換開始と第１、第２移
相器２２，２３を制御する信号で、説明の都合
上、パルス間隔を粗く記載している。ｊはＡ／Ｄ
変換器１８の変換終了信号である。ｌ，ｍは、制
御器２６の出力信号で、それぞれ第１、第２記憶
回路１９，２０のラツチ信号である。ｎは、ゲー
ト回路２１の出力信号で、Ａ／Ｄ変換器の出力信
号すなわち、欠陥信号データ（デイジタル）であ
る。ｐは第１移相器２２の出力信号で、第１加算
器２４の加算タイミング信号となる。ＱはＰと同
様に第２移相器２３の出力信号で、第２加算器２
５の加算タイミング信号となる。
しく説明する。第４図は、この発明の一実施例を
示すブロツク図である。図において１５は探傷周
波数と波形を定める設定器、１６は上記設定器１
５の信号によりその波形と周波数に比例したデイ
ジタルの関数を時系列に発生する関数発生器、１
７は上記関数発生器１６のデイジタル出力信号を
アナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１８は増
幅器５の出力信号（アナログ信号）をデイジタル
信号に変換するＡ／Ｄ変換器、１９はＡ／Ｄ変換
器１８の出力信号をラチエツト式に送り込む第１
記憶回路、２０は同様の機能を果す第２記憶回
路、２１は、第１，第２記憶回路１９，２０の出
力を交互に出力するゲート回路、３１は、上記第
１，第２記憶回路１９，２０と、ゲート回路２１
とよりなる記憶部、２２は関数発生器１６に同期
してα゜の位相でゲート信号を出力する第１移相
器、２３は関数発生器１６で同期して（α＋90）
゜の位相ゲート信号を出力する第２移相器、２４
は第１移相器２２に同期してゲート回路２１の出
力信号を加算する第１加算器、２５は第２ゲート
回路２１の出力信号を加算する第２加算器、２６
は設定器１５の信号によつて上記の各ブロツク１
８〜２５を制御する制御器、２７はデイジタル信
号処理よりなる同期検波器、２８はデイジタル信
号処理により第１図に示す判定器１３と同等の機
能を持つ判定器２９，３０はＤ／Ａ変換器であ
る。図中第１図と同一符号は同一又は相当部分を
示す。第５図は第４図に示す各回路ブロツクのそ
れぞれの出力信号波形を示す。即ち、ａ，ｂは第
３図に示したａ，ｂと同等のものであるが、時間
軸を引き延ばして画いてある。図中、ｇは移相器
２２の出力信号波形で、移相量α＝0゜に設定さ
れ、信号波形ａに同期している。ｈは第２移相器
２３の出力信号波形で、信号波形ｇを基準とすれ
ば、90゜遅れている。ｉは制御器２６の出力信号
で、Ａ／Ｄ変換器１８の変換開始と第１、第２移
相器２２，２３を制御する信号で、説明の都合
上、パルス間隔を粗く記載している。ｊはＡ／Ｄ
変換器１８の変換終了信号である。ｌ，ｍは、制
御器２６の出力信号で、それぞれ第１、第２記憶
回路１９，２０のラツチ信号である。ｎは、ゲー
ト回路２１の出力信号で、Ａ／Ｄ変換器の出力信
号すなわち、欠陥信号データ（デイジタル）であ
る。ｐは第１移相器２２の出力信号で、第１加算
器２４の加算タイミング信号となる。ＱはＰと同
様に第２移相器２３の出力信号で、第２加算器２
５の加算タイミング信号となる。
次に動作について説明する。第４図の設定器１
５において、ｆHzの正弦波と設定すると、関数発
生器１６は2πftに比例したデイジタルデータ信号
を時系列で出力すると共に、上記関数2πftに同期
したパルス信号ｇ，ｈを第１、第２移相器２２，
２３に入力する。上記関数発生器１６のデイジタ
ルデータ信号は、Ｄ／Ａ変換器１７によつて、第
５図ａに示すアナログの正弦波信号に変換され、
電力増幅器２で増幅され、ブリツジ回路３に入力
される。被検材４０の表層部分では、コイル４に
よつて渦電流が誘導され、その逆起電力により上
記コイル４のインピーダンスが定まる。従つて、
被検材４０の正常な部分においてブリツジ回路の
平衡をとり、出力電圧を０ボルトにしておく。被
検材４０の欠陥のある部分では、コイル４のイン
ピーダンスが変化し、ブリツジ回路３が不平衡と
なつて第５図ｂに示す信号波形が出力される。上
記信号波形ｂは増幅器５によつて増幅され、Ａ／
Ｄ変換器１８に入力される。Ａ／Ｄ変換器１８の
交換開始信号（第５図ｉ）は、設定器１５の探傷
周波数設定データが解読し、制御器２６より一定
間隔のパルス列で出力される。上記の信号ｉのパ
ルス間隔で欠陥信号（第５図ｂ）がＡ／Ｄ変換さ
れる。Ａ／Ｄ変換された（第５図ｎ）はＡ／Ｄ変
換終了信号（第５図ｊ）に同期して、ラツチ信号
ｌのタイミングで奇数番目のデータ（n1，n3，
n5，……）を第１記憶回路１９に、ラツチ信号ｍ
のタイミングで、偶数番目のデータ（n2，n4，
n5，……）を第２記憶回路２０に交互にラツチす
る。
５において、ｆHzの正弦波と設定すると、関数発
生器１６は2πftに比例したデイジタルデータ信号
を時系列で出力すると共に、上記関数2πftに同期
したパルス信号ｇ，ｈを第１、第２移相器２２，
２３に入力する。上記関数発生器１６のデイジタ
ルデータ信号は、Ｄ／Ａ変換器１７によつて、第
５図ａに示すアナログの正弦波信号に変換され、
電力増幅器２で増幅され、ブリツジ回路３に入力
される。被検材４０の表層部分では、コイル４に
よつて渦電流が誘導され、その逆起電力により上
記コイル４のインピーダンスが定まる。従つて、
被検材４０の正常な部分においてブリツジ回路の
平衡をとり、出力電圧を０ボルトにしておく。被
検材４０の欠陥のある部分では、コイル４のイン
ピーダンスが変化し、ブリツジ回路３が不平衡と
なつて第５図ｂに示す信号波形が出力される。上
記信号波形ｂは増幅器５によつて増幅され、Ａ／
Ｄ変換器１８に入力される。Ａ／Ｄ変換器１８の
交換開始信号（第５図ｉ）は、設定器１５の探傷
周波数設定データが解読し、制御器２６より一定
間隔のパルス列で出力される。上記の信号ｉのパ
ルス間隔で欠陥信号（第５図ｂ）がＡ／Ｄ変換さ
れる。Ａ／Ｄ変換された（第５図ｎ）はＡ／Ｄ変
換終了信号（第５図ｊ）に同期して、ラツチ信号
ｌのタイミングで奇数番目のデータ（n1，n3，
n5，……）を第１記憶回路１９に、ラツチ信号ｍ
のタイミングで、偶数番目のデータ（n2，n4，
n5，……）を第２記憶回路２０に交互にラツチす
る。
上記の第１と第２記憶回路１９，２０を２個用
いるのは、Ａ／Ｄ変換器１８のデータの変換時間
を有効に利用し、ゲート回路２１は上記第１、第
２の記憶回路で交互にラツチされているデータを
直列に、すなわち、Ａ／Ｄ変換器１８から出力さ
れたデータの順序で第１、第２加算器２４，２５
に同時に入力される。これらゲート回路２１、加
算器２４，２５の動作タイミングは制御器２６で
おこなう。
いるのは、Ａ／Ｄ変換器１８のデータの変換時間
を有効に利用し、ゲート回路２１は上記第１、第
２の記憶回路で交互にラツチされているデータを
直列に、すなわち、Ａ／Ｄ変換器１８から出力さ
れたデータの順序で第１、第２加算器２４，２５
に同時に入力される。これらゲート回路２１、加
算器２４，２５の動作タイミングは制御器２６で
おこなう。
移相器２２は、関数発生器１６の正弦波交流信
号（第５図ａ）に同期したパルスｇとＡ／Ｄ変換
器１８のＡ／Ｄ変換終了信号ｊと同期したパルス
ｐを出力し、上記パルスｐに同期するＡ／Ｄ変換
器１８の変換データ（第５図ではn1〜n6）を第１
加算器２４に入力する。同様に第２移相器２３
は、移相器２２の出力信号ｇに対して、90゜遅れ
たパルスｈを出力し、Ａ／Ｄ変換終了信号ｊと同
期したパルスＱを出力し、上記パルスＱに同期す
るＡ／Ｄ変換器のデータ（第５図では、n5〜n11）
を第２加算器２５に入力する。上記第１加算器２
４と、第２加算器２５の加算データは、欠陥を示
す信号（第５図ａ）を位相0゜と90゜で同期検波さ
れた値である。また、加算関数は、制御器２６に
よつて、任意に設定される。この装置の場合は
１／ｆ（秒）間のデータを加算する。Ｄ／Ａ変換
器２９，３０は第１加算器２４と第２加算器２５
の加算データをアナログ量に変換し、その変換量
をCRT１４に入力し、欠陥を示す信号（第５図
ｂ）をベクトル表示する。判定器２８は、第１、
第２加算器２４，２５のデータから大きさと位相
を求め欠陥の性状を判定する。
号（第５図ａ）に同期したパルスｇとＡ／Ｄ変換
器１８のＡ／Ｄ変換終了信号ｊと同期したパルス
ｐを出力し、上記パルスｐに同期するＡ／Ｄ変換
器１８の変換データ（第５図ではn1〜n6）を第１
加算器２４に入力する。同様に第２移相器２３
は、移相器２２の出力信号ｇに対して、90゜遅れ
たパルスｈを出力し、Ａ／Ｄ変換終了信号ｊと同
期したパルスＱを出力し、上記パルスＱに同期す
るＡ／Ｄ変換器のデータ（第５図では、n5〜n11）
を第２加算器２５に入力する。上記第１加算器２
４と、第２加算器２５の加算データは、欠陥を示
す信号（第５図ａ）を位相0゜と90゜で同期検波さ
れた値である。また、加算関数は、制御器２６に
よつて、任意に設定される。この装置の場合は
１／ｆ（秒）間のデータを加算する。Ｄ／Ａ変換
器２９，３０は第１加算器２４と第２加算器２５
の加算データをアナログ量に変換し、その変換量
をCRT１４に入力し、欠陥を示す信号（第５図
ｂ）をベクトル表示する。判定器２８は、第１、
第２加算器２４，２５のデータから大きさと位相
を求め欠陥の性状を判定する。
なお、上記実施例では、Ａ／Ｄ変換器１８の変
換データの記憶部３１に、第１、第２記憶回路１
９，２０を用い、Ａ／Ｄ変換器１８の動作中に、
後段回路による演算処理をおこない、演算処理時
間を短縮しているが、低周波数による探傷の場
合、Ａ／Ｄ変換の繰り返し周期（第５図ｉ）が長
くなるので、第２記憶回路２０、ゲート回路２１
は不用となる。またより高周波数による探傷の場
合、並列処理するために、２個以上の記憶回路を
用いる。
換データの記憶部３１に、第１、第２記憶回路１
９，２０を用い、Ａ／Ｄ変換器１８の動作中に、
後段回路による演算処理をおこない、演算処理時
間を短縮しているが、低周波数による探傷の場
合、Ａ／Ｄ変換の繰り返し周期（第５図ｉ）が長
くなるので、第２記憶回路２０、ゲート回路２１
は不用となる。またより高周波数による探傷の場
合、並列処理するために、２個以上の記憶回路を
用いる。
以上のように、この発明によれば、同期検波器
をデイジタル信号処理で実現できるので、積分定
数を任意に設定でき、しかも再現性が良い。また
応答特性は、Ａ／Ｄ変換器１８の変換周期でのみ
決まり、ベクトル分析は探傷周波数の一周期で求
まるので、応答速度の早い精度の高い装置が得ら
れるという効果がある。
をデイジタル信号処理で実現できるので、積分定
数を任意に設定でき、しかも再現性が良い。また
応答特性は、Ａ／Ｄ変換器１８の変換周期でのみ
決まり、ベクトル分析は探傷周波数の一周期で求
まるので、応答速度の早い精度の高い装置が得ら
れるという効果がある。
第１図は従来の渦流探傷装置のブロツク図、第
２図は、従来の探傷装置のブリツジ回路図、第３
図は、第１図のブロツク図の各部毎の出力信号波
形図、第４図はこの発明の一実施例のブロツク
図、第５図は、第４図のブロツク図に示す各部毎
の出力信号波形図である。 図において、１……発振器、２……電力増幅
器、３……ブリツジ回路、４……コイル、５……
増幅器、６……移相器、８……同期検波器、９…
…同期ゲート回路、１０……積分器、１１……同
期ゲート回路、１２……積分器、１３……判定
器、１４……記録器（CRT）、１５……設定器、
１６……関数発生器、１７……Ｄ／Ａ変換器、１
８……Ａ／Ｄ変換器、１９……第１記憶回路、２
０……第２記憶回路、２１……ゲート回路、２２
……第１移相器、２３……第２移相器、２４……
第１加算器、２５……第２加算器、２６……制御
器、２７……同期検波器、２８……判定器、２
９，３０……Ｄ／Ａ変換器、３１……記憶部。
２図は、従来の探傷装置のブリツジ回路図、第３
図は、第１図のブロツク図の各部毎の出力信号波
形図、第４図はこの発明の一実施例のブロツク
図、第５図は、第４図のブロツク図に示す各部毎
の出力信号波形図である。 図において、１……発振器、２……電力増幅
器、３……ブリツジ回路、４……コイル、５……
増幅器、６……移相器、８……同期検波器、９…
…同期ゲート回路、１０……積分器、１１……同
期ゲート回路、１２……積分器、１３……判定
器、１４……記録器（CRT）、１５……設定器、
１６……関数発生器、１７……Ｄ／Ａ変換器、１
８……Ａ／Ｄ変換器、１９……第１記憶回路、２
０……第２記憶回路、２１……ゲート回路、２２
……第１移相器、２３……第２移相器、２４……
第１加算器、２５……第２加算器、２６……制御
器、２７……同期検波器、２８……判定器、２
９，３０……Ｄ／Ａ変換器、３１……記憶部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 発振周波数、電波波形および信号処理タイミ
ング制御周期を設定する設定器と、この設定器の
データにより時系列に沿う関数データとこのデー
タに同期して任意の位相を有するパルスを出力す
る関数発生器と、この関数発生器の関数データを
アナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器と、この
Ｄ／Ａ変換器の出力信号を電力増幅しその出力信
号を探傷用コイルから構成されるブリツジ回路に
入力する電力増幅器と、上記ブリツジ回路の出力
信号を増幅する増幅器と、この増幅器の出力信号
をデイジタル信号に変換し、デイジタル信号処理
によつて同期検波する同期検波器と、この同期検
波器の出力信号をＤ／Ａ変換しベクトル表示ある
いは記録する記録器と、同期検波器の出力するデ
イジタルデータにより該検査対象物件の内部欠陥
の性状を判定する判定器とを有することを特徴と
するデイジタル式・渦流探傷装置。 ２ 同期検波器は、増幅器の出力信号をデイジタ
ル変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器の
出力データを記憶する単数又は複数の記憶回路
と、ゲート回路とを有する記憶部と、関数発生器
から出力されるパルス列と上記Ａ／Ｄ変換器から
出力される変換終了信号と同期して90゜位相の異
なる同期パルスを出力する２個の移相器と、上記
同期パルスに同期して記憶部の出力データを加算
する複数の加算器と、設定器のデータによつて上
記Ａ／Ｄ変換器、移相器、記憶部、加算器、Ｄ／
Ａ変換器、および判定器の信号処理のタイミング
を制御する制御器とを有することを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載のデイジタル式・渦流探
傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20059182A JPS5990044A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | デイジタル式・渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20059182A JPS5990044A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | デイジタル式・渦流探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5990044A JPS5990044A (ja) | 1984-05-24 |
| JPH0339263B2 true JPH0339263B2 (ja) | 1991-06-13 |
Family
ID=16426890
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20059182A Granted JPS5990044A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | デイジタル式・渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5990044A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4594555A (en) * | 1984-10-29 | 1986-06-10 | Hewlett-Packard Company | Frequency selective sampling detector |
| JPH01223340A (ja) * | 1988-03-02 | 1989-09-06 | Idemitsu Eng Co Ltd | 渦流探傷方法および装置 |
| JP2525976Y2 (ja) * | 1990-06-14 | 1997-02-12 | 内橋エステック株式会社 | 合金型温度ヒューズ |
| JP2007225303A (ja) * | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Jfe Steel Kk | 同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置 |
| GB2457496B (en) * | 2008-02-15 | 2010-10-20 | Ge Inspection Technologies Ltd | A method and apparatus for phase sensitive detection of eddy current measurements |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5523381B2 (ja) * | 1974-02-02 | 1980-06-23 | ||
| JPS5523383B2 (ja) * | 1974-02-12 | 1980-06-23 |
-
1982
- 1982-11-16 JP JP20059182A patent/JPS5990044A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5990044A (ja) | 1984-05-24 |
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