JPH0468582B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0468582B2 JPH0468582B2 JP15170987A JP15170987A JPH0468582B2 JP H0468582 B2 JPH0468582 B2 JP H0468582B2 JP 15170987 A JP15170987 A JP 15170987A JP 15170987 A JP15170987 A JP 15170987A JP H0468582 B2 JPH0468582 B2 JP H0468582B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- prism
- measured
- half mirror
- parallel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は紙等の被測定対象物質の光沢度を測定
する装置に関する。
する装置に関する。
〈従来の技術〉
紙等の光沢度を測定する装置として、紙の表面
の法線に対し所定角度で光を照射し、正反射方向
に配置した光検出器で正反射光を検出し、この正
反射光のピーク光量から光沢度を測定するものが
知られている。
の法線に対し所定角度で光を照射し、正反射方向
に配置した光検出器で正反射光を検出し、この正
反射光のピーク光量から光沢度を測定するものが
知られている。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、紙の繊維（セルロース）は抄紙
プロセスのワイヤ上で引張られて特定方向に並ん
でしまう。セルロースの向きに対し平行の向きか
ら光を照射しその正反射光を測定する場合と、垂
直方向から光を照射し正反射光を測定する場合と
では測定結果が異なる。
プロセスのワイヤ上で引張られて特定方向に並ん
でしまう。セルロースの向きに対し平行の向きか
ら光を照射しその正反射光を測定する場合と、垂
直方向から光を照射し正反射光を測定する場合と
では測定結果が異なる。
本発明の解決しようとする技術的課題は、被測
定対象の繊維の向きによつて測定結果が影響され
ない光沢度測定装置を実現することにある。
定対象の繊維の向きによつて測定結果が影響され
ない光沢度測定装置を実現することにある。
〈問題点を解決するための手段〉
本発明の構成は、光源からの光を平行光とする
コリメートレンズと、頂点側を被測定対象側に向
けて配置されたせつ頭円錐プリズムと、前記コリ
メートレンズからの平行光が与えられたミラー
で、中心部分に遮光部が形成されたハーフミラー
と、前記プリズム及び前記ハーフミラーを経て与
えられる前記被測定対象表面からの正反射光を受
光する測定光検出手段とを備え、前記ハーフミラ
ーの遮光部により前記平行光の中心部を遮光し前
記プリズムの周縁部にのみ光を照射し、このプリ
ズムの中心軸に対称な光波を前記被測定対象表面
の法線に対し所定角度で入射させ、前記被測定対
象表面で反射された正反射光を再度前記プリズム
に入射させ、この光を前記測定光検出手段に集光
しそのピーク値から光沢度を測定するようにした
ことにある。
コリメートレンズと、頂点側を被測定対象側に向
けて配置されたせつ頭円錐プリズムと、前記コリ
メートレンズからの平行光が与えられたミラー
で、中心部分に遮光部が形成されたハーフミラー
と、前記プリズム及び前記ハーフミラーを経て与
えられる前記被測定対象表面からの正反射光を受
光する測定光検出手段とを備え、前記ハーフミラ
ーの遮光部により前記平行光の中心部を遮光し前
記プリズムの周縁部にのみ光を照射し、このプリ
ズムの中心軸に対称な光波を前記被測定対象表面
の法線に対し所定角度で入射させ、前記被測定対
象表面で反射された正反射光を再度前記プリズム
に入射させ、この光を前記測定光検出手段に集光
しそのピーク値から光沢度を測定するようにした
ことにある。
〈作用〉
前記の技術手段は次のように作用する。即ち、
前記プリズムの周囲部分にのみ前記ハーフミラー
からの平行光が与えられており、この平行光はプ
リズム境界面で反射され、プリズムの中心軸に対
称に、且つ前記被測定対象表面の法線に対し所定
角度で入射する。
前記プリズムの周囲部分にのみ前記ハーフミラー
からの平行光が与えられており、この平行光はプ
リズム境界面で反射され、プリズムの中心軸に対
称に、且つ前記被測定対象表面の法線に対し所定
角度で入射する。
前記被測定対象表面からの正反射光は前記プリ
ズムの境界面で再度反射され、前記ハーフミラー
を通過して前記受光手段に向かう。このとき、前
記被測定対象から垂直方向に反射する散乱光は前
記ハーフミラーの遮光部で遮光され、前記受光手
段に達することはない。
ズムの境界面で再度反射され、前記ハーフミラー
を通過して前記受光手段に向かう。このとき、前
記被測定対象から垂直方向に反射する散乱光は前
記ハーフミラーの遮光部で遮光され、前記受光手
段に達することはない。
前記ハーフミラーを通過した光束は集光レンズ
で集光され、前記測定光検出手段に前記被測定対
象の各方向からの正反射光を合算した量の光が結
像される。
で集光され、前記測定光検出手段に前記被測定対
象の各方向からの正反射光を合算した量の光が結
像される。
〈実施例〉
以下図面に従い本発明の実施例を説明する。第
１図は本発明実施例装置を示す構成図、第２図は
本発明実施例装置におけるせつ頭円錐プリズムの
斜視図である。図中、１は光源、２は光源１から
の光を平行光とするコリメートレンズ、３は頂点
側を紙等の被測定対象４側に向けて配置され、中
心に空洞部３ａが形成されたせつ頭円錐プリズ
ム、５はコリメートレンズ２からの平行光に対し
て45゜の角度で配置されたハーフミラーで中心部
にプリズム３の中心部に光を照射しないようにす
る為、及び被測定対象４からの垂直方向の散乱光
を遮光する為の遮光部５ａが設けられている。
１図は本発明実施例装置を示す構成図、第２図は
本発明実施例装置におけるせつ頭円錐プリズムの
斜視図である。図中、１は光源、２は光源１から
の光を平行光とするコリメートレンズ、３は頂点
側を紙等の被測定対象４側に向けて配置され、中
心に空洞部３ａが形成されたせつ頭円錐プリズ
ム、５はコリメートレンズ２からの平行光に対し
て45゜の角度で配置されたハーフミラーで中心部
にプリズム３の中心部に光を照射しないようにす
る為、及び被測定対象４からの垂直方向の散乱光
を遮光する為の遮光部５ａが設けられている。
６は、ハーフミラー５の遮光部５ａの周囲５ｂ
部分を通過した、被測定対象４からの正反射光を
集光し、測定光検出器７に結像する集光レンズで
ある。８は、ハーフミラー５の遮光部５ａの周囲
５ｂ部分を通過したコリメートレンズ２からの平
行光を集光し、参照光検出器９に結像する集光レ
ンズである。
部分を通過した、被測定対象４からの正反射光を
集光し、測定光検出器７に結像する集光レンズで
ある。８は、ハーフミラー５の遮光部５ａの周囲
５ｂ部分を通過したコリメートレンズ２からの平
行光を集光し、参照光検出器９に結像する集光レ
ンズである。
このような構成で、コリメートレンズ２で平行
光とされた光はハーフミラー５でプリズム３側と
集光レンズ８側に２分割される。プリズム３側の
平行光はプリズム３の周縁部３ｂよりプリズム内
に入り、プリズムの境界面３ｃで反射され、プリ
ズム３の中心軸Ｏに対称に、且つ被測定対象４表
面の法線に対し所定角度で入射される。被測定対
象４の表面から反射された正反射光はプリズム３
の境界面３ｃで反射され、ハーフミラー５の周囲
５ｂ部分を通過して集光レンズ６で集光され測定
光検出器７に結像される。即ち、測定光はａ→ｂ
→ｃ→ｄ→ｅ→ｆ→ｇの光路を辿つて検出器７に
結像される。
光とされた光はハーフミラー５でプリズム３側と
集光レンズ８側に２分割される。プリズム３側の
平行光はプリズム３の周縁部３ｂよりプリズム内
に入り、プリズムの境界面３ｃで反射され、プリ
ズム３の中心軸Ｏに対称に、且つ被測定対象４表
面の法線に対し所定角度で入射される。被測定対
象４の表面から反射された正反射光はプリズム３
の境界面３ｃで反射され、ハーフミラー５の周囲
５ｂ部分を通過して集光レンズ６で集光され測定
光検出器７に結像される。即ち、測定光はａ→ｂ
→ｃ→ｄ→ｅ→ｆ→ｇの光路を辿つて検出器７に
結像される。
一方、コリメートレンズ２からの平行光のうち
ハーフミラー５を透過した光は集光レンズ８で集
光され参照光検出器９に結像される。即ち、参照
光はａ→ｂ→ｊの光路を辿つて検出器９に結像さ
れる。
ハーフミラー５を透過した光は集光レンズ８で集
光され参照光検出器９に結像される。即ち、参照
光はａ→ｂ→ｊの光路を辿つて検出器９に結像さ
れる。
プリズム３は中心軸Ｏに対称な光を入、出射す
る為、測定対象４の繊維の向きに対し、平行から
直角方向まで連続的に照射され、測定光検出器７
には被測定対象４の各方向からの正反射光を合算
した量の光が結像される。尚、検出器７で検出さ
れた信号に対し参照光検出器９で検出された信号
を用いドリフト補償演算が行われ、光源１或は検
出器７，９のドリフトの影響を除いた光沢度信号
を出力するようにしている。
る為、測定対象４の繊維の向きに対し、平行から
直角方向まで連続的に照射され、測定光検出器７
には被測定対象４の各方向からの正反射光を合算
した量の光が結像される。尚、検出器７で検出さ
れた信号に対し参照光検出器９で検出された信号
を用いドリフト補償演算が行われ、光源１或は検
出器７，９のドリフトの影響を除いた光沢度信号
を出力するようにしている。
〈発明の効果〉
本発明によれば、前記せつ頭円錐プリズムの中
心軸に対称に、前記被測定対称の表面の法線に対
し所定角度で光を照射し、その正反射光だけを検
出するものである為、測定信号は前記被測定対象
の表面状態の平均的な値を表わし、前記被測定対
象の繊維の向きの影響を受けない。
心軸に対称に、前記被測定対称の表面の法線に対
し所定角度で光を照射し、その正反射光だけを検
出するものである為、測定信号は前記被測定対象
の表面状態の平均的な値を表わし、前記被測定対
象の繊維の向きの影響を受けない。
尚、測定光検出器７を例えば２次元の受光面を
有する受光手段を用いれば、光沢度の外、前記被
測定対象の繊維の配向状態をリアルタイムで検知
することができる。
有する受光手段を用いれば、光沢度の外、前記被
測定対象の繊維の配向状態をリアルタイムで検知
することができる。
第１図は本発明実施例装置を示す構成図、第２
図は本発明実施例装置におけるせつ頭円錐プリズ
ムの斜視図である。 １…光源、２…コリメートレンズ、３…せつ頭
円錐プリズム、４…被測定対象、５…ハーフミラ
ー、５ａ…遮光部、６…集光レンズ、７…測定光
検出器。
図は本発明実施例装置におけるせつ頭円錐プリズ
ムの斜視図である。 １…光源、２…コリメートレンズ、３…せつ頭
円錐プリズム、４…被測定対象、５…ハーフミラ
ー、５ａ…遮光部、６…集光レンズ、７…測定光
検出器。
Claims (1)
- １ 光源からの光を平行光とするコリメートレン
ズと、頂点側を被測定対象側に向けて配置された
せつ頭円錐プリズムと、前記コリメートレンズか
らの平行光が与えられたミラーで、中心部分に遮
光部が形成されたハーフミラーと、前記プリズム
及び前記ハーフミラーを経て与えられる前記被測
定対象表面からの正反射光を受光する測定光検出
手段とを備え、前記ハーフミラーの遮光部により
前記平行光の中心部を遮光し前記プリズムの周縁
部にのみ光を照射し、このプリズムの中心軸に対
称な光波を前記被測定対象表面の法線に対し所定
角度で入射させ、前記被測定対象表面で反射され
た正反射光を再度前記プリズムに入射させ、この
光を前記測定光検出手段に集光しそのピーク値か
ら光沢度を測定するようにしたことを特徴とする
光沢度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15170987A JPS63314446A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | 光沢度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15170987A JPS63314446A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | 光沢度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63314446A JPS63314446A (ja) | 1988-12-22 |
| JPH0468582B2 true JPH0468582B2 (ja) | 1992-11-02 |
Family
ID=15524555
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15170987A Granted JPS63314446A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | 光沢度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63314446A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2616090B2 (ja) * | 1990-01-25 | 1997-06-04 | トヨタ自動車株式会社 | 塗面の光沢度測定装置 |
-
1987
- 1987-06-18 JP JP15170987A patent/JPS63314446A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63314446A (ja) | 1988-12-22 |
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