JPH0467144B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0467144B2 JPH0467144B2 JP58161008A JP16100883A JPH0467144B2 JP H0467144 B2 JPH0467144 B2 JP H0467144B2 JP 58161008 A JP58161008 A JP 58161008A JP 16100883 A JP16100883 A JP 16100883A JP H0467144 B2 JPH0467144 B2 JP H0467144B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- discharge
- spark discharge
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は火花放電を光源とする発光分析装置に
関する。
関する。
(ロ) 従来技術
第１図はスパーク放電における発光曲線の一例
を示す。横軸は時間で縦軸は発光強度を示す。こ
の発光曲線において、光電流を積分する時間範囲
は元素の種類によつて異つており、放電初期の鋭
くせまいピークの部分についてだけ積分した方が
良いもの、或は逆に放電後期のなだらかなピーク
部分についてだけ積分した方がよいもの等色々で
ある。火花放電を光源とする発光分析では、一秒
間に数百回と云つた速さで放電を繰返し、数秒間
にわたつて毎回の放電における発光の測光出力を
積分した信号を更に積算するのであるが、各放電
毎に最適期間だけ測光出力をサンプリングするの
が良いが、従来は一放電の全域にわたる測光出力
の積分を行つていた。また仮に、放電中の最適期
間に測光出力をサンプリングするためのスイツチ
として例えばFETのようなものを用いても、光
検出器が高インピーダンスの定電流型の回路素子
であり、従つてその出力を増幅等するアンプの類
も高入出インピーダンスであるため、ソースドレ
イン間の遮断時の抵抗不足によるリークが無視で
きず、毎秒数百回の速さで放電を行うので浮遊容
量を通してのゲートパルスの測定信号への混入等
が無視できずそのため一放電中の最適期間におい
てのみ測光出力を積分すると云うことは困難であ
つた。
を示す。横軸は時間で縦軸は発光強度を示す。こ
の発光曲線において、光電流を積分する時間範囲
は元素の種類によつて異つており、放電初期の鋭
くせまいピークの部分についてだけ積分した方が
良いもの、或は逆に放電後期のなだらかなピーク
部分についてだけ積分した方がよいもの等色々で
ある。火花放電を光源とする発光分析では、一秒
間に数百回と云つた速さで放電を繰返し、数秒間
にわたつて毎回の放電における発光の測光出力を
積分した信号を更に積算するのであるが、各放電
毎に最適期間だけ測光出力をサンプリングするの
が良いが、従来は一放電の全域にわたる測光出力
の積分を行つていた。また仮に、放電中の最適期
間に測光出力をサンプリングするためのスイツチ
として例えばFETのようなものを用いても、光
検出器が高インピーダンスの定電流型の回路素子
であり、従つてその出力を増幅等するアンプの類
も高入出インピーダンスであるため、ソースドレ
イン間の遮断時の抵抗不足によるリークが無視で
きず、毎秒数百回の速さで放電を行うので浮遊容
量を通してのゲートパルスの測定信号への混入等
が無視できずそのため一放電中の最適期間におい
てのみ測光出力を積分すると云うことは困難であ
つた。
(ハ) 目 的
本発明は一放電中に目的元素に適した任意期間
を設定してその間のみ測光出力を取入れることの
できる高速サンプリング積分回路を備えた火花放
電発光分析装置を提供しようとするものである。
を設定してその間のみ測光出力を取入れることの
できる高速サンプリング積分回路を備えた火花放
電発光分析装置を提供しようとするものである。
(ニ) 構 成
本発明は光検出器に後続する回路が高入力イン
ピーダンスであるので、同回路の入力側でなく、
低インピーダンスである同回路の出力側にサンプ
ルホールド回路を設けることにより上述した目的
を達成した。
ピーダンスであるので、同回路の入力側でなく、
低インピーダンスである同回路の出力側にサンプ
ルホールド回路を設けることにより上述した目的
を達成した。
(ホ) 実施例
第２図は本発明の一実施例を示す。Ｐは光検出
器、Ａはプリアンプであり、OAはオペアンプで
帰還用コンデンサＣと共に積分器を構成してお
り、コンデンサＣと並列に積分器リセツトスイツ
チ用のFETが接続してある。SHはサンプルホー
ルド回路で、上記積分器の出力をサンプリングし
て保持する。この保持された信号は図外のＡ／Ｄ
変換器でＡ／Ｄ変換された後コンピユータに読込
まれ、所定放電回路だけ積算される。Ｇは制御パ
ルス発生器で、光源の火花放電回路Ｓから火花放
電のトリガ信号が送られて来て、火花放電と同期
した制御パルスを発生し、積分器リセツト用
FET及びサンプルホールド回路のサンプリング
スイツチ用FETのｇを制御する。
器、Ａはプリアンプであり、OAはオペアンプで
帰還用コンデンサＣと共に積分器を構成してお
り、コンデンサＣと並列に積分器リセツトスイツ
チ用のFETが接続してある。SHはサンプルホー
ルド回路で、上記積分器の出力をサンプリングし
て保持する。この保持された信号は図外のＡ／Ｄ
変換器でＡ／Ｄ変換された後コンピユータに読込
まれ、所定放電回路だけ積算される。Ｇは制御パ
ルス発生器で、光源の火花放電回路Ｓから火花放
電のトリガ信号が送られて来て、火花放電と同期
した制御パルスを発生し、積分器リセツト用
FET及びサンプルホールド回路のサンプリング
スイツチ用FETのｇを制御する。
制御パルス発生器は第１のモノマルチ回路ｍ１
と第２のモノマルチ回路ｍ２とよりなり、第３図
イに示すトリガ信号により第１のモノマルチｍ１
がトリガされ、ｍ１の出力パルスの立下りで第２
のモノマルチｍ２がトリガされる。各モノマルチ
回路は出力パルスの幅が調整可能である。第３図
ロ，ハは第１、第２のモノマルチ回路の出力パル
スを示す。積分器リセツト用FETのゲートには
第１のモノマルチｍ１の出力パルスが印加され
て、積分器をリセツトする。サンプリング用
FETのｇのゲートには第２のモノマルチの出力
パルスが印加される。第３図ニは第１図に示した
発光曲線であり、同ホは積分器の出力を示す。モ
ノマルチｍ１の出力の立下り時点t1までは積分器
はコンデンサＣがシヨートされた状態でリセツト
がかゝつたままであり、t1時点から測光出力の積
分が始まる。サンプルホールド回路SHのサンプ
リングスイツチｇはハのパルスが印加されている
間導通しており、同パルスの立下り時点t2でオフ
となるので、t2時点の積分出力Ｉがサンプルホー
ルド回路SHに保持される。この積分出力はニの
発光曲線で斜線を入れた部分の積分に相当する。
と第２のモノマルチ回路ｍ２とよりなり、第３図
イに示すトリガ信号により第１のモノマルチｍ１
がトリガされ、ｍ１の出力パルスの立下りで第２
のモノマルチｍ２がトリガされる。各モノマルチ
回路は出力パルスの幅が調整可能である。第３図
ロ，ハは第１、第２のモノマルチ回路の出力パル
スを示す。積分器リセツト用FETのゲートには
第１のモノマルチｍ１の出力パルスが印加され
て、積分器をリセツトする。サンプリング用
FETのｇのゲートには第２のモノマルチの出力
パルスが印加される。第３図ニは第１図に示した
発光曲線であり、同ホは積分器の出力を示す。モ
ノマルチｍ１の出力の立下り時点t1までは積分器
はコンデンサＣがシヨートされた状態でリセツト
がかゝつたままであり、t1時点から測光出力の積
分が始まる。サンプルホールド回路SHのサンプ
リングスイツチｇはハのパルスが印加されている
間導通しており、同パルスの立下り時点t2でオフ
となるので、t2時点の積分出力Ｉがサンプルホー
ルド回路SHに保持される。この積分出力はニの
発光曲線で斜線を入れた部分の積分に相当する。
このようにして各放電毎に上述動作が行われ、
毎回の積分出力が所定放電回数分だけ更に積算さ
れる。
毎回の積分出力が所定放電回数分だけ更に積算さ
れる。
上の例では積分が発光曲線の後の方のピークに
おいて行われているが、元素によつては最初のピ
ークにおいて積分した方がよいものがある。この
ような元素に対しても第１のモノマルチの出力パ
ルスの幅を充分短かくし、第２のモノマルチの出
力パルスの立下りｔ２が第３図のt1の時点付近に
なるように出力パルスの幅を調節すればよい。
おいて行われているが、元素によつては最初のピ
ークにおいて積分した方がよいものがある。この
ような元素に対しても第１のモノマルチの出力パ
ルスの幅を充分短かくし、第２のモノマルチの出
力パルスの立下りｔ２が第３図のt1の時点付近に
なるように出力パルスの幅を調節すればよい。
その他、ｍ１，ｍ２の出力パルスの幅の調整で
一放電期間中の測光出力の積分区間は自由に設定
できる。
一放電期間中の測光出力の積分区間は自由に設定
できる。
(ヘ) 効 果
本発明によるときは、光検出器と後続回路との
間にスイツチを設けてサンプリングするのでな
く、上記後続回路の出力側でサンプリング動作を
行うので、遮断時抵抗を通してのリークとを浮遊
容量を通しての信号のもれの影響を受けず、一放
電期間中の測光出力の積分区間を分析元素に応じ
て最適に設定できるから、火花放電発光分析の感
度及び精度を向上させることができる。
間にスイツチを設けてサンプリングするのでな
く、上記後続回路の出力側でサンプリング動作を
行うので、遮断時抵抗を通してのリークとを浮遊
容量を通しての信号のもれの影響を受けず、一放
電期間中の測光出力の積分区間を分析元素に応じ
て最適に設定できるから、火花放電発光分析の感
度及び精度を向上させることができる。
第１図は火花放電発光分析における−スパーク
放電における発光曲線、第２図は本発明の一実施
例装置の構成を示す回路図、第３図は上記回路の
動作を説明するタイムチヤートである。 Ｐ……光検出器、Ａ……プリアンプ、OA……
積分器を構成するオペアンプ、Ｃ……積分器を構
成するコンデンサ、FET……積分器リセツト用
スイツチのFET、SH……サンプルホールド回
路、ｇ……サンプリングスイツチのFET、Ｇ…
…制御（サンプリング）パルス発生器、ｍ１，ｍ
２……モノマルチ回路、Ｓ……火花放電回路。
放電における発光曲線、第２図は本発明の一実施
例装置の構成を示す回路図、第３図は上記回路の
動作を説明するタイムチヤートである。 Ｐ……光検出器、Ａ……プリアンプ、OA……
積分器を構成するオペアンプ、Ｃ……積分器を構
成するコンデンサ、FET……積分器リセツト用
スイツチのFET、SH……サンプルホールド回
路、ｇ……サンプリングスイツチのFET、Ｇ…
…制御（サンプリング）パルス発生器、ｍ１，ｍ
２……モノマルチ回路、Ｓ……火花放電回路。
Claims (1)
- １ 多数回の火花放電の各放電毎の目的元素の輝
線光の発光量を積算するために、各火花放電毎
に、目的元素の輝線光の測光出力を積分する積分
回路の出力側にサンプルホールド回路を接続し、
光源の火花放電回路における火花放電と同期し、
一火花放電期間中の所定のタイミングで制御パル
スを発生する制御パルス発生器を有し、同パルス
発生器の出力パルスにより上記積分回路リセツト
のタイミングとサンプルホールド回路の積分出力
サンプリングのタイミングを制御するようにした
ことを特徴とする火花放電発光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16100883A JPS6052746A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 火花放電発光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16100883A JPS6052746A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 火花放電発光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6052746A JPS6052746A (ja) | 1985-03-26 |
| JPH0467144B2 true JPH0467144B2 (ja) | 1992-10-27 |
Family
ID=15726822
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16100883A Granted JPS6052746A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 火花放電発光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6052746A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5125495B2 (ja) * | 2007-12-27 | 2013-01-23 | 株式会社島津製作所 | 発光分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5941534B2 (ja) * | 1978-09-29 | 1984-10-08 | 株式会社島津製作所 | 発光分光分析装置 |
| JPS57175940A (en) * | 1981-04-24 | 1982-10-29 | Horiba Ltd | Analysis device for fluorescence gas |
-
1983
- 1983-08-31 JP JP16100883A patent/JPS6052746A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6052746A (ja) | 1985-03-26 |
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