JPH046871B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は真空吸引式除滓システムにおけるサク
シヨンヘツドの吸引状態観側方法に関する。

上記システムは金属等の溶解作業で生じるスラ
グを、人手によらず、吸引装置の吸引力によつて
吸上げ除去するものである。サクシヨンヘツドは
冷却・吸引装置に連結されており、溶湯上のスラ
グを真空吸引し、吸引されたスラグは直ちに噴射
水で冷却されて砂状となり、吸引管内を空気輸送
される。また、スラグ吸引によつてスラグ層の厚
さが減少した場合にその減少に伴なつて吸引口を
移動させてスラグ表面と吸引口との間の距離を一
定に維持し、これによつて効率的なスラグ吸引が
継続されるが、この方法でスラグ吸引を継続する
と、吸引口が徐々に溶湯表面に近づき、吸引口と
溶湯表面との間の距離が溶湯を吸引し始める様な
距離となり、以後はスラグと共に溶湯をも吸引し
てしまい、吸引した溶湯が吸引管内面に付着し吸
引管に詰つてしまい以後の吸引ができなくなるこ
とがある。

溶湯を吸引し始めるのを確実に検出には吸引口
付近の状態を監視する必要がある。このための監
視装置としては、イメージフアイバースコープの
一端を吸引口近傍に延設して、このイメージフア
イバースコープの他端に接眼アダプタまたは
ITVカメラアダプタを接続し、目視またはTV画
面上で吸引状態を観測することが考えられる。

しかしながら、多数の光フアイバーの配列を前
記一端と他端とで揃えられた前記、イメージフア
イバースコープは非常に高価であると云う欠点が
ある。

なお、一端に入射した輝度を他端に伝える光フ
アイバーとしてイメージフアイバーよりも安価な
バンドルフアイバーを挙げることができるが、こ
のバンドルフアイバーでは観測点を吸引口近傍の
特定位置に設定することが因難であると云う問題
が残されている。

本発明はバンドルフアイバーを用いて吸引口近
傍の特定位置の輝度を容易に観測できるサクシヨ
ンヘツドの吸引状態観測方法を提供することを目
的とする。

本発明のサクシヨンヘツドの吸引状態観測方法
は、サクシヨンヘツド待機中に、一端がサクシヨ
ンヘツド近傍に延びる光フアイバーにこの光フア
イバーの他端から調整用光を入射させて光フアイ
バーの前記一端から出射する光がサクシヨンヘツ
ドの吸引口付近の輝度計測位置になるよう調整
し、サクシヨンヘツド稼動中に、光フアイバーの
前記一端から入射する光の輝度を光フアイバーの
前記他端側で計測することを特徴とする。

以下、本発明の観測方法を具体的な一実施例を
図面に基づいて説明する。

第１図において、１は溶湯槽、２は真空吸引式
除滓システムのサクシヨンヘツド、３はサクシヨ
ンヘツド２と真空ポンプ〔図示せず〕とを結ぶ輸
送管、４はサクシヨンヘツド２の昇降回転駆動装
置で、サクシヨンヘツド２に取付けられた電極５
の検出に応じて吸入口６と溶滓７との間隔を一定
値以下にしないように駆動する。８は一端がサク
シヨンヘツド２の近傍に延びるバンドルフアイバ
ーで、サクシヨンヘツド２側はN₂で冷却される
冷却筒９中に配設されている。１０はバンドルフ
アイバー８の他端に接続された輝度測定装置であ
る。１１は冷却用の噴射水とこの噴射水で冷却し
て形成された粒状滓を表わす。

第２図は吸入口６と冷却筒９付近のバンドルフ
アイバー８の関係を示す。Ｐは吸入口６の詰まり
によつてサクシヨンヘツド２が溶湯１２を僅か吸
い込む状態において溶湯面が表われるポイント
で、吸入口６から距離ＬのこのポイントＰからの
光束１３は冷却筒９の窓１４を通してプリズム１
５に入射し、プリズム１５で上方へ光路を変更し
てレンズ１６を経てバンドルフアイバー８の前記
一端Ａの端面で焦点が合うよう構成されている。

第３図はバンドルフアイバー８の他端Ｂに配設
される前記輝度測定装置１０のセンサー部１７
と、待機状態における冷却筒９の位置決め調整過
程を示す。先ず、センサー部１７は、輝度計測位
置調整用の光源１８と、輝度計測用の輝度センサ
ー１９と、光路切換用の反射鏡２０と、集光用の
レンズ２１，２２，２３を有する。２４はこれら
を収容すると共に不必要な光が入射することを防
止するフレームである。反射鏡２０は水平軸２５
のまわりに第３図実線位置から仮想線位置に回動
可能に構成されている。サクシヨンヘツド２の稼
動中には反射鏡２０を第３図の仮想線位置に切換
えて、バンドルフアイバー８の前記他端Ｂから出
射した光束をレンズ２２，２３を経て輝度センサ
ー１９によつて前記ポイントＰの輝度を測定する
ものであるが、これに際して、サクシヨンヘツド
２の前記一端Ａ側にポイントＰからの光束１３が
入射するように、冷却筒９の位置が、サクシヨン
ヘツド２の待機中に次のようにして調整される。

先ず、調整に際して前記反射鏡２０が第３図の
実線位置に切換えられ、光源１８からの光束が反
射鏡２０を経てバンドルフアイバー８の前記他端
Ｂの端面に入射する。サクシヨンヘツド２側で
は、吸入口６を床面２６から持上げて支持し、床
面２６と吸入口６の間にスクリーン板２７を配設
し、吸入口６から距離Ｌの前記ポイントＰの仮想
点P′に光源１８からの調整用光束２８が到達する
ように冷却筒９を上下動〔矢印Ｃ方向〕させて位
置決めし、ボルト２９，３０を締めて筒状体９と
サクシヨンヘツド２との相対位置を一定に保つ。

このように構成したため、サクシヨンヘツド２
の稼動時には、前記ポイントＰからの光束１３が
バンドルフアイバー８を介して輝度センサー１９
上に到達する。なお、輝度センサー１９の出力信
号は、例えば吸入口６の輝度の正常時の出力信号
を基準値として時々の出力信号がこの基準値と比
較され、両者の差が規定許容値以上の場合に、吸
込口６の異常あるいはスラグ吸引終了の旨を警告
する信号が出力されるように構成される。

上記実施例では光路を切換える手段として平面
状の反射鏡２０を使用したが、これには、ハーフ
ミラ、プリズム等を使用しても同様に実施でき
る。

以上説明のように本発明のサクシヨンヘツドの
吸引状態観測方法によると、次のような効果が得
られる。

吸入口近傍の輝度計測位置から光束を取り出す
光フアイバーに、サクシヨンヘツド待機時におい
て調整光を入射して前記輝度計測位置を計測する
ため、光フアイバーとしてイメージフアイバース
コープに比べて格段に安価なバンドルフアイバー
を使用しても計測位置の確認ならびに調整を実行
することができる。

光フアイバーを介して吸引状態を観測するた
め、発煙などによる視界の低下がないものであ
る。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の観測方法の具体的な一実施例を
示し、第１図は真空吸引式除滓システムの要部構
成図、第２図は第１図の一部切欠き要部拡大図、
第３図は輝度測定装置のセンサー部の正面断面図
と調整過程の説明図である。 ２……サクシヨンヘツド、６……吸引口、８…
…バンドルフアイバー、９……冷却筒、１７……
センサー部、１８……光源、１９……輝度セン
サ、２０……反射鏡、２８……調整用光束。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ サクシヨンヘツド待機中に、一端がサクシヨ
   ンヘツド近傍に延びる光フアイバーにこの光フア
   イバーの他端から調整用光束を入射させて光フア
   イバーの前記一端から出射する光束がサクシヨン
   ヘツドの吸引口付近の輝度計測位置に達するよう
   調整し、サクシヨンヘツド稼動中に、光フアイバ
   ーの前記一端から入射する光束の輝度を光フアイ
   バーの前記他端側で計測するサクシヨンヘツドの
   吸引状態観測方法。