JPH0465345B2 - - Google Patents
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- JPH0465345B2 JPH0465345B2 JP57042881A JP4288182A JPH0465345B2 JP H0465345 B2 JPH0465345 B2 JP H0465345B2 JP 57042881 A JP57042881 A JP 57042881A JP 4288182 A JP4288182 A JP 4288182A JP H0465345 B2 JPH0465345 B2 JP H0465345B2
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- JP
- Japan
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- sample
- known concentration
- measured value
- correction coefficient
- electrolyte
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/72—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flame burners
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は炎光光度計を組込んだ自動生化学分析
装置に関し、特に市販コントロール血清を用いた
電解質測定のキヤリブレーシヨン方法に関するも
のである。
装置に関し、特に市販コントロール血清を用いた
電解質測定のキヤリブレーシヨン方法に関するも
のである。
自動生化学分析装置、特に多項目自動生化学分
析装置では炎光光度計を組込み、検体の電解質測
定を炎光光度計によつて行つている。この場合、
炎光光度形のドリフトが大きい、燃焼室の温度が
変化するとこれを安定させるのに時間がかかる等
の理由により、キヤリブレーシヨン（ゼロ点調
整、目盛検査、目盛校正等）を頻繁に行う必要が
あつた。これはオペレータの操作が煩雑であつた
り、多検体処理に時間がかかり過ぎる等の欠点を
有していた。このような欠点を解消するために本
発明者らは先に自動的に炎光光度計のキヤリブレ
ーシヨンを行い、操作が簡単で、しかも多検体処
理の時間を短縮するキヤリブレーシヨン方法を提
供した（特願昭55−93570号〔特開昭57−19646
号〕）。この方法は、電解質標準液を内部標準液で
希釈した試液を炎光光度計で測定し、この測定値
（濃度）と電解質標準液の濃度の比を補正係数と
して用いるものである。しかし、この方法は、炎
光光度計自体のドリフトを補正するものであり、
システム全体の測定系の変動を補正することまで
は考慮していない。
析装置では炎光光度計を組込み、検体の電解質測
定を炎光光度計によつて行つている。この場合、
炎光光度形のドリフトが大きい、燃焼室の温度が
変化するとこれを安定させるのに時間がかかる等
の理由により、キヤリブレーシヨン（ゼロ点調
整、目盛検査、目盛校正等）を頻繁に行う必要が
あつた。これはオペレータの操作が煩雑であつた
り、多検体処理に時間がかかり過ぎる等の欠点を
有していた。このような欠点を解消するために本
発明者らは先に自動的に炎光光度計のキヤリブレ
ーシヨンを行い、操作が簡単で、しかも多検体処
理の時間を短縮するキヤリブレーシヨン方法を提
供した（特願昭55−93570号〔特開昭57−19646
号〕）。この方法は、電解質標準液を内部標準液で
希釈した試液を炎光光度計で測定し、この測定値
（濃度）と電解質標準液の濃度の比を補正係数と
して用いるものである。しかし、この方法は、炎
光光度計自体のドリフトを補正するものであり、
システム全体の測定系の変動を補正することまで
は考慮していない。
本発明は、電解質測定を炎光光度計によつて行
うとき、電解質測定のドリフト補正を行い、さら
にあらかじめ値のわかつている試料により電解質
測定の測定値のキヤリブレーシヨンを自動的に行
い、炎光光度計のみでなくシステム全体の測定系
（サンプル・試液の分注量・経時ドリフト等）の
変動を補正することができるキヤリブレーシヨン
方法を提供することを目的とする。
うとき、電解質測定のドリフト補正を行い、さら
にあらかじめ値のわかつている試料により電解質
測定の測定値のキヤリブレーシヨンを自動的に行
い、炎光光度計のみでなくシステム全体の測定系
（サンプル・試液の分注量・経時ドリフト等）の
変動を補正することができるキヤリブレーシヨン
方法を提供することを目的とする。
このために、本発明は、測定に用いる容器に対
して分析すべき検体の所定量を所定希釈比で分注
する分注手段と、分注された検体に含まれる特定
電解質の濃度を測定する測定手段とを具える自動
分析装置における電解質測定のキヤリブレーシヨ
ン方法において、 前記検体と、この検体を希釈する内部標準液と
の間の希釈比で前記特定電解質の既知濃度から成
る電解質標準液を前記内部標準液で希釈した試液
を予め用意し、該希釈液の前記測定手段による測
定値と既知濃度との関係が次式 (1) K1＝電解質標準液の既知濃度／希釈試液の測定値 で表される補正係数をドリフトが発生する頻度に
応じて少なくとも２回の検体測定について求め、
さらに前記検体と同一の分注手段で希釈分注処理
した既知濃度のコントロール試料を用い、該希釈
されたコントロール試料の前記測定手段による測
定値と既知濃度との関係が次式 (2) K2＝コントロール試料の既知濃度／希釈コントロ
ール試料の測定値×K1 で表される補正係数を求め、式(2)は少なくとも２
回のドリフト補正に対応する少なくとも２つの
K1の内、初回のドリフト補正に対応するK1を用
い、連続する複数の検体に関する各測定値に対し
てこれらK1およびK2を乗ずることを特徴とする
ものである。
して分析すべき検体の所定量を所定希釈比で分注
する分注手段と、分注された検体に含まれる特定
電解質の濃度を測定する測定手段とを具える自動
分析装置における電解質測定のキヤリブレーシヨ
ン方法において、 前記検体と、この検体を希釈する内部標準液と
の間の希釈比で前記特定電解質の既知濃度から成
る電解質標準液を前記内部標準液で希釈した試液
を予め用意し、該希釈液の前記測定手段による測
定値と既知濃度との関係が次式 (1) K1＝電解質標準液の既知濃度／希釈試液の測定値 で表される補正係数をドリフトが発生する頻度に
応じて少なくとも２回の検体測定について求め、
さらに前記検体と同一の分注手段で希釈分注処理
した既知濃度のコントロール試料を用い、該希釈
されたコントロール試料の前記測定手段による測
定値と既知濃度との関係が次式 (2) K2＝コントロール試料の既知濃度／希釈コントロ
ール試料の測定値×K1 で表される補正係数を求め、式(2)は少なくとも２
回のドリフト補正に対応する少なくとも２つの
K1の内、初回のドリフト補正に対応するK1を用
い、連続する複数の検体に関する各測定値に対し
てこれらK1およびK2を乗ずることを特徴とする
ものである。
補正係数K1のみを用いてドリフト補正を行う
従来のキヤリブレーシヨン方法では、サンプル分
注器の分注誤差は考慮されていない。ところがこ
の分注器の分注誤差は変動が大きく、この変動は
検体の希釈倍率に影響し測定値誤差となつてしま
うことがわかつた。そこで、本発明方法は従来の
方法を改良し、サンプル分注器の分注誤差も考慮
するために、濃度既知の試料をサンプル分注器で
分注し、これを測定した値とこの試料の濃度値と
を比較し、(2)式で表される補正係数K2も用いる
ことにした。但し、前記試料の測定値には、すで
に補正係数K1によるドリフトを含んでいるから、
このドリフトを補正するためにK1を乗じる必要
がある。ドリフトの補正方法には、前述のような
電解質標準液を予め内部標準液で希釈した試液を
測定する方法だけでなく、濃度既知の試料を何回
も測定する方法もある。しかし、後者の方法で
は、分注誤差（サンプル希釈誤差）や測定誤差等
によつて液体の測定値が変動すること、又、使用
する試料が高価なことなどから不利である。従つ
て、頻繁に実施しなければならない炎光光度計の
ドリフト補正と実施頻度のはるかに少ない分注誤
差補正とは別々に行なう方がより有効である。ま
た、使用する試料の種類は固定するものではない
が、多項目分析装置においては、他の多くの項目
（比色測定の項目）で一般に使用されている試料
を用いることで、より無駄がはぶける。尚、本方
法は炎光光度計の他に例えばイオン電極において
も応用することができる。
従来のキヤリブレーシヨン方法では、サンプル分
注器の分注誤差は考慮されていない。ところがこ
の分注器の分注誤差は変動が大きく、この変動は
検体の希釈倍率に影響し測定値誤差となつてしま
うことがわかつた。そこで、本発明方法は従来の
方法を改良し、サンプル分注器の分注誤差も考慮
するために、濃度既知の試料をサンプル分注器で
分注し、これを測定した値とこの試料の濃度値と
を比較し、(2)式で表される補正係数K2も用いる
ことにした。但し、前記試料の測定値には、すで
に補正係数K1によるドリフトを含んでいるから、
このドリフトを補正するためにK1を乗じる必要
がある。ドリフトの補正方法には、前述のような
電解質標準液を予め内部標準液で希釈した試液を
測定する方法だけでなく、濃度既知の試料を何回
も測定する方法もある。しかし、後者の方法で
は、分注誤差（サンプル希釈誤差）や測定誤差等
によつて液体の測定値が変動すること、又、使用
する試料が高価なことなどから不利である。従つ
て、頻繁に実施しなければならない炎光光度計の
ドリフト補正と実施頻度のはるかに少ない分注誤
差補正とは別々に行なう方がより有効である。ま
た、使用する試料の種類は固定するものではない
が、多項目分析装置においては、他の多くの項目
（比色測定の項目）で一般に使用されている試料
を用いることで、より無駄がはぶける。尚、本方
法は炎光光度計の他に例えばイオン電極において
も応用することができる。
次に図面につき本発明を詳細に説明する。図は
炎光光度計を組込んだ自動生化学分析装置の概略
を示す工程図である。１はサンプルカツプライン
であり、測定すべき検体（血清）を収容する複数
のカツプを備えている。検体を収容していない場
合はこのカツプをキヤリブレーシヨン用に使用す
ることができる。２は反応管ラインであり、試液
分注器３−Ａ，３−Ｂによつて試液タンク４−
Ａ，４−Ｂの試液が順次に分注される複数の反応
管を備えている。この反応管ライン２と前記サン
プルカツプライン１は対応して矢印の方向に一定
速度で移動できる。５はサンプル分注器、６は炎
光光度計、７は撹拌装置である。サンプル分注器
５および撹拌装置７は電解質測定のオーダーのあ
る検体を収容するカツプが検体分注位置に移動し
てきた場合に作動するが、オーダーのある検体を
収容していないカツプに対しては作動しないよう
に構成されている。９は制御装置であり、炎光光
度計の測定値を解読して自動的に制御する。
炎光光度計を組込んだ自動生化学分析装置の概略
を示す工程図である。１はサンプルカツプライン
であり、測定すべき検体（血清）を収容する複数
のカツプを備えている。検体を収容していない場
合はこのカツプをキヤリブレーシヨン用に使用す
ることができる。２は反応管ラインであり、試液
分注器３−Ａ，３−Ｂによつて試液タンク４−
Ａ，４−Ｂの試液が順次に分注される複数の反応
管を備えている。この反応管ライン２と前記サン
プルカツプライン１は対応して矢印の方向に一定
速度で移動できる。５はサンプル分注器、６は炎
光光度計、７は撹拌装置である。サンプル分注器
５および撹拌装置７は電解質測定のオーダーのあ
る検体を収容するカツプが検体分注位置に移動し
てきた場合に作動するが、オーダーのある検体を
収容していないカツプに対しては作動しないよう
に構成されている。９は制御装置であり、炎光光
度計の測定値を解読して自動的に制御する。
自動生化学分析装置のサンプルカツプライン１
上のキヤリブレーシヨン用カツプに対応する反応
管ライン２上の反応管に、試液分注器３−Ａによ
つて試液タンク４−Ａ内の試液を分注する。この
試液タンク４−Ａ内の試液は、試液タンク４−Ｂ
内の試液（内部標準液）を用いて既知濃度の電解
質標準液であるNa、Ｋ標準液（例えばNaが145
ｍEq／、Ｋが５ｍEq／）を希釈したキヤリ
ヤブレーシヨン用標準試液である。この試液の希
釈比はサンプルである血清希釈比と同じである。
例えば試液タンク４−Ｂ内の試液2.0ml分注に対
して血清を20μ分注する場合、血清希釈比は
１／101であるから、試液タンク４−Ａの試液は
試液タンク４−Ｂの試液100容に対しNa、Ｋ標準
液１容を加えたものである。次に試液タンク４−
Ａの試液が分注された反応管はサンプル分注位置
に移動する。しかしサンプル分注器５はキヤリブ
レーシヨン用カツプに対してはサンプル分取分注
動作は行わない。従つてキヤリブレーシヨン用カ
ツプに対応する反応管は、試液タンク４−Ａの試
液のみが入つた状態で測定位置に移動し、液は炎
光光度計６に移送され、液濃度が測定される。こ
の場合、液濃度は炎光光度計のドリフト等により
本来の濃度と異なる値として測定されることがあ
る。このとき、本来の電解質標準液の濃度／炎光
光度計で測定した試液の濃度を自動的に計算して
補正係数とし、以後の検体測定において、炎光光
度計で測定された値にこの補正係数を乗じ真の測
定値として出力する。例えば前記濃度のNa、Ｋ
標準液ではNa、Ｋの濃度が145ｍEq／、５ｍ
Eq／であるが、炎光光度計で測定した試液の
濃度がそれぞれ148ｍEq／、5.4ｍEq／とし
て測定される場合、補正係数はNaが145／148≒
0.9797、Ｋが5.0／5.4≒0.9259となる。この値を
以後の検体測定において、炎光光度計で測定され
た値に乗じて、ドリフト等が補正された測定値と
して出力することになる。
上のキヤリブレーシヨン用カツプに対応する反応
管ライン２上の反応管に、試液分注器３−Ａによ
つて試液タンク４−Ａ内の試液を分注する。この
試液タンク４−Ａ内の試液は、試液タンク４−Ｂ
内の試液（内部標準液）を用いて既知濃度の電解
質標準液であるNa、Ｋ標準液（例えばNaが145
ｍEq／、Ｋが５ｍEq／）を希釈したキヤリ
ヤブレーシヨン用標準試液である。この試液の希
釈比はサンプルである血清希釈比と同じである。
例えば試液タンク４−Ｂ内の試液2.0ml分注に対
して血清を20μ分注する場合、血清希釈比は
１／101であるから、試液タンク４−Ａの試液は
試液タンク４−Ｂの試液100容に対しNa、Ｋ標準
液１容を加えたものである。次に試液タンク４−
Ａの試液が分注された反応管はサンプル分注位置
に移動する。しかしサンプル分注器５はキヤリブ
レーシヨン用カツプに対してはサンプル分取分注
動作は行わない。従つてキヤリブレーシヨン用カ
ツプに対応する反応管は、試液タンク４−Ａの試
液のみが入つた状態で測定位置に移動し、液は炎
光光度計６に移送され、液濃度が測定される。こ
の場合、液濃度は炎光光度計のドリフト等により
本来の濃度と異なる値として測定されることがあ
る。このとき、本来の電解質標準液の濃度／炎光
光度計で測定した試液の濃度を自動的に計算して
補正係数とし、以後の検体測定において、炎光光
度計で測定された値にこの補正係数を乗じ真の測
定値として出力する。例えば前記濃度のNa、Ｋ
標準液ではNa、Ｋの濃度が145ｍEq／、５ｍ
Eq／であるが、炎光光度計で測定した試液の
濃度がそれぞれ148ｍEq／、5.4ｍEq／とし
て測定される場合、補正係数はNaが145／148≒
0.9797、Ｋが5.0／5.4≒0.9259となる。この値を
以後の検体測定において、炎光光度計で測定され
た値に乗じて、ドリフト等が補正された測定値と
して出力することになる。
サンプルカツプライン１上の測定すべき検体を
収納しているカツプに対応する反応管に対して
は、前記と異なり、試液分注器３−Ｂによつて試
液タンク４−Ｂ内の試液が分注される。次にこの
試液タンク４−Ｂの試液が分注された反応管はサ
ンプル分注位置に移動し、測定すべき検体を収納
しているカツプから検体がサンプル分注器５によ
つて分注され、撹拌装置７によつて撹拌される。
この反応管は測定位置に移動し反応管内の例えば
血清希釈液は炎光光度計に移送され、液濃度が測
定される。この炎光光度計での測定値に前述の補
正が行われ出力される。
収納しているカツプに対応する反応管に対して
は、前記と異なり、試液分注器３−Ｂによつて試
液タンク４−Ｂ内の試液が分注される。次にこの
試液タンク４−Ｂの試液が分注された反応管はサ
ンプル分注位置に移動し、測定すべき検体を収納
しているカツプから検体がサンプル分注器５によ
つて分注され、撹拌装置７によつて撹拌される。
この反応管は測定位置に移動し反応管内の例えば
血清希釈液は炎光光度計に移送され、液濃度が測
定される。この炎光光度計での測定値に前述の補
正が行われ出力される。
さらに、濃度既知の試料を測定することによつ
てサンプル希釈誤差の補正を行なう場合、サンプ
ルカツプライン１上の補正用カツプに対応する反
応管ライン２上の反応管に、試液分注器３−Ｂに
よつて試液タンク４−Ｂ内の試液を分注する。次
に試液タンク４−Ｂの試液が分注された反応管は
サンプル分注位置に移動する。ここで補正用の濃
度既知試料が反応管に分注される。この反応管は
測定位置に移動し、さらに液は炎光光度計に移送
され、液濃度が測定される。このとき、使用して
いる試料中の電解質濃度は既知であるから、既知
濃度とこの測定値の比をコントロール血清による
補正係数とし、以後の検体測定において、炎光光
度計で測定された値にこの補正係数を乗じ、真の
測定値として出力する。
てサンプル希釈誤差の補正を行なう場合、サンプ
ルカツプライン１上の補正用カツプに対応する反
応管ライン２上の反応管に、試液分注器３−Ｂに
よつて試液タンク４−Ｂ内の試液を分注する。次
に試液タンク４−Ｂの試液が分注された反応管は
サンプル分注位置に移動する。ここで補正用の濃
度既知試料が反応管に分注される。この反応管は
測定位置に移動し、さらに液は炎光光度計に移送
され、液濃度が測定される。このとき、使用して
いる試料中の電解質濃度は既知であるから、既知
濃度とこの測定値の比をコントロール血清による
補正係数とし、以後の検体測定において、炎光光
度計で測定された値にこの補正係数を乗じ、真の
測定値として出力する。
このときドリフト補正も含めた形で補正される
ので、計算式の上では前述の(2)式の形とする。こ
れは、濃度既知試料の測定によるサンプル希釈誤
差の補正を実施した後、さらに、炎光光度計のド
リフト補正をする場合にドリフト補正のみができ
るようになつている。(2)式中のK1は濃度既知試
料の測定によるサンプル希釈誤差の補正がされる
前のドリフト補正係数であり、これはそれ以後に
ドリフト補正がされても変更されないので、濃度
既知試料による補正がされるとき、即ち、補正係
数K2が新しく設定されるときのみ変更されてい
く。これによつて補正係数K1に対するドリフト
補正は例えば検体の測定数回につき１回の割合
で、また、補正係数K2に対するコントロール血
清による補正は例えば１日に１回の割合で実施す
ることができる。このコントロール血清は高価で
あるので、コントロール血清による分注誤差に対
する補正係数K2の設定の変更の頻度を少なくす
ることによつて補正に要するコストを低減するこ
とができる。一方、測定精度に大きな影響を与え
るドリフト誤差に対する補正係数K1の設定は頻
繁に変更することによつて測定精度を確保するこ
とができる。勿論、分注誤差も補正するので、一
層正確な測定を行うことができる。
ので、計算式の上では前述の(2)式の形とする。こ
れは、濃度既知試料の測定によるサンプル希釈誤
差の補正を実施した後、さらに、炎光光度計のド
リフト補正をする場合にドリフト補正のみができ
るようになつている。(2)式中のK1は濃度既知試
料の測定によるサンプル希釈誤差の補正がされる
前のドリフト補正係数であり、これはそれ以後に
ドリフト補正がされても変更されないので、濃度
既知試料による補正がされるとき、即ち、補正係
数K2が新しく設定されるときのみ変更されてい
く。これによつて補正係数K1に対するドリフト
補正は例えば検体の測定数回につき１回の割合
で、また、補正係数K2に対するコントロール血
清による補正は例えば１日に１回の割合で実施す
ることができる。このコントロール血清は高価で
あるので、コントロール血清による分注誤差に対
する補正係数K2の設定の変更の頻度を少なくす
ることによつて補正に要するコストを低減するこ
とができる。一方、測定精度に大きな影響を与え
るドリフト誤差に対する補正係数K1の設定は頻
繁に変更することによつて測定精度を確保するこ
とができる。勿論、分注誤差も補正するので、一
層正確な測定を行うことができる。
以上、本発明方法によれば、電解質標準液を予
め内部標準液で希釈した試液の測定によつて得ら
れる補正係数だけでなく、濃度既知試料の測定に
よつて得られる補正係数を用いるようにしたの
で、サンプリングの誤差、試液分取分注の誤差、
ドリフト等の影響をおさえて、精度の高い安定し
た電解質測定ができる。これにより炎光光度計を
組込んだ自動生化学分析装置のシステム全体の精
度を一層高め迅速な検体処理を行うことができ
る。
め内部標準液で希釈した試液の測定によつて得ら
れる補正係数だけでなく、濃度既知試料の測定に
よつて得られる補正係数を用いるようにしたの
で、サンプリングの誤差、試液分取分注の誤差、
ドリフト等の影響をおさえて、精度の高い安定し
た電解質測定ができる。これにより炎光光度計を
組込んだ自動生化学分析装置のシステム全体の精
度を一層高め迅速な検体処理を行うことができ
る。
図は本発明の実施例による炎光光度計を組込ん
だ自動生化学分析装置の概略を示す工程図。 １……サンプルカツプライン、２……反応管ラ
イン、３……試液分注液、４……試液タンク、５
……サンプル分注器、６……炎光光度計、７……
撹拌装置。
だ自動生化学分析装置の概略を示す工程図。 １……サンプルカツプライン、２……反応管ラ
イン、３……試液分注液、４……試液タンク、５
……サンプル分注器、６……炎光光度計、７……
撹拌装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 測定に用いる容器に対して分析すべき検体の
所定量を所定希釈比で分注する分注手段と、分注
された検体に含まれる特定電解質の濃度を測定す
る測定手段とを具える自動分析装置における電解
質測定のキヤリブレーシヨン方法において、 前記検体と、この検体を希釈する内部標準液と
の間の希釈比で前記特定電解質の既知濃度から成
る電解質標準液を前記内部標準液で希釈した試液
を予め用意し、該希釈液の前記測定手段による測
定値と既知濃度との関係が次式 (1) K1＝電解質標準液の既知濃度／希釈分数に直す試
液の測定値 で表される補正係数をドリフトが発生する頻度に
応じて少なくとも２回の検体測定について求め、
さらに前記検体と同一の分注手段で希釈分注処理
した既知濃度のコントロール試料を用い、該希釈
されたコントロール試料の前記測定手段による測
定値と既知濃度との関係が次式 (2) K2＝コントロール試料の既知濃度／希釈コントロ
ール試料の測定値×K1 で表される補正係数を求め、式(2)は少なくとも２
回のドリフト補正に対応する少なくとも２つの
K1の内、初回のドリフト補正に対応するK1を用
い、連続する複数の検体に関する各測定値に対し
てこれらK1およびK2を乗ずることを特徴とする
自動分析装置における電解質測定のキヤリブレー
シヨン方法。 ２ 前記補正係数K2を、分析装置の始動前にセ
ツトしておくことを特徴とする特許請求の範囲１
項記載のキヤリブレーシヨン方法。 ３ 前記補正係数K2を、前記補正係数K1よりも
少ない回数で複数回求めることを特徴とする特許
請求の範囲１項記載のキヤリブレーシヨン方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4288182A JPS58161852A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 自動分析装置における電解質測定のキャリブレーション方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4288182A JPS58161852A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 自動分析装置における電解質測定のキャリブレーション方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58161852A JPS58161852A (ja) | 1983-09-26 |
| JPH0465345B2 true JPH0465345B2 (ja) | 1992-10-19 |
Family
ID=12648375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4288182A Granted JPS58161852A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 自動分析装置における電解質測定のキャリブレーション方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58161852A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5337492A (en) * | 1976-09-20 | 1978-04-06 | Hitachi Ltd | Method and apparatus for flame light analysis |
-
1982
- 1982-03-19 JP JP4288182A patent/JPS58161852A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58161852A (ja) | 1983-09-26 |
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