JPH0465743B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0465743B2 JPH0465743B2 JP13661785A JP13661785A JPH0465743B2 JP H0465743 B2 JPH0465743 B2 JP H0465743B2 JP 13661785 A JP13661785 A JP 13661785A JP 13661785 A JP13661785 A JP 13661785A JP H0465743 B2 JPH0465743 B2 JP H0465743B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- molten metal
- mold
- vacuum melting
- level
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 25
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 15
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000009749 continuous casting Methods 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22D—CASTING OF METALS; CASTING OF OTHER SUBSTANCES BY THE SAME PROCESSES OR DEVICES
- B22D11/00—Continuous casting of metals, i.e. casting in indefinite lengths
- B22D11/16—Controlling or regulating processes or operations
- B22D11/20—Controlling or regulating processes or operations for removing cast stock
- B22D11/201—Controlling or regulating processes or operations for removing cast stock responsive to molten metal level or slag level
- B22D11/204—Controlling or regulating processes or operations for removing cast stock responsive to molten metal level or slag level by using optical means
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Continuous Casting (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は真空溶解炉における鋳型の溶湯レベ
ルを測定する装置に関する。
ルを測定する装置に関する。
［従来技術とその問題点］
連続鋳造を行なう設備においては、鋳型に注湯
される溶湯レベルを自動検出する必要があり、鋳
鋼のように溶湯の温度が高く発光する場合、その
溶湯表面と鋳型との明暗を利用して溶湯レベルが
測定されている。原理としては、所定位置に備え
られ明暗を識別する光センサー等を用いて、この
鋳型を走査し、溶湯による明部の走査時間によ
り、溶湯レベルを間接的に検出している。この溶
湯レベルの検出は真空溶解炉による連続鋳造設備
においても必要となり、この場合、前記センサー
は真空溶解炉の外側に設けられるため、この真空
溶解炉に設けられたのぞき窓を介して行なわれる
ことになるが、こののぞき窓のガラスに金属の蒸
気が付着しないように、こののぞき窓内部でスリ
ツトを有する円板がのぞき窓のガラスと対向する
ようにして回転している。従つて上述の測定方法
ではスリツトのない部分がセンサーと対面すると
円板により、光学的にその経路がしゃ断され溶湯
レベルを測定することができなかつた。このため
には、上記走査とスリツトの回転とを同期させな
ければならず、この場合、測定装置が複雑化する
という欠点があつた。
される溶湯レベルを自動検出する必要があり、鋳
鋼のように溶湯の温度が高く発光する場合、その
溶湯表面と鋳型との明暗を利用して溶湯レベルが
測定されている。原理としては、所定位置に備え
られ明暗を識別する光センサー等を用いて、この
鋳型を走査し、溶湯による明部の走査時間によ
り、溶湯レベルを間接的に検出している。この溶
湯レベルの検出は真空溶解炉による連続鋳造設備
においても必要となり、この場合、前記センサー
は真空溶解炉の外側に設けられるため、この真空
溶解炉に設けられたのぞき窓を介して行なわれる
ことになるが、こののぞき窓のガラスに金属の蒸
気が付着しないように、こののぞき窓内部でスリ
ツトを有する円板がのぞき窓のガラスと対向する
ようにして回転している。従つて上述の測定方法
ではスリツトのない部分がセンサーと対面すると
円板により、光学的にその経路がしゃ断され溶湯
レベルを測定することができなかつた。このため
には、上記走査とスリツトの回転とを同期させな
ければならず、この場合、測定装置が複雑化する
という欠点があつた。
［発明の目的］
この発明は上述の問題点をなくすためになされ
たものであり、従来の真空炉に用いることのでき
るレベル測定装置を提供することを目的とする。
たものであり、従来の真空炉に用いることのでき
るレベル測定装置を提供することを目的とする。
［発明の構成］
この発明は真空溶解炉内に備えられた鋳型内の
溶湯レベルをこの真空溶解炉内に設けられたのぞ
き窓と、こののぞき窓の内側に設けたスリツトを
有する回転板とを介して測定する装置であつて、 直線状に並べられた複数の受光素子を有し、各
受光素子の走査により炉内部の鋳型上面の溶湯部
と鋳型部との明暗部を検出するセンサーと、前記
センサーによる複数回の各走査で暗状態から明状
態にかわるときの各検出時点の内で最小値taを記
憶する最小値記憶手段と、明状態から暗状態にか
わるときの各検出時点の内で最大値tbを記憶する
最大値記憶手段と、前記記憶手段により記憶され
た時点ta，tbより得られる明状態の走査時間tb−
taを溶湯レベルを示す信号として出力する演算手
段とを備えたことを特徴とする。
溶湯レベルをこの真空溶解炉内に設けられたのぞ
き窓と、こののぞき窓の内側に設けたスリツトを
有する回転板とを介して測定する装置であつて、 直線状に並べられた複数の受光素子を有し、各
受光素子の走査により炉内部の鋳型上面の溶湯部
と鋳型部との明暗部を検出するセンサーと、前記
センサーによる複数回の各走査で暗状態から明状
態にかわるときの各検出時点の内で最小値taを記
憶する最小値記憶手段と、明状態から暗状態にか
わるときの各検出時点の内で最大値tbを記憶する
最大値記憶手段と、前記記憶手段により記憶され
た時点ta，tbより得られる明状態の走査時間tb−
taを溶湯レベルを示す信号として出力する演算手
段とを備えたことを特徴とする。
［実施例］
第１図はこの発明による１実施例を示してい
る。
る。
１は真空溶解炉であり、２はこの真空溶解炉１
内に備えられる鋳型である。１ａは真空溶解炉１
の側壁の上部に設けられた内部確認用のぞき窓で
あり、３はのぞき窓１ａのガラスに金属蒸気が付
着しないように設けられている回転円板で、この
円板３上には直径方向に長く、かつ中心に対して
対称となるスリツト３ａが設けられている。円板
３はのぞき窓１ａのガラス面とほぼ平行に位置す
るとともに、円板３の上半分がのぞき窓１ａと対
向するように設けられており、円板３の回転によ
つて、２つのスリツト３ａが交互にのぞき窓１ａ
を通過し、溶湯や鋳型の光像がこのスリツト３ａ
を介してのぞき窓１ａから間欠的に見えるように
なつている。４は円板３を回転させるモータであ
る。５は走査機能を有する光検出用のリニアセン
サーであり、多数の受光素子を直線状に並べて各
受光素子が受光した光量を表わす電圧を出力する
ものであり、のぞき窓１ａを介して鋳型２及び鋳
型２内の溶湯の明暗状態がこのリニアセンサー５
のレンズ５ａによりセンサーアレイ５ｂに像とし
て投影される。この明部と暗部は走査により検出
され、明暗に対応して“Ｈ”，“Ｌ”の信号がリニ
アセンサー５から出力される。この出力信号は最
小値記憶回路６及び最大値記憶回路７に入力され
る。最小値記憶回路６は走査のたびにリニアセン
サー５から送出される信号がＬからＨに変化した
ときの時点の内の最小値が記憶され、最大値記憶
回路７は同様に、ＨからＬに変化したときの時点
の内の最大値が記憶される。８は演算回路であ
り、前記記憶回路に記憶された最大値から最小値
を減算してレベル信号として出力する。
内に備えられる鋳型である。１ａは真空溶解炉１
の側壁の上部に設けられた内部確認用のぞき窓で
あり、３はのぞき窓１ａのガラスに金属蒸気が付
着しないように設けられている回転円板で、この
円板３上には直径方向に長く、かつ中心に対して
対称となるスリツト３ａが設けられている。円板
３はのぞき窓１ａのガラス面とほぼ平行に位置す
るとともに、円板３の上半分がのぞき窓１ａと対
向するように設けられており、円板３の回転によ
つて、２つのスリツト３ａが交互にのぞき窓１ａ
を通過し、溶湯や鋳型の光像がこのスリツト３ａ
を介してのぞき窓１ａから間欠的に見えるように
なつている。４は円板３を回転させるモータであ
る。５は走査機能を有する光検出用のリニアセン
サーであり、多数の受光素子を直線状に並べて各
受光素子が受光した光量を表わす電圧を出力する
ものであり、のぞき窓１ａを介して鋳型２及び鋳
型２内の溶湯の明暗状態がこのリニアセンサー５
のレンズ５ａによりセンサーアレイ５ｂに像とし
て投影される。この明部と暗部は走査により検出
され、明暗に対応して“Ｈ”，“Ｌ”の信号がリニ
アセンサー５から出力される。この出力信号は最
小値記憶回路６及び最大値記憶回路７に入力され
る。最小値記憶回路６は走査のたびにリニアセン
サー５から送出される信号がＬからＨに変化した
ときの時点の内の最小値が記憶され、最大値記憶
回路７は同様に、ＨからＬに変化したときの時点
の内の最大値が記憶される。８は演算回路であ
り、前記記憶回路に記憶された最大値から最小値
を減算してレベル信号として出力する。
次に上述の構成による装置の機能について説明
する。
する。
第２図は回転円板３の拡大図であり、リニアセ
ンサー５の走査の向きは、この円板３のスリツト
３ａが垂直に向いた位置にあるとき、スリツト３
ａの方向に対してある角度αの方向となるように
して、走査中にスリツト３ａにより光学的にしや
断されるのを防いでいる。
ンサー５の走査の向きは、この円板３のスリツト
３ａが垂直に向いた位置にあるとき、スリツト３
ａの方向に対してある角度αの方向となるように
して、走査中にスリツト３ａにより光学的にしや
断されるのを防いでいる。
上述したようなスリツト３ａを介しての投影で
は鋳型２の全てが投影されることはなく、一部分
のみが投影され、しかも、その投影される箇所は
走査時のスリツト３ａの位置により、それぞれ異
なつてくる。従つてこの実施例ではスリツト３ａ
の回転周期の整数倍となる所定時間tx内にリニア
センサーの複数回の走査を行ない、各走査で得ら
れる出力信号を合成して復元している。
は鋳型２の全てが投影されることはなく、一部分
のみが投影され、しかも、その投影される箇所は
走査時のスリツト３ａの位置により、それぞれ異
なつてくる。従つてこの実施例ではスリツト３ａ
の回転周期の整数倍となる所定時間tx内にリニア
センサーの複数回の走査を行ない、各走査で得ら
れる出力信号を合成して復元している。
第３図は前記所定時間tx内に例えば３回の走査
が行なわれた例であるが、検出信号が暗から明に
変化したときの時点t1，t3，t5のうち最小である
時点t5が最小値記憶回路６に、そして、明から暗
に変化したときの時点t2，t4，t6のうち最大であ
る時点t4が最大値記憶回路７にそれぞれ記憶され
る。従つて、上記所定時間tx後に演算回路８によ
りt4−t5が演算されて出力される。又、このとき
最小値記憶回路６及び最大値記憶回路７に記憶さ
れていた数値はリセツト信号によりクリアーされ
る。t4−t5（前記のta−tbに相当する）の時間長よ
り、図１に示した（H1−H2）を推定でき、この
H2は鋳型２とリニアセンサー５との相対的な位
置関係により予め定められているので、前記
（H1−H2）値にH2値を加算することで溶湯レベ
ルＨを知ることができる。
が行なわれた例であるが、検出信号が暗から明に
変化したときの時点t1，t3，t5のうち最小である
時点t5が最小値記憶回路６に、そして、明から暗
に変化したときの時点t2，t4，t6のうち最大であ
る時点t4が最大値記憶回路７にそれぞれ記憶され
る。従つて、上記所定時間tx後に演算回路８によ
りt4−t5が演算されて出力される。又、このとき
最小値記憶回路６及び最大値記憶回路７に記憶さ
れていた数値はリセツト信号によりクリアーされ
る。t4−t5（前記のta−tbに相当する）の時間長よ
り、図１に示した（H1−H2）を推定でき、この
H2は鋳型２とリニアセンサー５との相対的な位
置関係により予め定められているので、前記
（H1−H2）値にH2値を加算することで溶湯レベ
ルＨを知ることができる。
第４図Ａ，Ｂは上記所定時間txの間に走査がｎ
回行なわれたときのリニアセンサー５の出力信号
と、最小値記憶回路６及び最大値記憶回路７とに
より、前記出力信号の最小値と最大値とが記憶さ
れた信号を示している。３回目の走査はスリツト
３ａの位置により何も検出されなかつたときであ
り、４回目と５回目の走査時のリニアセンサー５
の出力波形において“Ｈ”が断続したのは溶湯面
上に浮かんだ不溶物を暗部として検出したもので
あるが、上述した方式によれば、第４図Ｂで示す
ように、前記信号の断続は無視される。又、溶湯
レベルを複数回の走査により検出するようにした
ので円板３の回転速度と走査とは同期をとる必要
はなく、従来の真空溶解炉にリニアセンサー５等
を付加するだけで溶湯レベルを検出することがで
きる。尚、真空溶解炉以外の溶解炉のレベル測定
装置に上述した測定装置を用い、スリツトを有す
る回転板を設けることでセンサーのレンズ部への
ごみの付着を防ぐことができる。
回行なわれたときのリニアセンサー５の出力信号
と、最小値記憶回路６及び最大値記憶回路７とに
より、前記出力信号の最小値と最大値とが記憶さ
れた信号を示している。３回目の走査はスリツト
３ａの位置により何も検出されなかつたときであ
り、４回目と５回目の走査時のリニアセンサー５
の出力波形において“Ｈ”が断続したのは溶湯面
上に浮かんだ不溶物を暗部として検出したもので
あるが、上述した方式によれば、第４図Ｂで示す
ように、前記信号の断続は無視される。又、溶湯
レベルを複数回の走査により検出するようにした
ので円板３の回転速度と走査とは同期をとる必要
はなく、従来の真空溶解炉にリニアセンサー５等
を付加するだけで溶湯レベルを検出することがで
きる。尚、真空溶解炉以外の溶解炉のレベル測定
装置に上述した測定装置を用い、スリツトを有す
る回転板を設けることでセンサーのレンズ部への
ごみの付着を防ぐことができる。
［発明の効果］
以上詳述したように、この発明は溶湯レベル検
出のための走査を複数回行ない、各走査で得られ
る信号を合成することにより一つの信号に復元し
たので真空溶解炉のように光学経路を断続的にし
や断する回転板があつても溶湯レベルを正確に測
定することができる。
出のための走査を複数回行ない、各走査で得られ
る信号を合成することにより一つの信号に復元し
たので真空溶解炉のように光学経路を断続的にし
や断する回転板があつても溶湯レベルを正確に測
定することができる。
第１図はこの発明の１実施例を示すブロツク
図、第２図は第１図における回転円板の拡大平面
図、第３図及び第４図Ａは各走査毎に図リニアセ
ンサーから出力される信号波形図、第４図Ｂは第
４図Ａにおける各出力信号を合成した波形図であ
る。 ５……リニアセンサー、６……最小値記憶回
路、７……最大値記憶回路、８……演算回路。
図、第２図は第１図における回転円板の拡大平面
図、第３図及び第４図Ａは各走査毎に図リニアセ
ンサーから出力される信号波形図、第４図Ｂは第
４図Ａにおける各出力信号を合成した波形図であ
る。 ５……リニアセンサー、６……最小値記憶回
路、７……最大値記憶回路、８……演算回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 真空溶解炉内に備えられた鋳型内の溶湯レベ
ルをこの真空溶解炉に設けられたのぞき窓と、こ
ののぞき窓の内側に設けたスリツトを有する回転
板とを介して測定する装置であつて、 直線状に並べられた複数の受光素子を有し、各
受光素子の走査により炉内部の鋳型上面の溶湯部
と鋳型部との明暗部を検出するセンサーと、前記
センサーによる複数回の各走査で暗状態から明状
態にかわるときの各検出時点の内で最小値taを記
憶する最小値記憶手段と、明状態から暗状態にか
わるときの各検出時点の内で最大値tbを記憶する
最大値記憶手段と、前記記憶手段により記憶され
た時点ta，tbより得られる明状態の走査時間tb−
taを溶湯レベルを示す信号として出力する演算手
段とを備えたことを特徴とする真空溶解による連
続鋳造設備のレベル測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13661785A JPS61293642A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 真空溶解による連続鋳造設備のレベル測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13661785A JPS61293642A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 真空溶解による連続鋳造設備のレベル測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61293642A JPS61293642A (ja) | 1986-12-24 |
| JPH0465743B2 true JPH0465743B2 (ja) | 1992-10-21 |
Family
ID=15179487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13661785A Granted JPS61293642A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 真空溶解による連続鋳造設備のレベル測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61293642A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5346971A (en) * | 1992-05-15 | 1994-09-13 | Ube Industries, Ltd. | Aqueous suspension polymerization of 1,3-butadiene to produce syndiotactic-1,2-polybutadiene |
-
1985
- 1985-06-21 JP JP13661785A patent/JPS61293642A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61293642A (ja) | 1986-12-24 |
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